CH243626A - Mikrohärtemesser. - Google Patents

Mikrohärtemesser.

Info

Publication number
CH243626A
CH243626A CH243626DA CH243626A CH 243626 A CH243626 A CH 243626A CH 243626D A CH243626D A CH 243626DA CH 243626 A CH243626 A CH 243626A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
holder
specimen
hardness meter
micro hardness
meter according
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Boerje Bergsman Enar
Original Assignee
Boerje Bergsman Enar
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Boerje Bergsman Enar filed Critical Boerje Bergsman Enar
Publication of CH243626A publication Critical patent/CH243626A/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
    • G01N3/42—Investigating hardness or rebound hardness by performing impressions under a steady load by indentors, e.g. sphere, pyramid

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Description


  



     Nikrohärtemesser.   



   Zur Prüfung der Harte kleiner Probestücke aus dünnem Blech oder harter oder weicher dünner Schichten eines Materials, wie z. B. aufgekohlter oder entkohlter Zonen gehÏrteten Stahls, Nitrierschichten usw., oder bei der Prüfung kleiner Stellen oder einzelner Bestandteile des   Mikrogefüges    eines Metalles oder dergleichen, ebenso wie f r andere Zwecke, wie bei mineralogischen Untersuchungen, ist es bereits bekannt, eine    sogenannte Mikrohä. rtemessung aufzuführen.   



   Ein   gebräuchlich-as    Verfahren zur Ausführung einer derartigen Messung bedient sich des statischen Eindruckes, indem ein   MeBkorper    harten Stoffes, wie z. B. ein Dia  mant,    unter dem EinfluB einer gewissen bekannten Belastung senkrecht zur Prüffläche in den Stoff eingepresst wird. In bekannten   Mikroliärtemessern,    die nach diesem Prinzip gebaut sind, sind die Belastung und die Einrichtungen zur Bestimmung der Belastung mit dem Eindruckskorper oder seinem Halter vereinigt.



   Damit ein Mikrohärtemesser, der für metallographische oder mineralogische-Zwecke bestimmt ist, zweckmäBig sein soll, muB die Bedingung erfüllt werden, daB die Treffsicherheit gut ist, so daB ein vorbestimmter Punkt oder Gefiigebestandteil durch den Eindruckk¯rper genau getroffen wird. Bei der Verwendung eines mit der Belastung und den Belastungsmitteln verbundenen beweglichen   Eindruckkorpers    und   wahrend    des   Prüfens    stillstehenden Probestückes sind ganz besondere Einrichtungen erforderlich, um eine genügende Treffsicherheit zu erreichen. Der Messer wird   hierdurah    sehr   verwickelt    und teuer.



   Die vorliegende Erfindung hat zum Zweck, einen Mikrohärtemesser zu schaffen, der gemäB dem   Eindrucksverfahren    arbeitet, aber bei dem die oben erwähnten Nachteile nicht auftreten. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, daB ein zum   Eindruckkorper    hin und von diesem weg beweglicher Halter f r das Probest ck durch einen Waagebalken getragen wird, wobei die Belastungsmittel zum Erzeugen des Eindruckes derart angeordnet sind, daB sie beim Eindruckvorgang den Halter mit dem Probestück gegen den   Eindruckkörper    pressen. Der Eindruckkörper braucht dann mit Mitteln zur Erzeugung oder Messung der   Eindruckbelastung    nicht vereinigt zu sein.



   Als Eindruckkörper kann z. B. ein ge  wöhnlicher      sogenannter Vickersdiamant    der bei gewöhnlichen   Härteprüfungen    benutzten Gattung verwendet werden ; der Eindruckkörper kann dann abwechselnd bei Mikro  härtemessungen    und bei gewöhnlichen HÏrteprüfungen benutzt werden. Dies ist von nicht geringer Bedeutung, da solche Diamanten verhältnismäBig teuer und in Kriegszeiten schwer zu beschaffen sind.



   In der beiliegenden Zeichnung sind zwei Ausführungsbeispiele des Erfindungsgegenstandes veranschaulicht worden. Die Fig.   1    und 2 stellen je ein Ausführungsbeispiel in Seitenansicht, teilweise im Schnitt, dar.



   Es bezeichnet in Fig.   1    die   Beznosziffer 1.    den   Eindruckkörper,    der sich unterhalb einer Öffnung 2 des   Objekttisches    3 eines im übrigen nicht dargestellten Mikroskops f r reflektiertes Licht befindet, und zwar kehrt er seine diamanttragende Spitze nach oben.



  Es sei angenommen, dass der Tisch des Mikroskops heb-und senkbar angeordnet und auBerdem im Verhältnis zum   Eindruckkörper    waagrecht verstellbar ist. Auf dem Tisch 3 ruht ein portalförmiges Gestell   4.    In diesem Gestell ist ein Halter 5 für das Probestück 6   heb-und    senkbar, gelagert. Der Halter 5 besteht beispielsweise aus einem oben offenen, vorzugsweise zylindrischen Behälter, der im Boden eine Öffnung aufweist. Gegen den zurückbleibenden Flansch des Bodens wird das Probestück mit Hilfe der Schraube 7 festgespannt, die durch eine Schiene 8 hindurchgeschraubt ist. Die Schiene 8 ist   lu, sole    im Behälter gelagert und stützt sich gegen die untere Seite zweier AbsÏtze an der Wand des Behälters.

   Auf der Kante des BehÏlters 5 ruht eine Platte 9, die zum Tragen des die   Belastung darstellenden Gewiclites    10 dient. Der Behälter 5 ist an dem untern Ende einer bügelartigen Führung 11 befestigt, die durch einen in das obere Querstück des   Bü-    gels festsitzenden Stift 12 und ein darin befestigtes Seil oder Band 13 mit dem einen Ende eines Hebels 14 verbunden ist, der bei   15    oben im Gestell 4 gelagert und an seinem   a. ndern Ende    ein Gegengewicht 16 trÏgt. Der mit dem Bügel 11 verbundene Hebelarm ist als ein Kreissektor ausgebildet, auf dessen mit der Achse 15 konzentrischer Stirnfläche 17 das Seil oder Band abrollen kann.

   Hierdurch. wird erreicht, dass das Drehen des   He-    bels um die Achse 15 keine Neigung zur seitlichen Verschiebung des Bügels 11 oder der davon getragenen Teile verursacht.



   Der Stift   12 gleitet    in einer Öffnung im obern Teil des Gestelles 4. Nebst zwei waagrechten Führungsstiften 18, 19 unten im Gestell, die in senkrechten Nuten in der Wand des Behälters eingreifen, dient der Stift 12 zur Führung des Bügels 11 mit dem Halter 5 in senkrechter Richtung. Ein noch besseres senkrechtes Führen des B gels 11 kann erreicht werden, wenn man statt der   Führungs-    stifte 18, 19 sorgfältig gelagerte   Führungs-    rollen verwendet. Die Lagerung des Bügels 11 ist übrigens so ausgef hrt, da¯ sich das Probestück 6 gerade über der Öffnung 2 im Tische des Mikroskops befindet.



   Durch das Gegengewicht 16 kann das   Gewicht des Probestückes und des Halters    5   ausbalanciert    werden. Jede gewünschte Eindruckbelastung kann dann durch Anbringung eines entsprechenden Gewichtes a. uf die PIatte 9 erreicht werden. Härteprüfungen können aber auch ohne Verwendung einer   Ausbalancierung gemacht    werden ;

   in diesem Falle ist die   Eindruekbelastung gleich    der    Smn.medesaufgelegtenGewichtesund'des Gewichtes dos Probesftückhalters und d'es      Probestückes.    Wenn   eine geringere Eindruck-    belastung als die aus dem   Probestück und       dorn Probestückhaliter sich zusammensetzende Belastungerwünschtist.dannka.nneNieAu.s-      ba, lancierung nur eines    Teils des Gewichtes in Betracht kommen. 



   In Fig. 2 ist der Halter 5 für das Probestück im wesentlichen so ausgebildet wie oben beschrieben, er ist aber hier unmittelbar an einem Arm eines Hebels 20 befestigt, der mittels des Zapfens 21 auf einer an den Tisch 3 des Mikroskops befestigten Platte 22 gelagert ist. An seinem andern Arm trägt der Hebel 20 ein fest angeordnetes Gegengewicht   93    und ein verstellbar angeordnetes Gegengewicht 24. Mit Hilfe dieser beiden Gegenge   wichte kann. das Gewicht desProbestüekbalte. rs    und des Probetückes   ausbalanciert    werden.



  Die   Prüfbe. lastfumg erhält man.    da durch Auf   legen eiines Gewichtes 10. gewünschter'Grosse    auf   die auf dem Helber    ruhende Platte 9. In diesem Falle mu¯ sich bei jedem Pr fen das Gewicht 10 gerade oberhalb der Spitze des Eindruckkorpers befinden. Die Einstellung des Gewichtes in die richtige Lage kann beispielsweise relativ zu einem von der Bewegung des Tisches des Mikroskops unabhängigen, gerade oberhalb der optischen Achse des Objektivs befindlichen Zeiger 24 erfolgen.



  Der genaue Augenblick, in welchem sich der Halter des Probestückes während des Aus  balancierungsvorganges    gerade hebt, kann beispielsweise dadurch abgelesen werden, dass der Hebel 20 bei 26 einen elektrischen Stromkreis öffnet, der dabei seinerseits ein optisches oder sonstiges Signal betätigt.



   Die Prüfung findet für beide Ausfüh  rungsformen    folgenderweise statt :
WÏhrend der   Eindruckkörper    entfernt ist, stellt man mit Hilfe des   Fadenkreuzokulars    des Mikroskops die zu prüfende Stelle, wie z. B. ein   Gefügeelement,    in die Mitte des Gesichtsfeldes ein. Das Objektiv des Mikroskops wird dann entfernt und durch den Ein  druckkorper    mit seinem Halter ersetzt. Das Probestück und der   Eindruckkorper    werden dann so weit gegeneinanderbewegt, bis sie miteinander in Eingriff kommen und der   Probestückhalter    zufolge des Eingriffes von seiner Unterlage eben gehoben ist. Diese Stellung wird während einer gewissen Zeit, wie z. B. 15 bis 30 Sekunden,   aufrechterhal-    ten.

   Man entfernt dann das   Probestück    und den Eindruckkörper voneinander und tauscht den   Eindruckkörper    nebst seinem Halter gegen ein Objektiv aus, so da¯ man den Eindruck beurteilen oder messen kann.   



   Dije gTite TiieffsicberheTt wird beispieils-    weise durch die Wahl einer solchen Bauart für den Halter gesichert, da¯ er an Stelle des Objektivs in das Mikroskop eingesetzt und dabei derart eingestellt werden kann, daB die optische Achse des Objektivs und die Spitze des Eindruckkörpers genau die gleiche    L ge einnehmen, wenn sie im Mikroskop ein-    gesetzt sind. Dies lässt sich bei den meisten   Mikroskopen    mit Hilfe der an den Objektfassungen bereits vorhandenen Einstellungsmittel durchführen.

   Es hat sich bei praktischen   VersuGhen herausgestellt, dass der      Eindruckkörper    genau in die Mitte von im voraus ausgewählten   Gefügebestandteilen    des   mikroskopischen Gesichtsfeldes    getroffen hat, die eine Ausdehnung von nicht mehr als etwa 0, 005 mm2 hatten.



   Bei Verwendung von Mikroskopen, die an den   Objektfassungen    keine Einstellungsmöglichkeiten aufweisen, kann man den Ein  druckkorper    und das Objektiv auf einem Schlitten lagern, der sich zwischen zwei Endlagen bewegen kann, die beispielsweise mit Hilfe von Halteschrauben derart verÏndert werden können, dass in der einen Lage die Spitze des Eindruckkörpers und in der andern Lage die optische Achse des Objektivs sich in ein und demselben Punkt befindet.



  Man kann aber auch ein Objektiv, das mit dem   Eindruckkörper    fest verbunden ist, verwenden. In beiden FÏllen erreicht man eine wesentliche Vereinfachung des Pr fverfahrens.



   Mit dem in Fig. 2 dargestellten Apparat    lassen siah auch Ritzhärteprüfungen vor-    nehmen, die derart vor sich gehen, da¯ der Halter 5 zunächst belastet und das Probestück hierauf mit dem Eindruckkörper in Berührung gebracht wird, wonach der Objekttisch des Mikroskops verschoben wird. Der   : Eindruekkörper maeht da    im   Probestiick    eine Ritze, deren Breite eine W rdigung der Härte   versehiedener    Teile des   Probestückes    ermöglicht. 



   Unter übrigen Abänderungen kann erwÏhnt werden, da¯ die   Eindruckbelastung    durch Federdruck anstatt des   Gewiehtsdruk-    kes erzeugt werden kann.



   Es können auch Ausführungsformen   vor-    gesehen sein, bei welchen an Stelle eines Mi  kroskops    mit aufwÏrts gerichtetem Objektiv, wie in Fig. 1 und 2 vorausgesetzt wird, ein solches mit abwärts gerichtetem Objektiv verwendet wird. Der   Probestiiekhalter    ist dann an dem einen Arm eines Hebels be  festigt,    dessen anderer Arm so schwer belastet wird, da¯ da-s   Probestück    im Halter mit dem gewünschten Druck auf den an der Stelle des Objektivs sitzenden   Eindruck-      korper    wirkt.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH : Mikrohärtemesser, dadurch gekennzeichnet, da¯ ein zum Eindruckk¯rper hin und von diesem weg beweglicher Ha. lter für das Probestück durch einen Waagebalken getragen wird, wobei die Belastungsmittel zum Erzeu, gen des Eindruckes derairt angeordnet sind, dass sie beim Eindruckvorgang den Halter mit dem Probestück gegen den Eindruck- körper pressen.
    UNTERANSPRUCHE : 1. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, da¯ der Halter (5) f r das Probestück an dem einen Arm des Waagebalkens (14) aufgehÏngt und so geführt ist, dass er sich beim Schwenken des Balkens senkrecht auf oder ab bewegt.
    2. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, da¯ der Halter (5) für das Probestück an einem Seil (13) hÏngt, das sich auf eine ZylinderflÏche (17) des Waagebalkens (14) abwickelt und in einem Gestell (4) gerad linig geführt ilst.
    3. Mikrohärtemesspr nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, da¯ der Halter (5) f r das Probestück fest mit dem einen Arm des Waagebalkens (20) verbunden ist.
    4. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Waagebal- ken (14 bezw. 20) mit einem Gegengewicht (16 bezw. 24) zur völligen oder teilweisen Ausbalaneierung des Halters und des Probestückes versehen ist.
    5. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch und Unteranspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass ein auf den Halter für das Probestück zu legendes Gewicht vorgesehen ist, um bei v¯lliger oder teilweiser Ausbalancierung des Probestüekhalters und des Probestückes die gewünschte Eindruckbelastung zu schaffen.
    6. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch. dadurch gekennzeichnet, dass als Belastungsmittel zur Erzeugung des Eindruckes eine Feder vorgesehen ist.
    7. Mikrohärtemesser nach Patentansprueh, dadurch gekennzeichnet, dass der Messer derart mit einem Mikroskop für reflektiertes Licht vereinigt ist, da. ¯ der Eindruckk¯rper an Stelle des Objektivs des Mikroskops getreten ist.
    8. Mikrohärtemesser nach Patentanspruch und Unteranspruch 7, dadurch gekennzeichnet, da¯ der Objekttisch des Mikroskops dem Halter f r das Probesttiel. als Auflage dient.
CH243626D 1944-03-08 1945-03-28 Mikrohärtemesser. CH243626A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE243626X 1944-03-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH243626A true CH243626A (de) 1946-07-31

Family

ID=20305984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH243626D CH243626A (de) 1944-03-08 1945-03-28 Mikrohärtemesser.

Country Status (1)

Country Link
CH (1) CH243626A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2564519A (en) * 1944-03-08 1951-08-14 Bergsman Enar Borje Micro-hardness tester

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2564519A (en) * 1944-03-08 1951-08-14 Bergsman Enar Borje Micro-hardness tester

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69917780T2 (de) Testgerät und -verfahren zur messung der kratzfestigkeit eines films oder einer beschichtung
DE102014106293B4 (de) Prüfgerät und Verfahren zur Prüfung von funktionsrelevanten Merkmalen von Scheibenbremsbelägen für Schienenfahrzeuge
DE2617256A1 (de) Vorrichtung zur kontinuierlichen haertepruefung
DE3714185C2 (de)
AT167400B (de) Mikrohärtemesser
DE1069392B (de)
DE102006012374B4 (de) Kratzvorrichtung
US2564519A (en) Micro-hardness tester
DE963108C (de) Haertepruefer, insbesondere Mikrohaertepruefer
DE829512C (de) Verfahren und Einrichtung zur Pruefung der Haerte und des Widerstandes gegen Abnutzung und Abschleifen von insbesondere harten und sproeden Stoffen
DE916127C (de) Nach dem Eindringverfahren arbeitender Haertepruefer
DE19614906C2 (de) Werkstoff-Prüfgerät
DE3721525A1 (de) Mikrohaertepruefeinrichtung, vorzugsweise fuer lichtmikroskope
US3354701A (en) Mechanical oscillographs
DE843316C (de) Haertemessgeraet
DE403742C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Haerte von Metallen und anderen Materialien
DE1473646A1 (de) Verfahren zur Verformungsmessung an Werkstoffen und Bauelementen
DE750946C (de) Verfahren und Pruefgeraet zur Pruefung der Oberflaechenhaerte von Kohlen fuer elektrotechnische Zwecke
DE2332329B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke einer auf eine Unterlage festhaftend aufgebrachten Schicht
DE900392C (de) Lagerung zur Messvorrichtung mit schwingbar angeordneten, Messschneiden tragenden Buegeln
DE639340C (de) Statisch wirkende Haertepruefmaschine
DE921485C (de) Mikrohaertepruefer
DE732071C (de) Federpruefvorrichtung
DE352737C (de) Adhaesionsmesser mit parallel verstellbaren, in die zu pruefende Fluessigkeit hineinragenden Pruefplatten
DE620104C (de) Geraet zum Messen der vollstaendigen Eindrucktiefe von bei der Kugeldruckhaertepruefung sich ergebenden Eindruecken