BE453474A - - Google Patents

Info

Publication number
BE453474A
BE453474A BE453474DA BE453474A BE 453474 A BE453474 A BE 453474A BE 453474D A BE453474D A BE 453474DA BE 453474 A BE453474 A BE 453474A
Authority
BE
Belgium
Prior art keywords
layer
electrode
cell
covered
good
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Publication of BE453474A publication Critical patent/BE453474A/fr

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

Landscapes

  • Hybrid Cells (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Cellule à couche d'arrêt du type au sélénium, comportant un conducteur soudé sur   l'électrode   bonne conductrice, et procédé pour sa   fabri cation.    



   Les cellules à couche d'arrêt, composées d'une plaque support,, d'une électrode semi-conductrice, d'une couche d'arrêt recouverte d'une mince électrode bonne conductrice (dénommée par la suite cellule'   à   couche d'arrêt du type au sélénium) sur laquelle est soudé un conducteur, suscitent des difficultés en ce qui concerne les propriétés de l'électrode bonne conductrice au droit de la soudure du conducteur. 



   Ces inconvénients sont particulièrement marqués lorsque le métal. constituant la couche bonne conductrice s'allie facilement au métal utilisé pour la soudure. Comme la couche bonne conductrice est très mince, cette couche se dissoudra complètement dans le métal. utilisé pour la soudure de sorte qu'en cet endroit les propriétés spécifiques de la cellule, qui dépendent de la nature du métal de l'électrode bonne conductrice, pourront subir une modification pro- fonde qui dépendra de la nature du métal employé pour la soudure. 



   Un contact par pression permettrait d'obvier à cet in-   convénient   mais ceci présente le danger de comprimer excessivement ou d'endommager l'électrode bonne conductrice, ce qui peut entrainer une instabilité, voire un court-circuit de la cellule. 



   Ces inconvénients sont particulièrement marqués dans les' cellules à couche d'arrêt de petites dimensions, c'est-à-dire dans les cellules dont la surface de l'électrode bonne conductrice est inférieure à   30mm2,   entre autres dans les cellules dites de mesure. 



     Dans'ces   cellules, le métal de l'électrode bonne conductrice doit satisfaire à des conditions particulières imposées dans le but d'as- surer à la caractéristique une forme déterminée. Par contre, dans les cellules de plus grandes dimensions, il suffit généralement de renforcer la couche bonne conductrice à l'endroit de la fixation du conducteur. La soudure peut alors être effectuée à l'aide du même métal que celui de la couche bonne conductrice. De plus, par rapport à la surface totale de la cellule, celle du contact de sou- dure est très petite, de sorte qu'une modification éventuelle de l'électrode bonne conductrice n'affecterait guère la caractéristique, pour autant qu'elle ne modifie pas la tension de percement. 



   Les cellules de mesure suscitent une autre difficulté: l'électrode est parfois si petite qu'il est difficile d'obtenir que le métal de la soudure ne dépasse pas la surface de l'électrode. 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 



  Si la soudure débordécette surface, elle fera office d'électrode, ce qui altère la caractéristique et augmente désavantageusement la capacité de la cellule. L'invention permet d'obvier à cet inconvénient. 



   Suivant l'invention, l'électrode bonne conductrice est recouverte d'une couche intermédiaire inerte, recouverte à son tour par le métal servant à la fixation du conducteur. Par couche inerte, il y a lieu de comprendre une couche dont la. matière ne réagit pas défavorablement sur le métal de   l'électro-   de bonne conductrice ou ne l'attaque pas. Cette couche intermé- diaire peut être en fer, en aluminium, ou en zinc. La couche bonne conductrice peut alors être en or, en bismuth, en antimoi- ne ou en un alliage de bismuth et d'antimoine. Ces derniers métaux sont particulièrement indiqués pour   la,   fabrication des cellules de mesure. Comme soudure, on peut utiliser l'alliage 1G3, composé d'étain, de cadmium et de bismuth.      



   Suivant une autre forme d'exécution, la, couche inter- médiaire peut consister en une couche de laque. Comme laque on peut utiliser   l'éthyl-cellulode.   Après durcissement, la couche de laque est recouverte d'une mince couche de métal qui sert à la fixation du conducteur d'amenée de courant. Comme on le sait, on peut alors malgré tout obtenir une   laision   'bonne conduc- trice entre la couche inférieure, ici l'électrode bonne conduc- trice de la cellule à couche d'arrêt; et la couche métallique. 



   En général, la surface de la couche de laque ne sera pas limitée à celle de l'électrode bonne conductrice mais sera choisie plus grande. Dans le cas où. la surface de cette dernière électrode est très petite ceci facilite le montage. La Demande- resse a constaté que la capa.cité de ces cellules n'est pasaffec- tée par la. présence du métal sur ou dans   leouel   est fixé le con-   ducteur,   même lorsque ce métal recouvre une surface plus grande que celle de l'électrode bonne conductrice. Ceci peut s'expliquer par le fait que l'épaisseur de la couche de laoue est grande par rapport à celle de la couche d'arrêt. 



   Ces moyens sont particulièrement indiqués pour les cellules dont l'électrode bonne conductrice, en or, a une sur- face inférieure à 30 mm2. 



     .,   La description du dessin annexé, donné à titre d'exem-   ple   non limitatif, fera bien comprendre comment l'invention peut être réalisée, les particularités qui ressortent tant du texte que du dessin faisant, bien entendu, partie de l'invention. 



   La figure 1 montre une couche d'arrêt dont l'élec- trode bonne conductrice est recouverte d'une couche de métal iner- te tandis que la figure 2 représente une cellule à couche d'arrêt dans laquelle la cellule est recouverte d'une couche de laque sur laquelle est fixé le conducteur d'amenée de courant. 



   Les deux figures montrent les cellules à trèsgrande échelle et n'en constituent que des représentations schématiques. 



   La cellule à couche d'arrêt montrée sur la figure 1 consiste en une plaque support 1 recouverte d'une couche de sé- lénium 2. Sur cette couche de sélénium est formée une couche d'arrêt 3, génétique ou non, sur laquelle est placée une élec-   trode bonne conductrice 4 de petite surface, par exemple d'un diamètre de 1 mm, en or. Par vaporisation, cette électrode en or   est recouverte d'une mince couche de fer 5, sur laquelle est fixé, à l'aide d'une petite quantité de soudure 7, le conducteur 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 d'amenée de courant 6. Comme l'or ne s'allie pas au fer, cette réalisation assure à l'électrode en or de bonnes propriétés, mais il va de soi que, par suite des petites dimensions de ces organes, il y a grand danger que le fer ou la soudure 7 ne   débordl'élec-   trode en or.

   La construction montrée sur la figure 8   obvi'e.   en grande partie à ces inconvénients. La cellule à couche d'arrêt représentée sur cette figure comporte une plaque support 1, une couche de sélénium 2, une couche d'arrêt 3, et une électrode bonne conductri'ce en or 4. Arrivée à ce stade de fabrication, la cellule à couche d'arrêt est plongée dans de la laque , de l'éthyl-cellulose par exemple. La couche durcie, désignée par 8, est   reauverte   d'une- couche d'alliage 103 dans laquelle est fixé le fil d'amenée de courant 6. 



   L'épaisseur de la couche de laque est estimée à 10  . 



  Il s'avère qu'une telle couche de laque comporte encore des ' pores tels que les couches métalliques disposées de part et d'autre de la couche de laque sont en contact. La couche de laque empêche la dissolution de l'électrode bonne conductrice, son alliage ou une autre altération. 



   L'application de l'invention permet d'utiliser une électrode bonne conductrice beaucoup plus   mince, jusqu'à   10 fois même, que précédemment. '   ,   
Sur la figure, les épaisseurs relatives des diverses couches ne sont pas représentéesà l'échelle. La couche d'arrêt est beaucoup plus mince que ne permet de le représenter la figure.Il va de soi que, par suite de la faible épaisseur de cette couche d'arrêt par rapport à celle de la couche de laque, la capacité de la cellule est entièrement déterminée par la surface de l'électrode 4, et non par celle de la masse métallique 9.

Claims (1)

  1. RESUME ----------- 1. - Cellule à couche d'arrêt, en particulier cellule de mesure, consistant en une plaque-support, une électrode-semiconductrice, une couche d'arrêt recouverte d'une électrode bonne conductrice et un conducteur d'amenée de courant soudé sur cette. dernière électrodé, et caractérisé par le fait que l'électrode bonne conductrice est recouverte d'une couche intermédiaire inerte sur laquelle est appliqué le métal sur ou 'dans lequel est fixé le conducteur d'amenée de courant, cette cellule pouvant présenter, en outre, les particularités suivantes prises séparément ou en combinai son : a.- la couche intermédiaire est constituée par du fer, du zinc ou de l'aluminium ; b.- la couche intermédiaire est constituée par de la laque ; c.- la couche intermédiaire est constituée par de l'éthylcellulose ;
    d. - la surface recouverte par la couche de laque est plus grande que celle de l'électrode bonne conductrice. e.- la couche métallique, sur ou dans laquelle est fixé le conducteur d'amenée de courant recouvre, elle aussi, une surface plus grande que celle de l'électrode bonne conductrice, mais @ - <Desc/Clms Page number 4> plus petite que celle recouverte par la couche de laque ; f. - l'électrode bonne conductrice est en or et sa surface est inférieure à 30 mm2.
    2.- Procédé de fabrication d'une cellule à couche d'arrêt telle que spécifiée ci-dessus, caractérisé par le fait qu'avant la mise en place du conducteur d'amenée du courant, .la cellule à couche d'arrêt est recouverte d'une couche de laque sur 1/quel- le on projette, après durcissement, une couche métallioue sur ou dans laquelle on fixe le conducteur d'amenée de courant.
BE453474D BE453474A (fr)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
BE453474A true BE453474A (fr)

Family

ID=107831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BE453474D BE453474A (fr)

Country Status (1)

Country Link
BE (1) BE453474A (fr)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0002550B1 (fr) Procédé de création, par sérigraphie, d&#39;un contact à la surface d&#39;un corps semiconducteur et dispositif obtenu par ce procédé
US8330271B2 (en) Semiconductor element, method for manufacturing the same, and mounting structure having the semiconductor element mounted thereon
FR2936966A1 (fr) Procede d&#39;obtention d&#39;une barriere selective de soudage
FR2785088A1 (fr) Un procede de fabrication d&#39;un substrat pour un dispositif electronique utilisant un agent d&#39;attaque ainsi qu&#39;un dispositif electronique presentant un tel substrat
EP3977520B1 (fr) Procede de recyclage de l&#39;argent present sur une cellule photovoltaïque
FR3092697A1 (fr) Condensateur et module de condensateur
FR2710741A1 (fr) Capteur électronique destiné à la caractérisation de grandeurs physiques et procédé de réalisation d&#39;un tel capteur.
FR2541044A1 (fr) Procede de montage d&#39;une plaquette de circuit integre sur un substrat
BE453474A (fr)
WO2011138739A2 (fr) Cellule photovoltaïque à face arrière structurée et procédé de fabrication associé
FR3025944A1 (fr) Support electroconducteur pour dispositif electrochromique, dispositif electrochromique l&#39;incorporant, et sa fabrication.
FR2822338A1 (fr) Procede pour connecter electriquement des plots de contact d&#39;un composant microelectronique directement a des pistes de circuits imprimes, et plaque a circuits imprimes ainsi constituee
CH717141B1 (fr) Procédé d&#39;assemblage de composants horlogers.
EP0514297A2 (fr) Procédé de prise de contact sur un composant semiconducteur
EP0197821A1 (fr) Elément de raccordement entre un conducteur électrique et un contact de connecteur
CH646083A5 (en) Wire electrode for erosive electrical discharge machining
EP0109994A1 (fr) Procédé de création d&#39;une configuration de contact sur un dispositif semi-conducteur et application à des cellules solaires photovoltaiques à ilôt sélénium
BE522000A (fr)
CH633739A5 (en) Electrode in the form of a wire for cutting a metal workpiece by electrical discharge (spark erosion)
EP0188946A1 (fr) Elément capacitif intégré sur une pastille de circuit intégré, et procédé de réalisation de cet élément actif
EP1350418A1 (fr) Procede de realisation d&#39;interconnexion dans un circuit imprime multicouches
CH691561A5 (fr) Adapteur pour composants électroniques.
EP1645015B1 (fr) Composant, circuit imprime double face et procede pour realiser une connexion electrique d un circuit imprime double face
BE422482A (fr)
EP0161981A2 (fr) Circuits intégrés à plusieurs niveaux d&#39;interconnexion en alliage d&#39;aluminium, et procédé de fabrication