ATE443851T1 - Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen

Info

Publication number
ATE443851T1
ATE443851T1 AT06011634T AT06011634T ATE443851T1 AT E443851 T1 ATE443851 T1 AT E443851T1 AT 06011634 T AT06011634 T AT 06011634T AT 06011634 T AT06011634 T AT 06011634T AT E443851 T1 ATE443851 T1 AT E443851T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
pulse
laser pulse
characterizing
laser pulses
intensity distribution
Prior art date
Application number
AT06011634T
Other languages
English (en)
Inventor
Hartmut Schroeder
Francis Theberge
Kalahroudi Seyed Mehdi Sharifi
Original Assignee
Hartmut Schroeder
Francis Theberge
Kalahroudi Seyed Mehdi Sharifi
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hartmut Schroeder, Francis Theberge, Kalahroudi Seyed Mehdi Sharifi filed Critical Hartmut Schroeder
Application granted granted Critical
Publication of ATE443851T1 publication Critical patent/ATE443851T1/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4257Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/58Photometry, e.g. photographic exposure meter using luminescence generated by light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J11/00Measuring the characteristics of individual optical pulses or of optical pulse trains

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
AT06011634T 2006-06-06 2006-06-06 Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen ATE443851T1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP06011634A EP1865299B1 (de) 2006-06-06 2006-06-06 Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung von fs-Laserpulsen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE443851T1 true ATE443851T1 (de) 2009-10-15

Family

ID=38066572

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT06011634T ATE443851T1 (de) 2006-06-06 2006-06-06 Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1865299B1 (de)
AT (1) ATE443851T1 (de)
DE (1) DE602006009383D1 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8988673B2 (en) * 2010-03-23 2015-03-24 Ophir-Spiricon, Llc Beam scattering laser monitor
CN101876571B (zh) * 2010-06-08 2011-09-14 中国科学院上海光学精密机械研究所 用于提高纳秒脉冲单次测量动态范围的脉冲复制环装置
RU2587690C1 (ru) * 2015-04-08 2016-06-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2591273C1 (ru) * 2015-04-28 2016-07-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2593918C1 (ru) * 2015-06-02 2016-08-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа
RU2594634C1 (ru) * 2015-07-14 2016-08-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа
RU2605786C1 (ru) * 2015-09-22 2016-12-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Широкоапертурное устройство для измерения энергии высокоинтенсивных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2626315C2 (ru) * 2016-01-20 2017-07-25 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Высокоточное многоканальное устройство для измерения энергии коротких лазерных импульсов
CN111238665B (zh) * 2020-01-23 2022-06-10 天津大学 针对大啁啾超短激光脉冲的频率分辨光学开关法测量仪
CN111443062B (zh) * 2020-04-26 2024-05-31 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19926812A1 (de) * 1999-06-13 2000-12-14 Arno Euteneuer Strahlungs-Meßvorrichtung
DE10042840A1 (de) * 2000-08-30 2002-03-14 Leica Microsystems Vorrichtung und Verfahren zur Anregung von Fluoreszenzmikroskopmarkern bei der Mehrphotonen-Rastermikroskopie
JP2005241284A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Aisin Seiki Co Ltd 波長分散測定装置及び測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1865299B1 (de) 2009-09-23
EP1865299A1 (de) 2007-12-12
DE602006009383D1 (de) 2009-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE602005012670D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung einer optischen Wellenform
EP1585978A4 (de) Verfahren und vorrichtung unter verwendung optischer verfahren zum messen von analytkonzentrationen
DE602007009395D1 (de) Verfahren, vorrichtung und programm zur bewertung der immunität sowie datenaufzeichnungsmedium mit darin gespeichertem immunitätsbewertungsprogramm
DE602004011785D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der reifengleichförmigkeit
DE50113991D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur überwachung der umgebung eines objekts
DE60317761D1 (de) Elektrooptische Vorrichtung, Verfahren zur Ansteuerung einer elektrooptischen Vorrichtung und elektronisches Gerät
DE602004010306D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verbesserung der richtungsgenauigkeit und -steuerung unter verwendung von grundbohrungsanordnungsbiegemessungen
ATE443851T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen
DE50302434D1 (de) Vorrichtung zur ermittlung der kraftstoffqualität und zugehöriges verfahren
DE60123511D1 (de) Verfahren zum Feststellen der Menge einer Testlösung, zur Regelung des Messsystems und zur Konzentrationsmessung einer Lösung mit einem Messgerät für optische Parameter
ATE551950T1 (de) Verfahren zur messung von spannungszuständen eines materials und seine anwendung
DE60129691D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der fluoreszenz
ATE384261T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur beurteilung einer güteklasse eines zu prüfenden objekts
DE60126751D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Wellenform eines optischen Signals
ATE553371T1 (de) Verfahren und anordnung zur erkennung von materialfehlern in werkstücken
DE60218795D1 (de) Vorrichtung zur Messung der Blendenöffnung einer Probe für optisches Nahfeld, und Verfahren zur deren Messung
DE60117446D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Restspannung und des photoelastischen Effekts von optischen Fasern
DE602005006620D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur lokalen messung der brechungseigenschaften einer linse an einem oder mehreren bestimmten punkten dieser linse
DE602005018461D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur untersuchung der anbringgenauigkeit einer komponente
DE50112732D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur ortsaufgelösten Brechkraftbestimmung eines optischen Elements
DE60227774D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des nichtlinearen Brechungskoeffizienten eines Lichtwellenleiters
ATE350656T1 (de) Vorrichtung und verfahren zur bestimmung der chromatischen dispersion von optischen komponenten
ATE373858T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur verringerung von geräuschbeeinträchtigung eines alternativen sensorsignals während multisensorischer sprachverstärkung
ATE533041T1 (de) Verfahren zur analyse einer probe und vorrichtung dafür
DE60308230D1 (de) Verfahren und vorrichtung für einen leistungsverstärker mit hoher genauigkeit eines ausgangssignals

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties