CH334519A - Elektrisches Messgerät, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt - Google Patents

Elektrisches Messgerät, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt

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CH334519A
CH334519A CH334519DA CH334519A CH 334519 A CH334519 A CH 334519A CH 334519D A CH334519D A CH 334519DA CH 334519 A CH334519 A CH 334519A
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CH
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magnetic field
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Herbert Dr Phil Weiss
Heinrich Prof Dr Phil Welker
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Siemens Ag
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/12Measuring electrostatic fields or voltage-potential

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Description


  Elektrisches Messgerät, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht,  die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt    Das Hauptpatent bezieht sich auf ein       elektrisches        Messsgerät.,    das auf der Änderung       der    elektrischen Eigenschaften beruht,

   die       i#in    Halbleiterkörper     unter    der Wirkung eine       Jla"netfelcles        erfährt.    Für den     Messkörper     wird hierbei eine halbleitende Verbindung  mit einer     Bewegliehkeit    der     Ladungsträger          (Elektronen-    oder     Defektelektronenbeweglieh-          lwit)

      von     mindestens        6000        em2/VS        Verblen-          det.    Bei einer besonderen     Ausführungsform     wird zur Messung die Änderung des     elek-          trisclienWiderstandes,    den der     :lIesskörper    im  Magnetfeld erfährt, benützt.

   Die vorliegende  Erfindung stellt. eine Weiterbildung eines  solchen     Messgerätes    dar und besteht darin,  dass zur     Unterdrückung    der Ausbildung eines  Haufeldes ein     -Messkörper    von solcher     aeo-          ijietriseher    Form vorgesehen ist.

   dass der       Elektrodenabstand    kleiner ist als die mittlere       Au>delinung    des     Messkörpers    senkrecht zur  Richtung des Primärstroms und des     Magnet-          feldes.    Hierdurch ergeben sieh verschiedene       vorteilhafte        Möglichkeiten    für die Verwen  dung des     CTerätes.    Insbesondere ist. es mög  lich, auf diese Weise die Höhe der Wider  standsänderung, die bei dein Gerät nach dem  Hauptpatent auftritt, wesentlich zu ver  grössern.  



  Die     physikaliselien        (Trundlagen,    auf denen  die     vorliegende    Erfindung beruht, zeigen die       naelifolgenden    Betrachtungen.    Wird ein     stabförmiger    Leiter in, seiner  Längsrichtung von einem     elektrischen    Strom  durchflossen, so haben die elektrischen Strom  linien den in     Fig.1a    dargestellten Verlauf,  das heisst, der     Stromdurchfluss    erfolgt so,  dass die Strombahnen kürzeste Wege     voll     Elektrode zu     Elektrode    sind und somit der  Leiter den kleinstmöglichen Widerstand an  nimmt.

   Wird senkrecht zur Zeichenebene ein  Magnetfeld - dessen     Durchstosspunkte    in       Fig.    1b durch 0 angedeutet sind - einge  schaltet, so erfolgt zunächst eine Ablenkung  der Ladungsträger     senkrecht        zu    den Strom  linien und zum     Magnetfeld.    Dies führt zu  einer     elektrischen        Aiifladung    der beiden in  der     Ablenkrichtung    liegenden Oberflächen.

    Das hierdurch gebildete elektrische Feld be  zeichnet man als     Hallfeld,    die zugehörige  elektrische     Querspannung    als     Hallspannung.     Im stationären Zustand ist. das     Hallfeld    ge  rade so gross, dass es die magnetische Kraft  auf die Ladungsträger kompensiert. Aus  diesem Grunde haben bei einem Leiter- bzw.  Halbleiterkörper von der     Form    nach     Fig.1     die Stromlinien mit Magnetfeld     (Fig.1b)          denselben    Verlauf wie ohne Magnetfeld       (Fig.    la).

   Trotzdem wird durch das     1Iagnet-          feld    der Widerstand des Leiters bzw. Halb  leiters erhöht. Dies beruht. darauf, dass     im          Magnetfeld        die     der Ladungs  träger kleiner ist als ohne Magnetfeld. Dieser      Effekt wird allgemein     und        auch    im Haupt  patent als  magnetische Widerstandsände  rung  bezeichnet.  



  Die Widerstandsänderung im Magnetfeld  lässt sieh über den vorgenannten Effekt hin  aus durch entsprechende Formgebung des  Halbleiters und durch seine Lage im Magnet  feld vergrössern. Dies tritt dann ein,     wenn     Form und Lage so gewählt sind, dass die Aus  bildung des     Hallfeldes    unterdrückt wird,  so dass eine Ablenkung der     Strombahnen     eintritt. Ein solcher Fall wird anhand der       Fig.2    erläutert. Ein     quaderförmiger    Halb  leiter ist an zwei gegenüberliegenden Flächen  mit Flächenelektroden versehen.

   Die Ausdeh  nung senkrecht zur Zeichenebene ist. für den  Effekt ohne Belang, wesentlich     ist    nur, dass  der Abstand der Elektroden kleiner ist als  deren Länge bzw. als jene des Halbleiterkör  pers in der Zeichenebene.     -Vird    an die Elek  troden ein elektrisches Feld gelegt, so nehmen  die sich ausbildenden Strombahnen den kür  zesten Weg zwischen den beiden     Elektroden     ein     (Fig.        ?u).    Schaltet man aber senk  recht zur Zeichenebene ein     -lagr,.etfeld      dessen     Durchstosspunkte    in     Fig.    2b mit 0 an  gedeutet sind - ein,

   so kann die     Hallspan-          nung    die magnetischen Kräfte auf die Strom  bahnen - im Gegensatz zu den Verhält  nissen bei     Fig.    1 - nicht mehr kompensieren.  Die Strombahnen mit Magnetfeld     (Fig.2'b)     werden daher gegenüber     ihrem    Verlauf ohne  Magnetfeld     (Fig.        ? .)    um den Winkel 8, den  sogenannten     Hallwinkel,    gedreht. Dies hat  zur Folge,     dass    die Strombahnen nicht mehr  die kürzesten Verbindungen     zwischen    den  Elektroden darstellen.

   Neben der dadurch  verursachten Vergrösserung der Widerstands  änderung im Magnetfeld durch die Strom  bahnverlängerung tritt eine zusätzliche Ver  grösserung dadurch ein, dass nun die Ab  stände     zwischen    den Strombahnen kleiner  sind, was gleichbedeutend ist mit einer Erhö  hung der Stromdichte und somit des Wider  standes.  



  Bei Leitern und Halbleitern mit mittlerer  und kleiner Trägerbeweglichkeit ist auch  unter     Zuhilfenahme    dieses Effektes die ma-         gnetisehe        Wiclerstandsänderung    immer noch  so gering, dass sie im     allgemeinen    für eine  technische Anwendung unzureichend ist.. An  ders dagegen bei Halbleiterkörpern mit einer  Trägerbeweglichkeit von etwa 6000     em"/V    s,  vorzugsweise aber von<B>10000</B>     eni /V    s     und     noch grösser.

   Bei diesen Materialien ist die  Verlagerung der Strombahnen im     -Magnet-          feld    so gross, dass sie praktisch in     Ersebei-          nung    tritt. So ist es     niö--        lieh.@        -lieh.        Widerstands-          änderungen    zu erreichen, die die bisher bei       Wismut    bekannten Werte weit     übertreffen.    In       Fig.    3 werden die gemessenen     -V        iderstancl:;

  -          änderungen    in einem Magnetfeld von 10 000  Gauss bei     Wismut        (Bi-),        (sermanium         ,e)     und     Indiumantimonid        (InSb),    gegenüberge  stellt, bezüglich des letzteren hinsichtlich der       Abhängigkeit    von der     geometriseben    Form  und der Lage im Magnetfeld der verwen  deten     InSb-Körper.        Und     -vr entspricht die       Kurve        a    einer     Anordnung;

      des Halbleiter  körpers im     -Magnetfeld        gemäss        Fig-.        '(10X3#--          0,5    mm), die     Kurve    b einer     quadratiseben     Platte (S X S X0,5 mm) und die     Kurve    c  einem Stab gemäss der     Fig.1.     



  Die Anordnung     nach        Fig.    ? hat einen  verhältnismässig kleinen Widerstand, der vor  allem bei     niederohmigen    Halbleitermateria  lien, zum Beispiel bei     InSb,    für     ma.nehe    An  wendungen     unerwünscht    sein kann. De     iii     kann durch die     Hintereinandersehaltung        einer     Anzahl solcher Kristalle begegnet werden.

   Die  gleiche Wirkung erzielt man dadurch, dass  man, wie in     Fig.        -1    dargestellt, auf eine Halb  leiterplatte, an     deren    Schmalseite die Elek  troden angebracht sind, leitende Streifen  parallel zu den Elektroden aufbringt, und  zwar     durch    Auflöten dünner Drähte oder       durch    Aufstreichen bzw.     Aufdämpfen    von  leitendem Material     finit.    Rastern. Dabei muss  der Abstand der Streifen grösser als die Aus  dehnung der Platte senkrecht zur Zeichen  ebene sein.  



  Die Anordnung nach     Fi-.        -1    ist einer     Hin-          t'        mehrerer        getrennter     Halbleiterkörper von der Art der     Fig.    2 da  durch überlegen, dass sie weniger Raum in  Anspruch nimmt und damit die V erwen-           (huig    von Magnetfeldern geringer     räuin-          lielier    Ausdehnung ermöglicht.  



  Bei der Anordnung nach     Fig.    ? sind Rand  störungen möglich, die dadurch bedingt sind,       (lass    in der Nähe der     elektrodenfreien    Ober  flä eben die Strombahnen auch im Magnet  feld annähernd parallel zur Oberfläche ver  laufen müssen.

   Solche Randstörungen werden       vei,niieden,    wenn man, wie in     Fig.    5 darge  stellt, als Halbleiterkörper eine kreisförmige  Scheibe verwendet, die von der einen     Elek-          trode    ganz umgeben ist, während die zweite  in der     TVIitte    der Scheibe angebracht ist       (Corbinoseheibe).    Diese Körperform stellt  einen Grenzfall einer Form gemäss     Fig.    ? dar.  Sie kann dadurch entstanden aufgefasst wer  clen, dass ein Halbleiterkörper gemäss     Fig.2     zu einer     Seheibe    umgebogen wird.

   Dabei wird  die eine     -lektrodenfläehe    vergrössert und die  andere gegen Null verkleinert; die Mittellinie       zwisehen    beiden     Elektrodenfläehen    behält  etwa die gleiche Länge. Bei dieser     Körper-          form    tritt daher an die Stelle des     Elektroden-          sil>standes    der Radius der Scheibe und an die  Stelle der     Ausdehnung    des     Messkörpers    senk  recht     zur        Rielitluig    des     Primärstroms    und  des Magnetfeldes der Umfang eines     kon-       <RTI  

   ID="0003.0029">   zentrisehen    Kreises mit, halbem Scheiben  radius, der als  mittlere Ausdehnung  des       Messkörpers    bezeichnet wird. Es ist nicht un  bedingt notwendig, dass die Scheibe     kreisför-          inig    ist. Wegen des Wegfallens der     Rand-          störtun,-en    ist bei     dieser    Anordnung die Wi  derstandsänderung im Magnetfeld besonders  gross.

   Der     Stromlinienv    erlauf ohne Magnet  feld wird in     Fig.5a,        derjenige    mit     Ma.gnet.-          feld    in     Fig.    5b angedeutet. \Zur Erzielung  eines hohen Gesamtwiderstandes wird die  Innenelektrode als Punktkontakt ausgestaltet.  Der Punktkontakt ist dadurch definiert, dass  das Verhältnis Radius der Aussenelektrode zu  Radius der Innenelektrode mindestens gleich  10 oder grösser ist.

   Der Widerstand der       Anordnung    ist gegeben durch die Formel  
EMI0003.0043     
         fIierin    ist 2 der spezifische Widerstand, d  die Dicke des     Halbleiterkristalles,        R1    der  Radius der Aussenelektrode und     R2    der Ra  dius der Innenelektrode.  



  Bei der Anwendung der Erfindung wird  ein Punktkontakt bevorzugt, welcher in der  folgenden     ZVeise    hergestellt ist: Der Kristall  wird mit einer kleinen Bohrung versehen und  in diese Bohrung ein Metalldraht, der den  Kristall ganz durchquert, eingelötet     (Fig.    6).  Diese Anordnung hat gegenüber der in     Fig.    7  dargestellten Anordnung, in welcher ledig  lich ein oberflächlicher Punktkontakt vorge  sehen ist, den Vorteil, dass von vornherein  die Stromlinien in der Nähe des Punktkon  taktes auf dem Magnetfeld senkrecht stehen  und dadurch die Widerstandsänderung im  Magnetfeld maximal gross wird. Weiterhin  ist es möglich, anstelle der die Scheibe um  fassenden Aussenelektrode eine zweite Punkt  elektrode oder auch mehrere Punktelektroden  paare anzubringen.  



  Neben dein Vorteil einer grossen Wider  standsänderung und eines hohen absoluten  Widerstandes hat eine derartige Anordnung  auch den Vorteil einer relativ, hohen Strom  belastbarkeit. Die äussern Teile des     Halblei-          terkristalles    stellen eine relativ grosse Kühl  fläche dar und tragen     zur    Ableitung der in  der N     älie    des Punktkontaktes entwickelten  Wärme bei.  



  Bei der letztgenannten Anordnung ist es  nicht nötig, dass sieh der ganze Kristall im  Magnetfeld befindet.; es genügt, wenn die Um  gebung des Punktkontaktes, die den wesent  lichen Beitrag zum Gesamtwiderstand liefert,  dein Magnetfeld     ausgesetzt    ist, mit dem Vor  teil, dass auch relativ kleine     Magnetpolschuhe     verwendet werden können.     Daraus    ergibt sich  wiederum die Möglichkeit, die für den     er-          wünsehten    Effekt wenig beitragenden äussern  Teile der     Corbinoseheibe    durch Bleche zu er  setzen, die dann als  Kühlrippen  wirken  und deren Grösse entsprechend der erforder  lichen Wärmeabfuhr gewählt werden kann.  



  Ferner kann bei einem Messgerät nach der  Erfindung die Lage bzw. die Lageänderung  des     Halbleiterkörpers    als eine     Einflussgrösse         bzw. als eine von mehreren     Einflussgrö        sseil     benutzt     -werden.    Es kann also     zum    Beispiel       finit    einer     Einflussgrösse    (Steuergrösse)

   die am  Halbleiterkörper liegende Spannung mit       einer    zweiten     Einflussgrösse    die Stärke des auf  den     1-Ialbleiterkörper    wirkenden     Magnetfeldes     und mit einer dritten     Einflussgrösse    die     Lage          des    Halbleiterkörpers im     1Vlagnetfeld        geän-          dert    werden.

   Die in diesem Falle von den  vorgenannten     Einflussgrössen        abhängige    Hall  spannung kann zur Steuerung eines Kreises       verwendet        -werden    Lind/oder     auch        mittelbar     oder     -unmittelbar    in den     Steuerkreis        einge-          führt    werden, in     dem    die     Widerstandsli.ide-          rung    des Halbleiterkörpers ausgenutzt wird;

    das heisst also, dass     Hauspannung    und magne  tische Widerstandsänderung in derselben     Mess-          bzw.        Steuerschaltung    kombiniert     Verwenden-          finden    können.  



  Die vorstehenden Überlegungen     legen    es       na.lie,    den Halbleiterkörper in seiner Lage       zum    Magnetfeld einstellbar zu     niaehen.    Von  dieser     Möglichkeit    kann     aueli    in der Weise       CTebraueh    gemacht werden,

   dass der Halb  leiterkörper über eine Stellschraube oder     der-          gleiehen        entspreellend        denn        jeweiligen        Ail-          wendungszweek    in eine bestimmte Lage ge  bracht und damit eine bestimmte     Wider-          standskurve    (vgl.     Fig.3)    ausgewählt bzw.       einbestellt    wird.

Claims (1)

  1. <B>PATENTANSPRUCH</B> Elektrisches Messgerät nach dem Patent- anspruch I des Hauptpatentes, -wobei zur Messung die Änderung des elektrischen Wi derstandes, den der Messkörper im Magnet feld erfährt, benützt ist, dadurch gekenn zeichnet, dass zur Unterdrückung- der Aus- bildungr eine Haufeldes ein Messkörper von EMI0004.0066 solcher <SEP> geometrischer <SEP> Form <SEP> vor-rsehen <SEP> ist,
    <tb> dass <SEP> der <SEP> Elektrodenabstand <SEP> kleiner <SEP> ist <SEP> als. <tb> die <SEP> mittlere <SEP> Ausdehnung <SEP> des <SEP> @VIesskörp(,i#s <tb> senkreelit <SEP> zur <SEP> Riehtun- <SEP> des <SEP> Primärstroms <SEP> und <tb> des <SEP> Magnetfeldes. <tb> I'NTLRA\SP.R1 <SEP> t_'IIL <tb> 1. <SEP> - <SEP> Messgerät <SEP> nach <SEP> Pateiltanspruch, <SEP> da-, <tb> dureli <SEP> "ekelinzeiehnet, <SEP> dass <SEP> der <SEP> ltesskörper <tb> als <SEP> Platte <SEP> ausgebildet <SEP> ist. <tb> ?. <SEP> Messgerät <SEP> nach <SEP> Patentanspruch, <SEP> cla dlireh <SEP> gekennzeichnet, <SEP> dass <SEP> der <SEP> Messkiii@l)ci als <SEP> kreisförmige <SEP> Seheibe <SEP> ausgebildet <SEP> ist <SEP> und:
    <tb> die <SEP> eine <SEP> Elektrode <SEP> des <SEP> Messkörpers <SEP> die <SEP> ganze <tb> Seheibe <SEP> umfasst <SEP> und <SEP> die <SEP> zweite <SEP> Elektrode <SEP> in <tb> der <SEP> Mitte <SEP> der <SEP> Seheibe <SEP> ailgebraeht <SEP> ist. <tb> 3. <SEP> Messgerät <SEP> nach. <SEP> Unteranspruch <SEP> '?, <SEP> da durch <SEP> gekennzeichnet, <SEP> dass <SEP> die <SEP> zweite <SEP> Elek trode <SEP> die <SEP> Mitte <SEP> der <SEP> Halbleiterscheibe <SEP> als <SEP> Draht <tb> durchsetzt. <tb> 4. <SEP> Messgerät <SEP> nach <SEP> Patentanspruch, <SEP> da durch <SEP> -ekennzeiehnet, <SEP> dass <SEP> mehrere <SEP> Messk;ir per <SEP> hintereinander <SEP> geschaltet <SEP> sind. <tb> ö. <SEP> Messgerät <SEP> naeli <SEP> j-nteransprueh <SEP> -I, <SEP> chi dureli <SEP> gekennzeichnet, <SEP> da.ss <SEP> ein <SEP> einziger <SEP> Me(.;
    körper <SEP> verwendet <SEP> ist <SEP> und <SEP> die <SEP> IIintereinaiide <SEP> !- sehaltung <SEP> der <SEP> Wirkungsweise <SEP> nach <SEP> dureli <SEP> quer <tb> zur <SEP> Stroinrichtun-#" <SEP> verlaufende <SEP> leitende <SEP> B(-, <tb> legungen <SEP> bewirkt <SEP> ist <SEP> (Fig.-I). <tb> 6. <SEP> Messgerät <SEP> naeli <SEP> 1'iteransprueli <SEP> :
    5, <SEP> da durcli <SEP> gekelinzeiehilet, <SEP> dass <SEP> als <SEP> leitende <SEP> Bele gungen <SEP> Drähte <SEP> auf <SEP> den <SEP> -Messkörper <SEP> aufge lötet <SEP> sind. <tb> i. <SEP> Messgerät <SEP> naeli <SEP> Patentanspruch, <SEP> da dureh <SEP> gekennzeichnet, <SEP> dass <SEP> der <SEP> Messkörper <tb> in <SEP> seiner <SEP> Lagre <SEP> zum <SEP> Magnetfeld <SEP> einstellbar <tb> ist, <SEP> in <SEP> der <SEP> Weise, <SEP> dass <SEP> der <SEP> Messkörper <SEP> in <tb> Einstellabhängigkeit <SEP> von <SEP> einer <SEP> Einflussgrösse <tb> stellt.
CH334519D 1953-11-21 1954-11-13 Elektrisches Messgerät, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt CH334519A (de)

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