CH462495A - Mikroskop mit auswechselbaren Ergänzungseinrichtungen - Google Patents

Mikroskop mit auswechselbaren Ergänzungseinrichtungen

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CH462495A
CH462495A CH300567A CH300567A CH462495A CH 462495 A CH462495 A CH 462495A CH 300567 A CH300567 A CH 300567A CH 300567 A CH300567 A CH 300567A CH 462495 A CH462495 A CH 462495A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
microscope
housing
optical axis
supplementary
supplementary devices
Prior art date
Application number
CH300567A
Other languages
English (en)
Inventor
Ellwanger Heinz
Original Assignee
Leitz Ernst Gmbh
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description


      Mikroskop    mit auswechselbaren Ergänzungseinrichtungen    Die Erfindung     betrifft    ein Mikroskop mit auswechsel  baren Ergänzungseinrichtungen, wie beispielsweise     Pha-          senkontrasteinrichtungen,    automatische     Belichtungsmess-          einrichtungen,    mikrophotographische Einrichtungen und  dergleichen.  



  Es ist seit langem bekannt, Mikroskope durch aus  wechselbare Einrichtungen der vorerwähnten Art mög  lichst vielseitig verwendbar zu machen. Es ist dabei  üblich, diese Ergänzungseinrichtungen durch ein geeigne  tes Kupplungssystem, wie beispielsweise eine Schraubver  bindung, eine     Bajonettverbindung    oder auch eine zangen  artige Klemmverbindung, mit dem Mikroskoptubus zu  verbinden. Das führt jedoch je nach Art der Ergänzungs  einrichtung in vielen Fällen zu einer unerwünschten  Vergrösserung der Bauhöhe des Mikroskops. Hinzu  kommt, dass     insbesondere    dann, wenn die Ergänzungs  einrichtung     eine    grössere Bauhöhe aufweist, sehr häufig  die Gesamteinrichtung nicht mehr erschütterungsfrei  ist.  



  Die Nachteile dieser bekannten Konstruktionen lassen  sich dadurch vermeiden, dass entsprechend der Erfin  dung das Mikroskopstativ auf seiner Oberseite als ebene       Fläche    ausgebildet ist und dass die Ergänzungseinrich  tungen jeweils in einem Gehäuse angeordnet sind, dessen  Unterseite ebenfalls eben ausgebildet und in dem Abmes  sung der Oberseite des Mikroskopstativs angepasst ist,  und das Gehäuse an einem Ende oder in der Nähe des  einen Endes an seiner Unterseite eine Kupplungseinrich  tung zur Verbindung mit dem Mikroskopstativ aufweist.       Die    optischen Bauelemente der Ergänzungseinrichtungen  sind vornehmlich derart in diesem Gehäuse angeordnet,  dass das in dem Gehäuse verlaufende Strahlenbündel in  Seitenansicht oder Draufsicht einen in sich geschlossenen  Weg durchläuft.

   Dazu ist es zweckmässig, in dem  Gehäuse einen beidseitig     beaufschlagten    Spiegel anzuord  nen, dessen, in Lichtrichtung gesehen, Vorderseite das  Strahlenbündel aus der optischen Achse des Mikroskops       herauslenkt    und dessen, in Lichtrichtung gesehen, 'Rück  seite das Strahlenbündel nach     Durchlaufen    der Ergän  zungseinrichtung wieder in die optische Achse des Mi-         kroskops        hineinlenkt.    Dieser Spiegel kann nach Art eines       Teilerprismas    ausgebildet sein, bei dem zwei     rechwink-          lige    Prismen mit ihren     Hypotenusenflächen    verkittet sind,

    wobei     eine        Hypotenusenfläche    anstelle einer sonst übli  chen teildurchlässigen     Verspiegelung    eine     Vollverspiege-          lung    trägt. Es ist vorteilhaft, im Gehäuse diesen Spiegel  gegen ein Zwischensystem austauschbar anzuordnen, das  den optischen Weg zwischen Unter- und Oberseite des  Gehäuses überbrückt.  



  In der beigefügten Zeichnung ist ein Ausführungsbei  spiel für die Erfindung anhand einer     Phasenkontrastein-          richtung    mit     Pupillenzwischenabbildung    dargestellt.  



  Auf der ebenen Oberfläche 1 des Mikroskopstativs 2  ist das Gehäuse 3 mittels der Kupplungseinrichtung 4  befestigt. An dem der Kupplungseinrichtung entgegenge  setzten Ende der Unterseite 5 des Gehäuses 3 sind zwei  Noppen 6, 6a angebracht, mit denen sich das Gehäuse 3  auf der Oberfläche 1 des Mikroskopstativs 2 abstützt.     In     dem Gehäuse 3 ist ein Spiegel 7 in der optischen Achse 8  des Mikroskops angeordnet, der das vom Objekt kom  mende Strahlenbündel im rechten Winkel zur optischen  Achse auf einen     Umlenkspiegel    9 ablenkt. In dem  Gehäuse sind weitere     Umlenkspiegel    10, 11 und 12     starr     angeordnet.

   Zwischen den     Spiegeln    9 und 10 einerseits  und den Spiegeln 11 und 12 andererseits sind weitere  optische Bauelemente angeordnet, die hier für eine       Pupillenzwischenabbildung    vorgesehen sind. Zwischen  den Spiegeln 11 und 12 ist ferner eine Wechseleinrich  tung 13 angeordnet, in der gegeneinander austauschbare       Phasenringe    14 vorgesehen sind. Der Spiegel 12 lenkt das  Strahlenbündel auf die Rückseite des Spiegels 7, durch  den das Strahlenbündel wieder in Richtung der optischen  Achse des Mikroskops umgelenkt wird. Der Spiegel 7 ist  gegen ein Kurzschlussystem 15 auswechselbar.  



  Ein besonderer Vorteil der Anordnung ist darin zu  sehen,     dass    unabhängig von der Art der Ergänzungsein  richtung die     Gesamtbauhöhe    des Mikroskops nur gering  fügig vergrössert wird und dass     ausserdem    ein erschütte  rungsfreier, statisch genau bestimmter Anschluss der      Ergänzungseinrichtung an das Mikroskop gewährleistet  ist.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Mikroskop mit auswechselbaren Ergänzungseinrich tungen, dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop stativ auf seiner Oberseite als ebene Fläche ausgebildet ist und dass die Ergänzungseinrichtungen jeweils in einem Gehäuse angeordnet sind, dessen Unterseite eben falls eben ausgebildet und in den Abmessungen der Oberseite des Mikroskopstativ angepasst ist, und das Gehäuse an einem Ende oder in der Nähe des einen Endes an seiner Unterseite eine Kupplungseinrichtung zur Verbindung mit dem Mikroskopstativ aufweist.
    UNTERANSPRÜCHE 1. Mikroskop nach Patentanspruch, dadurch gekenn zeichnet, dass das die Ergänzungseinrichtungen enthal tende Gehäuse an dem der Kupplungseinrichtung entge- gengesetzten Ende seiner Unterseite mit einer Abstütz- vorrichtung versehen ist.
    2. Mikroskop nach Patentanspruch, dadurch gekenn zeichnet, dass die optischen Bauelemente (7, 9, 10, 11, 12, 13, 14, 15) der Ergänzungseinrichtungen derart in dem Gehäuse (3) angeordnet sind, dass das in dem Gehäuse (3) verlaufende Strahlenbündel in der Seitenansicht oder Draufsicht einen in sich geschlossenen Weg durchläuft.
    3. Mikroskop nach Patentanspruch, dadurch gekenn zeichnet, dass in dem Gehäuse (3) in der optischen Achse (8) des Mikroskops ein um 45 gegen die optische Achse geneigter Spiegel (7) angeordnet ist, dessen, in Lichtrich tung gesehen, Vorderseite das Strahlenbündel aus der optischen Achse (8) des Mikroskops herauslenkt und dessen, in Lichtrichtung gesehen, Rückseite das Strahlen bündel nach Durchlaufen der Ergänzungseinrichtung wieder in die optische Achse (8) des Mikroskops hinein lenkt. 4. Mikroskop nach Unteranspruch 3, dadurch ge kennzeichnet, dass der Spiegel (7) gegen ein Zwischensy stem (15) austauschbar angeordnet ist.
CH300567A 1967-03-01 1967-03-01 Mikroskop mit auswechselbaren Ergänzungseinrichtungen CH462495A (de)

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CH462495A true CH462495A (de) 1968-09-15

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ID=4246481

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3331193C1 (de) * 1983-08-30 1984-12-13 C. Reichert Optische Werke Ag, Wien Aufrechtes Kompaktmikroskop
US5175644A (en) * 1990-02-23 1992-12-29 Olympus Optical Co., Ltd. Microscope apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3331193C1 (de) * 1983-08-30 1984-12-13 C. Reichert Optische Werke Ag, Wien Aufrechtes Kompaktmikroskop
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