CH153231A - Ablesemikroskop für Kreis- und Längenteilungen. - Google Patents

Description

      Ablesemikroskop    für Kreis- und     Längenteilungen.            Ablesemikroskope    für Kreis- und Län  genteilungen, bei denen die Bruchteile eines       Intervalles    der abzulesenden Teilung durch       Kippung    einer planparallelen, in den Strah  lengang eingeschalteten Glasplatte gemessen  werden, sind bekannt. Bei diesen bekannten       Ablesemikroskopen    wird die Grösse der     Kip-          pung    an einem Gradbogen ausserhalb des  Mikroskoptubus abgelesen.

   Man muss dabei  bei     Ablesung    einer Teilung das Auge so  einstellen, dass man durch das Okular diese  deutlich sieht und dann so, dass man die re  lativ gröbere Teilung des Gradbogens ablesen  kann, wobei zur letzten     Ablesung    sowohl die       Akkomodationsstellung    des Auges wie die  Kopflage geändert werden muss.  



  Gegenstand der vorliegenden- Erfindung  ist nun ein     Ablesemikroskop    der eingangs  erwähnten Art, vermittelst welchem vorge  nannte Umstellung vermieden und beide Ope  rationen vereinigt werden sollen.  



  Das     Ablesemikroskop    gemäss der Erfin  dung zeichnet sich dadurch aus, dass     di:@     Grösse der     Kippung    in bezug auf die     abzu-.       lesende Teilung mit einem im Innern des  Mikroskoptubus liegenden, mit der     Kipp-          achse    und der Glasplatte fest     verbundenrn     Arm messbar ist.  



  Die Zeichnung bezieht sich auf eine bei  spielsweise Ausführungsform des Erfin  dungsgegenstandes und auf Varianten, und  es zeigt:       Fig.    1 einen Längsschnitt durch das  Ausführungsbeispiel,       Fig.    2 einen Längsschnitt rechtwinklig  zu der Kippachse desselben,       Fig.    3 und 4 die Gesichtsfelder dieses  Ausführungsbeispiels,       Fig.    5 und 6 die Gesichtsfelder einer  Variante, und       Fig.    7 einen Längsschnitt durch eine De  tailvariante.  



  Es bedeutet in den     Fig.    1 und 2     tt    die  Fläche, auf der die abzulesende Teilung auf  getragen ist, o das Objektiv, a das Okular  des     Mikroskopes.    Der     Ablesestrich    b       (Fig.    3 und 4), der das ganze Gesichtsfeld  überspannt, ist auf der Strichplatte w auf-      getragen und liegt in der Bildebene f. Zwi  schen dem Objektiv o und der Bildebene ;   ist im Strahlengang die planparallele Glas  platte p so angeordnet, dass sie um eine Kipp  achse<I>d</I>     mittelst    des Knopfes<I>k</I> gekippt wer  den kann.

   Mit der planparallelen Glasplatte  <I>p</I> und ihrer     Kippachse   <I>d</I> steht in starrer  Verbindung der im Mikroskoptubus befind  liche Arm r, dessen obere mit einer Teilung  versehene Fläche direkt unter dem Ablese  strich b liegt, und zwar so, dass die Teileng  im Gesichtsfeld des     Mikroskopes    sichtbar  ist.

   Kippt man     mittelst    des Knopfes     k    die  Glasplatte p, so     verschiebt    sich das Bild der  abzulesenden, auf der Fläche     tt    aufgetra  genen Kreisteilung g     (Fig.    3 und 4) im Bild  feld des     Mikroskopes    so, dass man einen der  Striche, die dem     Ablesestrich    b zunächst  stehen, mit diesem zur Deckung bringen  kann.

   Gleichzeitig hat sich die auf der     obern     Fläche des Armes r befindliche, gleich  mässige Teilung     i        (Fig.    3 und 4) durch diese       Kippung    verschoben, und man kann nun an  ihr die Grösse der     Kippung    der planparallelen       Glasplatte    p in bezug auf die Kreisteilung  g ablesen. Die Stellung der Teilung i ist  am     Ablesestrich    b     feststellbar.     



  Die     Fig.    3 und 4 zeigen das Bildfeld  des eben beschriebenen     Mikroskopes.    In       Fig.    3 (Nullstellung) fällt der Nullpunkt  der Teilung i des Armes r mit dem Ablese  strich b zusammen. Wird durch Drehung  des Knopfes     k    der Strich     24'30'    der Kreis  teilung g mit dem     Ablesestrich    b zur     @ek-          kung    gebracht, wie     Fig.    4 zeigt, so kann an  der Teilung i des Armes r am     Ablesestrich     5,5 abgelesen werden.

   Die Länge des Armes       r    und seine Teilung     i    können zum Beispiel  so abgestimmt sein, dass eine     Kippbewegung     um ein Intervall dieser Teilung einer Mi  nute der Kreisteilung g entspricht. Man  würde dann in     Fig.    4 ablesen 24  35,5'.  



  Die Variante, deren Gesichtsfeld in den  Figuren 5 und 6 dargestellt ist, unterschei  det sich von dem     vorbeschriebenen    Ausfüh  rungsbeispiel nur dadurch, dass sich die Tei  lung, die mit<B>1</B> bezeichnet ist, statt auf dem    Arm     r    auf die Strichplatte     u#    in der Bild  ebene f des     Mikroskopes    befindet, während  der Arm r auf seiner     obern    Fläche eine       Ablesemarke        ni.    trägt, die bei der     Kippung     der Glasplatte     p    sich gegen die Teilung<I>l</I>  auf der Strichplatte     tv    verschiebt.

   In der       Fig.    5 steht die     Ableseniarke    m, auf dem  Nullstrich der Teilung     d.    Wird der Strich       24     30' der Kreisteilung g durch Kippen  der Glasplatte p mit dem     Ablesestrich    b  zur Deckung gebracht, so wandert die       Ablesemarke    m, wie in     Fig.    6 dargestellt  ist, beispielsweise auf 5,5 der Teilung     i.    und  die     Ablesung    lautet 24  35,5' oder 24      35'30".     



  Beim dargestellten Ausführungsbeispiel  erfolgt die     Kippung    der Glasplatte p um die       Kippachse    d, wie erwähnt, durch einen an  ihr befestigten     Knopf        k.    Statt dessen kann  auch die     Kippung    der     Kippachse    d durch eine  die Bewegung verlangsamende Einrichtung  erfolgen,     zuin    Beispiel durch die in     Fig.    7  dargestellte Feinstellvorrichtung. Dabei ist  ein Hebel     la    au der     Kippachse   <I>d</I> befestigt,  der durch. den federnden Stift c gegen die  Feinstellschraube s angedrückt wird.

   Dreht  man die Schraube s, so erfolgt eine feine       Kippung    der Achse d.  



  Das dargestellte Mikroskop gewährleistet  eine Beschleunigung des     Messvorganges    und  wird auch eine Schonung des Auges erreicht.  Dies kommt besonders bei geodätischen  Winkelmessungen an Theodoliten in Betracht,  bei denen oft hunderte von     Ablesungen    un  mittelbar hintereinander vorgenommen wer  den.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH: Ablesemikroskop für Kreis- und Längen teilungen, bei dem die Bruchteile eines In tervalles der abzulesenden Teilung durch Kippung einer planparallelen, in den Strah lengang eingeschalteten Glasplatte gemes sen werden, dadurch gekennzeichnet, dass die Grösse der Kippung in bezug auf die. abzulesende Teilung mit einem im Innern des Mikroskoptubus liegenden, mit der Kipp- achse und der Glasplatte fest verbundenen Arm messbar ist.

   UN TERANSPRüCHE 1. Ablesemikroskop nach Patentänspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das obere Ende des Armes mit einer im Gesichts feld des Mikroskopes sichtbaren Teilung (i) versehen ist, deren Stellung am Ab lesestrich (b) feststellbar ist. -3. Ablesemikroskop nach Patentanspruch.

   dadurch gekennzeichnet, dass das obere Ende des Armes eine Ablesemarke (m) trägt, deren Stellung an einer auf der Strichplatte (w) in der Bildebene des Ni kroskopes angebrachten Teilung (l) ables bar ist.