CH252557A

CH252557A - Schiebelehre.

Info

Publication number: CH252557A
Authority: CH
Inventors: Stalder Jakob
Original assignee: Stalder Jakob
Priority date: 1946-08-09
Filing date: 1946-08-09
Publication date: 1948-01-15

Description

Schiebelehre.

Vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Schiebelehre, welche sich auch zum Anreissen eignet. Schiebelehren werden vielfach auch zum Anreissen verwendet, wobei durch die Reibung der Reissnadel an der Messfläche des feststehenden Messschnabels dieser abgenutzt wird, wodurch die Messgenauigkeit der Schiebelehre stark leidet.

Erfindungsgemäss weist der Messschnabel des Schiebers mindestens auf einer Seite der Messfläche einen Anschlag auf, so dass der Schiebereinen Anschlagwinkel bildet. Auf dem Schieber ist ein Messstrich so angeordnet, dass der Abstand der als Anreissfläche dienenden Aussenschmalfläche des festen ;-/Iessschnabels von der Messfläche des beweglichen Schnabels auf der Skala der Schiene ablesbar ist,
In beiliegender Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungtsform des Erfindungsgegenstandes veranschaulicht; es zeigt:
Fig. 1 eine Schiebelehre in Ansicht,
Fig. 2 dieselbe von der Seite gesehen.

Die Schiene 1 der Schiebelehre ist mit mindestens einer Masseinteilung 2 und einem Messschnabel 3 versehen. Auf der Schiene 1 ist der Schieber 4 gelagert, der einen Nonius 5 aufweist. Der Schieber 4 weist einen Messschnabel 6 auf, der an seinem vordern Ende der Dicke des Messschnabels 3 entspricht. Auf dem Schieber 4 sind beidseitig der Messfläche Anschläge 7 angeordnet, deren Längsrichtung zu der Stirnfläche 8 des Schiebers genau im rechten Winkel steht. Der Schieber 4 bildet somit durch die Anschläge 7 und die Stirnfläche 8 auch einen Anschlagwinkel.

Neben dem Nonius 5 ist auf dem Schieber ein Messstrich 9 angebracht, der um die Breite a des festen Messschnabels 3 vom Nullstrich des Nonius absteht, so dass er beispielsweise bei 13 mm Breite des Messschnabels 3 mit dem Teilstrich 13 mm der Massteilung 2 bei geschlossener Schiebelehre übereinstimmt.

Alle Anreissstriche, die von der : Kante 10 des Werkstückes 10a weiter entfernt sind, als der Messschnabel 3 breit ist, können daher an der Fläche 11 des Schnabels 3 abgerissen werden, wobei der gewünschte Abstand der Anreissfläche von der Messfläche des Schiebers auf der Teilung 2 der Schiene 1 mittels des Messstriches 9 eingestellt wird. Hierdurch wird vermieden, die Messfläche des Schnabels 3 zum Anreissen zu verwenden, so dass diese geschont wird.

PATENTANSPRUCH:
Schiebelehre, dadurch gekennzeichnet, dass der Messschnabel des Schiebers mindestens auf einer Seite der Messfläche einen Anschlag aufweist, der mit der Stirnfläche des Schiebers einen Anschlagwinkel bildet, und dass am Schieber ein Messstrieh so angeordnet ist, dass der Abstand der als Anreissfläche dienenden Aussenschmalfläche des festen Messschnabels von der Messfläche des beweglichen Schnabels auf der Skala der Schiene ablesbar ist.

**WARNUNG** Ende DESC Feld konnte Anfang CLMS uberlappen**.

Claims

**WARNUNG** Anfang CLMS Feld konnte Ende DESC uberlappen **.

Schiebelehre.

Vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Schiebelehre, welche sich auch zum Anreissen eignet. Schiebelehren werden vielfach auch zum Anreissen verwendet, wobei durch die Reibung der Reissnadel an der Messfläche des feststehenden Messschnabels dieser abgenutzt wird, wodurch die Messgenauigkeit der Schiebelehre stark leidet.

Erfindungsgemäss weist der Messschnabel des Schiebers mindestens auf einer Seite der Messfläche einen Anschlag auf, so dass der Schiebereinen Anschlagwinkel bildet. Auf dem Schieber ist ein Messstrich so angeordnet, dass der Abstand der als Anreissfläche dienenden Aussenschmalfläche des festen ;-/Iessschnabels von der Messfläche des beweglichen Schnabels auf der Skala der Schiene ablesbar ist, In beiliegender Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführungtsform des Erfindungsgegenstandes veranschaulicht; es zeigt: Fig. 1 eine Schiebelehre in Ansicht, Fig. 2 dieselbe von der Seite gesehen.

Die Schiene 1 der Schiebelehre ist mit mindestens einer Masseinteilung 2 und einem Messschnabel 3 versehen. Auf der Schiene 1 ist der Schieber 4 gelagert, der einen Nonius 5 aufweist. Der Schieber 4 weist einen Messschnabel 6 auf, der an seinem vordern Ende der Dicke des Messschnabels 3 entspricht. Auf dem Schieber 4 sind beidseitig der Messfläche Anschläge 7 angeordnet, deren Längsrichtung zu der Stirnfläche 8 des Schiebers genau im rechten Winkel steht. Der Schieber 4 bildet somit durch die Anschläge 7 und die Stirnfläche 8 auch einen Anschlagwinkel.

Neben dem Nonius 5 ist auf dem Schieber ein Messstrich 9 angebracht, der um die Breite a des festen Messschnabels 3 vom Nullstrich des Nonius absteht, so dass er beispielsweise bei 13 mm Breite des Messschnabels 3 mit dem Teilstrich 13 mm der Massteilung 2 bei geschlossener Schiebelehre übereinstimmt.

Alle Anreissstriche, die von der : Kante 10 des Werkstückes 10a weiter entfernt sind, als der Messschnabel 3 breit ist, können daher an der Fläche 11 des Schnabels 3 abgerissen werden, wobei der gewünschte Abstand der Anreissfläche von der Messfläche des Schiebers auf der Teilung 2 der Schiene 1 mittels des Messstriches 9 eingestellt wird. Hierdurch wird vermieden, die Messfläche des Schnabels 3 zum Anreissen zu verwenden, so dass diese geschont wird.

PATENTANSPRUCH: Schiebelehre, dadurch gekennzeichnet, dass der Messschnabel des Schiebers mindestens auf einer Seite der Messfläche einen Anschlag aufweist, der mit der Stirnfläche des Schiebers einen Anschlagwinkel bildet, und dass am Schieber ein Messstrieh so angeordnet ist, dass der Abstand der als Anreissfläche dienenden Aussenschmalfläche des festen Messschnabels von der Messfläche des beweglichen Schnabels auf der Skala der Schiene ablesbar ist.