ATE494525T1 - Einspannvorrichtung zur messung einer objektform und verfahren zur messung einer dreidimensionalen form - Google Patents

Einspannvorrichtung zur messung einer objektform und verfahren zur messung einer dreidimensionalen form

Info

Publication number
ATE494525T1
ATE494525T1 AT09163212T AT09163212T ATE494525T1 AT E494525 T1 ATE494525 T1 AT E494525T1 AT 09163212 T AT09163212 T AT 09163212T AT 09163212 T AT09163212 T AT 09163212T AT E494525 T1 ATE494525 T1 AT E494525T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
measuring
plate
shape
clamping device
exposed
Prior art date
Application number
AT09163212T
Other languages
English (en)
Inventor
Kotaro Hirano
Hirofumi Kakiuchi
Yoshiyuki Omori
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2008167086A external-priority patent/JP5059699B2/ja
Priority claimed from JP2008167087A external-priority patent/JP5059700B2/ja
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Application granted granted Critical
Publication of ATE494525T1 publication Critical patent/ATE494525T1/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
    • G01B5/0004Supports
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0207Details of measuring devices
    • G01M11/0214Details of devices holding the object to be tested
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0242Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
    • G01M11/025Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by determining the shape of the object to be tested

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
AT09163212T 2008-06-26 2009-06-19 Einspannvorrichtung zur messung einer objektform und verfahren zur messung einer dreidimensionalen form ATE494525T1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008167086A JP5059699B2 (ja) 2008-06-26 2008-06-26 被測定物形状測定治具及び三次元形状測定方法
JP2008167087A JP5059700B2 (ja) 2008-06-26 2008-06-26 被測定物形状測定治具及び三次元形状測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE494525T1 true ATE494525T1 (de) 2011-01-15

Family

ID=40852112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT09163212T ATE494525T1 (de) 2008-06-26 2009-06-19 Einspannvorrichtung zur messung einer objektform und verfahren zur messung einer dreidimensionalen form

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7869060B2 (de)
EP (1) EP2138803B1 (de)
AT (1) ATE494525T1 (de)
DE (1) DE602009000525D1 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103453863A (zh) * 2012-05-31 2013-12-18 名硕电脑(苏州)有限公司 尺寸测量方法
EP2992310B1 (de) * 2013-05-02 2019-07-31 Carl Zeiss Vision International GmbH Verfahren und system für das ermitteln der räumlichen struktur eines gegenstands
JP6064871B2 (ja) * 2013-11-15 2017-01-25 Jfeスチール株式会社 板厚測定方法
DE102014208636B4 (de) * 2014-05-08 2018-06-28 Asphericon Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer Dezentrierung und Verkippung von Flächen eines optischen Elements
GB201507335D0 (en) * 2015-04-29 2015-06-10 Coldrick Benjamin J And Optimec Ltd And Richards Colin E And Drew Thomas E Support apparatus for measuring a lens
DE102015108839A1 (de) * 2015-06-03 2016-12-08 Rodenstock Gmbh Verfahren zum Bestimmen von Oberflächendaten und/oder Messdaten einer Oberfläche eines zumindest teilweise transparenten Objekts
DE102018209017B4 (de) * 2018-06-07 2022-08-11 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Halterung zur Fixierung und Referenzierung von mit einer Messvorrichtung an mehreren, nicht in einer gemeinsamen Ebene angeordneten Oberflächen in einer Einspannung zu vermessenden Bauteilen
JP7180432B2 (ja) * 2019-02-14 2022-11-30 コニカミノルタ株式会社 データ処理装置、データ処理方法及びプログラム
CN111928773B (zh) * 2019-05-13 2022-09-09 深圳中科飞测科技股份有限公司 一种检测方法和检测系统
CN115247990B (zh) * 2022-07-07 2024-07-23 沈阳飞机工业(集团)有限公司 一种锁类组件开锁偏心的检测夹具及方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6072569A (en) * 1998-06-09 2000-06-06 Eastman Kodak Company Apparatus and a method for measurement of wedge in optical components
US6486963B1 (en) * 2000-06-20 2002-11-26 Ppt Vision, Inc. Precision 3D scanner base and method for measuring manufactured parts
JP2005300248A (ja) * 2004-04-08 2005-10-27 Mitsutoyo Corp 載置テーブル、表面性状測定機および表面性状測定方法
US20050235506A1 (en) * 2004-04-22 2005-10-27 Eastman Kodak Company Method for profilometer position registration
JP2006078398A (ja) 2004-09-10 2006-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 表裏面の偏心及び傾きの測定方法及びその装置
JP2008167087A (ja) 2006-12-27 2008-07-17 Kyocera Corp 送信装置
JP2008167086A (ja) 2006-12-27 2008-07-17 Nec Saitama Ltd 電子機器、該電子機器に用いられるデータ復号化方法及びデータ復号化制御プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US20090323081A1 (en) 2009-12-31
DE602009000525D1 (de) 2011-02-17
US7869060B2 (en) 2011-01-11
EP2138803B1 (de) 2011-01-05
EP2138803A1 (de) 2009-12-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE494525T1 (de) Einspannvorrichtung zur messung einer objektform und verfahren zur messung einer dreidimensionalen form
ATE507027T1 (de) Werkstückhaltevorrichtung, -system und -verfahren
DE502007005354D1 (de) Vorrichtung und verfahren zur beurteilung der relativen raumlage zweier gegenstände
DK3791132T3 (da) Surface measuring device and method for a headlamp test bench
CN205438290U (zh) 一种用于三坐标测量的新型辅助夹具
DE502007004215D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur dickenmessung
ATE474203T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum bestimmen von raumkoordinaten an einer vielzahl von messpunkten
ATE545857T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen der konzentration biologischer komponenten
EP2597444A3 (de) Schwerpunktbestimmung
ATE417699T1 (de) Spannvorrichtung mit einrichtung zur messung der distanz zwischen einem spannfutter und einem werkzeug- oder werkstückhalter
CN202985167U (zh) 一种用于铣削实验的夹具
EP2259012A4 (de) Formmessvorrichtung und roboter damit
EP2778673A3 (de) Ultraschalluntersuchungsverfahren für diffusionsgeschweisste Artikel
ATE525596T1 (de) Gehäuse mit vorrichtung zum fixieren eines elektronischen bauteils
ATE540287T1 (de) Verfahren zum messen der exzentrizitätsmenge
CN203185190U (zh) 一种标定板定位夹具
CN206546137U (zh) 曲轴端面法兰光孔位置度检具
CN204694192U (zh) 通用印刷板孔径测量仪
CN204669815U (zh) 一种定位治具
ATE469730T1 (de) Spannbacke und spannvorrichtung mit einer solchen spannbacke
ATE479342T1 (de) Trägereinheit zum halten einer messeinheit an einer hand
ATE401171T1 (de) Handhabungsvorrichtung und verfahren zum handhaben von werkstücken
CN105066924A (zh) 一种立式汽车雾灯本体支架检测装置
USD619481S1 (en) Reference member for inspection master in optical three-dimensional measuring machine
WO2008071269A8 (en) Apparatus and method for mask metrology

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties