ATE313784T1 - Verfahren und apparat zur funktionsüberprüfung einer optischen messvorrichtung - Google Patents

Verfahren und apparat zur funktionsüberprüfung einer optischen messvorrichtung

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ATE313784T1
ATE313784T1 AT02396132T AT02396132T ATE313784T1 AT E313784 T1 ATE313784 T1 AT E313784T1 AT 02396132 T AT02396132 T AT 02396132T AT 02396132 T AT02396132 T AT 02396132T AT E313784 T1 ATE313784 T1 AT E313784T1
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AT02396132T
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Raimo Harju
Sanna Tauluvuori
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Wallac Oy
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction

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