CH272602A - Verfahren zur Prüfung des Gütefaktors von Reaktanzen. - Google Patents

Verfahren zur Prüfung des Gütefaktors von Reaktanzen.

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CH272602A
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Nationalunternehmen Tesla
Carniol Bohdan
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Nationalunternehmen Tesla
Carniol Bohdan
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor

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Description


  



  Verfahren zur Prüfung des   Gütefaktors    von Reaktanzen.



   Der Minimalwert des Gütefaktors Q, der als   Mass der Qualität von Induktionsspulen    oder Resonanzkreisen dient, wird bei   Massera-    erzeugung von Sehwaehstrom-, hauptsächlich Hochfrequenzeinrichtungen vorgesehrieben, um die Erzelung der bgewünsehten Eigenschaften von   Resonanzkreisen    oder deren Be  standteilen    zu garantieren.



   Es ist nun ein Messverfahren   erforderlieh,    das die sich häufig   wiederholenden Messun-    gen des   Gütefaktors    Schnell, genau und durch einen   einfaehen    Arbeitsgang ermöglicht.   



   Die bisher bekannten Instrumente zur Mes-    sung des Gütefatktors   (Q-Meter)    leiden an ver  schiedenen    Mängeln. Um. diese zu   veransehau-    lichen, werden einige Beispiele solcher Messapparate angeführt.



   Abb.   I    veranschanlieht ein. Messinstrument. das bisher häufig verwendet wurde. Hier wird eine Wechselspannung von bekannter Frequenz und Amplitude an einen kleinen Widerstand R gelegt, der in Serie mit dem Resonanzkreis, welcher   z.    B. die zu messende Induktivität einsehliesst, geschaltet ist.

   Da der Gütefaktor Q des Kreises durch die bekannte Beziehung Q E gegeben ist (wobei E die e Spannung ist, die   z.    B. am Abstimmkondensator C erseheint, wenn der Kreis mittels des   Abstimmkondensators      Cl    auf die Frequenz der Spannung e abgestimmt ist oder wenn die Frequenz der Spannung e auf die Resonanzfrequenz des Kreises eingestellt wird), muss man ausser der Spannung e noch die Reso  nanzspannung    E messen, wodurch dann der Gütefaktor Q gegeben ist.



   Die Messung ist jedoch ziemlich zeitraubend und daher für die Prüfung bei der Serienproduktion nicht geeignet, denn die   Schaltung    muss für jede Messung neu abgestimmt werden.



   Ein weiterer Nachteil dieser Methode ist der   Umstand,    dass, wenn der Widerstand. R   vernaehlässigbar    klein sein soll, dann muss der durch ihn fliessende Strom ziemlich gross sein, damit an ihm ein Spannungsabfall entsteht, der sich ohne wesentliehen Fehler messen liesse (0, 1 bis 0, 2 V sind gewöhnlieh zu kleine Werte, als dass sie sich ganz genau durch gewöhnliehe Röhrne- oder   Thermoelement-Volt-    meter ablesen liessen). Es ist deshalb notwendig, dass der Oszillator eine grosse Ausgangsleistung liefern kann, die sorgfältig vor Verzerrungen geschützt werden muss um Ab  lesung    von ungenauen Werten von   Q    zu vermeiden.



   Eine andere Methode benützt an Stelle des Widerstandes eine induktive, eventuell kapazitive Kopplung und bestimmt   Q    auf Grund der   Verstimmung,    das heisst man sucht die beidseits der Resonanzfrequenz liegenden Frequenzen f1 und f2, bei denen die   Resonanzspannung       von v0 auf 1/#2 V0 = 0,71 V0 gefallen ist, dann    ist bekanntlich    f0  = f2 - f1    
In diesem Palle wird   die Verstimmung int    Generator durchgeführt, sie kann jedoch auch durch Verstimmung des Kondensators erfolgen.

   Der Nachteil dieser Methode ist ihre   Langwierigkeit    und die Notwendigkeit einer genauen Abstimmung bei f0, was also weiterhin die Möglichkeit von Irrtümern und ungenauen Messungen ergibt, die sich in der   Lest-long    des Apparates, dessen Bestandteil der Resonanzkreis bildet, störend äussern können.



     Andere Iessarten benützen    z. B. Brücken Methoden, oder die Bestimmung des   Gütefak-    tors aus der Form der Resonanzkurve des Kreises. Sie sind jedoch gewöhnlieh noch   mühseliger    als die oben angeführten Arten, und sie können als   Laboratoriumsmethoden    angesehen werden, die sich für   Serienprüfung    nicht eignen.



   Alle angeführten Methoden und Vorrich  tungen    zur Messung des   Gütefaktors    besitzen ein gemeinsames Prinzip, das darin besteht, dass die Messungen im stationären Zustand des   Schwingungskreises    vorgenommen werden, das heisst dass   Einschwingvorgänge    nicht in Betracht gezogen werden.



   Die vorliegende Erfindung bestimmt den   Qualitätsfaktor    mittels der Einschwingerscheinungen von Resonanzkreisen.



   Falls wir in den Resonanzkreis ein Signal mit regelbarer Frequenz, die sich in der Nach  barschaft    der Resonanzfrequenz ändert, einführen, wirkt der Stromkreis auf Art eines   Diskriminators,    der Frequenzmodulation in Amplitudenmodulation umwandelt. Falls die Frequenzänderung so schnell vor sich geht, dass sie eine   Amplitudenänderung    mit gewisser minimaler Schnelligkeit hervorruft, entsteht ausser der erzwungenen Frequenz auch eine sogenannte freie Schwingung des entsprechenden Stromkreises, laut der Beziehung    io    =   Je-ss0t cos #0 #    wobei   cor    wie bekannt, durch die   Stromkreis-    elemente R-L-C und der Faktor ss0 durch die Werte R und L gegeben ist.



   Im allgemeinen kann gesagt werden, dass die freie Schwingung nicht entsteht, falls wir die Frequenz des zugeführten Signals so langsam ändern, dass die Änderung im   Resonanz-    kreise langsamer als   0/2    vor sich geht, wo die Zeitkonstante 0 der Reziprokwert des Dämpfungsfaktors ss =   R/2.      L,    also   0    =   2L/R    ist.



  Falls die Bedingung für die Entstehung von freien Sehwingungen erfüllt ist, entsteht eine Interferenz zwischen der erzwungenen und der freien   Schwinglmg,    die ein Massstab für Q ist.



   Bei dem Verfahren wird an den zu prüfenden Stromkreis eine   frequenzmodulierte    Wechselspannung angelegt. Die   Geschwindig-    keit der Frequenzänderung ist regelbar, z. B. dadurch, dass wir die Frequenz, welche die Frequenzmodulation bewirkt, ändern. Da die    Zeitkonstante # dem Gütefaktor Q direkt pro-    portional ist, laut der Beziehung   # = 2Q/,       wo    kann für die verlangte   Minimalgüte    R eine gewisse   Grenzsehneiligkeit    der   Frequenzmodu-    lation eingestellt werden, bei der die Inter  frequenzschwingungen    noch eben entstehen.



  Es genügt dann, wenn die Resonanzkreise, die geprüft werden sollen, an diese Vorrichtung ohne irgendeine weitere Nachstimmung angeschlossen werden, und dass man beobachtet. ob   Schwebungen    entstehen, oder nicht. Falls sie nicht entstehen, liegt der   Gütefaktor unter-    halb des als minimaler Wert vorgeschriebenen Wertes, andernfalls ist er in Ordnung, denn es genügt, den Minimalwert von Q einzuhalten.



  Die Entstehung von   Schwebungen    kann durch   versehiedene,    an sich bekannte Methoden kontrolliert werden, z. B. der Form nach am Oszillograph, oder z. B. dadurch, dass wir die nichtlineare Verzerrung der Hüllkurve messen. Die Entstehung der   Schwebungen    äussert sich durch ein wesentliches Ansteigen der nichtlinearen Verzerrungen, welche dann einen direkten Massstab für den Gütefaktor bilden.



  Falls nur ein Element. eines   Schwingungs-    kreises geprüft werden soll (die Spule evtl. der Kondensator), wird   die Messung ähnlicher-    weise   durehgeführt,    nur ist der ergänzende Teil des Resonanzkreises (das heisst der   Kon-    densator, evtl. die Spule) ständig an die   Ein-      gangsklemmen    angeschlossen.



   Fig. 2 zeigt schematisch ein   Ausführungs-    beispiel einer Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens, Aus dem Tongenerator   A    führen wir eine periodische (z. B. sinusförmige) Schwingung von niedriger Frequenz, die durch den Regler R geregelt werden kann, in den   Hochfrequenz-    generator B ein, der dadurch in einem weiten Bereich frequenzmoduliert wird, damit die Frequenz sich z. B. von   0,    5f bis 2f ändere, wobei f die Frequenz ist, die durch den Stromkreis, welcher die gemessene Induktivität einschliesslieh der   Nullkapazität    c0 und   einer Zusatzkapazität Ca enthält,    gegeben ist.



  Die derart frequenzmodulierte Spannung legt man über eine kleine Kapazität Cl (z. B. einige pF) an die zu prüfende Spule   Lx,    welche an die Punkte   1-2    angeschlossen ist. Die parallele   Fixkapazität    C2 ist so gross, dass die unterschiedlichen   Nullkapazitäten    der Spule die Resonanz dieses Stromkreises praktisch nicht ändern. Die Induktivität der Spul. e wird   gewöhnlieh    schon bei der Herstellung mit einer Ungenauigkeit von maximal einigen Prozenten eingestellt und veranlasst deshalb keine Änderung der Resonanz, die sich bei der Messung schädlich auswirken würde. Der Resonanzkreis zwischen den Punkten   1-2    wirkt als Diskriminator, und am Stromkreis entsteht eine   amplitudenmodulierte    Spannung.

   Diese Spannung wird im Detektor D demoduliert.



  Die Niederfrequenzkomponente wird über ein Filter F dem Messinstrument   lI    zugeführt.



  Das Durchlassband des Filters F ist mittels des Reglers R, z. B. gleichlaufend   mit R'der-    art eingestellt, dass es überwiegend diejenigen Frequenzkomponenten durchlasse, die als Resultat der schwebungen des Resonanzkreises entstehen.



   Nach Einstellung der Regler R und   R',    z. B. mittels eines an die Punkte   1-2    ange  schlossenen    Kreises von vorgeschriebener Güte zeigt das   Ausgangsvoltmeter    direkt an, ob der gemessene Kreis eine Qualität über oder unter der bestimmten Grenze besitzt. Das Voltmeter kann direkt in Werten des   Gütefaktors    Q, eventuell des Dämpungsfaktors d geeicht werden.



   I) as oben beschriebene Verfahren weist gegenüber den bisher angewandten Methoden verschiedene Vorteile auf.



   Da die Notwendigkeit einer   Nachstimmung.    die bei den bisherigen Methoden erforderlich war, entfällt, ist eine grosse Zeitersparnis hei der   Serienprüi'ung    möglich.



   Ein weiterer Vorteil des beschrichenen Vefrfahrens gegenüber den   bisherigen Me-      thoden    ist seine grössere Empfindlichkeit, denn hier misst man nicht eine Grösse   (z.    B. eine Spannung), die proportional mit der Güte anwächst,   sonclern    die Grösse der Verzerrung, die sich ganz plötzlich, bei einem gewissen Verhältnis   zwisellen    der Geschwindigkeit der Frequenzänderung und der Zeitkonstante des Kreises einstellt.



   Ein weiterer, sehr willkommener Vorteil der beschriebenen Vorrichtung ist ihre grosse Stabilität. Schwankungen der Amplitude oder der Frequenz des Hochfrequenzgenerators be  einflussen    die Messgenauigkeit nieht, denn wir messen den Wert der   Schwebungsverzerrung    als Verhältnis der höheren Harmonischen zur Grundfrequenz, welches Verhältnis durch irgendeine bekannte Vorrichtung gemessen werden kann.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH : Verfahren zur Prüfung des Gütefaktors von Reaktanzen, dadurch gekennzeichnet, dass einem die zu prüfende Reaktanz enthaltenden Resonanzkreis, der als Diskriminator wirkt, ein frequenzmoduliertes Hoehfrequenzsignal zugeführt wird, wobei die Modulierfrequenz derart gewählt ist, dass für einen unterhlb eines vorgeschriebenen Wertes liegenden Wert des Gütefaktors neben der erzwungenen Schwingung auch noch die freie Schwingung entstehen kann, und aus den hierbei entstelienden rberlagerungsschwingungen mittels eines Demodulators und eines Filters die Sehwebungssehwingungen abgeleitet und als Mass für die Kreisgüte einem Messinstrument zugeführt werden.
    UNTERANSPRUCHE : 1. Verfahren nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass als Messinstrument, auf welchem die Entstehung von Schwebungen beobachtet wird, ein Voltmeter verwendet wird.
    2. Verfahren naeh Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass durch das Messinstrument die Verzerrung der Ausgangsspan- nung gemessen wird, wodurch die Beeinflus- sung des Messresultates durch Schwankungen der Amplitude und der Frequenz des hoch- frequenten Generators vermieden wird.
    3. Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Messinstrument verwendet wird, das direkt in Werten des Gütefaktors Q geeicht ist.
    4. Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Messinstrument verwendet wird, das direkt in Werten des Dämpfungsfaktors geeicht ist.
    5. Verfahren nach Patentanspruch, zur Messung des Gütefaktors Q von Spulen oder Kondensatoren, dadurch gekennzeichnet, dass die ergänzende Impedanz des Schwingungs- kreises fest an die Eingangsklemmen des Resonanzkreises geschaltet wird.
    6. Verfahren nach Unteranspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Gütefaktor optisch beurteilt wird, indem die Schwebungs- spannung einemKathodenstrahl-Oszillographen zugeführt wird.
CH272602D 1948-05-18 1949-04-29 Verfahren zur Prüfung des Gütefaktors von Reaktanzen. CH272602A (de)

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