CH273455A - Reflektionsphotometer. - Google Patents

Reflektionsphotometer.

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CH273455A
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CH
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photocell
light
reflection photometer
reflection
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Windley Ellis Howard
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Windley Ellis Howard
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres

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Description


  



     Reílektionsphotometer.   



   In Industrien, die sich mit der Veredlung von Textilien befassen, stellt sich sehr oft die Frage der Beurteilung bzw. der   Messlmg    der Intensität von   Färbungen.    Diese Aufgabe ist in der Regel Sache von geübten Spezialisten.



  Das menschliche Auge kann in der Regel In Tensitätsdifferenzen beurteilen, deren   Grössen-    ordnung nicht weniger   aJs    etwa   : t0  /o betragt.   



  Bei besonders günstig liegenden Verhältnissen   können noeh    Differenzen bis zu etwa 5    /o    beurteilt werden. Ein nicht   zu untersehätzen-    der Unsicherheitsfaktor ist indessen nicht zu vermeiden, da die Empfindlichkeit des menschlichen Auges   durci    verschiedene Umstand, wie   Ermüdungserscheinungen, Lieht-    verhältnisse, Farbe der zu beurteilenden   Pfir-    bung   usw., beeinflul3t    wird.



   Deshalb ist bei der Beurteilung der Inten  sität von E'ärbungen    die Verwendung eines Apparats, der eine objektive Messung erlaubt, von   grossem    Vorteil.   Solehe    Apparate sind z.   B.    die Reflektionsphotometer. Wenn auf gleichem Material   hergestellte Färblmgen    von gleichem Farbton dieselbe Lichtmenge reflektieren, so kann man annehmen, dass ihre Intensität dieselbe ist. Besonders einfach sind   für solche    Zwecke die Reflektionsphotometer, in welchen   das reflektierte    Licht mit Hilfe einer   Sperrschichtphotozelle    gemessen wird.



  Diese Photozelle ist   nämlieh    viel empfind  licher    als das menschliche Auge und sie weist noch auf   deutliche Unterschiede    hin, wenn das   menschliehe    Auge keine Differenzen mehr erkennt. Nun sind die bekannten Reflektionsphotometer, in welchen das reflektierte, aus einer künstlichen Lichtquelle stammende Licht mit Hilfe einer   Sperrschichtphotozelle      gemessen vird,    bis anhin in der Weise konstruiert worden, dass Photozelle   und reflek-    tierende Oberfläche unbeweglich sind.

   Will man daher das reflektierte Licht an Gegenständen messen, die das Licht ungleichmässig reflektieren, so gibt die Messung keine zuverlässigen Resultate, weil an den verschiedenen Stellen der   das Lieht reflektiereriden    Oberflache die   venge    des reflektierten Lichtes verschieden ist und die Apparatur nur das von einem kleinen Oberflächenausschnitt   (Messelement    der Oberfläche) reflektierte Licht misst. Dies tritt z. B. ein, wenn die Aufgabe vorliegt, mit schwer egalisierenden Farbstoffen hergestellte Färbungen zu messe.



   Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Reflektionsphotometer, das sich von den bekannten durch eine solche Ausbildung unterscheidet, dass die Oberfläche, deren Reflektionsvermögen gemessen werden soll, und die Photozelle während des messvorganges relativ zueinander derart bewegbar sind, dass das messelement der Reflektionsoberfläche wechselt.



     Zweckmässig    wird die Lichtquelle, von der   Oberfläehe    zur Photozelle gesehen, hinter der   Sperrschichtphotozelle    angeordnet. Diese kann eine   Öffnung    besitzen, durch welche die   Liehtquelle    mittels eines Linsensystems auf die   reflektierende Schieht    oder in deren Nähe abgebildet wird.



   Das erfindungsgemässe Reflektionsphotometer besitzt folgende Vorteile :
Die bewegung der reflektierenden Oberfläche, die z. B. eine rotierende oder eine Hin- und Herbewegung sein Kann, erlaubt einerseits einen brauchbaren Mittelwert des   reflektierten Liehtes zn    messen, falls die Be  wegung eine rasehe    ist   lmd anderseits    hat man die Möglichkeit, durch langsames Bewegen der reflektierenden Oberfläche die   Verschiedenheit    des Reflektionsvermögens der   Oberfla. che    an verschiedenen Stellen derselben festzustellen.

   Ist die   7U prüfende    Ober  flache    ein   gefärbtes Textilstüek, so kann    man im ersten Falle einen brauchbaren Mittelwert der Intensität der Färbung messen und im zweiten Fall die Engalität der Färbung be  urteilen.   



     I) ie Oberfläehe,    deren Reflektionsvermögen zu messen ist,   kann auf    einer rotierenden Scheibe oder Trommel befestigt werden.



   Wird z. B.   die Liehtquelle    hinter der Sperrschichtphotozellc anbgebracht, so erlaubt dies, einen viel   stärkeren Liehtstrom    auf die reflektierende Schieht Zu werfen.   Dureh Ein-    sehaltung von geeigneten Filtern in den lichtstrom kann man nämlich Wärme und gegebenenfalls Licht von   lmerwünsehter      Wellenlänge aussehalten.    Die Lichtstärke kann ferner reguliert werden   dur. ch    eine Blende, z. B. eine   Irisblende. Wran kann      berner    das Licht senkrecht oder   sehräg auf    die zu untersuechende Oberfläche senden.

   In letzterem   ralle    kann der apparat derart konstruiert werden, dass die   Sperrschicht-    photozelle keine   Offnung    besitzt ; sie kann gegebenenfalls am Rande eine Einbuchtung aufweisen.



   Die beiliegende Zeichnung stellt sehematiseh den   Aufball    eines Ausführungsbeispiels des Reflektionsphotometers gemäss der Erfinddung dar. Hierin bedeutet a eine   künstlielle    Lichtiquelle, z.   B.    eine   G#lühlampe,    b ein Lin  serisystem und    c einen Filter   zur Zurüek-    haltung von unerwünschter Wärme bzw. zur Entfernung eines unerwünschten : Überschusses an Licht. d bedeutet eine Irisblende, e stellt eine Sperrschiehtphotozelle dar,   deren lieht-    empfindliche Schicht f auf der von der   Lieht-    quelle abgewendeten Seite angebracht ist.

   Die   nlit    g   bezeichnete Oberfläche,    deren Reflektionsvermögen gemessen werden soll, ist   auf    einer drehbaren Scheibe h montiert. Mit i ist der Abstand zwischen der lichtempfindlichen Schicht der Sperrschichtphotozelle f und der   Oberfläehe    g   bezeielmet.   



   Die Wirkungswise des Reflektionsphotometers ist   folgende : Das Linsensystem    b   ent-    wirft ein Bild der Lichtquelle a auf der Oberflache g oder in   unmittelharer Nähe    dersel  ben.    Die Lichtstärke des Bildes kann durch passende Wahl des Filters c und durch passende   Einstellung    der Irisblende d sowie druch passende Wahl der Lichtquelle q auf eine   four    die Messung günstige Grösse und spektrale Verteilung eingestellt werden. Die Speerschiehtphotozelle c besitzt ein durchgehendes Loch, das den   ungehinderten Durel-    tritt der zum Bildaufbau benötigten Strahlen erlaubt.

   Das relativ hell   beieuehtete Mess-    element der Oberfläche g strahlt entspreehend seinem Reflektionsvermögen diffuses   Lieht zurüel ;    die   dureli    Pfeile angedeuteten Lichtstrahlen treffen   iuf die lielitempfincl-      liehe Oberfläehe    der Photozelle, Mit einem passenden, nicht gezeichneten Messinstrument kann die von der Photozelle erzeugte Span  nung    oder Stromstärke in bekannter Weise gemessen werden.



   Bei der Verwendung des beschriebenen   Reflekt. ionsphotometens    ist noch folgendes zu beachten :
Um die   Empfindliellkeit    des   Reflektions-    photometers   voll ausnützen zu können, muss    der elektrische Strom   der Liehtguelle    mit einer   Genauigkeit    von   etwa 0.2# konstant    gehalten werden. Hierzu können verschiedene Vorkehrungen getroffen werden, z. B. eine   Poggendorfsehe Rompensationssehaltung,    in   weleher    der Spannungsabfall des Lampenstromes   tuber    einen konstanten Widerstand Auf dem gleichen Wert gehalten wird wie der konstante Spannungsabfall in einem geeigneten Hifsstromkreeis mit spearater Strom quelle.

   Der Abstand i zwischen f und g soll derart eingestellt werden, dass die Empfind  liehkeit    der   Photometeranordnlmg    maximal   ist Zweekmässig    sind   die liehtempfindliehe    Schicht der Photozelle f und die   Oberfläche    g, deren Reflektionsvermögen gemessen werden soll, parallel ; sie   können aber aueh    Schräg zueinander stehen.   



   Das besehriebene Reflektionsnhotometer    erlaubt z.   B den Vergleieh    von zwei mit   dem-      ielben    Farbstoff gefärbten Geweben. Während mit   dem blossen Auge im    besten Falle eine Differenz von   5 /o Farbstoif (hereehnet auf    das   Crewicht    der   Ware) bemerkt werden      kans,    reagiert das beschriebene Reflektionsphotometer noch bei Differenzen von 2-1 %.



  Das   besehriebene Reflektionsphotometer    kann auch verwendet werden, zur   Beurteilun. g der      Intensität gefärbter,    flacher Gegenstände, z. B. von mit einem Pigmentfarbstoff gefärbtem Papier, ferner zur Beurteilung des Weiss   rehaltes von wgefarbten Gegenstanden (Ge-    weben, Filzen,   Papiermassen      usw.).   



   Im Gegensatz zu bekannten Reflektionspbotometern, bei denen die Photozelle in einer Öffnung angebracht ist, die   sieh    in der Sperrschichtphotozelle befindet, besitzt das   beschriebene Reilektionspliotometer noch    den Vorteil,   dass stärkere Liehtquellen venvend-    bar sind, ohne eine   unzulässige Erwärmlmg    des Photometers   befürehten    zu müssen.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH : Reflektionsphotometer mit Photozelle zur messung des Reflektionsvermögens einer Oberfläehe, gekennzeichnet dureh eine solche AuslJildung, dass die Oberf läehe, deren Reflektionsvermögen gemessen werden soll, und die Photozelle während des MEssvorganges relativ zueinander derart bewegbar sind, dass das Messelement der Reflektionsoberfläche wechselt.
    UNTLRANSPRLCHE : 1 Reflektionsphotometer nach Patentan sprue, h, dadurch gekennzeichnet, dass sich die Lichtquelle, von der Oberfläche zu der als Sperrschichtphotozelle ausgebildeten Photozelle gesehen, hinter der letzteren befindet und dureh ein Linsensystem mindestens nahezu auf die zu messende Oberfläche abgebildet wird.
    2. Reflektionsphotometer nach Patentas- spruch. dadurch gekennzeichnet, dass die empfindliche Schicht der Photozelle und die Oberfläche parallel zueinander stehen.
    3. Reflektionsphotometer nach Patentan- spruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Ab stand zwisehen der Oberfläehe und der lichtempfindlichen Schicht der Photozelle einstellbar ist.
    4. Reflektionsphotometer nach Patenta spruch, dadurch gekennzeichnet, dal3 Mittel vorgesehen sind, um die Oberfläehe zu drehen.
CH273455D 1948-01-26 1949-01-18 Reflektionsphotometer. CH273455A (de)

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GB60149X 1949-01-06

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