BRPI0618251A2 - método e aparelho para gravar informação de gerenciamento de defeito de meio de gravação, método para atualizar informação de gerenciamento de defeito, método para classificar uma pluralidade de entrada de defeito, método para formatar meio de gravação, meio de gravação - Google Patents

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Abstract

MéTODO E APARELHO PARA GRAVAR INFORMAçãO DE GERENC lAMENTO DE DEFEITO DE MEIO DE GRAVAçãO, MéTODO PARA ATUALI ZAR INFORMAçAO DE GERENCIAMENTO DE DEFEITO, MéTODO PARA CLASSIFICAR UMA PLURALIDADE DE ENTRADA DE DEFEITO, MéTODO PARA FORMATAR MEIO DE GRAVAçãO, MEIO DE GRAVAçãO A presente invenção refere-se a um meio de gravaçào, e a um método e aparelho para gravar informação de gerenciamento de defeitos no meio de gravação são descritos. O método para gravar informação de gerenciamento de defeitos de um meio de gravação inclui gravar uma entrada de defeitos no meio de gravação, no qual a entrada de defeitos inclui um primeiro campo que pode identificar um tipo de entrada de defeitos, umsegundo campo gravando informação de posição de uma área de defeitos dentro de uma área de dados do usuário, e um terceiro campo gravando informação de posição de uma área de substituição dentro de uma área de reserva, e gravando informação de posição correspondente ao segundo campo e/ou ao terceiro campo de acordo com o tipo de entrada de defeitos decidido pelo primeiro campo, no qual, no caso de um tipo deentrada de defeitos não tendo informação de posição correspondente, o campo correspondente é definido em zero (O)

Description

MÉTODO E APARELHO PARA GRAVAR INFORMAÇÃO DE GERENCIAMENTO DEDEFEITO DE MEIO DE GRAVAÇÃO, MÉTODO PARA ATUALIZAR INFORMAÇÃO
DE GERENCIAMENTO DE DEFEITO, MÉTODO PARA CLASSIFICAR UMAPLURALIDADE DE ENTRADA DE DEFEITO, MÉTODO PARA FORMATAR MEIO
DE GRAVAÇÃO, MEIO DE GRAVAÇÃOCAMPO TÉCNICO
A presente invenção refere-se a um meio de gravação, emais particularmente, a um meio de gravação e a um método eaparelho para gravar informação de gerenciamento de defeitosno meio de gravação. Embora a presente invenção seja adequadapara um amplo escopo de aplicações, ela é particularmenteadequada para gerenciar eficientemente informação degerenciamento de defeitos e para facilitar um processo declassificação de entradas de defeitos configurando ainformação de gerenciamento de defeitos.
TÉCNICA ANTERIOR
O disco óptico é amplamente usado como um meio degravação capaz de gravar (e/ou armazenar) uma grandequantidade de dados. Particularmente, um meio de gravaçãoóptica de alta densidade capaz de gravar/ armazenar dados devideo de alta qualidade e dados de áudio de· alta qualidade,por exemplo, um disco Blu-ray (BD), tem sido desenvolvido porum longo período de tempo, o BD atuando como o meio degravação da próxima geração tem sido considerado como sendo asolução de gravação óptica da próxima geração capaz degravar/armazenar muito mais dados do que um DVD convencional.Recentemente, a especificação técnica padrão internacionalassociada com o BD foi estabelecida junto com aquelas dosoutros dispositivos digitais. Muitos fomentadores conduzirampesquisa intensa na introdução de um método de gravaçãopreferível, e mais particularmente, um ótimo método degravação e gerenciamento de informação de gerenciamento dedefeitos usando um meio de gravação de próxima geração, talcomo o BD. Entretanto, o padrão técnico para o BD ainda nãofoi estabelecido, e, portanto, os fomentadores têmdificuldade em desenvolver o aparelho de reprodução/gravaçãoóptica baseado em BD completo.
DESCRIÇÃO DA INVENÇÃO
Conseqüentemente, a presente invenção é direcionada a ummeio de gravação, e a um método e aparelho para gravarinformação de gerenciamento de defeitos no meio de gravaçãoque previne um ou mais problemas devido às limitações edesvantagens da técnica relacionada.
Um objetivo da presente invenção é fornecer um método deformatar o meio de gravação e um método de classificarinformação de gerenciamento de defeitos.
Vantagens adicionais, objetivos, e características dainvenção serão demonstradas em parte na descrição que sesegue e em parte se tornarão aparentes para aqueles versadosna técnica ao examinarem o seguinte ou podem ser aprendidospela prática da invenção. Os objetivos e outras vantagens dainvenção podem ser entendidos e obtidos pela estruturaapontada particularmente na descrição escrita ereivindicações dela assim como os desenhos anexados.
Para conseguir estes objetivos e outras vantagens e deacordo com o propósito da invenção, como é expresso eamplamente descrito na presente invenção, um método paragravar informação de gerenciamento de defeitos de um meio degravação inclui gravar uma entrada de defeitos no meio degravação, no qual a entrada de defeitos inclui um primeirocampo que pode identificar um tipo de entrada de defeitos, umsegundo campo gravando informação de posição de uma área dedefeitos dentro da área de dados do usuário, e um terceirocampo gravando informação de posição de uma área desubstituição dentro de uma área de reserva, e gravandoinformação de posição correspondente ao segundo campo e/ou oterceiro campo de acordo com o tipo de entrada de defeitosdecidido pelo primeiro campo, no qual, no caso de um tipo deentrada de defeito não tendo nenhuma informação de posiçãocorrespondente, o campo correspondente é definido em zero(0).
Em um outro aspecto da presente invenção, ao gravar umcluster defeituoso como uma entrada de defeito dentro de umaárea de reserva, um método para gravar informação degerenciamento de defeitos de um meio de gravação, incluiinformação de estado de gravação para identificar um tipo daentrada de defeitos (isto é, tipo de entrada de defeitos) emum primeiro campo da entrada de defeitos, definindo em zero(0) um segundo campo da entrada de defeitos para gravarinformação de posição de uma área de defeitos dentro de umaárea de dados do usuário, e gravar um endereço do clusterdefeituoso dentro da área de reserva correspondente em umterceiro campo da entrada de defeitos, no qual a informaçãode posição de uma área de substituição dentro da área dereserva é gravada.
Em um outro aspecto da presente invenção, um método paraatualizar a informação de gerenciamento de defeitos inclui,ao atualizar uma lista de defeitos já existente pelo uso deuma nova entrada de defeitos como a informação degerenciamento de defeitos, classificar as entradas dedefeitos registradas na lista de defeitos já existente e asentradas de defeito que devem ser atualizadas, deste modoatualizando a lista de defeitos, na qual a classificação dasentradas de defeito é realizada pela classificação dasentradas de defeitos por cada tipo, e pela classificação dasentradas de defeitos por ordem de endereço de setor fisico(PSN) dentro do mesmo tipo de entrada de defeito.
Em um outro aspecto da presente invenção, em um métodopara classificar uma pluralidade de entradas de defeitos, ométodo para classificar entradas de defeitos incluiclassificar primariamente as entradas de defeitos por cadatipo, e baseadas na classificação primária, e dentro do mesmotipo de entrada de defeitos, classificar secundariamente asentradas de defeitos começando seqüencialmente do número desetor fisico mais baixo (PSN) entre os clusters defeituosose/ou clusters de substituição gravando no tipo de entradacorrespondente.
Em um outro aspecto da presente invenção, um método paraformatar um meio de gravação inclui selecionar um método decertificação, e, ao usar um método de certificação rápida,certificar somente as entradas de defeitos incluídas em umalista de defeitos classificada, de modo a conferir novamentese existe algum defeito, no qual as entradas de defeitos nalista de defeito classificada são classificadas pelo tipo deentrada de defeitos, e no qual dentro do mesmo tipo deentrada de defeitos, a classificação é realizadaseqüencialmente de um cluster tendo o número de setor físicomais baixo (PSN), entre os clusters defeituosos e/ou clustersde substituição gravados no tipo de entrada de defeitoscorrespondente.
Em um outro aspecto da presente invenção, um meio degravação inclui uma área de dados e uma área de inicioadjacente a uma área de dados, e uma área de gerenciamento dedefeitos gravando na área de início de entradas de defeitospara gerenciar defeitos dentro da área de dados, na qual aentrada de defeitos sendo gravada na área de gerenciamento dedefeitos compreende um primeiro campo que pode identificar umtipo de entrada de defeitos, um segundo campo gravandoinformação de posição de uma área de defeitos dentro de umaárea de dados do usuário, e um terceiro campo gravandoinformação de posição de uma área de substituição dentro deuma área de reserva, e na qual a informação de posiçãocorrespondente ao segundo campo e/ou ao terceiro campo égravada de acordo com o tipo de entrada de defeitos decididopelo primeiro campo, no qual, no caso de um tipo de entradade defeitos que não tenha informação de posiçãocorrespondente, o campo correspondente é definido em zero (0).
Em um outro aspecto da presente invenção, um aparelhopara gravar informação de gerenciamento de defeitos em ummeio de gravação, inclui um captador, e um micro computadorcontrolando o captador de modo que clusters defeituososgerados recentemente durante uma gravação e/ou reprodução domeio de gravação são gravados como uma entrada de defeitos,na qual a entrada de defeitos é gravada pela configuração deum primeiro campo que pode identificar um tipo de entrada dedefeitos, um segundo campo gravando informação de posição deuma área de defeitos dentro de uma área de dados do usuário,e um terceiro campo gravando informação de posição de umaárea de substituição dentro de uma área de reserva, econtrolando o captador de modo que a informação de posiçãocorrespondente ao segundo campo e/ou ao terceiro campo égravada de acordo com o tipo de entrada decidido peloprimeiro campo, no qual, no caso de um tipo de entrada dedefeitos que não tenha informação de posição correspondente,o campo correspondente é definido em (0).
Em um aspecto adicional da presente invenção, umaparelho para gravar informação de gerenciamento de defeitosem um meio de gravação, inclui um captador, e um microcomputador controlando o captador de modo que clustersdefeituosos dentro de uma área de reserva geradosrecentemente durante uma gravação e/ou reprodução do meio degravação são gravados como uma entrada de defeitos, na qual ainformação de estado para identificar um tipo de entrada dedefeitos (isto é, um tipo de entrada de defeitos) é gravadaem um primeiro campo da entrada de defeitos, um segundo campoda entrada de defeitos gravando informação de posição de umaárea de defeitos dentro de uma área de dados do usuário édefinido em zero (0), e um terceiro campo da entrada dedefeitos é gravado com um endereço do cluster defeituosodentro da área de reserva correspondente.
Deve ser entendido que ambas a descrição geral anteriore a seguinte descrição detalhada da presente invenção sãoexemplares e explanatórias e têm a intenção de fornecerexplicação adicional da invenção como reivindicado.
BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS
Os desenhos associados, que estão incluídos parafornecer um entendimento adicional da invenção e estãoincorporados e constituem uma parte deste pedido, ilustrammodalidades da invenção e juntos com a descrição servem paraexplicar o principio da invenção.
Nos desenhos:
A figura 1 ilustra etapas de processo exemplar de ummétodo de gerenciamento de defeitos em um meio de gravaçãoempregado na presente invenção;
A figura 2A e figura 2B ilustram respectivamente umaestrutura de uma entrada de defeitos como uma informação degerenciamento de defeitos de acordo com a presente invenção;
A figura 3A e figura 3B ilustram exemplos para descrevertipos de entrada de defeitos e métodos de gravação de acordocom a presente invenção;
A figura 4A e figura 4B ilustram respectivamente ummétodo de gerenciamento de defeitos e um método para gravarinformação de gerenciamento de defeitos;
A figura 5 ilustra um aparelho de gravação e reproduçãode um meio de gravação de acordo com a presente invenção;
A figura 6 ilustra um gráfico de fluxo de um método paragravar informação de gerenciamento de defeitos de acordo coma presente invenção; e
A figura 7 ilustra um gráfico de fluxo de um método paraformatar o meio de gravação de acordo com a presenteinvenção.
MELHOR MODO PARA EXECUTAR A INVENÇÃO
Agora será feita referência em detalhes às modalidadespreferidas da presente invenção, exemplos das quais sãoilustrados nos desenhos associados. Onde quer que sejampossíveis, os mesmos números de referência serão usados emtodos os desenhos para se referirem as mesmas partes ou apartes similares.
Antes de descrever a presente invenção, deveria sernotado que a maioria dos termos descritos na presenteinvenção correspondem a termos gerais bem conhecidos natécnica, mas alguns termos foram selecionados pelo requerentecomo necessários e doravante serão descritos na seguintedescrição da presente invenção. Portanto, é preferível que ostermos definidos pelo requerente sejam entendidos baseados emseus significados na presente invenção.
Um meio de gravação para uso na presente invenção éindicativo de todos os meios graváveis, por exemplo, um discoóptico, um disco magnético, e uma fita magnética, etc. Porconveniência de descrição e melhor entendimento da presenteinvenção, o disco óptico, e mais particularmente, o discoBlu-ray (BD) será doravante usado exemplarmente como o meiode gravação mencionado acima na presente invenção. Também éaparente que o espirito e escopo da presente invenção serãoidenticamente aplicados a outros tipos de meios de gravação.
A figura 1 ilustra etapas de processo exemplar de ummétodo de gerenciamento de defeitos em um meio de gravaçãoutilizado na presente invenção. Com referência a figura 1, odisco óptico consiste seqüencialmente em uma área de inicio euma área de dados começando da circunferência interna dodisco. A área de dados inclui uma área de reserva e uma áreade dados do usuário. No exemplo mostrado na figura 1, a áreade reserva é formada em uma área interna da área de dados.Entretanto, esta estrutura é somente exemplar e não limita aestrutura do disco óptico. Mais especificamente, a área dereserva pode ser fornecida em uma área externa da área dedados, ou pode ser fornecida em ambas as áreas interna eexterna da área de dados.
Quando um defeito é detectado em uma unidade de gravaçãoparticular (por exemplo, um cluster) dentro da área de dadosdo usuário, os dados que estão gravados ou que serão gravadosno cluster, do qual o defeito foi detectado, sãosubstituições gravadas em um cluster especifico dentro daárea de reserva. Após a gravação de substituição do clusterdefeituoso no cluster de substituição dentro da área dereserva, o fato de que os dados foram gravados emsubstituição deveria ser gravado como um conjunto separado deinformação de gerenciamento. Em outras palavras, uma área degerenciamento de defeitos (DMA) é fornecida na área deinicio, e a informação de gerenciamento é gravada no DMA.Mais particularmente, a informação de gerenciamento émencionada como uma lista de defeitos (DFL) . Cada lista dedefeitos é configurada por pelo menos uma entrada dedefeitos. Por exemplo, com referência a figura 1, quandoclusters defeituosos AeB são detectados dentro da área dedados do usuário, dados correspondentes aos clusters AeBsão gravados de substituição em clusters de substituição a eb dentro da área de reserva. 0 fato de que os dados foramgravados de substituição é adicionado à lista de defeitoscomo uma entrada de defeitos, deste modo sendo gravada noDMA.
A figura 2A e figura 2B ilustram respectivamente umaestrutura de uma entrada de defeitos como uma informação degerenciamento de defeitos de acordo com a presente invenção.Mais especificamente, a figura 2A ilustra uma estrutura deentrada de defeitos, e a figura 2B ilustra tipos de entradasde defeitos. Com referência a figura 2A, uma entrada dedefeitos pode ser configurada de 8 bytes (isto é, 64 bits) .Na presente invenção, a entrada de defeitos de 64-bits éamplamente dividida em 3 seções. A entrada de defeitos incluium primeiro campo (campo de xestado 1' de 4 bits e um campode 'estado 2' de 4 bits), um segundo campo (um campo dexPrimeiro PSN de Cluster Defeituoso' de 28 bits) e umterceiro campo (um campo de 'Primeiro PSN de Cluster deSubstituição'). Na presente invenção, o primeiro campo indicao tipo e estado da entrada de defeitos, o segundo campo gravaa informação de posição do cluster defeituoso, e o terceirocampo grava uma informação de posição do cluster desubstituição.
0 campo de 'estado 1' de 4 bits é usado como informaçãoque decide o tipo de entrada de defeitos. Com referência afigura 2B, por exemplo, quando o valor do campo de 'estado 1'de 4 bits é 1OOOOb' , isto indica que um cluster desubstituição esta localizado normalmente e que a entrada dedefeitos é gravada de substituição. Esta entrada de defeitosé mencionada como um 'tipo de Defeito Relocalizável 1' .Quando o valor do campo de 'estado 1' de 4 bits é 'OOOlb',isto indica que um cluster de substituição não é localizadopara o cluster defeituoso. Este tipo de entrada de defeitos émencionado como um ^tipo de Defeito (NRD) não relocalizável'.Além disso, quando o valor do campo de 'estado 1' de 4 bits é'0010b', isto indica que um cluster de reposição estálocalizado normalmente mas o cluster é localizado na área dereserva de modo a ser gravada de substituição em um processoposterior. Este tipo de entrada de defeitos é mencionado comoum 'tipo Reserva (SPR)'. Finalmente, quando o valor do campode 'estado 1' de 4 bits é 'Olllb', isto indica que o defeitofoi detectado(ou aconteceu) em um cluster de substituição, eportanto o cluster não pode ser usado como gravação desubstituição em um processo posterior. Este tipo de entradade defeitos é mencionado como um ^ipo não-utilizável'.
Mais especificamente, uma pluralidade de entradas dedefeitos existe dentro da lista de defeitos (DFL). E, cadaentrada de defeitos é classificada de acordo com um método declassificação particular e gravada na lista de defeitos. Comreferência a figura 2B, o método de classificação correspondea gravar a entrada de defeitos começando do segundo bit (bit62) do mesmo em um a ordem ascendente. Conseqüentemente, asentrada de defeitos são classificadas pelo campo de 'estado1', que é configurado em 4 bits (bit 63 a bit 60). Istoindica que a classificação é realizada por cada tipo deentrada de defeitos. Na presente invenção, a gravação daentrada de defeitos não é realizada começando do primeiro bit(bit 63) de modo que , quando executa o processo de gravaçãodas entradas de defeitos, tipo 1 RAD = 0000b' e tipo 2 RAD =1000b' pode ser considerado como a mesma entrada de defeitos.
Portanto, quando se classifica as entradas de defeitos pelaordem ascendente começando do segundo bit (bit 62), asentradas de defeitos dentro da lista de defeitos sãoclassificadas pela seguinte ordem: campo de xestado 1'segundo campo (campo de 'Primeiro PSN de Cluster Defeituoso')campo de Estado 2' -> terceiro campo (campo de xPrimeiroPSN de Cluster de Substituição').A figura 3A até a figura 3E ilustram exemplos paradescrever tipos de entradas de defeitos e métodos de gravaçãode acordo com a presente invenção. Aqui, a figura 3A ilustraa entrada de defeitos do xtipo 1 RAD'. Mais especificamente,a entrada de defeitos 1 RAD tem normalmente gravado desubstituição o cluster defeituoso dentro do cluster desubstituição. Portanto, por exemplo, os dados que foram ouserão gravados no cluster de substituição (A) dentro da áreade dados do usuário são gravados de substituição no clusterde substituição (a) dentro da área de reserva. Em outraspalavras, o método de gravação da entrada de defeitos doxtipo 1 RAD' inclui gravar um valor xOOOOb' identificando aentrada de defeitos como o xtipo 1 RAD' dentro do campo dexestado 1' , gravar um primeiro número de setor físico (PSN)do cluster defeituoso (A) dentro do segundo campo {xcampo deprimeiro PSN de Cluster Defeituoso') , gravar um valor xOOOOb'indicando um estado normal dentro do campo de xestado 2', egravar um primeiro número de setor físico (PSN) do cluster desubstituição (a) dentro do terceiro campo (campo de ^primeiroPSN de Cluster de Substituição'). Conseqüentemente, um valorindicando um novo estado que é decidido durante um processode padronização pode ser gravado no campo de xestado 2' napresente invenção. Entretanto, somente os exemplos, dasentradas de defeitos que têm um valor de estado normal'0000b' serão dados na descrição 3A até a figura 4B dapresente invenção.
A figura 3B ilustra a entrada de defeitos do xtipo 2RAD' . Mais especificamente, a entrada de defeitos 1 RADlocaliza um cluster de substituição correspondente ao clusterdefeituoso, mas a gravação de substituição não é realizadaainda no cluster de substituição. Portanto, por exemplo, umcluster de substituição (a) é localizado dentro de uma áreareserva para os dados que foram ou serão gravados no clusterdefeituosos (A) dentro da área de dados do usuário. Em outraspalavras, o método de gravação da entrada de defeitos doxtipo 2 RAD' inclui gravar um valor de xIOOOb' identificandoa entrada de defeitos como o 'tipo 2 RAD' dentro do campo de'estado 1' , gravar um primeiro número de setor fisico (PSN)do cluster defeituoso (A) dentro do segundo campo ('campo deprimeiro PSN de Cluster Defeituoso'), gravar um valorxOOOOb' indicando um estado normal dentro do campo de 'estado2' , e gravar um primeiro número de setor fisico (PSN) docluster de substituição (a) dentro do terceiro campo (campode 'primeiro PSN de Cluster de Substituição' ) .
A figura 3C ilustra a entrada de defeitos do 'tipo NRD'.Mais especificamente, a entrada de defeitos não localizouainda o cluster de substituição correspondente ao clusterdefeituoso. Portanto, por exemplo, quando o clusterdefeituoso (A) é detectado na área de dados do usuário,somente a entrada de defeitos para gerenciar o clusterdefeituoso detectado (A) é gravada. Em outras palavras, ométodo de gravação da entrada de defeitos do 'tipo NRD'inclui gravar um valor OOOlb' identificando a entrada dedefeitos como o 'tipo NRD' dentro do campo de 'estado 1' ,gravar um primeiro número de setor fisico (PSN) do clusterdefeituoso (A) dentro do segundo campo ('campo de primeiroPSN de Cluster Defeituoso'), gravar um valor '0000b'indicando um estado normal dentro do campo de 'estado 2', egravar valores zero ( Ό 00 00 00h') para todos os 28 bitsdentro do terceiro campo (campo de 'primeiro PSN de Clusterde Substituição').
A figura 3D ilustra a entrada de defeitos do 'tipo SPR'.Mais especificamente, a entrada de defeitos SPR representa umcluster de substituição normal que existe dentro da área dereserva para um processo de gravação de substituiçãoposterior. Portanto, por exemplo, quando um clusterdefeituoso é detectado (ou ocorre), a gravação desubstituição pode ser realizada na posição do cluster desubstituição designado dentro da primeira entrada de defeitosSPR entre a pluralidade de entradas de defeitos registradascomo entrada de defeitos SPR de acordo com a classificação dalista de defeitos. Em outras palavras, o método de gravaçãoda entrada de defeitos do 'tipo SPR' inclui gravar um valor'0010b' identificando a entrada de defeitos como o 'tipo SPR'dentro do campo de xestado 1', gravar valores zero ('0 00 0000h') para todos os 28 bits dentro do segundo campo (campo deAprimeiro PSN de Cluster de Defeituoso')já que um clusterdefeituoso correspondente não é ainda localizado, gravar umvalor '0000b' indicando um estado normal dentro do campo deAestado 2', e gravar um primeiro PSN do cluster desubstituição (por exemplo, 'a', 'b'e xc') dentro do terceirocampo (campo de ^primeiro PSN de Cluster de Substituição').Com referência a figura 3D, se três clusters de substituição(a) , (b), e (c) são registrados como entradas de defeitos dotipo SPR, os clusters de substituição são classificados egravados dentro da área de reserva pela ordem do PSN maisbaixo, tal como 'a' → 'b' → 'c'.
A figura 3E ilustra a entrada de defeitos do 'tipo não-utilizável'. Mais especificamente, a entrada de defeitos não-utilizável representa clusters que não são usados devido adefeitos detectados dentro da área de reserva. Portanto, porexemplo, quando um cluster particular dentro da área dereserva é detectado como sendo defeituoso, o cluster ésubstituído com um cluster de substituição normal registradodentro da entrada de defeitos SPR, enquanto o clusterdefeituoso detectado dentro da área de reserva é registrado egerenciado como uma entrada de defeitos xnão-utilizável'. Emoutras palavras, o método de gravação da entrada de defeitos'não-utilizável' inclui gravar um valor '0111b' identificandoa entrada de defeitos como o vtipo 1 não-utilizável' dentrodo campo de Aestado 1', gravar valores zero ('0 00 00 00h')para todos os 28 bits dentro do segundo campo Pcampo deprimeiro PSN de Cluster Defeituoso') já que um clusterdefeituoso correspondente não existe, gravar um valor '0000b'indicando um estado normal dentro do campo de 'estado 2', egravar um primeiro PSN dos clusters (por exemplo, 'a', e 'c')dentro da área de reserva que são detectados como sendodefeituosos dentro do terceiro campo (campo de primeiro PSNde Cluster de Substituição'). Com referência a figura 3E, sedois clusters de substituição (a) e (c) são detectados comosendo defeituosos dentro da área de reserva, cada um dosclusters é registrado como uma entrada de defeitos 'não-utilizável'. E, estas entradas de defeitos 'não-utilizáveis'são classificadas e gravadas dentro da área de reserva porordem do PSN mais baixo, tal como 'a' → 'vc'.
Mais especificamente, na presente invenção, ao gravar osegundo campo (campo de ^primeiro. PSN de Cluster Defeituoso' )da entrada de defeitos 'não-utilizável', é necessário gravartodos os 28 bits dessa maneira: como valores zero. ('0 00 0000h'). Se um conjunto de dados simulado arbitrário que nãocorresponde ao valor zero ('0 00 00 00h') for gravado nosegundo campo (campo de %primeiro PSN de ClusterDefeituoso'), a classificação pode ser realizadaaleatoriamente e não pela ordem de classificação particulardescrita acima. Em outras palavras, como o segundo campo éclassificado antes do terceiro campo, se o valor do segundocampo for gravado como dados simulados arbitrários, aclassificação das entradas de defeitos 'não-utilizáveis' podenão ser realizada adequadamente. Conseqüentemente, se umprocesso de formatação incluindo um processo de certificaçãodeve ser realizado, e se a classificação das entradas dedefeitos 'não-utilizáveis' não for realizada adequadamente, umproblema pode ocorrer na determinação do local (ou posição)do cluster defeituoso designado pela entrada de defeitos'não-utilizável'. Particularmente, ao realizar um processo deformatação incluindo certificação, um meio captadorfreqüentemente realiza operações de busca tais como operaçõesde salto de trilha para determinar a posição (ou lugar) docluster defeituoso correspondente à entrada de defeitos 'não-utilizável' dentro da área de reserva. Tais operações debusca freqüentes deterioram o desempenho de todo o sistema.
Para resolver tais problemas, prefere-se que as entradasde defeitos 'não-utilizáveis' sejam classificadas dentro daárea de reserva por uma ordem ascendente começando do PSNmais baixo. Conseqüentemente, para realizar uma classificaçãopreferível das entradas de defeitos utilizáveis', o segundovalor de campo (campo de 'primeiro PSN de ClusterDefeituoso') dentro das entradas de defeitos 'não-utilizáveis' deveriam ser gravadas como valores zero (0 00 0000h'). Portanto, ao realizar o processo de formataçãoincluindo certificação, é feita referência às entradas dedefeitos 'não-utilizáveis' classificadas como descritas acima(por exemplo, a classificação é realizada pela ordem deposição dos clusters defeituosos dentro da área de reservaque são gravadas no terceiro campo das entradas de defeito'não-utilizáveis'), de modo que os clusters defeituosospossam ser certificados pela ordem de PSN classificada comodescrita acima. Deste modo, sem ter que realizar nenhumaoperação de busca ou pela realização somente de um númeromínimo de operações de busca, tais como operações de salto detrilha, o sistema pode buscar a posição de cada clusterdefeituoso dentro da área de reserva por uma ordem específicade modo a certificar o cluster correspondente.
A figura 4A e figura 4B ilustram respectivamente ummétodo de gerenciamento de defeitos e um método para gravarinformação de gerenciamento de defeitos. Nos exemplosmostrados na figura 4A e figura 4B, cada tipo de entrada dedefeitos é classificado para configurar uma lista de defeitos(DFL). Por exemplo, como é mostrado na figura 4A, cada um dosclusters defeituosos Ά' e 'C' e clusters de substituição 'a'e 'c' configura as entrada de defeitos associadas com o 'tipo1 RAD'. Também, cada um dos clusters defeituosos 'B' e 'D' eclusters de substituição 'e' e 'f' configura as entradas dedefeitos associadas com o tipo 2 RAD'. Ε, o clusterdefeituoso Έ' configura a entrada de defeitos associada como 'tipo NRD' . Além disso, cada um dos clusters desubstituição 'h', 'i' e 'j' configura as entradas de defeitoassociadas com o 'tipo SPR'. Finalmente, cada um dos clustersdefeituosos 'b', 'd', e 'g' dentro da área de reservaconfigura as entradas de defeitos associadas com o 'tipo não-utilizável'.
No exemplo mostrado na figura 4A, figura 4B ilustra umalista de defeitos (DFL) tendo as entradas de defeitosclassificadas nesse lugar. As entradas de defeito sãoclassifiçadas primeiro pelos tipos de entrada de defeitos,mais especificamente, pela ordem de tipo 'RAD' → tipo 'NRD'→tipo ^SPR' → tipo *não-utilizável'. Conseqüentemente, dentrodo mesmo tipo de entrada de defeitos, as entradas de defeitosão classificadas de acordo com os valores gravados nosegundo campo (campo de ^primeiro PSN de Cluster Defeituoso')e/ou no terceiro campo (campo de xprimeiro PSN de Cluster deSubstituição'). Baseado na regra de classificação descritaacima, a figura 4B ilustra em uma forma de tabela aconfiguração classificada final das entradas de defeitosgeradas, como mostrado na figura 4A. Conseqüentemente, emboraseja aparente que os clusters de substituição normais dentroda área de reserva estão todos incluídos nas entradas do tipo*SPR', somente 3 clusters normais 'h', 'i', e 'j' serãoilustrados na figura 4B, para simplicidade da descrição dapresente invenção. Além disso, não considerando que os tiposde entradas de defeitos descritos na presente invenção,outros tipos de entradas de defeitos (por exemplo, um tipo deÁrea possivelmente má (PBA) pode existir, e neste caso, omeio de gravação de entrada de defeitos e método declassificação de acordo com a presente invenção pode seraplicado).
A figura 5 ilustra um aparelho de reprodução e gravaçãoóptica de um meio de gravação de acordo com a presenteinvenção. O aparelho de reprodução e gravação óptica, quegrava dados no disco óptico ou reproduz os dados gravadosnele, inclui um dispositivo de reprodução/gravação 20, umcontrolador 12, um decodificador de áudio/vídeo (AV) 17, e umcodificador AV 18. 0 dispositivo de reprodução/gravação 20inclui uma unidade captadora 11 para gravar dados diretamenteno disco óptico ou para ler dados gravados no disco óptico,um processador de sinal 13 para recuperar a reprodução desinal recebida da unidade captadora 11 para um valor de sinaldesejado ou para modular um sinal a ser gravado para um sinalgravável em disco óptico e transmitir o sinal modulado para aunidade captadora 11, um servo 14 para ler precisamente osinal do disco óptico, ou controlar as operações da unidadecaptadora 11, uma memória 15 para armazenar temporariamente ainformação de gerenciamento incluindo a informação degerenciamento de defeitos, e um microcomputador 15controlando as operações acima. Um aparelho incluindo somenteo dispositivo de reprodução/gravação 20 é mencionado como um"acionador", que é também usado como um dispositivo decomputador periférico.
Também, o controlador 12 controla a operação completa doaparelho de reprodução e gravação óptica. E, de acordo com apresente invenção, o controlador 12 se refere aos comandos dousuário através de uma interface do usuário e transmite umcomando de gravação (ou escrita) e/ou reprodução (ou leitura)para dados de gravação no disco óptico e para reproduzirdados para o dispositivo de reprodução/gravação 20. Alémdisso, de acordo com os controles do controlador 12, odecodificador AV 17 decodifica o sinal lido do disco óptico edecodifica o sinal lido, de modo a recuperar o sinal comoinformação desejada, deste modo fornecendo a informaçãorecuperada para o usuário. E, para realizar a função degravar um sinal no disco óptico, o codificador AV 18 converteum sinal de entrada em um sinal de um formato especifico (porexemplo, um fluxo de transporte MPEG-2) dependendo doscontroles do controlador 12 e, então, fornece o sinalconvertido para o processador de sinal 13. Conseqüentemente,dependendo do produto, o microcomputador 16 e o controlador12 podem ser formados como um corpo único de modo a formaruma parte do controlador. Em seguida, um método para gravarinformação de gerenciamento de defeitos e um método paraformatar o meio de gravação usando o aparelho de reprodução egravação óptica de acordo com a presente invenção serãodescritos agora com referência às figuras 6 e 7.A figura 6 ilustra um gráfico de fluxo de um método paragravar informação de gerenciamento de defeitos de acordo coma presente invenção. Quando um disco é carregado no aparelhode reprodução e gravação óptica, a gravação de dados no discoou a leitura de dados do disco é iniciada de acordo com ocomando do controlador 12 (S10). Se uma área de defeitos édetectada durante a realização da Etapa 10 (S20) , omicrocomputador 16 decide se a lista de defeitos (DFL) deveser atualizada (S30) ou não. Mais especificamente, dependendo do sistema, ou a lista de defeitos é imediatamente atualizadaapós a área de defeitos ter sido detectada, ou o processo degravação (ou escrita)/reprodução(ou leitura) é realizadodurante um período predeterminado e todas as áreas de defeitoque são detectadas durante o período correspondente sãorelatadas simultaneamente de modo que a lista de defeitospossa ser atualizada.
Na etapa 30, se a lista de defeitos vai ser atualizada,as entradas de defeitos que já foram registradas dentro dalista de defeitos são classificadas junto com as entradas de defeitos detectadas comumente, de modo a criar uma nova listade defeitos (S40). O processo de classificação é realizadobaseado no método de gravação por cada tipo de entrada dedefeitos e regra de classificação. Portanto, por exemplo, oformato da lista de defeitos atualizada finalmente pode ser amesma que o formato mostrado na figura 4B.
A figura 7 ilustra um gráfico de fluxo de um método paraformatar o meio de gravação de acordo com a presenteinvenção. Na presente invenção, o processo de "formatação"(no qual um processo de "reformatação" também é incluído) é usado para desconsiderar (ou ignorar) os dados existentesinicialmente dentro do disco e uso recente do disco.Conseqüentemente, quando um processo de formatação érealizado de acordo com um comando do usuário (S100), o discopode ser recentemente usado (ou ser reutilizado). Ao realizar o processo de formatação, um processo de certificaçãocertificando todas as áreas ou uma área particular dentro dodisco pode ser realizado seletivamente (S200). Por exemplo,todas as áreas dentro do disco são certificadasseqüencialmente começando da primeira área de modo adeterminar se um defeito existe ou não. Entretanto, quando umdefeito é detectado uma lista de defeitos é feita (DFL) deacordo com o método de gravação de defeitos e o método declassificação descrito acima. Esta etapa é mencionadaparticularmente como um método de Certificação Completa'(S300).
Embora o processo de Certificação completa' satisfaça aperfeição do processo de certificação, um tempo longo énecessário para o processo. Portanto, somente o clusterdefeituoso registrado como a área de defeitos dentro da listade defeitos já existente (DFL) pode ser certificadoseletivamente. Esta etapa é mencionada particularmente comoum método de Certificação rápida' (S400). Ao usar o métodode Certificação rápida, o processo de certificação érealizado baseado na entrada de defeitos registrada. Maisespecificamente, o tipo Λ1 RAD', tipo y2 RAD', e as entradasde defeitos do tipo aNRD' certificam somente os clustersdefeituosos na área de dados do usuário registrados para osegundo campo dentro de cada entrada de defeitos. Além disso,as entradas de defeitos do tipo xnão-utilizável' certificamsomente os clusters defeituosos na área de reserva registradapara o terceiro campo dentro de cada entrada de defeitos.
Por exemplo, ao executar o método de Certificaçãorápida' baseado na lista de defeitos classificada como émostrado na figura 4A e figura 4B, o sistema é capaz decertificar seqüencialmente somente os clusters defeituososcomeçando da circunferência interna do disco óptico (isto é,começando do cluster que tem o PSN mais baixo) . Portanto, osclusters *b' , xd' , e , que são clusters defeituosos ^não-utilizáveis' dentro da área de reserva, são certificadosseqüencialmente, e os clusters Ά', ΛΒ', C, ^D', e λΕ', quesão os clusters defeituosos dentro da área de dados dousuário, também são certificados seqüencialmente.O meio de gravação, e o método e aparelho para gravarinformação de gerenciamento de defeitos no meio de gravaçãode acordo com a presente invenção tem as seguintes vantagens.Ao usar o método de gravação de gerenciamento de defeitospreferido e método de classificação do meio de gravação, ainformação de gerenciamento de defeitos pode ser controladaeficientemente. Também, a classificação das entradas dedefeitos configurando a informação de gerenciamento dedefeitos pode também ser facilitada.
APLICABILIDADE INDUSTRIAL
Será aparente para aqueles versados na técnica quevárias modificações e variações podem ser feitas na presenteinvenção sem se afastar do espirito ou escopo das invenções.Deste modo, pretende-se que a presente invenção cubra asmodificações e variações desta invenção desde que elasestejam dentro do escopo das reivindicações anexadas e suasequivalentes.

Claims (17)

1. Método para gravar informação de gerenciamento dedefeito de meio de gravação, caracterizado por compreender:- a gravação de uma entrada de defeitos no meio degravação, no qual a entrada de defeitos compreende:■ um primeiro campo que pode identificar um tipode entrada de defeitos;■ um segundo campo que grava informação de posiçãode uma área de defeitos dentro de uma área de dados dousuário; e■ um terceiro campo que grava informação deposição de uma área de substituição dentro de uma área dereserva; e- a gravação de informação de posição correspondente aosegundo campo e/ou ao terceiro campo de acordo com o tipo deentrada de defeitos decidido pelo primeiro campo, no qual, nocaso de um tipo de entrada de defeitos que não tenhainformação de posição correspondente, o campo correspondenteé definido em zero (0).
2. Método, de acordo com a reivindicação 1,caracterizado pelo fato de que, quando a entrada de defeitosé um tipo 'não-utilizável', o valor do segundo campo dentroda entrada de defeitos correspondente é definido em zero (0).
3. Método, de acordo com a reivindicação 1,caracterizado pelo fato de que, quando a entrada de defeitosé um tipo de 'reserva (SPR)', o valor do segundo campo dentroda entrada de defeitos correspondente é definido em zero (0).
4. Método, de acordo com a reivindicação 1,caracterizado pelo fato de que, quando a entrada de defeitosé um tipo de 'defeito não relocalizável (NRD)', o valor doterceiro campo dentro da entrada de defeitos correspondente édefinido em zero (0).
5. Método para gravar informação de gerenciamento dedefeito de meio de gravação, caracterizado por compreender:- gravar informação do estado para identificar um tipode entrada de defeitos em um primeiro campo da entrada dedefeitos;- definir em zero (0) um segundo campo da entrada dedefeitos gravando informação de posição de uma área dedefeitos dentro de uma área de dados do usuário; e- gravar um endereço do cluster defeituoso dentro daárea de reserva correspondente em um terceiro campo daentrada de defeitos, no qual a informação de posição de umaárea de substituição dentro da área de reserva é gravada.
6. Método para atualizar informação de gerenciamento dedefeito, caracterizado por compreender:- ao atualizar uma lista de defeitos já existente pelouso de uma nova entrada de defeitos como a informação degerenciamento de defeitos, classificar as entradas dedefeitos registradas na lista de defeitos já existente e asentradas de defeitos que serão atualizadas, deste modoatualizando a lista de defeitos,- na qual a classificação das entradas de defeitos érealizada pela classificação das entradas de defeitos porcada tipo, e pela classificação das entradas de defeitos pelaordem de endereço de setor físico (PSN) dentro do mesmo tipode entrada de defeitos.
7. Método para classificar uma pluralidade de entrada dedefeito, o método para classificar entradas de defeito,caracterizado por compreender:- classificar primariamente as entradas de defeitos pelaidentificação das entradas de defeitos por cada tipo; e- baseado na classificação primária, e dentro do mesmotipo de entrada de defeitos, classificar secundariamente asentradas de defeitos seqüencialmente começando do número desetor físico mais baixo (PSN) entre os clusters defeituosose/ou clusters de substituição gravando no tipo de entradacorrespondente.
8. Método, de acordo com a reivindicação 7,caracterizado pelo fato de que, ao realizar a classificaçãosecundária, e quando o tipo de entrada de defeitos é um tipo'não-utilizável', as entradas de defeitos correspondentes sãoclassificadas por ordem de clusters defeituosos tendo onúmero de setor físico mais baixo (PSN) dentro da área dereserva.
9. Método, de acordo com a reivindicação 7,caracterizado pelo fato de que, ao realizar a classificaçãosecundária, e quando o tipo de entrada de defeitos é um tipode 'reserva (SPR), as entradas de defeitos correspondentessão classificadas por ordem de clusters de substituição tendoo número de setor físico mais baixo (PSN) dentro da área dereserva.
10. Método, de acordo com a reivindicação 7,caracterizado pelo fato de que, ao realizar a classificaçãosecundária, e quando o tipo de entrada de defeitos é um tipode 'defeito não relocalizável (NRD)', as entradas de defeitoscorrespondentes são classificadas por ordem de clustersdefeituosos tendo o número de setor físico mais baixo (PSN)dentro da área de dados do usuário.
11. Método, de acordo com a reivindicação 7,caracterizado pelo fato de que, ao realizar a classificaçãosecundária, e quando o tipo de entrada de defeitos é um tipode 'defeito relocalizável. (RAD)', as entradas de defeitoscorrespondentes são classificadas por ordem de clustersdefeituosos tendo o número de setor físico mais baixo (PSN)dentro da área de dados do usuário.
12. Método para formatar meio de gravação, caracterizadopor compreender:- selecionar um método de certificação; e- ao usar um método de certificação rápida, certificarsomente as entradas de defeitos incluídas em uma lista dedefeitos classificada, de modo a conferir novamente se existealgum defeito, no qual as entradas de defeitos na lista dedefeitos classificada são classificadas pelo tipo de entradade defeitos, e no qual, dentro do mesmo tipo de entrada dedefeitos, a classificação é realizada seqüencialmentecomeçando de um cluster tendo o número de setor físico maisbaixo (PSN), entre os clusters defeituosos e/ou clusters desubstituição gravados no tipo de entrada de defeitoscorrespondente.
13. Método, de acordo com a reivindicação 12,caracterizado pelo fato de que, ao usar um método decertificação rápida, e quando a entrada de defeitos é um tipoxnão-utilizável', as entradas de defeito correspondentes sãocertificadas pela ordem de clusters defeituosos tendo onúmero de setor físico mais baixo (PSN) dentro de uma área dereserva.
14. Método, de acordo com a reivindicação 12,caracterizado pelo fato de que, ao usar um método decertificação completa, todos os clusters são certificadosseqüencialmente pela ordem do número de setor mais baixo(PSN) começando de uma circunferência interna do meio degravação, deste modo verificando se existe um defeito.
15. Meio de gravação, caracterizado por compreender:- uiha área de dados e uma área de início adjacente àárea de dados; e- uma área de gerenciamento de defeitos gravando na áreade início entradas de defeitos para gerenciar defeitos dentroda área de dados, na qual a entrada de defeitos sendo gravadana área de gerenciamento de defeitos compreende um primeirocampo que pode identificar um tipo de entrada de defeitos, umsegundo campo_ gravando informação de posição de uma área dedefeitos dentro de uma área de dados do usuário, e umterceiro campo gravando informação de posição de uma área desubstituição dentro de uma área de reserva, e na qual ainformação de posição correspondente ao segundo campo e/ou aoterceiro campo é gravada de acordo com o tipo de entrada dedefeitos decidida pelo primeiro campo, no qual, no caso de umtipo de entrada de defeitos não tendo informação de posiçãocorrespondente, o campo correspondente é definido em zero(0) .
16. Aparelho para gravar informação de gerenciamento dedefeito de meio de gravação, caracterizado por compreender:- um captador; e- um microcomputador controlando o captador de modo queos clusters defeituosos gerados recentemente durante umagravação e/ou reprodução do meio de gravação são gravadoscomo uma entrada de defeitos, no qual a entrada de defeitos égravada pela configuração de um primeiro campo que podeidentificar um tipo de entrada de defeitos, um segundo campogravando informação de posição de uma área de defeitos dentrode uma área de dados do usuário, e um terceiro campo gravandoinformação de posição de uma área de substituição dentro deuma área de reserva, e controlando o captador de modo que ainformação de posição correspondente ao segundo campo e/ou aoterceiro campo é gravada de acordo com o tipo de entrada dedefeitos decidida pelo primeiro campo, no qual, no caso de umtipo de entrada de defeitos não tendo informação de posiçãocorrespondente, o campo correspondente é definido em zero(0).
17. Aparelho para gravar informação de gerenciamento dedefeito de meio de gravação, caracterizado por compreender:- um captador; e- um microcomputador controlando o captador de modo queclusters defeituosos dentro de uma área de reserva geradosrecentemente durante uma gravação e/ou reprodução do meio degravação são gravados como uma entrada de defeitos, na qual ainformação de estado para identificar um tipo da entrada dedefeitos é gravada em um primeiro campo da entrada dedefeitos, um segundo campo da entrada de defeitos gravandoinformação de posição de uma área de defeitos dentro de umaárea de dados do usuário é definido em zero (0), e umterceiro campo da entrada de defeitos é gravado com umendereço do cluster defeituoso dentro da área de reservacorrespondente.
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