ATE323275T1 - Verfahren zur bestimmung der grösse der deformation eines taststiftes - Google Patents

Verfahren zur bestimmung der grösse der deformation eines taststiftes

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ATE323275T1
ATE323275T1 AT01201247T AT01201247T ATE323275T1 AT E323275 T1 ATE323275 T1 AT E323275T1 AT 01201247 T AT01201247 T AT 01201247T AT 01201247 T AT01201247 T AT 01201247T AT E323275 T1 ATE323275 T1 AT E323275T1
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determining
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Daniel Dubois
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Saphirwerk Ind Prod
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006033443A1 (de) * 2006-07-19 2008-01-31 Saphirwerk Industrieprodukte Ag Taststift mit integriertem RFID-Chip
US7681432B2 (en) * 2006-12-12 2010-03-23 Agilent Technologies, Inc. Calibrating force and displacement sensors of mechanical probes
DE102007051054A1 (de) * 2007-10-19 2009-04-30 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Korrigieren der Messwerte eines Koordinatenmessgeräts und Koordinatenmessgerät
ES2559187T3 (es) 2011-07-06 2016-02-10 Hexagon Metrology S.P.A. Método de calibración de un modelo matemático para una máquina de medición de coordenadas para la compensación de errores dinámicos debidos a la deformación
CN103486953B (zh) * 2013-08-30 2016-02-24 广西玉柴机器股份有限公司 一种活塞环挠曲度通用检具

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3933575A1 (de) * 1989-10-07 1991-04-18 Hartmut Prof Dr Janocha Tasteinrichtung
US5321977A (en) * 1992-12-31 1994-06-21 International Business Machines Corporation Integrated tip strain sensor for use in combination with a single axis atomic force microscope
DE4436507A1 (de) * 1994-10-13 1996-04-18 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken
DE59509004D1 (de) * 1995-03-10 2001-03-08 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Mehrkoordinaten-Tastkopf mit gleichen Auslenkungen
GB9517214D0 (en) * 1995-08-23 1995-10-25 Renishaw Plc Calibration of an articulating probe head for a coordinating positioning machine
DE19824107A1 (de) * 1998-05-29 1999-12-23 Werth Messtechnik Gmbh Tastschnittverfahren sowie Anordnung zur Messgrößenbestimmung einer Oberfläche eines Prüflings nach dem Tastschnittverfahren
GB9907644D0 (en) * 1999-04-06 1999-05-26 Renishaw Plc Surface sensing device with optical sensor

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