ATE441832T1 - Verfahren und apparat zur formabweichungsmessung von bearbeiteten oberflächen - Google Patents

Verfahren und apparat zur formabweichungsmessung von bearbeiteten oberflächen

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ATE441832T1
ATE441832T1 AT99203215T AT99203215T ATE441832T1 AT E441832 T1 ATE441832 T1 AT E441832T1 AT 99203215 T AT99203215 T AT 99203215T AT 99203215 T AT99203215 T AT 99203215T AT E441832 T1 ATE441832 T1 AT E441832T1
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Austria
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scattered
reflected
form deviation
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AT99203215T
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Valeriano Corallo
Franco Docchio
Umberto Minoni
Emidio Zorzella
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Tenova Spa
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness

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