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parfectionnements aux appareils optiques de mesure.
La présente invention est relative à des appareils opti- ques de mesure et plus particulièrement, quoique non exclusivement, elle concerne des appareils utilisés conjointement avec des appa- relie pour essayer la.dureté des matières,
Jusqu'à présent, des appareils optiques ont été utilisés pour mesurer les indentations produites par des pièces dressai avec des machinée d'essai à la dureté, et il est généralement nécessaire que l'indentation soit mesurée suivant deux axes indé- pendants.
Ainsi,:dans le cas d'une indentation pyramidale, il est nécessaire de mesurer ses deux diagonales, tandis que dans le cas d'une indentation produite par un poinçon sphérique, le diamètre de l'indentation est mesuré dans deux directions ,perpendiculaires.
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Jusqu'à maintenant, dans le out d'effectuer ces mesures, il a
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.été de pratique coulants de prévoir un système de mesure û.6:lc.ç",,- ble. Le principal objet de l'invention est de donner un système alternatif qui permette d'effectuer plusieurs mesures d'un'3 inden-
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tation ou de l1âquivalent, sans qu'il soit nécessaire de déplacer la pièce d'essai portant l'indentation et sans qu'il soit néces- saire de déplacer le système de mesure.
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Confor±üé16nt à l'invention, des moyens sont introduits' dans le système optique pour permettre la rotation de l'image de
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à'im>ression ou d'un autre objet, permettant ainsi la possibilité de faire plusieurs mesures avec un système optique fixe.
L'invention peut être aisément appliquée à la mesure de- impressions d'essai de dureté, quelle soit projetée sur un écran ou vue dans un microscope de mesure du type courant.
Dans le dessin annexe, l'invention est représentée à
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titre d' exemlJl;;;';;0n111e étant appliquée à un microscope ae mesure.
La Fig. 1 est une élévation partiellement en coupe du système optique du microscope.
La Fig. 2 est une vue, prise perpendiculairement à la Fig. 1 etaussi partiellement en coupe.
La Fig. 3 est une vue en plan correspondant à la Fig.2.
La monture A du système optique est munie à son extré-
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mité supérieure de ltoculaira Habituel B et du micromètre régla- ble C dont le réglage exécuté au moyen du bouton moleté D, est
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enregiat-ré dans un compteur mécanique E, par l'intermédiaire des engrenages F et A la partie inférieur de la moiituj. est prévu un ooîtin latI'é\.1 ri poui un.: lampe non nprosentée qui, -'11 conjonction avec 18 réflecteur l fournit un éclairage vertical 6.e 1a ,ièce dressai ou spécimen à travers l'objectif J.
Dans la monture A, on a disposé un tube K portant un
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Jusqu'à maintenant, dans le but (l'effectuer ces mesures, il a .été de pratique courante de prévoir un système de mesure déplace- ble. Le principal objet de l'invention est de donner un système alternatif qui permette d'effectuer plusieurs mesures d'une inden- tation ou de l'équivalent, sans qu'il soit nécessaire de déplacer la pièce d'essai portant l'indenation et sans qu'il soit nédes- saire de déplacer le système de mesure.
Conformément à l'invention, des moyens sont introduits dans le système optique pour permettre la lotation de l'image de l'impression ou d'un autre objet, permettant ainsi la possibilité de faire plusieurs mesures avec un système optique fixe.
L'invention peut être aisément appliquée à la mesure de:. impressions d'essai de dureté, qutelle soit projetée sur un écran ou vue dans un microscope de mesure du type courant.
Dans le dessin annexé, l'invention est représentée à titre d'exemple'comme étant appliquée à un microscope de mesure.
La Fige 1 est une élévation partiellement en coupe du système optique du microscope.
La Fig. 2 est une vue, prisé perpendiculairement à la
Fig. 1 et aussi partiellement en coupe.
La Fige 3 est une vue en plan correspondant à la Fig.2.
La monture A du système optique est munie à son extré- mité supérieure de l'oculaire habituel B et du micromètre régla- ble C dont le réglage exécuté au moyen du bouton moleté D, ost enregistré dans un compteur mécanique E, par l'intermédiaire des engrenages F et G.
A la partie inférieure de la monture est prévu un boîtier latéral H pour une lampe non représentée qui, en conjonction avec le réflecteur I fournit un éclairage vertical de la pièce dressai ou spécimen à travers l'objectif J.
Dans la monture A, on a disposé un tube K portant un
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dispositif à réflexion tel qu'un prisme L. Le tube K peut tourner dans la monture autour de son axe vertical, de sorte que l'image d'un objet, telle qu'une impression peut tourner dans des direc- tions variées. Pour réaliser la rotation du tube K et du prisme L un levier à main M est relié au tube et,passe à travers une fenê- tre N pratiquée dans la monture A de façon qu'il puisse être mani- pulé de l'extérieur.
A la place d'un simple levier à main, le tube k portant le prisme' peut être .déplacé par tout autre dispositif approprié tel qu'un câble flexible, ceci convenant particulièrement lorsque l'image est projetée sur un écran.
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improvements to optical measuring devices.
The present invention relates to optical measuring apparatus and more particularly, although not exclusively, it relates to apparatus used in conjunction with apparatus for testing the hardness of materials.
Heretofore, optical devices have been used to measure indentations produced by straightened workpieces with hardness testing machines, and it is generally necessary that indentation be measured along two independent axes.
Thus,: in the case of a pyramidal indentation, it is necessary to measure its two diagonals, while in the case of an indentation produced by a spherical punch, the diameter of the indentation is measured in two directions, perpendicular.
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Until now, in the out of performing these measurements, he has
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The main object of the invention is to provide an alternative system which makes it possible to carry out several measurements of a single indentation. -
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tation or the like, without the need to move the test piece with the indentation and without the need to move the measuring system.
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According to the invention, means are introduced into the optical system to allow the image to be rotated.
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to'im> ression or other object, thus allowing the possibility of making several measurements with a fixed optical system.
The invention can be readily applied to the measurement of hardness test prints, whether projected on a screen or viewed in a conventional measuring microscope.
In the accompanying drawing, the invention is shown at
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as an example ;;; ';; 0n111e being applied to a measuring microscope.
Fig. 1 is a partially sectional elevation of the optical system of the microscope.
Fig. 2 is a view, taken perpendicular to FIG. 1 and also partially in section.
Fig. 3 is a plan view corresponding to Fig.2.
The A-mount of the optical system is provided at its end
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uppermost unit of the usual B eye and of the adjustable micrometer C, the adjustment of which, carried out by means of the knurled knob D, is
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recorded in a mechanical counter E, through the gears F and A the lower part of the moiituj. a latI'é \ .1 ri poi un: lamp is provided which, -'11 in conjunction with 18 reflector l provides vertical illumination 6.e 1a, erected piece or specimen through the objective J.
In frame A, we have placed a tube K carrying a
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Until now, in order to carry out these measurements, it has been common practice to provide a movable measuring system. The main object of the invention is to provide an alternative system which makes it possible to perform several measurements of one indentation or the equivalent, without the need to move the test piece bearing the indentation and without the need to move the measuring system.
According to the invention, means are introduced into the optical system to allow the batching of the image of the print or of another object, thus allowing the possibility of making several measurements with a fixed optical system.
The invention can easily be applied to the measurement of :. hardness test prints, whether projected onto a screen or viewed through a standard measuring microscope.
In the accompanying drawing, the invention is shown by way of example as being applied to a measuring microscope.
Figure 1 is a partially sectional elevation of the optical system of the microscope.
Fig. 2 is a view, taken perpendicular to the
Fig. 1 and also partially in section.
Fig 3 is a plan view corresponding to Fig.2.
The mount A of the optical system is provided at its upper end with the usual eyepiece B and the adjustable micrometer C, the adjustment of which is carried out by means of the knurled knob D, ost registered in a mechanical counter E, via of the gears F and G.
At the bottom of the mount is provided a side housing H for a lamp not shown which, in conjunction with the reflector I provides vertical illumination of the upright or specimen piece through the objective J.
In frame A, we have placed a tube K carrying a
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reflecting device such as a prism L. The K-tube can rotate in the frame about its vertical axis, so that the image of an object, such as a print, can rotate in various directions. To achieve the rotation of the tube K and of the prism L, a hand lever M is connected to the tube and passes through a window N made in the frame A so that it can be manipulated from the outside.
Instead of a simple hand lever, the tube k carrying the prism 'can be moved by any other suitable device such as a flexible cable, this being particularly suitable when the image is projected on a screen.