CH516144A - Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Messwerten - Google Patents

Einrichtung zur Bestimmung und Registrierung des Anteils und der Verteilung von digital anfallenden Messwerten

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CH516144A
CH516144A CH1502670A CH1502670A CH516144A CH 516144 A CH516144 A CH 516144A CH 1502670 A CH1502670 A CH 1502670A CH 1502670 A CH1502670 A CH 1502670A CH 516144 A CH516144 A CH 516144A
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Siemens Ag
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/225Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion

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