BE625418A - - Google Patents

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BE625418A
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025Sample holders or supports therefor

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
 
 EMI1.1 
 



  'ORTB-I71 DE CHJUORE A DIF1RAC'.I!I# 13 RAYONS 1 lvenhuraa l'rqoia ANSSLIN, Nicole LCBENZELLI 
 EMI1.2 
 L'examen aux rayons X de faces d'échantillons massif a, polies métal lograph1quement ne fait par réflexion dan  des chambres à diffraction au 8Oy8II1 de aontagea z focalisation, par exemple du type SBBUNM-'BOHMtf ou go- nioaètres. 



  Le* chambre* à diffraction et lsa diffractographea dtstinâs à oeu examens sont délicats, coûteux et OO8pliquéa, or dans le cas d'échantillon en matières radioactives, il est néoeaxai.ra de prendre des précautions pour 
 EMI1.3 
 éviter les risques de contamination. 



  Plus particulièrement pour les matériaux radioactifs, tels que le plutonium par exemple, le danger vient de la contamination per les poussières et aérosols, alors que les particules sont facilement arrêtées par n'importe 
 EMI1.4 
 quelle paroi d'un récipient étanewie, 
 EMI1.5 
 Pour examiner de tels échantillons, on devrait donc utiliser le 
 EMI1.6 
 diffractographe dans une botte à ganta étanahs, nais il serait contaminé et 
 EMI1.7 
 perdu pour toute autre utilisation 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 
 EMI2.1 
 
 EMI2.2 
 La présents invention a pour but do réaliser un porte-dehmtill= de encadre e diffraction de rayons X euffiaeccent <taiMhe aux pouseikres radioactives pour que la dispositif dans lequel il est monté DO soit pas contaminé. On évite ainsi la Bise en botte a ganta.

   Dû plut$ on peut utili- $or le mdnta diffractogrcphé tantôt pour des échantillons radioactif 
 EMI2.3 
 
 EMI2.4 
 tantôt pour des échantillons non contaminés en Ayant simplement à rempla- cor le porte-échantillon par un autre du nêne type sens qu'aucune décon- tamination préalable ne soit nécessaire* Ce porto-échantillon est d'ail- 
 EMI2.5 
 
 EMI2.6 
 leurs adaptable à tous les nontages par réflexion.

   le porto-échantillon objet de l'invention est caractérisé en ce qu'il comporte un corps creux ouvert à l'unu de ses extrémités et forud a l'autre par un fond, matérialisent lo plan tançant au cercle de foca- liaation, mai d'une fenêtre en matière transparente aux rayons X, un 
 EMI2.7 
 couvercle fixé de manière étanche sur l'extrémité ouverte du corps et d'un dispositif de serrage de l'échantillon contre la face interne du 
 EMI2.8 
 fond ouni de la fonétre. 
 EMI2.9 
 



  Les parois latérales du corps creux sont percées d'orifices dans lesquels sont *collées des pastilles en matière frittée, en verre par 
 EMI2.10 
 exemple, permettant le passage de l'air mais 4tanobe aux poussières 
 EMI2.11 
 radioactives. 
 EMI2.12 
 



  D'autres caractéristiques de l'invention xtwoortiront d'ailloure da la description qui nuit d'un mode do réalisation d'un porte-échantil- lon do chambre à diffraction de rayons X, donné à titre d'oxoapio non limitatit ot représenté au dessin. 



  La figure unique représente, en coupe suivant son tian de syi,dt 
 EMI2.13 
 la porto-échantillon de l'invention. 
 EMI2.14 
 



  Lao porto-échantillon représenté sur la PU,,l est coéptitud pu,*" un corps creux de forme sensiblcaont cylindrique testé à l'une de ses oxtr6r. cités par un fond 2 muni d'une fenêtre 3 en une naïïàm plastique, telle que colle comme nous le non de "Iylnr" par oxcp3.b, transparente eux 

 <Desc/Clms Page number 3> 

 
 EMI3.1 
 rayent X pour toute* Ion longueurs d'ondes utilisées do façon coopte sa cristallographie et ne donnant pas de raies de diffraction qui lui soient propres, La paroi latérale 4 du corps 1   cet     percée     d'ouvertures     radiales 5    
 EMI3.2 
 au noabre do quatre par exemple, dans lesquelles non acolloos dow pastilles 6, on I!Il1tiro frittée telle que du verre ou toute autre matière analogue, titancho aux poussières radioactives nais pom6nblo à l'air. 



  La seconde oxtrénité du corps cylindrique 1 est ouverte et ea termine par un embout 14  do plus grand diamètre formant un épdulcmont   intente   7 contre lequel appuie un couvercle 8 verrouillé au noyen do   baïonnettes   9. Dana   1* épauleront   7 est creusé une gorge 10   destinée   à un joint torique 11 serré par le couvercle 8. 
 EMI3.3 
 



  Un ressort 12, dont une exi 1t1S est fixée dans in evideaoct 19 du couvercle 8 tandis que l'autre appuie sur une rendelle 13, MÙ1t1oat par l'intermédiaire do cette dernière   1 'échantillon   20   contra   la face Interne 21 du corps   1,   Cette face   interne     matérialisa   le plan   tancent   au   cercle   de   focalisation   du noutage, cercle sur laquai doivent obligatoire* 
 EMI3.4 
 8ORt.

   dans tous  cotais par réflexion, se trouver 3.r foyer de la aourco, l'échantillon et 10 point de convergence du rqyoms.,yent diffractés La surface extérieure de l'embout t4 comporte un 4pnulOC1QQt 15   au!'     lequel   vient appuyer une bague 16 qui   est     taraudée   en 17 do façon t 
 EMI3.5 
 Otre vissée sur uno embue filetée lors du montage du porto-échantillon dans la chnabro à diffraction. La distance d 48 cette 0IIIbas0 CI.1 cercle do localisation est colle de la face externe do l'extrémité c.w#W du corps t à la face intorno 21 du fond 2. 



  Le porto-échantillon ainsi réalisé est pcr1a1tMeni 4ttmcbe aux poussières :rndionct1VC8J en effet les pastilles 6 en verso enfichent la passage do ces pauasièroe. Elle  laissent toutefois passer le  cas de façon 1 assurer l'égalité de la pression de part et d'autre de la feaBtro 3, es qui permet l'eiemen eau vida,

   
Un to   porto-échantillon   permet donc l'étude   d'échantillons   do 

 <Desc/Clms Page number 4> 

   @   toutes   matières     radioactives   et notamment du   Plutonium   dont les   poussières   transportables par le   ceindra.    courant     d'air     constituent   un poison extrê- mement   dangereux     @     Le   chargement a lieu   dans   une botte à   gants   à   faible   nivenu de contamination.

     L'extérieur   du porto-échantillon est enveloppe   dans   une   litière   protectrice telle que la "cellophane" de telles   sortes   que   seul   l'intérieur   puisse   être contariné. Il peut   eneuits   être   Bonté   dans une cchambre à diffraction sans auoun risque pourl le reste de l'appareil. Le démontage   s'opère   également en botte à gants. 



   Ce porte-échantillon peut bien entendu être   utilisé   pour des   matières   non conteminées qui peuvent   ainsi   être examinées avec le même   appareil   que les autres   sans     précaution     spéciale*   Dans ce dernier   cas   le chargement on botte à gants devient   inutile.       

Claims (1)

  1. EMI5.1
    U'I#1ICAfl#S 1 Ports-échantillon de chanbre 1 diffraction de rayons X caractérisé as ou qtil ClCIqIOri8 un corps creux ouverts uno extrémité et formé à 1.wtn pt'.1' un tond, mt6rinluont le pion tangent eu cercle de focalisation, Mad d'une fenêtre en matière transparente eux voyons X, un oouverelo fixé de manière étanche sur ltcxtr4ln:Lt4 ouverte du corps et un dispositif de serrage de 1* échantillon contre la face intorno du fond muni de la fenêtre* EMI5.2 Z Porto-échantillon suivant la revendication 1 cemetériaé on ce que les parois latérales du corps creux comportant des orifice* dons lesquels . sont scellées des pastilles en matière frittée étanche aux poussières :
    radioactive..
    3.- Porte-échantillon suivant la revendication 2 caractérisa en ce que 'les pastilles sont en verre fritte EMI5.3 4 - Porto-échantillon suivant la revendication 1 onr40t4r181 en ce que le dispositif de serrage do l' 4cbr.l.ntiUon o-'nt80 ln fenêtre comporte ut ressort dont une extrémité est fixée à l'intérieur du couvercle et l'autre à une rondelle de serrage* EMI5.4 5 - Forte-échantillon suivant la revendication t caractérisé on ce que l'extrénité ouverte du corps comporte un épaulosnont extérieur de support, d'une bagua filetée de fixation du porte-échantillon sur le dispositif d'exemen.
BE625418D BE625418A (fr)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2683905A1 (fr) * 1991-11-20 1993-05-21 Technodes Sa Dispositif porte-echantillon.

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2683905A1 (fr) * 1991-11-20 1993-05-21 Technodes Sa Dispositif porte-echantillon.

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