CH493647A - Wässriges Metallisierbad - Google Patents
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 36
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 36
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 24
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 16
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 14
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 14
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 12
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 8
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims description 7
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 7
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 6
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims description 3
- 239000011133 lead Substances 0.000 claims description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 claims description 2
- 229910001429 cobalt ion Inorganic materials 0.000 claims 2
- 229910001449 indium ion Inorganic materials 0.000 claims 2
- 229910001453 nickel ion Inorganic materials 0.000 claims 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 claims 1
- 229910001432 tin ion Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 65
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 32
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 26
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 16
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 16
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 13
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 13
- 229910000497 Amalgam Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 11
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 11
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 10
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 9
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 9
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 9
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 7
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 7
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 6
- JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-N lactic acid Chemical compound CC(O)C(O)=O JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 6
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 5
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 5
- -1 silver ions Chemical class 0.000 description 5
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- BAUYGSIQEAFULO-UHFFFAOYSA-L iron(2+) sulfate (anhydrous) Chemical compound [Fe+2].[O-]S([O-])(=O)=O BAUYGSIQEAFULO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MKJXYGKVIBWPFZ-UHFFFAOYSA-L calcium lactate Chemical compound [Ca+2].CC(O)C([O-])=O.CC(O)C([O-])=O MKJXYGKVIBWPFZ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000008139 complexing agent Substances 0.000 description 3
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 3
- 239000004310 lactic acid Substances 0.000 description 3
- 235000014655 lactic acid Nutrition 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 3
- RPACBEVZENYWOL-XFULWGLBSA-M sodium;(2r)-2-[6-(4-chlorophenoxy)hexyl]oxirane-2-carboxylate Chemical compound [Na+].C=1C=C(Cl)C=CC=1OCCCCCC[C@]1(C(=O)[O-])CO1 RPACBEVZENYWOL-XFULWGLBSA-M 0.000 description 3
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 3
- IWYVYUZADLIDEY-UHFFFAOYSA-N 4-methoxybenzenesulfonic acid Chemical compound COC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 IWYVYUZADLIDEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KIKDPIYHXZFGGH-UHFFFAOYSA-N B(F)(F)F.[Sn] Chemical compound B(F)(F)F.[Sn] KIKDPIYHXZFGGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 2
- QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N Hydroquinone Chemical compound OC1=CC=C(O)C=C1 QIGBRXMKCJKVMJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-M Lactate Chemical compound CC(O)C([O-])=O JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 229910021586 Nickel(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M Potassium chloride Chemical compound [Cl-].[K+] WCUXLLCKKVVCTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 2
- 239000013543 active substance Substances 0.000 description 2
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L barium sulfate Chemical compound [Ba+2].[O-]S([O-])(=O)=O TZCXTZWJZNENPQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M chloromercury Chemical compound [Hg]Cl RCTYPNKXASFOBE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 2
- 239000011790 ferrous sulphate Substances 0.000 description 2
- 235000003891 ferrous sulphate Nutrition 0.000 description 2
- 229910000359 iron(II) sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229940046892 lead acetate Drugs 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L nickel dichloride Chemical compound Cl[Ni]Cl QMMRZOWCJAIUJA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M phosphinate Chemical compound [O-][PH2]=O ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- KMUONIBRACKNSN-UHFFFAOYSA-N potassium dichromate Chemical compound [K+].[K+].[O-][Cr](=O)(=O)O[Cr]([O-])(=O)=O KMUONIBRACKNSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 2
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 2
- UUUGYDOQQLOJQA-UHFFFAOYSA-L vanadyl sulfate Chemical compound [V+2]=O.[O-]S([O-])(=O)=O UUUGYDOQQLOJQA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 229940041260 vanadyl sulfate Drugs 0.000 description 2
- 229910000352 vanadyl sulfate Inorganic materials 0.000 description 2
- CBCKQZAAMUWICA-UHFFFAOYSA-N 1,4-phenylenediamine Chemical compound NC1=CC=C(N)C=C1 CBCKQZAAMUWICA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FQBAMYDJEQUGNV-UHFFFAOYSA-N 2-methoxybenzenesulfonic acid Chemical compound COC1=CC=CC=C1S(O)(=O)=O FQBAMYDJEQUGNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 2-methylphenol;3-methylphenol;4-methylphenol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1.CC1=CC=CC(O)=C1.CC1=CC=CC=C1O QTWJRLJHJPIABL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZFIQGRISGKSVAG-UHFFFAOYSA-N 4-methylaminophenol Chemical compound CNC1=CC=C(O)C=C1 ZFIQGRISGKSVAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHPQYMZQTOCNFJ-UHFFFAOYSA-N Calcium cation Chemical compound [Ca+2] BHPQYMZQTOCNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021555 Chromium Chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical compound C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920013646 Hycar Polymers 0.000 description 1
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010070834 Sensitisation Diseases 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910021626 Tin(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- VBIXEXWLHSRNKB-UHFFFAOYSA-N ammonium oxalate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-]C(=O)C([O-])=O VBIXEXWLHSRNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- JBANFLSTOJPTFW-UHFFFAOYSA-N azane;boron Chemical compound [B].N JBANFLSTOJPTFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 244000052616 bacterial pathogen Species 0.000 description 1
- ITHZDDVSAWDQPZ-UHFFFAOYSA-L barium acetate Chemical compound [Ba+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O ITHZDDVSAWDQPZ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 1
- NTXGQCSETZTARF-UHFFFAOYSA-N buta-1,3-diene;prop-2-enenitrile Chemical compound C=CC=C.C=CC#N NTXGQCSETZTARF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 229910001424 calcium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- QSWDMMVNRMROPK-UHFFFAOYSA-K chromium(3+) trichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cr+3] QSWDMMVNRMROPK-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L cobalt dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Co+2] GVPFVAHMJGGAJG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000000536 complexating effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229930003836 cresol Natural products 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- HBRNMIYLJIXXEE-UHFFFAOYSA-N dodecylazanium;acetate Chemical compound CC(O)=O.CCCCCCCCCCCCN HBRNMIYLJIXXEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 description 1
- 229910001448 ferrous ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910000337 indium(III) sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- XGCKLPDYTQRDTR-UHFFFAOYSA-H indium(iii) sulfate Chemical compound [In+3].[In+3].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O XGCKLPDYTQRDTR-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 150000002940 palladium Chemical class 0.000 description 1
- PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L palladium(II) chloride Chemical compound Cl[Pd]Cl PIBWKRNGBLPSSY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001103 potassium chloride Substances 0.000 description 1
- 235000011164 potassium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000135 prohibitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000008313 sensitization Effects 0.000 description 1
- 150000003378 silver Chemical class 0.000 description 1
- 229940100890 silver compound Drugs 0.000 description 1
- 150000003379 silver compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 235000011150 stannous chloride Nutrition 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J tetrasodium;2-[2-[bis(carboxylatomethyl)amino]ethyl-(carboxylatomethyl)amino]acetate Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[Na+].[O-]C(=O)CN(CC([O-])=O)CCN(CC([O-])=O)CC([O-])=O UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 1
- BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N thallium Chemical compound [Tl] BKVIYDNLLOSFOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- AXZWODMDQAVCJE-UHFFFAOYSA-L tin(II) chloride (anhydrous) Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Sn+2] AXZWODMDQAVCJE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910000349 titanium oxysulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C18/32—Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
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Description
Wässriges Metallisierbad
Die Erfindung betrifft ein Metallisierbad, das aus einer im wesentlichen wässrigen Lösung besteht, die Metallionen und ein Reduktionsmittel dafür enthält. Ein solches Metallisierbad wird zur selektiven Verstärkung latenter Metallkeimschichten, insbesondere schwacher Metallkeimbilder, mit Metall verwendet, wobei die Reduktion von Metallionen in der unmittelbaren Nähe der Metallkeime derart beschleunigt wird, dass die betreffende selektive Ausscheidung stattfindet.
Ein bekanntes Metallisierbad zum selektiven Verstärken solcher latenten Metallkeimbilder oder Metallkeimschichten mit Edelmetall zu einem Bild mit der erwünschten optischen Dichte bzw. der erwünschten Metallmenge ist ein physikalischer Entwickler. Darin ist von Anfang an eine in Wasser lösliche, reduzierbare Verbindung von Quecksilber oder von einem edleren Metall vorhanden sowie ein photographisches Reduktionsmittel, das das Edelmetall selektiv auf dem Keimbild abscheidet. Die Metallkeime können z.B. durch ein bekanntes photographisches Verfahren erhalten werden, bei dem eine lichtempfindliche Verbindung benutzt wird, aus der bei Belichtung ein Lichtreaktionsprodukt erzeugt wird, das aus einer Lösung einer Mercuro-Verbindung, gegebenenfalls in Anwesenheit von Silberionen, Quecksilber- oder Silberamalgam in Form solcher Metallkeime abscheiden kann.
Physikalisch entwickelbare Quecksilberkeime lassen sich in Mercurochlorid-Keimbildern ausscheiden, die durch die Einwirkung von Licht auf Mercurichlorid in Anwesenheit von Kalium- oder Ammoniumoxalat erhalten sind. Es sind ferner Verbindungen bekannt, aus denen bei Belichtung ein Lichtreaktionsprodukt entsteht, das aus einer Lösung einer Silberverbindung Silbermetall in Form von Keimen ausscheidet, und es sind weiter noch bekannt die lichtempfindlichen Verbindungen wie die Silberhalogenide, aus denen bei Belichtung direkt physikalisch entwickelbare Metallkeime entstehen.
Die am meisten angewandten physikalischen Entwickler sind die Silberentwickler, in denen als photographisches Reduktionsmittel z.B. p-Methylaminophenol, p-Phenylendiamin und Hydrochinon verwendet wird.
Als Redox-System, das bei einem Silber-Entwickler verwendet wird, ist auch ein Gemisch aus einem Ferrosalz und einem Ferrisalz bekannt, von denen ersteres als Reduktionsmittel wirksam ist.
Im allgemeinen hat sich noch unzulänglich der Gedanke durchgesetzt, dass physikalische Entwickler sich auch sehr gut zum gleichmässigen Versilbern nicht-metallischer Oberflächen nach einer Vorbehandlung, z.B.
mit einer Salzsäure-Zinn-II-chlor-Lösung, verwenden lassen.
Ein solches Verfahren ist weiter bekannt zum gleichmässigen Metallisieren nicht metallischer Oberflächen mit Kupfer, Nickel und/oder Cobalt mittels einer Lösung, die das betreffende Metallsalz und ein geeignetes Reduktionsmittel enthält, z.B. Formaldehyd im Falle von Kupfer und Hypophosphit oder Borhydrid im Falle von Nickel und/oder Cobalt. Es ist dabei stets eine sogenannte Sensitisierung der Oberfläche notwendig, z.B.
durch Behandlung mit einer Salzsäure-Zinn-II-chlorid Lösung und durch eine darauferfolgende Behandlung mit einer verdünnten Lösung eines zweiwertigen Palladiumsalzes. Selektive Abscheidung mittels dieser Lösungen von Kupfer, Nickel und/oder Cobalt auf einem Quecksilber- und/oder Silberkeimbild ist jedoch nur möglich nach einer aktivierenden Vorbehandlung, die aus einer kurzen physikalischen Entwicklung mit Silber, Platin oder Palladium besteht, worauf gegebenenfalls eine katalysierende Behandlung durchgeführt werden kann.
Dieses Verfahren ist nicht besonders interessant; es ist nicht nur verhältnismässig umständlich, sondern auch ist eine verhältnismässig dicke Schicht von Silber oder einem anderen Edelmetall, manchmal bis zu einer Dicke von 1000 Ä notwendig, um die Abscheidung von Kupfer, Nickel oder Cobalt mit ausreichender Geschwindigkeit stattfinden zu lassen. Für viele elektrotechnische Anwendungen, insbesondere im Gebiete der gedruckten Verdrahtungen für professionelle und Militärzwecke ist das Vorhandensein solcher Mengen Silber prohibitiv, da Silber bei der Betriebstemperatur migrieren und somit unerwünschte Effekte hervorrufen kann. Palladium und Platin haben den Nachteil, dass sie für allgemeine Anwendung zu kostspielig sind.
Die Erfindung schafft ein Metallisierbad, mittels dessen die vorerwähnten weniger edlen Metalle wie Kupfer, Nickel und/oder Cobalt direkt selektiv auf einem aus Quecksilber- und/oder Silberkeimen bestehenden Bild niedergeschlagen werden können, während nicht nur diese Metalle, sondern, auch andere Metalle, die weniger edel als Quecksilber sind, aber edler als Cadmium, abgeschieden werden können.
Das Metallisierbad nach der Erfindung, das aus einer im wesentlichen wässrigen Lösung besteht, welche zu reduzierende Metallionen und reduzierende Metallionen enthält, ist dadurch gekennzeichnet, dass die Lösung, aus der durch chemische Reduktion Metall abgeschieden wird, Ionen eines Metalles enthält, das edler als Cadmium, aber weniger edel als Quecksilber ist, sowie reduzierende Ionen eines Metalles, das mit verschiedenen Valenzen vorkommen kann, welche Ionen mit den daraus durch Oxydation entstehenden Ionen ein reversibles Gemisch bilden, dessen normales Reduktion-Oxydationspotential weniger als 780 mV, aber mehr als -430 mV beträgt, wobei die betreffenden Konzentrationen derart sind, dass der Unterschied zwischen dem Potential des abzuscheidenden Metalles in bezug auf seine Ionen und dem Reduktion-Oxydationspotential des reversiblen Ionengemisches einen positiven Wert hat.
Die durch das Metallisierbad nach der Erfindung selektiv abzuscheidenden Metalle sind Kupfer, Blei, Zinn, Nickel, Cobalt und Indium. Auch Thallium, Molybdän und Germanium wären anwendbar, wenn nicht die Verfügbarkeit und die Löslichkeit der Salze sowie die Vereinigbarkeit derelben mit dem Redox-Gemisch Schwierigkeiten bereiten könnten.
Für die Reduktion zur Abscheidung der vorerwähnten Metalle werden die reduzierenden Bestandteile reversibler, anorganischer Redox-Systeme verwendet, deren normales Reduktion-Oxydationspotential zwischen - 430 und 780 mV liegt. Zu diesen gehören die Redox-Systeme: Fe2+/Fe3+; V3+/VO2+; Ti'4/TiO2+; V2+/ V3+; Ti2+/Ti3+; Cr2+/Cr3+ und Eu3/Eu'+. Das Paar Sn2+/Snl+ verhält sich nicht reversibel, und daher ist Sn2+ zur Reduktion für die Abscheidung der vorerwähnten Metalle nicht brauchbar.
Der Unterschied zwischen dem Potential des abzuscheidenden Metalles in bezug auf seine Ionen und dem Reduktion-Oxydationspotential des reversiblen Ionengemisches soll einen positiven Wert haben. Wenn bei gewissen Kombinationen dieser Unterschied verhältnismässig gross ist, z.B. 400 mV, so kann die Reduktion zum Metall in der Lösung und die Schleierbildung bei gewissen Anwendungen hinderlich wirken.
Bei Betrachtung des Nernst-Vergleichs für die Reduktion von zweiwertigen Metallionen:
EMI2.1
wobei Eo die in Betracht kommenden Normalpotentiale und a die Aktivitäten der betreffenden Ionen bezeichnen, wird einleuchten, dass durch Zusatz geeigneter komplexierender Verbindungen, die aM,++, a red und aOX auf verschiedene Weise beeinflussen, eine gege benenfalls zu grosse AE, die antreibende Kraft für die Reduktion, erniedrigt werden kann durch Zusatz eines Komplexbildners, der im wesentlichen ate++ erniedrigt, während eine zu deine AB erhöht werden kann durch einen Komplexbildner, der im wesentlichen aox erniedrigt.
Es ist auf diese Weise sogar möglich, in einer alkalischen Lösung unter Anwendung von Triäthanolamin oder des Natriumsalzes von Äthylendiamintetraessigsäure als Komplexbildner Cupri-Ionen mittels Ferro-Ionen zu reduzieren, sei es, dass die Abscheidungsgeschwindig keit durch die Begrenzung beschränkt wird, der die Konzentration des Ferro-Salzes mit Rücksicht auf die Bildung eines Niederschlags unterliegt.
Es ist überraschend, dass bei Verwendung dieser Art von Metallisierbädern nach der Erfindung keine vorhergehende Katalysierung der Metallkeimbilder notwendig ist. Im Vergleich zu den bekannten Verfahren zur Erzeugung von Bildern der betreffenden Metalle ist dieses Verfahren somit weniger umständlich und weniger kostspielig.
Die durch die Metallisierbäder nach der Erfindung erzielten Bilder aus Blei oder Zinn können bei der Herstellung von Kryotron-Elementen benutzt werden; dies sind Elemente, bei denen mittels eines Magnetfeldes bei einer bestimmten Kältetemperatur ein elektrischer Strom erzeugt wird. Die Art des Bleis oder des Zinns ist massgebend für die Brauchbarkeit des Metalles für Kryogenzwecke; irgendeine Korrelation zwischen der Art des niedergeschlagenen Metalles und der Brauchbarkeit in Kryotron-Elementen ist im übrigen nicht bekannt. Blei- oder Zinnbilder, die durch die Metallisierbäder nach der Erfindung erhalten sind, haben ohne weiteres gute Eigenschaften für diese Anwendungen.
Dünne Cobalt- und Nickelschichten, die durch die Metallisierbäder nach der Erfindung hergestellt werden, können für magnetische Zwecke Anwendung finden. Sie enthalten kein Phosphor oder Bor wie die Schichten, die durch die bekannten chemischen Metallisierbäder mit Hypophosphit, Borhydrid oder Borazan als Reduktionsmittel niedergeschlagen sind. Die Erfindung schafft also ausserdem eine Erweiterung der Anwendbarkeit solcher Schichten, da die Anwesenheit von Phosphor oder Bor in bestimmten Fällen nicht erwünscht sein kann.
In bezug auf die physikalischen Edelmetallsalzentwickler ist es bekannt, dass die spontane Bildung von Keimen in der Lösung erheblich verringert werden kann durch den Zusatz einer geeigneten ionogenen, oberflächenaktiven Verbindung. Die Lebensdauer des Entwicklers wird dabei in hohem Masse verlängert. Die Entwickelgeschwindigkeit der auf der Oberfläche des Trägers liegenden Keime wird auf diese Weise gebremst, aber ein Keimbild, das etwas unter der Oberfläche des Trägers liegt, wird mit guter Geschwindigkeit zu einem gut haftenden Metallbild verstärkt. Auch bei den Metallisierbädern nach der Erfindung bewerkstelligt der Zusatz eines geeigneten, ionogenen oberflächenaktiven Stoffes eine Verlängerung der Lebensdauer.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Metallisierbäder zur Herstellung von Blei- und/oder Zinnschichten enthält ein solches Bad Pb2+- und/oder Sn2+- Ionen und als Redox-Gemisch V2+- und V3+-Ionen.
Das Metallisierbad zur Herstellung von Nickel-, Cobalt- oder Indiumschichten enthält ausser dem Salz eines oder mehrerer dieser Metalle als Redox-Gemisch Cr2+und Cr3+-Ionen.
Eine besondere Abart eines Metallisierbads nach der Erfindung besteht aus einem bekannten chemischen Metallisierbad zum Abtrennen von Kupfer, Nickel und/ oder Cobalt, dem ausser dem für ein solches Bad üb lichen Reduktionsmittel geeignete reduzierende Ionen nach der Erfindung zugesetzt sind. Die Wirkung dieses Zusatzes ist die, dass die vorhergehende Aktivierung des Metallkeimbildes, die sonst bei Anwendung dieser bekannten Bäder notwendig ist, sich hier erübrigt. Nach kurzer Zeit erfolgt die Metallabscheidung im wesentlichen durch das zuerst genannte Reduktionsmittel, und zwar mit der gleichen Geschwindigkeit wie bei dem vorhergehenden, aktivierten Keimbild in einem entsprechenden Bad ohne die reduzierenden Ionen nach der Erfindung.
Die Metallisierbäder nach der Erfindung lassen sich selbstverständlich auch zur Verstärkung von Schichten mit einer gleichmässigen Verteilung von Metallkeimen verwenden, also zur gleichmässigen Metallisierung, sowie bei in bekannter Weise mehr oder weniger vorverstärkten Metallkeimbildem.
Da die Metallisierbäder nach der Erfindung gegen Oxydation an der Luft empfindlich sind, sollen sie in einer nicht oxydierenden, d.h. in einer inerten oder schwach reduzierenden Atmosphäre verwendet werden.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand einer Anzahl von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
1. Eine bis zu einer Tiefe von 2 verseifte Zellulosetriacetat-Folie wurde lichtempfindlich gemacht, indem sie während 2 Minuten in eine wässerige Lösung von
0,4 mol Na-Salz von p-Methoxybenzoldiazosulfon säure,
0,1 mol Cd-lactat,
0,1 mol Ca-lactat und
0,1 mol Milchsäure pro Liter getränkt wurde.
Ein Streifen dieser Folie wurde darauf hinter einem Liniennegativ mit parallelen Linien einer Breite von 50 m und einem Stich von 100 um mittels einer Hochdruck-Quecksilberlampe von 125 W (Type HPW) während 20 Sekunden in einem Abstand von 30 cm belichtet.
Darauf wurde der Streifen während 4 Sekunden mit einer wässrigen Lösung von:
0,005 mol Mercuronitrat,
0,01 mol Silbernitrat und
0,01 mol Salpetersäure pro Liter behandelt.
Nach einer Spülung (während 15 Sekunden) in destilliertem Wasser wurde der Streifen während einer Minute mit einer 2-mol-Lösung von Ca-Nitrat in Wasser behandelt. Dabei wurden die an der Zellulose adsorbierten Mercuro- und Silber-Ionen, die Schleier hervorrufen können, durch Calcium-Ionen verdrängt.
Darauf wurde wieder kurz in destilliertem Wasser gespült, worauf das latente Silberamalgam-Keimbild während 10 Minuten in einer Stickstoffatmosphäre mittels einer Lösung verstärkt wurde, die durch Mischung von
2 Volumenteilen einer wässrigem Lösung mit 50 Ge wichtsprozent Zinn-Borfluorid,
0,8 Volumenteilen einer wässrigen Lösung mit 0,5
Gewichtsprozent < (Armac 12 D und 0,5 Ge wichtsprozent Lissapol N ,
5,2 Volumenteilen sauerstofffreien Wassers und
2 Volumenteilen einer V++/ V+++-enthaltenden Lösung erhalten wurde, welche letztere Lösung wie folgt hergestellt wurde.
12,65 g Vanadylsulfat wurde in 25 ml sauerstofffreiem Wasser gelöst. Nach Zusatz von 10 mol 10N Schwefelsäure wurde die Lösung mit sauerstofffreiem Wasser auf ein Volumen von 50ml gebracht. Unter Durchleitung von Stickstoff (mindestens 0,3 L/Min) wurde die Lösung auf einer Schüttelmaschine während 30 bis 45 Minuten mit Zinkamalgam geschüttelt. Letzteres wurde danach hergestellt, dass einer Menge von 50g Quecksilber 6,5 g Zinkpulver und einige Milliliter 0,5 N Schwefelsäure zugesetzt wurde. Die Bildung des Amalgams wurde durch leichte Erwärmung gefördert. Nach Abkühlung wurde das Amalgam mit destilliertem Wasser gespült.
Die endgültige Verstärkungslösung war etwa 0,9 N an Vf+ und etwa 0,1 N an V+++. hE der Lösung war etwa 200 mV. aArmac 12 D ist ein kation-aktiver Stoff, nämlich vorwiegend Dodecylaminacetat und aLissapol N ist ein nicht ionogener, oberflächenaktiver Stoff, nämlich ein alkylierter Phenol, kondensiert mit Äthylenoxyd.
Das erhaltene Linienmuster mit den auf dem Träger vorhandenen aus Zinn bestehenden Linien konnte durch leichtes Putzen mit einem Flanelltuch hochglänzend gemacht werden. Die Linien wurden innerhalb einer schmalen Temperaturstrecke supraleitend. Die Übergangstemperatur entsprach annähernd der von metallisch reinem Zinn.
Die Stabilität der Verstärkungslösung war mindestens eine Stunde. Eine entsprechende Lösung ohne Zusatz von stabilisierenden, oberflächenaktiven Stoffen ging innerhalb einer Minute durch spontane Keimbildung verloren.
2. Zinnelektroden wurden in der nachfolgenden Weise auf CdS- und CdSe-Tabletten für Photozellen angebracht: die Tabletten wurden durch Tauchen mit einem lichtempfindlichen Falle Kopierlack überzogen. Nach Trocknen der Lackschicht wurden die Muster hinter einem Negativ der Elektrodenanordnung während 5 Minuten durch eine Hochdruck-Quecksilberlampe von 125 W (Typ HPR) in einem Abstand von 30 cm belichtet. Nach dem Entfernen der belichteten Teile mittels einer alkalischen Lösung war das CdS an den Stellen der Elektroden wieder zugänglich.
Diese Stellen wurden darauf bekeimt, indem die Tabletten in Reihenfolge mit einer Lösung von 1 g Zinn-II-chlorid in 1 ml konzentrierter Salzsäure, die bis zu 100 ml mit Wasser verdünnt wurde (Behandlungsdauer 2 Min.), und mit einer wässerigen Lösung von
0,01 mol Palladium-(II)-chlorid,
1 mol Kaliumchlorid und
0,01 mol Salzsäure pro Liter (Behandlungsdauer auch 2 Min) behandelt wurden.
Zwischen den Behandlungen und nach der letzten Behandlung wurde tüchtig in Wasser gespült.
Darauf wurde die Verstärkung der bekeimten Stellen mittels einer Lösung durchgeführt, die durch Mischung von
2 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 50
Gewichtsprozent Zinn-Borfluorid,
0,8 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 0,5
Gewichtsprozent Armac 12 D und 0,5 Ge wichtsprozent Lissapol N ,
5,2 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
2 Volumenteilen einer Cr++/Cr+++-enthaltenden Lösung erhalten wurde, welche letztere wie folgt hergestellt wurde:
100 ml einer 1,5molaren Lösung von Chromichlorid in Wasser mit noch 1 mol Salzsäure pro Liter wurden 56,5 g Zinkamalgam zugesetzt. Letzteres wurde auf die in Beispiel 1 beschriebene Weise hergestellt. Das Gemisch wurde unter Durchleitung von Stickstoff während 2 Stunden auf einer Schüttelmaschine geschüttelt.
Das Kon zentrationsverhältnis Cr"/Cr"' in dem Schüttelgemisch war 1.
Die Verstärkung wurde während 10 Minuten in einer
Stickstoffatmosphäre fortgesetzt. AE der Verstärkerlö sung war etwa 200 mV. Nach Spülen in Wasser wurde der nicht belichtete Kopierlack mittels Aceton entfernt. Die Tabletten hatten scharf begrenzte, gut am CdS haftende Zinnelektroden.
3. Ein belichteter Streifen der Folie nach Beispiel 1 wurde in der in diesem Beispiel beschriebenen Weise mit einem Silberamalgam-Keimbild versehen, worauf gemäss Beispiel 1 die Adsorptionsverdrängungsbehandlung durchgeführt wurde. Nach Spülen in destilliertem Wasser wurde das Keimbild während 15 Minuten in einer Stickstoffatmosphäre mittels einer Lösung verstärkt, die durch Mischung von:
0,4Volumenteilen einer wässrigen molaren Lösung von Bleiacetat,
1,6 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Armac 12 D ,
0,8 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Lissapol N ,
6 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
2 Volumenteilen der C/ Cr+++-enthaltenden Lösung nach Beispiel 2 hergestellt wurde.
Nach Spülen in Wasser, Trocknen und leichtem Reiben des Bleibildes mit einem Flanelltuch wurde das leitende Linienmuster erhalten.
4. Lichtempfindliches Material nach Beispiel 1 wurde stufenweise mit einer Hochdruck-Quecksilberlampe belichtet. Die Keimeinführung und die Adsorptionsverdrängung erfolgten gemäss Beispiel 1. Die Verstärkung erfolgte durch eine lOminutige Behandlung in einer Stickstoffatmosphäre mit einer Lösung, die durch Mischung von:
1 Volumenteil einer lmolaren Bleiacetat-Lösung in Wasser,
0,4 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Armac 12 D , 0.4 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Lissapol N und
4 Volumenteilen einer V++/V+++-enthaltenden Lösung erhalten wurde, welche letztere wie folgt hergestellt wurde:
:
Ausgehend von der schwefelsauren Vanadylsulfat Lösung von Beispiel 1, wurde mittels einer Bariumacetat Lösung das Sulfat vollständig in Form von Bariumsulfat niedergeschlagen. Nach Abfiltrieren des Niederschlags enthielt die Lösung 0,4 Mol Vanadyl-Verbindung. 50 ml dieser Lösung wurden unter Durchleitung von Stickstoff auf einer Schüttelmaschine mit 22,6 g Zinkamalgam reduziert. Es wurden neutral graue, innere, d.h. unter der Oberfläche des Trägers liegende Bleibilder erhalten.
5. Ein Streifen der lichtempfindlichen Folie von Beispiel 1 wurde hinter einem Negativ während 15 sec durch eine HPW-Lampe von 125 W in einem Abstand von 30 cm belichtet. Nach dem Erzeugen des latenten Silberamalgam-Keimbildes (siehe Beispiel 1) und nach Spülen in destilliertem Wasser erfolgte Verstärkung mit Nickel durch Behandlung mit einer Lösung während 1,5 Stunden unter einer Stickstoffatmosphäre, welche Lösung durch Mischung von:
4 Volumenteilen einer 4molaren, wässrigen Lö sung von Nickelchlorid,
1 Volumenteil einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Armac 12 D ,
0,4 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent < eLissapol N ,
0,6 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
4 Volumenteilen der Cr"/Cr"-enthaltenden Lösung nach Beispiel 2 erhalten wurde.
Es wurden elektrisch leitende, magnetische Nickelmuster erhalten.
6. Eine Polyesterfolie wurde mit einer Haftschicht versehen, indem eine Lösung von:
1,4 g Hycar 1041 (ein Butadienacrylonitril-copo lymer),
0,6 g alkalischem Cresolharz,
8 gMethyläthylketon und
90 g Methylisobutylketon aufgegossen wurde, die man abtriefen liess.
Nach Trocknen bei Zimmertemperatur wurde auf der Haftschicht eine lichtempfindliche Schicht angebracht, indem eine wässrige Lösung von:
0,1 mol Na-Salz von o-Methoxybenzoldiazosulfon säure,
0,05 mol Cd-lactat, 0,05 mol Ca-lactat,
0,05 mol Milchsäure und
10 g Lissapol N aufgegossen wurde.
Nachdem die überschüssige, lichtempfindliche Lösung weggetropft und die verbleibende Schicht getrocknet war, wurde während 30 sec in einem Abstand von 30 cm durch eine 125-W-HPR-Lampe belichtet. Das Keimbild wurde durch eine wässrige Lösung erzeugt, die pro Liter
0,05 mol Mercuronitrat,
0,01 mol Silbernitrat und
0,1 mol Salpetersäure enthielt.
Nach Spülen mit destilliertem Wasser wurde das Keimbild mit Nickel verstärkt, indem es während 10 Minuten in einer Stickstoffatmosphäre mit einer Lösung behandelt wurde, die durch Mischung von 6 Volumenteilen einer 4molaren wässrigen Lösung von Nickelchlorid und 8 Volumenteilen der Cr/Cr¯-enthaltenden Lösung nach Beispiel 2 erhalten wurde, worauf elektrisch leitende, magnetische Nickelmuster erhalten wurden.
7. Eine bis zu einer Tiefe von 6m verseifte Zellulosetriacetat-Folie wurde sensitisiert, indem sie während 2 Minuten in eine wässrige Lösung getränkt wurde, die pro Liter:
0,15 mol Na-Salz von p-Methoxybenzoldiazosulfon säure,
0,1 mol Cd-lactat,
0,1 mol Ca-lactat und
0,1 mol Milchsäure enthielt.
Ein Streifen dieser Folie wurde hinter einem Liniennegativ während 10 sec mit einer 125-W-HPR-Lampe in einem Abstand von 40 cm belichtet. Die Erzeugung des Keimbildes und die Adsorptionsverdrängung wurden gemäss Beispiel 1 durchgeführt. Schliesslich wurde das Keimbild zu einem elektrisch leitenden, magnetischen Cobalt-Muster verstärkt, indem es während 17 Stunden in einer Stickstoffatmosphäre in einer Lösung gelassen wurde, die durch Mischung von:
4 Volumenteilen einer 3molaren wässrigen Lösung von Cobaltchlorid,
1 Volumenteil einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Armac 12 D ,
0,4 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Lissapol N ,
0,6 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
4 Volumenteilen einer Cr++/Cr+++-enthaltenden Lösung nach Beispiel 2 erhalten wurde.
Ein anderer Streifen der gleichen lichtempfindlichen Folie, die in gleicher Weise mit einem Keimbild versehen war, wurde zu einem elektrisch leitenden Indiummuster verstärkt, indem sie während einer Stunde in einer Stickstoffatmosphäre mit einer Lösung behandelt wurde, die durch Mischung von:
2 Volumenteilen einer lmolaren, wässrigen Lösung von Indiumsulfat,
0,4 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent < eArmac 12 D ,
0,2 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Lissapol N ,
3,4 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
4 Volumenteilen der Cr++/Cr+++-enthaltenden Lösung nach Beispiel 2 erhalten wurde.
8. Die nachfolgenden, wenig aktiven Verstärkungslösungen wurden zur Herstellung innerer, nicht leitender Kupferbilder auf Basis von Silberamalgam-Keimbildem verwendet, die nach Beispiel 1 erhalten wurden: a) 1 Volumenteil einer lmolaren, wässrigen Lösung von Kupfersulfat,
0,5Volumenteil einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Armac 12 D ,
0,5Volumenteil einer wässrigen Lösung von 1 Ge wichtsprozent Lissapol Ne,
4 Volumenteile einer vorwiegend Ti3+/Ti4+-enthalten- den Lösung, die wie folgt hergestellt wurde:
1,6 Titanylsulfat wurden in 10 ml 10 N Schwefelsäure gelöst, worauf mit 90ml sauerstoffreiem Wasser verdünnt wurde.
Diese Lösung wurde während 30 Minuten auf der Schüttelmaschine unter Durchleitung von Stickstoff mit 56,5 g Zinkamalgam (siehe Beispiel 1) geschüttelt. AE der Verstärkungslösung war etwa 230 mV.
b) 0,3 Volumenteil einer lmolaren, wässrigen Lösung von Kupfersulfat und
10 Volumenteile einer V3+/V4+-enthaltenden Lösung, die durch Mischung von 4 Volumenteilen der V4+/V3+-enthaltenden Lösung nach Beispiel 1,
1,5 Volumenteilen 10 N Schwefelsäure,
28,5 Volumenteilen sauerstofffreiem Wasser und
10 Volumenteilen einer 0,4N-Lösung von Kaliumbichromat in Wasser, erhalten wurde.
hE dieser Verstärkungslösung war etwa 60 mV.
9. Ein Silberamalgam-Keimbild, das in der in Beispiel 1 beschriebenen Weise erhalten wurde, wurde während 50 Minuten in einer Stickstoffatmosphäre zu einem neutral-grauen, inneren Kupferbild verstärkt, wobei eine Verstärkungslösung benutzt wurde, die durch Mischung von:
2 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von:
0,20 mol Kupfersulfat,
0,25 mol Triäthanolamin und
0,24 mol Tetranatriumsalz von Äthylendiamintetraes sigsäure pro Liter,
3 Volumenteilen einer 4,5molaren Lösung von
Ammoniak in Wasser,
0,25 Volumenteilen einer 2,5molaren Lösung von
Natriumhydroxid in Wasser,
8 Volumenteilen einer wässrigen, sauerstofffreien
Lösung von
0,09 mol Ferrosulfat,
0,25 mol Triäthanolamin und
0,24 mol Tetranatriumsalz von Äthylendiamintetraes sigsäure pro Liter, erhalten wurde.
AE der Verstärkungslösung war etwa 140 mV.
Nach etwa 10 Minuten in dieser Lösung war das Keimbild ausreichend verstärkt, um schnell durch eine bekannte, stromlose Verkupferungslösung, z.B. eine Lösung verstärkt zu werden, die pro Liter:
0,14 mol Kupfersulfat,
0,30 mol Tetranatriumsalz von Äthylendiamintetra essigsäure,
0,65 mol Natriumhydroxid und
160 mol Formalin (etwa 40 Gewichtsprozent) ent hielt.
Durch den Zusatz von 2 Volumenteilen Formalin (40 Gewichtsprozent) zu der erwähnten Verstärkungslösung konnte die Kupferabscheidung beschleunigt werden. Es wurden auf diese Weise elektrisch leitende Kupferbilder erhalten.
10. Wenn ein Träger mit einem Keimbild nach Beispiel 1 der in Beispiel 1 beschriebenen Adsorptionsverdrängungsbehandlung unterworfen worden war und darauf in eine stromlose Verkupferungslösung gebracht wurde, die durch Mischung von 8 Volumenteilen einer wässrigen Lösung von
0,07 mol Kupfersulfat,
0,24 mol Tetranatriumsalz von Äthylendiamintetraes sigsäure,
0,32 mol Natriumhydroxid und
2 Volumenteilen Formalin (etwa 40 Gewichtsprozent) pro Liter erhalten war, so konnte sogar nach einer verhältnismässig langen Zeit keine Verstärkung festgestellt werden.
Wenn jedoch noch 0,25 Volumenteile einer wässrigen, sauerstofffreien Lösung zugesetzt wurde, die pro Liter:
0,09 mol Ferrosulfat und
0,48 mol Tetranatriumsalz von Äthylendiamintetraes sigsäure enthielt, und wenn die gemischte Lösung in einer Stickstoffatmosphäre verwendet wurde, so wurde bereits nach 12 Minuten ein gut leitendes Kupferbild erzeugt.
Die elektrische Leitfähigkeit in diesem Falle und in allen anderen Beispielen, die sich auf die Herstellung von elektrisch leitenden Metallmustern beziehen, war durchaus hinreichend für eine weitere galvanische Verstärkung des Musters. Die Dicke der leitenden Schichten schwankte in diesen Beispielen zwischen einigen Zehnteln Zm und einigen sm.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCHWässriges Metallisierbad, das zu reduzierende Metallionen und reduzierende Metallionen enthält, welch letztere unter im Bad herrschenden Bedingungen ein Redoxpotential aufweisen, das niedriger ist als dasjenige der ersteren, dadurch gekennzeichnet, dass das Metall der zu reduzierenden Ionen edler als Cadmium, aber uned ler als Quecksilber ist und das Metall der reduzierenden Ionen verschiedene Wertigkeiten besitzt, wobei die reduzierenden Ionen mit den durch Oxydation entstandenen Ionen ein reversibles Gemisch bilden, dessen normales Redoxpotential weniger als 780 mV, aber mehr als -430 mV beträgt, wobei die Ionenkonzentrationen derart sind, dass der Zahlenwert des Potentials des ab zuscheidenden Metalls abzüglich desjenigen für das Redoxpotential des reversiblen Ionengemisches positiv ist.UNTERANSPRÜCHE 1. Bad nach Patentanspruch, gekennzeichnet durch einen Gehalt an zu reduzierenden Kupfer-, Blei-, Nickel-, Cobalt- und/oder Indiumionen und einen Zahlenwert der Potentialdifferenz von mindestens 50 mV.2. Bad nach Unteranspruch 1, gekennzeichnet durch einen Gehalt an einer der reduzierenden Ionen arten Fe2e, V2+, Ti2+, Ti3+, Cr2+ oder Eu2+.3. Bad nach Patentanspruch, gekennzeichnet durch einen Gehalt an einem geeigneten oberflächenaktiven ionogenen Stoff als Entwicklungsstabilisator.4. Bad nach Patentanspruch, zum Abscheiden von Kupfer, Nickel und/oder Cobalt, gekennzeichnet durch einen zusätzlichen Gehalt an einem Reduktionsgemisch für eine chemische Metallisierung.5. Bad nach Patentanspruch, zum Abscheiden von Blei oder Zinn, gekennzeichnet durch einen Gehalt an einem Gemisch aus V2+- und V3+-Ionen neben Blei- oder Zinnionen.6. Bad nach Patentanspruch, zum Abscheiden von Nickel, Cobalt oder Indium, gekennzeichnet durch einen Gehalt an einem Gemisch aus Cr2+- und Cr3+-Ionen neben Nickel-, Cobalt- oder Indiumionen.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL6606262A NL155055B (nl) | 1966-05-07 | 1966-05-07 | Werkwijze voor het metalliseren van kiembeelden op elektrisch niet-geleidende dragers en dragers voorzien van aldus verkregen metaalbeelden. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH493647A true CH493647A (de) | 1970-07-15 |
Family
ID=19796529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH641967A CH493647A (de) | 1966-05-07 | 1967-05-05 | Wässriges Metallisierbad |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| AT (1) | AT274511B (de) |
| BE (1) | BE698159A (de) |
| CH (1) | CH493647A (de) |
| GB (1) | GB1187861A (de) |
| NL (1) | NL155055B (de) |
| SE (1) | SE326891B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2505437A1 (de) * | 1974-02-22 | 1975-08-28 | Philips Nv | Universelle verkupferungsloesung |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7402422A (nl) | 1974-02-22 | 1975-08-26 | Philips Nv | Universele verkoperingsoplossing. |
-
1966
- 1966-05-07 NL NL6606262A patent/NL155055B/xx not_active IP Right Cessation
-
1967
- 1967-05-03 SE SE632667A patent/SE326891B/xx unknown
- 1967-05-04 GB GB2071567A patent/GB1187861A/en not_active Expired
- 1967-05-05 CH CH641967A patent/CH493647A/de not_active IP Right Cessation
- 1967-05-05 AT AT423267A patent/AT274511B/de active
- 1967-05-08 BE BE698159D patent/BE698159A/xx unknown
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2505437A1 (de) * | 1974-02-22 | 1975-08-28 | Philips Nv | Universelle verkupferungsloesung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE1621299B2 (de) | 1975-11-27 |
| AT274511B (de) | 1969-09-25 |
| GB1187861A (en) | 1970-04-15 |
| BE698159A (de) | 1967-11-08 |
| NL6606262A (de) | 1967-11-08 |
| SE326891B (de) | 1970-08-03 |
| DE1621299A1 (de) | 1971-04-29 |
| NL155055B (nl) | 1977-11-15 |
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