CH465722A - Verfahren zur Herstellung eines durch einen Markierungsstoff gebildeten Musters auf einer Unterlage - Google Patents

Verfahren zur Herstellung eines durch einen Markierungsstoff gebildeten Musters auf einer Unterlage

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CH465722A
CH465722A CH1693867A CH1693867A CH465722A CH 465722 A CH465722 A CH 465722A CH 1693867 A CH1693867 A CH 1693867A CH 1693867 A CH1693867 A CH 1693867A CH 465722 A CH465722 A CH 465722A
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Description


  Verfahren     zur    Herstellung eines durch einen     Markierungsstoff    gebildeten Musters  auf einer Unterlage    Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung  eines durch einen     Markierungsstoff    gebildeten Musters  auf der Oberfläche einer, insbesondere elektrisch isolier  enden Unterlage, sowie eine Vorrichtung zur     Durchfür-          hung    des Verfahrens.  



       In    der Elektronik, beispielsweise bei der Herstellung  von Halbleiteranordnungen mit einer Anzahl auf einer  elektrisch isolierenden Unterlage angeordneter aktiver  und passiver Halbleiterelemente, ist es häufig erforder  lich, dass Stellen oder Flächenbereiche einer im allge  meinen ebenen Oberfläche eines Trägers mit einem  Halbleitermaterial oder einem Metall beschichtet werden  müssen. Die Schichtdicke ist nur gering und die     aufge-          brahten     Inseln  aus     Beschichtungsmaterial    bilden auf  der Unterlage ein Muster. Zur Herstellung einer solchen  Inselstruktur bzw. eines solchen Musters sind verschiede  ne Verfahren bekannt.

   Im einfachsten Falle kann das       Beschichtungsmaterial    durch Blenden, welche den zu  beschichtenden Flächenbereichen entsprechende     öffnun-          gen    aufweisen, auf den Träger vorzugsweise im Vakuum  aufgedampft werden. Die Kanten der aufgedampften  Schichten sind unscharf und die Herstellung freitragen  der Blenden ist schwierig und praktisch nicht     möglich,     wenn die     zubedampfenden        Flächenbereiche    kleinste  Masse haben, wie dies     in.    der Mikroelektronik der Fall  ist.

   Solche     Aufdampfverfahren    sind deshalb nur be  schränkt anwendbar.     Darüberhinaus    sind freitragende  Blenden nur bei physikalischen     Abscheidungsverfahren     verwendbar und schliessen     Beschichtungsverfahren    aus,  bei welchen das     Beschichtungsmaterial    durch eine che  mische Reaktion einer gasförmigen Verbindung auf dem  Träger niedergeschlagen wird. Ein anderes Verfahren  zur Herstellung einer     Inselstruktur    besteht darin,, dass  die Trägeroberfläche zunächst mit einer Schicht aus dem  Inselmaterial bedeckt und die zusammenhängende    Schicht dann dem gewünschten Muster entsprechend  geätzt wird.

   Das Ätzen selbst wird praktisch immer über  photolithographische Verfahren durchgeführt, wobei die  nicht zu ätzenden Flächenbereiche der Schicht mit einem  widerstandsfähigen Material abgedeckt oder     maskiert     werden. Dieses Verfahren wird häufig  umgekehrt ,  d. h. statt erst das     Beschichtungsmaterial    aufzutragen  und dann über eine Maskierung das Material an den  unerwünschten Stellen wieder abzutragen, wird erst die  Maskierung durchgeführt, dann das     Besichtungsmaterial     niedergeschlagen und schliesslich die Maskierung abge  löst.

   Solche Maskierungsverfahren sind sehr aufwendig,  da, abgesehen davon, dass auf jeden     einzelnen    Träger  eine Maske hergestellt werden muss, der     Fertigungspro-          zess,    welcher normalerweise in Vakuum     stattfindet,     unterbrochen werden muss, um die chemische Behand  lung durchführen zu können. Bei der Behandlung mit  sauren Lösungen können in den Träger und/oder die  Schicht Fremdionen eingetragen werden, was zu zusätzli  chen Schwierigkeiten z. B. bei der Herstellung von  Halbleiterelementen, insbesondere von     Feldeffekt-Ele-          menten,    führt.  



  Um z. B. in einer Platte aus halbleitendem Material  begrenzte Bereiche verschiedener Leitfähigkeit herzustel  len, werden nahezu ausschliesslich solche     Maskierver-          fahren    angewendet. Die maskierte Platte wird bei erhöh  ter Temperatur einem     dampfförmigen        Dotierungsmittel     ausgesetzt, so dass das     Dotierungsmittel    in den Halblei  ter eindiffundiert. Die eindiffundierten Bereiche bilden  auf der Platte ein Muster.  



  Zur Herstellung von einkristallinen     Siliziuminseln     auf einer polykristallinen     A103    oder amorphen       Si02    Unterlage ist beispielsweise ein Verfahren be  kannt geworden, bei welchem die Oberfläche der Unter  lage an den Stellen, an welchen die     Siliziuminseln    liegen      sollen mit     Tantal    bedampft wird.

   Auf die mit     Tantal    im  gewünschten Muster bedampfte Unterlage wird eine  kompakte     Siliziumschicht    niedergeschlagen und     dann     eine Temperaturzone, deren Temperatur     in    der Spitze  höher als der Schmelzpunkt von     Silizium    liegt,

   über die  Schicht     hinweggeführt.    Das vorübergehend geschmolze  ne     Silizium    zieht sich hierbei auf die     Tantalinseln    zurück  und erstarrt darauf unter gewissen     Bedingungen        einkri-          stallin.    Zur     Hersttellung    des     Tantalmusters    ist man auf  das herkömmliche Aufdampfen durch Blenden angewie  sen, wenn Maskierungen vermieden werden sollen.  



  Ausser diesen beispielsweise     aufgeführten        Verfahren     sind noch viele andere, z. T. ähnliche Fertigungsprozesse  bekannt, bei welchen stets die Notwendigkeit besteht,  Flächenbereiche eines Trägers oder einer Unterlage mit  einem Material dünn zu belegen oder das Material in die  Oberfläche der Unterlage an diesen Stellen     einzudiffun-          dieren,        mit    anderen Worten, diese Flächenbereiche mit  einem Material zu markieren.  



  Zweck der     Erfindung    ist ein einfaches und rationel  les Markierungsverfahren, bei welchem keine chemische  Behandlung, wie Ätzen,     nötig    ist, bei dem damit die bei  den bekannten Maskierungsverfahren vorhandenen  Nachteile und Schwierigkeiten nicht auftreten und wel  ches ferner ermöglicht, dass eine im Vakuum erfolgende       Fertigung    von z. B. Bauteilen der Mikroelektronik in  einem Zuge durchgeführt werden kann.  



  Das     erfindungsgemässe        Markierungsverfahren    ist da  durch gekennzeichnet, dass eine den Markierungsstoff       an    den dem Muster entsprechenden Stellen mit Vorrat  aufweisende Matrize auf die zu     markierende    Oberfläche  einer Unterlage gelegt wird und die     Matrize    und die  Unterlage     aneinandergedrückt    und auf eine Temperatur  erwärmt werden, bei welcher     Markierungsstoff    vom  Vorrat in und/oder auf die Oberfläche der Unterlage  übergeht.  



  Die Matrize zur Durchführung des Verfahrens ist  dadurch gekennzeichnet, dass die den Markierungsstoff  in Vorrat aufweisende     Auflageseite    Matrize ein aus  Vertiefungen und Erhebung     gebildetes    Muster trägt     und     die in einer Ebene liegenden Auflageflächen der Erhe  bungen geglättet sind.  



  Die Matrize kann in zwei verschiedenen Ausbildun  gen     ausgeführt    sein. Einmal kann die ebene Fläche eines       Matrizenkörpers    den Vorrat an Markierungsstoff in  Form von das gewünschte Muster darstellenden Erhe  bungen aufweisen, zum anderen kann das gewünschte  Muster von den Vertiefungen im     Matrizenkörper    gebil  det und der     Markierungsstoff    in den Vertiefungen mit  Vorrat untergebracht sein.  



  Nachfolgend werden     Ausführungs-    und Anwen  dungsbeispiele der     Erfindung    anhand der beigefügten  Zeichnung ausführlicher     beschrieben.    Es zeigen:       Fig.    1 in perspektivischer Darstellung stark     vergrös-          sert    eine Matrize, welche den Vorrat an Markierungs  stoff in Form von Erhebungen trägt,       Fig.    2 einen Schnitt durch die Matrize der     Fig.    1  längs der Linie     Il-II,          Fig.    3 in perspektivischer Darstellung eine Matrize,  bei welcher der Vorrat an     Markierungsstoff    in Vertie  fungen untergebracht ist,

         Fig.    4 einen     Schnitt    durch die Matrize der     Fig.    3  längs der Linie     IV-IV,          Fig.    5, 6 und 7 schematisch drei verschiedene  Fertigungsstufen bei der Herstellung einer Matrize     ge-          mäss        Fig.    3,         Fig.    8 schematisch einen Markierungsvorgang mit  einer Matrize gemäss     Fig.    3,       Fig.    9 in Aufsicht     eine    mittels einer Matrize gemäss       Fig.    1 oder     Fig.    3 markierte Unterlage.  



  Es sei angenommen, dass bei der     Serienfabrikation     einer Halbleiteranordnung auf der einen Seite einer       plättchenförmigen    Unterlage aus amorphem     Si02    sechs  quadratische Flächenbereiche mit     Tantal    zu markieren  sind. Die     Markierung    soll hierbei durch     Eindiffundieren     von Markierungsstoff     in    die Unterlagenoberfläche erfol  gen.  



  Eine solche Markierung soll mit einer     Matrize          durchgeführt    werden, welche den Markierungsstoff an  den dem Muster entsprechenden Stellen mit Vorrat  aufweist.  



       Fig.    1 und     Fig.    2 zeigen     eine        Ausführungsform        einer     solchen Matrize.  



  Der     Matrizenkörper    ist ein ebenes Plättchen aus  z. B.     Si02    oder     A120,3,    auf dessen einen, vorzugs  weise polierten Seite 2, dem gewünschten Muster aus zu  markierenden Flächenbereichen entsprechend sechs qua  dratische     Tantalinseln    3 aufgebracht     sind.    Diese     Inseln     sind ausreichend dick, so dass sie einen Vorrat an  Markierungsstoff     bilden.    Das Aufbringen der Inseln aus  Markierungsstoff, in diesem Falle aus     Tantal,    erfolgt  nach irgendeinem bekannten Verfahren,

   beispielsweise  indem auf die gesamte Fläche 2 der Unterlage 1  zunächst eine dicke     Tantalschicht    aufgedampft wird     und     aus dieser dann     durch    Anwendung     eines    geeigneten  photolithographischen     Ätzverfahrens    die     Inselns    heraus  gearbeitet werden. Nach einem ausgiebigen Reinigen,  Trocknen und eventuell Entgasen im Vakuum ist die  Matrize für den serienmässig erfolgenden Markierungs  vorgang der vielen Unterlagen, wie er     ausführlich        an     späterer Stelle beschrieben wird, bereit.  



       In    manchen Fällen ist es einfacher, wenn die gesamte  Matrize aus dem Markierungsmaterial hergestellt  wird.  



  Eine     andere        Matrizenart    ist in den Figuren 3 und 4  gezeigt. Bei dieser Ausführungsform weist die Matrize  das gewünschte     Markierungsmuster    in Form von Vertie  fungen auf. Der     Matrizenkörper    4 kann hierbei wieder  um in Form eines Plättchens mit einer ebenen Fläche 5  ausgebildet sein. Die ebene Fläche 5     enthält    die Vertie  fungen 6 und dient als     Auflagefläche    für die zu markier  ende Unterlage.

   Die Vertiefungen 6 sind alle vorzugswei  se, jedoch nicht notwendig, alle gleich und gleichmässig  tief, d. h. sie weisen ebene und zur     Auflagefläche    5  parallele Bodenflächen 7 auf, wobei die     Seitenwände    8  praktisch senkrecht zu diesen Bodenflächen 7 verlaufen.  Die Vertiefungen 6 enthalten das Markierungsmaterial 9  mit Vorrat.  



  Da zur Herstellung der Markierungen, wie bereits  eingangs erwähnt und noch     ausfürlicher    beschrieben  wird, Matrize und Unterlage erwärmt werden, ist darauf  zu achten, dass beim Markierungsvorgang möglichst kein       Matrizenmaterial    in die Unterlage     eindiffundiert.        Zweck-          mässig    wird man deshalb als     Matrizenmaterial    das  Material der Unterlage selbst verwenden, oder zumindest  ein solches Material wählen, das bei den angewendeten  Temperaturen praktisch keine Neigung zur Diffusion in  die Unterlage zeigt.

   Bei dem hier beschriebenen Beispiel  der Markierung von     Si02    Unterlagen mit     Tantal,        käme     demnach vorzugsweise als     Matrizenmaterial        Si02    selbst  oder     A120,3    in Frage.  



  Die Herstellung einer Matrize aus     Si0.->    in der in       Fig.    3 gezeigten Form ist mit üblichen Bearbeitungsme-           thoden    recht schwierig. Ein bevorzugtes Herstellungsver  fahren ist in drei Phasen in den Figuren 5, 6 und 7  gezeigt.  



  Eine Platte 10, vorzugsweise aus Graphit, wird auf  einer ebenen Oberfläche 11 so graviert, dass sie Erhe  bungen 13 aufweist, welche den gewünschten Vertiefun  gen 6 in der Matrize entsprechen. Die Vertiefungen 12  in der     Graphitplatte    entsprechen ihrer Form nach  demnach den Erhebungen auf der     Matrize.    Die Graphit-,  platte ist somit ein Negativ der Matrize. Dann wird nach  üblichen Verfahren ein Plättchen 14 aus amorphem       Si02    in der Grösse der     gewünschten    Matrize herge  stellt. Das     Si02    Plättchen 14 wird auf die gravierte  Seite der     Graphitplatte    10 gelegt und beide Teile werden  in eine Presse 15 eingesetzt, welche in einem Ofen 16  angeordnet ist.

   Dies ist schematisch in     Fig.    5 gezeigt. Die  Ofentemperatur wird auf rund 1480  C gebracht und  die Temperatur wird 45 Minuten lang gehalten. Bei  dieser Temperatur erweicht das     Si02    und die in die       Graphitplatte    10 eingravierte Form drückt sich in dem       Si02    Plättchen 10 ab.

   Nach dem Erkalten und nach  eventueller Säuberung wird das geformte     SiO2    Plätt  chen 10 in einer Vakuumglocke 17 aus einem     Schiffchen     18 mit     Tantal    bedampft, Wie     in        Fig.    6 gezeigt ist, wird  die gesamte geformte     Oberfläche    des     Si02    Plättchens  ausreichend dick mit     Tantal    bedampft.  



  Nach dem Aufdampfen wird, wie in     Fig.    7 schema  tisch gezeigt ist, das auf den Erhebungen, d. h. auf der  Anlagefläche 5 der Matrize 4 befindliche Markierungs  material 19 abgetragen, beispielsweise durch Polieren,  und man erhält die in     Fig.    3 dargestellte Matrize, welche  das Markierungsmaterial mit Vorrat in ihren Vertiefun  gen enthält. Selbstverständlich sind auch andere Herstel  lungsverfahren anwendbar, insbesondere kann das Auf  bringen des Markierungsmaterials auch auf chemischem  Wege erfolgen.  



  Zum Markieren der     Oberflächenbereiche    einer Un  terlage wird eine der vorstehend beschriebenen Matrizen  auf die zu markierende Oberfläche der Unterlage gelegt  und beide Teile werden unter Druck auf eine Tempera  tur erwärmt, bei welcher Markierungsstoff vom Vorrat  in und/oder auf die Oberfläche der Unterlage übergeht.  Dies ist schematisch in     Fig.    8 dargestellt. Unter einer  Vakuumglocke 23 ist ein Gestell mit einer Trägerplatte  20 angeordnet.

   Die Unterlage 19 wird mit der zu  markierenden Oberfläche, die zu diesem Zweck     mög-          lichts    bis zur optischen Güte poliert ist, nach oben auf  die Trägerplatte 20 gelegt, dann folgt die Matrize mit der  das Markierungsmaterial tragenden Fläche nach unten,  und darauf eine Platte 21, welche ausreichend schwer  sein kann, um den gewünschten Andruck zu erzeugen,  oder auf die ein zusätzlicher Druck P ausgeübt wird.  Diese Anordnung befindet sich in einer Heizvorrichtung  22, mit welcher sie auf die nötige Temperatur, gegebe  nenfalls unter Aufrechterhaltung eines Temperaturgefäl  les, gebracht werden kann.  



  Die Art der Matrize, ob mit     erhebenen    Stellen aus  Markierungsmaterial gemäss     Fig.    1 oder mit in Vertie  fungen untergebrachtem Markierungsmaterial gemäss       Fig.    3, das     Matrizenmaterial    und das  Temperaturpro  gramm  sind natürlich ausser vom Markierungsmaterial,  dem Material und der Beschaffenheit der Unterlage vor  allem von der Art der Markierung abhängig, d. h. ob das  Markierungsmaterial in die Unterlagenoberfläche eindif  fundiert, auf deren Oberfläche sublimiert oder eindiffun  diert und sublimiert werden soll. Für einen reinen  Diffusionsvorgang sind beide Arten Matrizen brauchbar.

      Eine Matrize mit erhabenem Vorrat an Markierungsstoff       (Fig.    1) hat den Vorteil leichterer Herstellung und  einfacherer Handhabung. Die Anordnung von Matrize  und Unterlage     (Fig.    8) braucht dann nur auf Diffusions  temperatur gebracht und auf dieser während     einer    von  der gewünschten Diffusionstiefe abhängigen Zeit gehal  ten werden. Nachteilig ist jedoch, dass es bestimmte  Kombinationen von     Markierungs-    und     Substratmaterial     gibt, welche Neigung zum     Aufeinanderkleben    zeigen.  Liegt eine solche vor, so kommt es leicht zu unsauberen  oder     beschädigten    Markierungen.

   In solchen Fällen wird  dann besser anstelle einer     Kontaktdiffusion    eine Mikro  verdampfung des Markierungsmaterials aus einer Matri  ze der in     Fig.    3 gezeigten Form durchgeführt. Bei dieser  Matrize, bei welcher das Markierungsmaterial in Vertie  fungen untergebracht ist, kann die Markierung durch ein  entsprechendes  Temperaturprogramm  gesteuert wer  den. Im Ergebnis sind alle vorstehend genannten drei  Markierungsarten erhältlich, wobei die auf der Unterla  genoberfläche aufliegenden erhabenen     Matrizenbereiche     wie eine Maskierung wirken.     Fig.    9 zeigt die mit den  Flächenbereichen 24 markierte Oberfläche der Unterla  ge 19.

   Mit einer Matrize der vorstehend beschriebenen  Art können sehr viele Unterlagen markiert werden, vor  allem dann, wenn das Markierungsmaterial nur eindif  fundiert werden soll. Eine Serienfabrikation     wird        damit     äusserst vereinfacht, wobei die einzelnen Stücke nicht  nur formmässig sondern auch in der Qualität praktisch  gleich sind. Letzteres ist vor allem dadurch bedingt, dass  die Markierung ohne jegliche chemische Behandlung,  wie insbesondere Ätzen, erfolgt. Der Wegfall einer  solchen chemischen Behandlung wirkt sich besonders bei  der Herstellung von Halbleiteranordnungen aus, indem  zu mindest zum grossen Teil die Fertigung derselben, in  einem Zuge im Vakuum durchgeführt werden kann.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE I. Verfahren zur Herstellung eines durch einen Markierungsstoff gebildeten Musters auf der Oberfläche eine Unterlage, dadurch gekennzeichnet, dass eine den Markierungsstoff an den dem Muster entsprechenden Stellen mit Vorrat aufweisende Matrize (4), auf die zu markierende Oberfläche einer Unterlage (9), gelegt wird und die Matrize und die Unterlage aneinanderge- drückt und auf eine Temperatur erwärmt werden, bei welcher Markierungsstoff vom Vorrat in und/oder auf die Oberfläche der Unterlage übergeht.
    1I. Matrize zur Durchführung des Verfahrens nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass die den Markierungsstoff in Vorrat aufweisende Auflageseite der Matrize ein aus Vertiefungen und Erhebungen gebildetes Muster trägt und die in einer Ebene liegenden Auflage flächen der Erhebungen geglättet sind. III. Anwendung des Verfahrens nach Patentanspruch I zur Herstellung von aus einer Anzahl aktiver Halblei terelemente bestehenden Schaltungsgruppen der Mikro elektronik, dadurch gekennzeichnet, dass in die Oberflä che einer elektrisch isolierenden Unterlage an den für die Halbleiterelemente vorgesehenen Stellen ein Markie rungsstoff eindiffundiert wird. UNTERANSPRÜCHE 1.
    Verfahren nach Patentanspruch I, dadurch ge kennzeichnet, dass die Übertragung von Markierungs stoff durch Kontaktdiffusion erfolgt, wobei der Vorrat an Markierungsstoff von auf der Matrize in Form des gewünschten Musters angeordneten Erhebungen gebildet wird, und Unterlage und Matrize auf Diffusionstempera tur erhitzt werden. 2.
    Verfahren nach Patentanspruch I, dadurch ge kennzeichnet, dass die L7bertragung von Markierungsstoff durch Verdampfen und Sublimation des Markierungs stoffes erfolgt, wobei der Vorrat an Markierungsstoff in auf einer aus einem praktisch nicht in die Unterlage eindiffundierenden Material bestehenden Matrize in Form des gewünschten Musters angeordneten Vertiefun gen untergebracht wird, und die Matrize im Vakuum auf Verdampfungstemperatur erhitzt wird. 3.
    Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, dass die die Matrize tragende Unterlage im Vakuum auf einer Temperatur gehalten wird, bei welcher der auf die Oberfläche der Unterlage aufge brachte Markierungsstoff gänzlich in die Unterlage eindiffundiert. 4. Verfahren nach Unteranspruch 2, dadurch ge kennzeichnet, dass Matrize und Unterlage im Vakuum auf Temperaturen gehalten werden, bei welchen von der Matrize verdampfter Markierungsstoff zum Teil durch die Oberfläche der Unterlage eindiffundiert und zum Teil auf dieser sublimiert. 5.
    Matrize nach Patentanspruch II zur Durchführung des Verfahrens gemäss Unteranspruch 1, dadurch ge kennzeichnet, dass die Erhebungen (3) aus Markierungs stoff bestehen und auf der ebenen Fläche eines Matrizen körpers (1) in Form des Markierungsmusters angerod- net sind. 6. Matrize nach Unteranspruch 5, dadurch gekenn zeichnet dass der Matrizenkörper (1) aus Markierungs stoff besteht. 7.
    Matrize nach Patentanspruch 1I zur Durchführung des Verfahrens nach den Unteransprüchen 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Markierungsmuster von den Vertiefungen (6) in der Matrize (4) gebildet ist und die Vertiefungen den Markierungsstkoff (9) in enthalten.
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CH1693867A CH465722A (de) 1967-12-01 1967-12-01 Verfahren zur Herstellung eines durch einen Markierungsstoff gebildeten Musters auf einer Unterlage

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CH (1) CH465722A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2312116A1 (fr) * 1975-05-20 1976-12-17 Siemens Ag Procede pour fabriquer des composants a semi-conducteurs

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FR2312116A1 (fr) * 1975-05-20 1976-12-17 Siemens Ag Procede pour fabriquer des composants a semi-conducteurs

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