CH185516A - Verfahren zum Betriebe Braunscher oder ähnlicher mit Elektronenstrahlen arbeitenden Röhren. - Google Patents

Verfahren zum Betriebe Braunscher oder ähnlicher mit Elektronenstrahlen arbeitenden Röhren.

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CH185516A
CH185516A CH185516DA CH185516A CH 185516 A CH185516 A CH 185516A CH 185516D A CH185516D A CH 185516DA CH 185516 A CH185516 A CH 185516A
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Rogowski Walter Dr Prof
Deserno Peter
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Rogowski Walter Dr Prof
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/10Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
    • H04N3/16Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by deflecting electron beam in cathode-ray tube, e.g. scanning corrections
    • H04N3/26Modifications of scanning arrangements to improve focusing

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Description


  Verfahren zum     Betriebe        Braunscher    oder     ähnlicher    mit     Elektronenstrahlen     arbeitenden Röhren. .    Beim Betriebe     Braunscher    oder     ähnlicher     Röhren,     insbesondere    für das Fernsehen,  macht sich die unangenehme Erscheinung  bemerkbar, dass der Leuchtfleck, namentlich  bei grösseren     Ablenkwinkeln,    verbreitert, also  verzerrt     wird.    Wie genauere Untersuchungen  gezeigt haben, hängt dies im     wesentlichen     mit zwei Ursachen zusammen.

   Diese seien  zunächst betrachtet, und zwar mit Bezug auf       Fig.    I 'der beiliegenden     Zeichnung.     



       Fig.    1 ist ein Schema,     in    welchem das       Zusammenwirken    von Elektronenstrahlen und  eines sie auffangenden Schirmes dargestellt  ist;     Fig.    2 zeigt schematisch ein Beispiel  einer     Anordnung,    die zur Durchführung des  Verfahrens nach der Erfindung geeignet ist.  



  Ist zum Beispiel die     Konzentrierung    eines  Bündels von Elektronenstrahlen 1, 2, 3 ideal  und, wie gestrichelt gezeichnet, auf den       Achsenpunkt    A eingestellt, so. ist,     wie    in  vollen     Linien    gezeigt ist, bei abgelenktem         Strahlenbündel,    selbst wenn> die     Ablenkung     ideal ist, die Konzentrierung nicht mehr  ideal. Wie weit die Konzentrierung von dem  idealen Zustande abweicht, hängt von der  Gestalt der Auffangfläche des     Fluoreszenz-          schirmes    S ab, der zum Beispiel der Kolben  boden einer Braunscheu Röhre ist.

   So     wird     bei ebener     Auffangfläche    der Leuchtfleck  sich bei der     Ablenkung    des Strahlenbündels       vergrössern,    weil die     Auftreffstelle    B weiter  vom     Mittelpunkt    C der     Ablenkung    liegt- als  die     Auftreffstelle    A.

   Der     Abstand    des       Leuchtpunktes    auf der     Flüoreszenzfläche     vom     Ausgangspunkt    des     Elektronenstrahl-          Bündels    ist     im        allgemeinen    je nach dem Ab  lenkwinkel verschieden.

   Diese     Erscheinung     würde nicht entstehen, wenn der     Auftreff-          punkt    bei allen     Ablenkwinkeln    gleich weit  vom     Mittelpunkt    C der Ablenkung entfernt  wäre, das heisst     wenn    die Auffangfläche des       Schirmes        S    so     gekrümmt    wäre, dass der Ab-      stand des Leuchtfleckes von dem Mittel  punkt C der     Ablenkung    stets der gleiche ist,  das heisst wenn der     Auftreffpunkt    auf einem  Kreisbogen läge.

   Diese Forderung lässt sich  aus     Gründen    der Glastechnik meist nicht er  füllen. Die Abstände sind also im allgemei  nen verschieden     voneinander,    so dass die       Optik;    oder mit     andern    Worten die Konzen  trierung des Elektronenstrahls, nur für     einen     Bildpunkt auf den     günstigsten    Wert einge  stellt werden     kann.    Bei den andern Bildpunk  ten treten je nach dem     Ablenkwinkel    mehr  oder weniger starke     Fleckvergrösserungen     auf, da der Bildpunkt vor oder hinter den  Konzentrationspunkt zu liegen kommt.

   Diese       Erscheinung    tritt natürlich-bei     ebenen,    senk  recht oder schräg zum Elektronenstrahl  bündel stehenden     Fluoreszenzbildern    stark  auf, unabhängig davon, ob es sich um     Durch-          sichts-    oder Aufsichtsbetrachtung handelt.  



  Die zweite Ursache der     Fleckverzerrung     hat ihren     Grund        darin,    dass bei C das abzu  lenkende Strahlenbündel     einen    endlichen, das  heisst keinen unendlich kleinen Querschnitt  hat. Infolgedessen liegen nämlich unter dem  Einfluss eines ablenkenden Feldes, das zum  Beispiel in     bekannter    Weise mittels Platten       E    erzeugt     wird,    die     Strahlen    1, 2, 3 in Ge  bieten je eines andern Potentials.

   Diese       Strahlenwerden    daher in. ihrer Geschwindig  keit verschieden     voneinander        beeinflüsst,    und  infolgedessen     kann    die     Konzentrierung,    die  in der     urabgelenkten    Stellung, das heisst bei  A noch ideal war, in der abgelenkten nicht  mehr als ideal gelten. Die     Verzerrung,    die  der     Fluoresäenzfleck    dann erleidet, ist nicht       symmterisch,    sondern unsymmetrisch. ' Der  Fleck geht von der Kreisform in' eine       ellipsenähnliche    Form über.

   Diese Verzer  rung     kann    durch     Ändern.    der Brennweite des       Linsensystemes    verringert werden.  



  Gemäss der     Erfindung    werden die ge  schilderten Mängel dadurch beseitigt, dass  die Konzentrierung des Elektronenstrahls in  Abhängigkeit vom     Ablenkwinkel    gesteuert       wird.     



  In     Fig.    2 ist mit D ein     Braunsches    Rohr  bezeichnet. Das     Ablenksystem    ist     im    Quer-    schnitt zu sehen. Die Ablenkung erfolgt mit  Hilfe der auch in     Fig.    1 gezeigten beiden  Platten E. Die     Steuerspannung    für die Ab  lenkung     wird    einem Transformator     Tprimär--          seitig    zugeführt. Die hierzu notwendigen  Kreise, Kippeinrichtungen und dergleichen  sind in der -Abbildung, da sie für die Erfin  dung unwesentlich sind, nicht gezeigt.

   Pa  rallel zu den     Ablenkplatten    E liegt     ein          Potentiometer        P1,        P2,    dem eine     Hilfssteuer-          spannung    entnommen wird, um     den-Elektro-          nenstrahl    in Abhängigkeit vom     Ablenk-          winkel    zu konzentrieren. Der Übersichtlich  keit halber ist das     Konzentrierungssystem     links     herausgezeichnet.    Im dargestellten Bei  spiel     wird    mit magnetischer     Konzentrierung     gearbeitet.

   Die     Wicklung    des Hauptfeldes ist  mit H bezeichnet. Die Stärke dieses Feldes  wird     mit    Hilfe eines regelbaren Widerstan  des     R'    eingestellt.  



  Die Hauptkonzentrierung wird ergänzt  durch     ein    Zusatzfeld, dessen Stärke abhängig  ist- vom     Ablenkwinkel,    und dessen Wicklung       mit    Z bezeichnet ist. Diesem Zusatzfeld     wird     die bei     P',        P2        entnommene        Steuerspannung     über einen Gleichrichter G     zügeführt.    Das  Einstellen erfolgt mit Hilfe eines regelbaren  Widerstandes     R'.    Als Gleichrichter ist ein       Doppelweggleichrichter    vorgesehen,

   um     eine     möglichst gute     Ausnützung    der Gleichrich  tung und vor allem     einen    möglichst voll  ständigen     Gleichrichtungseffekt    zu erzielen.  



  Es ist eine Frage der Zweckmässigkeit, ob  das Zusatzfeld, vom     Ablenkwinkel    Null: ab  gerechnet, das Hauptfeld     .unterstützt    oder  ihm entgegenwirkt, denn man kann selbst  verständlich das     Hauptkonzentrierungsfeld     so einstellen, dass die schärfste Konzentra  tion     entweder    im     Mittelpunkt    des Bildes oder  am Bildrande liegt.  



  Die     Erfindung    lässt sich     in    gleicher Weise  bei elektromagnetischer und elektrostatischer  Konzentrierung durchführen. In letzterem       Falle    können symmetrische wie auch un  symmetrische     elektrostatische    Linsen ver  wendet werden. Ferner sei erwähnt, dass die  Erfindung für beide     Ablenkriehtungen    in  gleicher Weise anwendbar ist. -

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Verfahren zum Betriebe Braunscher oder ähnlicher mit Elektronenstrahlen arbeitender Röhren, dadurch gekennzeichnet, dass die Konzentrierung des Elektronenstrahls in Ab hängigkeit vom Ablenkwinkel gesteuert wird. UNTERANSPRüCHE 1.
    Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass ein Haupt- und ein. Nachkonzentrierungsf eld verwendet wer den und das Nachkonzentrierungsfeld in Abhängigkeit vom Ablenkwinkel ge steuert wird. 2. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass ein. Teil der Steuer- spannung für die Ablenkung zum Regeln der Konzentrierung dient. 3.
    Verfahren nach Unteranspruch 2; dadurch gekennzeichnet, dass der Abgriff über ein. Potentiometer erfolgt. 4. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass die für das Einregeln der Konzentrierung abgenommene Span nung in einer Gegentaktanordnung gleich gerichtet wird.
CH185516D 1934-11-29 1935-10-07 Verfahren zum Betriebe Braunscher oder ähnlicher mit Elektronenstrahlen arbeitenden Röhren. CH185516A (de)

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CH208140D CH208140A (de) 1934-11-29 1939-02-09 Verfahren zum Betrieb Braunscher oder ähnlicher mit Elektronenstrahlen arbeitenden Röhren.

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE951385C (de) * 1950-12-10 1956-10-25 Zeiss Carl Fa Vorrichtung zur Korrektur der Bildfeldwoelbung an elektronenoptischen Geraeten
DE956413C (de) * 1955-01-15 1957-01-17 Fernseh Gmbh Verfahren zur Verbesserung der Randschaerfe bei Kathodenstrahlroehren mit nicht sphaerisch gekruemmten, insbesondere ebenen Schirmen durch elektrostatische Nachfokussierung

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE951385C (de) * 1950-12-10 1956-10-25 Zeiss Carl Fa Vorrichtung zur Korrektur der Bildfeldwoelbung an elektronenoptischen Geraeten
DE956413C (de) * 1955-01-15 1957-01-17 Fernseh Gmbh Verfahren zur Verbesserung der Randschaerfe bei Kathodenstrahlroehren mit nicht sphaerisch gekruemmten, insbesondere ebenen Schirmen durch elektrostatische Nachfokussierung

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CH208140A (de) 1939-12-31
FR850184A (fr) 1939-12-09

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