CH182086A - Photoelektrischer Belichtungsmesser. - Google Patents

Description

  Photoelektrischer Belichtungsmesser.    Gegenstand vorliegender Erfindung ist  ein     photoelektrischer    Belichtungsmesser, bei  dem die Einstellung der Belichtungszeit  durch Betätigung der     Beliohtungszeitenskala     bewirkt wird; bei Verstellung derselben  wird ein elektrischer Widerstand beeinflusst.  Durch entsprechende Verstellung der     Belich-          tungszeitenskala    kann der im     Messinstrument     befindliche Zeiger auf eine feststehende  Marke eingestellt werden. In dieser Stellung  kann die richtige Belichtungszeit auf der       Skala    abgelesen werden.  



  Nach der Erfindung sind nun die Sperr  schichtzelle und der Widerstand neben dem       Messinstrument    angeordnet. Dadurch erhält  das Instrument eine handliche Form und  ausserdem wird die Bedienungsweise dessel  ben wesentlich erleichtert.  



  In der Zeichnung ist eine beispielsweise  Ausführungsform des Belichtungsmessers  gemäss der Erfindung dargestellt.  



       Fig.    1 ist eine Ansicht von der Seite der       Belichtungszeitenskala;            Fig.    2 zeigt das Instrument im Längs  schnitt und       Fig.    8 ist eine Ansicht von der Seite der       Sperrschichtzelle.     



  Das dargestellte     Messinstrument    weist ein  längliches Gehäuse auf, in welchem in der  einen Hälfte das     Messinstrument        angeordnet     ist. Es besteht aus einem ringförmigen Mag  neten 9, einem durch diesen     beeinflussten     Zeiger 6 und einer festen Marke 7, auf wel  che der Zeiger 6 einzuspielen ist. Zeiger und  Marke können durch entsprechende Schau  öffnungen im Gehäuse durch den ringförmi  gen Magneten 9 hindurch beobachtet werden,  und zwar ist zur Erleichterung der     Ablesung     der Zeigerstellung in der Schauöffnung einer  seits eine Linse und anderseits eine Matt  scheibe angeordnet.  



  In der andern Hälfte des Gehäuses sind  konzentrisch     zueinander    die Sperrschicht  zelle_ 8 mit vorgelagerter Glasplatte 10 mit       prismatisch    geformten konzentrischen Rin  gen, der Widerstand 5, die     Blendenskala    1,      die     Seheinergradskala    8 und die     telichtungs-          zeitenskala    4 angeordnet. Auf der die     Blen-          denangaben    enthaltenden Scheibe 1     befindet     sich ein Index in Form eines Fensters 2.

    Durch Einstellung des Index der Blenden  scheibe 1 auf die Skala der Empfindlich  keitswerte der Scheibe 3, welche feststeht,  und durch Drehung der     mit    der     Belichtungs-          zeitenskala    versehenen Scheibe 4, welche mit  einem auf dem Widerstand 5 schleifenden  Kontakt     verbunden    ist,     wird        ein    Einspielen  des Zeigers 6 auf die Marke 7 des     Mess-          instrumentes    erzielt.  



  Im dargestellten Falle ist die Scheibe 1  für Filmmaterial von 23       Seheiner    ein  gestellt. Durch Drehen der Scheibe 4 wird  der Widerstand verändert, und zwar muss  dabei gleichzeitig das     Instrument    auf das  aufzunehmende Objekt     gerichtet    sein. Die  Scheibe 4     wird    in jene Drehstellung ge  bracht, in welcher der Zeiger 6 mit der  der Marke 7     in    Deckung gebracht ist, wor  auf die     Ablesung        beginnen    kann:  Blende 44 4     Sekunden     Blende 32 2 Sekunden  Blende 22 1 Sekunde usw.  



       Findet    ein anderes     Filmmaterial        wie   <B>23'</B>  Seheiner Verwendung, so wird die Blenden  skala 1 mit dem Index 2 auf die entspre  chende Filmempfindlichkeit 14, 17, 20 usw.  eingestellt.

Claims (1)

1. PATENTANSPRUCH: Photoelektrischer Belichtungsmesser, bei dem die- Einstellung der Belichtungszeit durch Betätigung der Belichtungszeitenskala bewirkt wird, wobei ein elektrischer Wider stand beeinflusst wird und die Belichtungs zeit durch Einspielen eines Zeigers des Mess- instrumentes auf eine feste Marke ermittelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Sperr schichtzelle und der Widerstand neben dem Messinstrument angeordnet sind. UNTERANSPRÜCHE: 1.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Sperrschichtzelle (8), der Wider stand (5) und die Blendenskala (1), Schei- nergradskala (3) und Belichtungszeiten- skala (4) konzentrisch zueinander an geordnet sind. 2.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Ableseeinrichtung für die Ein stellung des Zeigers so angeordnet ist, dass sie durch den ringförmig ausgebil deten Magnet (9) des Messinstrumentes hindurch erfolgen kann. 3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch und Unteranspruch 2, da durch gekennzeichnet, dass zur Erleich terung der Ablesung der Zeigerstellung einerseits eine Linse, anderseits eine Matt scheibe im Instrument vorgesehen sind. 4.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser . nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, .dass die Skalenscheibe für die Filmemp findlichkeit (3) gegenüber der Belich- tungszeitenskala (4) fest angeordnet ist. .5. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die Blendenskala (1) gegenüber der feststehenden, mit Scheinergraden ver- sehenen Scheibe (3) einstellbar ist. 6.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die mit der Belichtungszeitenskala (4) versehene Scheibe mit einem Kontakt versehen ist, welcher auf dem Widerstand (5) schleift. 7. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass vor der Photozelle (8) eine mit pris matischen Ringen, die konzentrisch zuein ander angeordnet sind, versehene Glas platte (10) gelagert ist. B.

   Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Patentanspruch und Unteransprüchen 1 bis 7, wie in der Zeichnung dargestellt und mit Bezug darauf beschrieben.