Photographische Kamera mit photoelektrischem Belichtungsmesser. Bei Kamera mit eingebauten photoelek trischen Belichtungsmessern, die mit der Irisblende des Objektives gekuppelt sind, ist bekannt, die aufeinanderfolgenden Blenden werte, welche ungleiche Drehwinkel be sitzen, durch mechanische Ausgleichsge triebe auf die für die Widerstandsverstel lung notwendigen gleichen Drehwinkel um zuformen.
Die Verwendung von mechani schen Ausgleichsmitteln ist in der Fabrika tion sehr teuer. Um diesen Nachteil zu be seitigen, erfolgt nach der Erfindung der Ausgleich durch elektrische Mittel, indem den die Belichtungsdauer beeinflussenden Grössen, Verschlussgeschwindigkeit und Blen- denöffnung, Widerstände zugeordnet wer den, von denen wenigstens einer aus ver schiedenen Widerstandsmaterialien mit ver- schiedenen Widerstandskoeffizienten herge stellt ist.
Wird nun der über dem Wider stand laufende Schleifkontakt nach der un gleichmässigen Blendenskala verstellt, so än dert sich trotzdem der Widerstandswert in Ohm gemessen, gleichmässig. Diese Art Wi derstände lassen sich auch sinngemäss an wenden für ungleichmässige Verschlussge- schwindigkeitsskalen, wie zum Beispiel bei der Zeiteinstellskala für Schlitzverschlüsse.
In der Zeichnung sind im Schema in Fig. 1 und 2 zwei Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. In Fig. 1 stellt 1 die ungleichmässige Blendenskala mit dem ihr zugeordneten Widerstand 2 dar, der aus ver schiedenen Widerstandsmaterialien 2a, 2b, 2e usw. mit wachsenden Widerstandskoeffizien ten hergestellt ist. Der mit einem Gleitkon- takt versehene Zeiger 3 überstreicht ver schieden grosse Widerstandsstücke entspre chend der Blendenskala 1, verändert aber d en Widerstand ohmmässig um gleiche Beträge.
4 ist eine mit gleichmässiger Teilung ver sehene Belichtungszeitenskala, wie dies zum Beispiel bei Automatenverschlüssen der Fall ist. Entsprechend zur Skala 4 liegt ein Wi derstand 5, welcher nur aus einem Material hergestellt ist und vom Kontaktzeiger 6 überstrichen wird. Die ganze Anordnung ist in bekannter Weise mit der Sperrschichtzelle 7 und dem Messinstrument 8 des photoelektri schen Belichtungsmessers in Serie geschaltet. Selbstverständlich können noch weitere Kor rekturgrössen, wie zum Beispiel Empfindlich keit des Aufnahmematerials, berücksichtigt werden.
Fig. 2 zeigt dieselbe Anordnung, jedoch ist hierbei auch die Zeitskala 4 ungleich mässig, wie dies zum Beispiel bei Schlitz verschlüssen der Fall ist. Der zugehörige Widerstandsteil 5 besteht hier ebenfalls aus verschiedenen Widerstandsmaterialien 5a, 5b, 5c usw., deren. Widerstandskoeffizienten der Zeitskala entsprechend proportional sind.
Photographic camera with photoelectric light meter. In cameras with built-in photoelectric light meters, which are coupled to the iris diaphragm of the lens, it is known to form the successive aperture values, which have unequal angles of rotation, by mechanical compensation gear to the same angle of rotation necessary for the resistance adjustment.
The use of mechanical balancing agents is very expensive to manufacture. In order to eliminate this disadvantage, according to the invention, the compensation takes place by electrical means by assigning resistances to the parameters influencing the exposure time, shutter speed and aperture opening, of which at least one is made from different resistance materials with different resistance coefficients is.
If the sliding contact running across the resistance is now adjusted according to the uneven aperture scale, the resistance value, measured in ohms, changes evenly. This type of resistance can also be used analogously for uneven locking speed scales, such as the time setting scale for focal plane shutters.
In the drawing, two exemplary embodiments of the invention are shown in the diagram in FIGS. 1 and 2. In Fig. 1, 1 represents the uneven aperture scale with its associated resistor 2, which is made of ver different resistance materials 2a, 2b, 2e, etc. with increasing resistance coefficients. The pointer 3, which is provided with a sliding contact, sweeps over different sized pieces of resistance corresponding to the diaphragm scale 1, but changes the resistance by equal amounts.
4 is an exposure time scale provided with uniform graduation, as is the case, for example, with automatic locks. Corresponding to the scale 4 there is a resistance 5, which is made of only one material and is swept over by the contact pointer 6. The entire arrangement is connected in series in a known manner with the barrier cell 7 and the measuring instrument 8 of the photoelectric light meter's rule. Of course, other correction variables, such as the sensitivity of the recording material, can also be taken into account.
Fig. 2 shows the same arrangement, but here also the time scale 4 is uneven, as is the case, for example, with slot closures. The associated resistance part 5 here also consists of various resistance materials 5a, 5b, 5c, etc., whose. Resistance coefficients are proportional to the time scale.