CH331245A - Retouchier- und Schneidemesser - Google Patents

Retouchier- und Schneidemesser

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CH331245A
CH331245A CH331245DA CH331245A CH 331245 A CH331245 A CH 331245A CH 331245D A CH331245D A CH 331245DA CH 331245 A CH331245 A CH 331245A
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retouching
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longitudinal axis
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Brunner Leo
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Brunner Leo
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03DAPPARATUS FOR PROCESSING EXPOSED PHOTOGRAPHIC MATERIALS; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03D15/00Apparatus for treating processed material
    • G03D15/006Retouching apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Knives (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description


   <Desc/Clms Page number 1> 
    Retouchier-   und    Schneidemesser   In beiliegender Zeichnung sind vier Ausführungsbeispiele des    Erfindungsgegenstan-      des   dargestellt. Jedes dieser Beispiele weist ein Stück    Stabprofilstab   1 auf, das an wenigstens einem Ende durch mindestens einen ebenen, der    Längsachse   2 des Stückes 1 sehneidenden Schliff 3 mit einer Schneide 4 versehen ist. 



  In    Fig.   1 weist der Stab 1 am linken Ende zwei Schliffe 3a, 3b auf, am rechten Ende einen Schliff 3. Die Schneiden sind mit    4a.   (links) und 4b (rechts) bezeichnet. 



     Fig.       3   zeigt einen Stab 1 mit den Schliffen    3a.,   3b und der Schneide 4 am einen Ende. Das andere Ende ist stumpf. 



     Fig.   3 stellt einen Stab 1 mit    einern   Schliff 3 und der Schneide 4 dar, dessen anderes Ende abgerundet ist. 



  Wie diese Stäbe 1 mit einem    Handb      iff   1 versehen sein können, ist aus    Fig.   4 ersichtlich.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Retouehier- und Schneidemesser, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Stück eines Stahlprofilstabes aufweist, das an wenigstens einem Ende durch mindestens einen ebenen, die Längsachse des Stückes schneidenden Schliff mit einer Schneide versehen ist. UNTERANSPRÜCHE 1. Messer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Profilstab an einem Ende zwei einen Winkel miteinander einschliessende, die genannte Längsachse schneidende, ebene Schliffe und am andern Ende einen ebenen Schliff besitzt (Fig. 1). 2.
    Messer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Profilstab am einen Ende zwei einen Winkel miteinander einschliessende, die genannte Längsachse schneidende Schliffe aufweist und am andern Ende stumpf ist (Fig. 2). 3. Messer nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet., da.ss der Profilstab am einen Ende den genannten Schliff aufweist und am andern Ende stumpf ist (Fig. 3). 4. Messer nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das stumpfe Ende des Profilstabes mit einem Handgriff versehen ist. 5. Messer nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das stumpfe Ende des Profilstabes mit einem Handgriff versehen ist (Fig. 4).
CH331245D 1954-04-09 1954-04-09 Retouchier- und Schneidemesser CH331245A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH331245T 1954-04-09

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CH331245A true CH331245A (de) 1958-07-15

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ID=4501994

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CH331245D CH331245A (de) 1954-04-09 1954-04-09 Retouchier- und Schneidemesser

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