CH552819A - Zeichnungsvergleichseinrichtung fuer messmikroskope. - Google Patents
Zeichnungsvergleichseinrichtung fuer messmikroskope.Info
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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Description
Die Erfindung betrifft eine Zeichnungsvergleichseinrichtung an Messmikroskopen mit physikalischer Strahlenvereinigung im Mischbild. Messmikroskope mit Mischbildern sind bekannt. Sie werden sowohl mit geometrischer als auch mit physikalischer Strahlenvereinigung gefertigt. Bei der physikalischen Strahlenvereinigung schaltet man hinter die Augenlinse des Mikroskopokulars einen aus zwei Prismen zusammengesetzten Würfel mit teildurchlässiger Reflexionsfläche. Das durch den Würfel hindurch gehende Objektbild und das über seine Reflexionsfläche sichtbare virtuelle Bild der Zeichenebene werden einander überlagert. Auch ist es bekannt, den Unterschied der Mischbildkomponenten dadurch zu verdeutlichen, dass man die Teilbilder mit verschiedenfarbigem, möglichst & mplementärfarbenem Licht abbildet. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass in einem Binokular-Messtubus mit Projektionseinrichtung zur zusätzlichen, gleichzeitigen Einspiegelung des Bildes einer in einer Projektionsebene angebrachten Zeichnung in die Beobachtungsokulare an der Zwischenbildebene des Mikroskopes ein Teilerspiegel vorgesehen ist. Zur unterschiedlichen Kennzeichnung von Objekt- und Zeichnungsbild in Farben, vorzugsweise in Komplementärfarben, kann der Teilerspiegel als Farbteilerspiegel ausgebil det sein. Bei nichttelezentrischem Strahlenverlauf in der Zwi schenbildebene kann die Teilerfläche des Teilerspiegels als Kugelfläche ausgebildet sein, welche die Hauptstrahlen der Zeichnungsabbildung in sich reflektiert. Die dabei entstehende Bildfeldwölbung wird durch eine die Teilerschicht tragen de Bikonkavlinse kompensiert, und mit dieser Bikonkavlinse ist eine Bikonvexlinse verkittet, derart, dass die Pupillenlage des objektabbildenden Strahlenganges durch die Bikonkavlinse nicht verändert wird. Die Erfindung wird anhand einer schematischen Zeichnung nachfolgend beispielsweise näher erläutert. Wie dargestellt, wird ein in der Objektebene 1 befindliches Objekt über ein mittels einer Bajonettverriegelung 2 auswechselbares Objektiv 3 in die Zwischenbildebene 6 abgebildet. Eine auf einer Projektionsebene 7 befindliche, durch Leuchtstoffröhren 8 beleuchtete Zeichnung wird über drei Umlenkspiegel 9 und ein Projektionsobjektiv 10 sowie ein Umlenkprisma 11 und eine Feldlinse 5 ebenfalls in die Zwischenbildebene 6 abgebildet. An der Zwischenbildebene 6 liegt die als kugelflächenförmige Teilerspiegelschicht 17 ausgebildete Grenzschicht zwischen einer Negativlinse 18 und einer Positivlinse 19, welche verkittet sind und deren Brechkräfte sich zu Null addieren. Zwischen diesem verkitteten System und dem Umlenkprisma 11 liegt im Strahlengang ein Prismensystem 12 mit einer weiteren Teilerschicht, an der sowohl das vom Objekt her kommende als auch das von der Zeichnung her kommende, in der Zwischenbildebene reflektierte Strahlenbündel vereinigt reflektiert werden. Durch Mehrfachreflexion im Prismensystem 12 gelangt der vereinigte Strahlengang über ein Wechselobjektiv 13, einen Umlenkspiegel 14 und ein Teilerprisma für Binoeinblick 15 in das Okular 16. Die an der Zwischenbildebene 6 liegende Teilerschicht ist derart ausgeführt, dass sie vorzugsweise zwei zueinander komplementäre Farbanteile (z. B. rot, grün) durchlässt, bzw. reflektiert. Dadurch wird z. B. vom das Objekt abbildenden Strahlengang nur der rote Anteil durchgelassen, von dem die Zeichnung abbildenden Strahlengang nur der grüne Anteil reflektiert, so dass nur die einander deckenden Teile von Objekt und Zeichnung weiss erscheinen. Bei richtiger Wahl der Vergrösserungen der Wechselobjektive 3 relativ zum Massstab der in der Ebene 7 befindlichen Zeichnung kommen die Bilder von Objekt und Zeichnung in der Zwischenbildebene 6 zur Deckung. Die Objektive 13 können beliebig gewechselt werden. Durch sie wird das Mischbild vergrössert. PATENTANSPRUCH Zeichnungsvergleichseinrichtung an Messmikroskopen mit physikalischer Strahlenvereinigung im Mischbild, dadurch gekennzeichnet, dass in einem Binokular-Messtubus mit Pro jektionseinrichtung zur zusätzlichen, gleichzeitigen Einspiegelung des Bildes einer in einer Projektionsebene (7) angebrachten Zeichnung in die Beobachtungsokulare (16) an der Zwischenbildebene (6) des Mikroskop es ein Teilerspiegel (17) vorgesehen ist. UNTERANSPRÜCHE 1. Zeichnungsvergleichseinrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass zur farblichen Kennzeichnung von Objekt- und Zeichnungsbild vorzugsweise in Form von komplementärer Färbung der Teilerspiegel als Farbteilerspiegel ausgebildet ist. 2. Zeichnungsvergleichseinrichtung nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für nichttelezentrischen Strahlenverlauf die Teilerfläche des Teilerspiegels (17) an der Zwischenbildebene (6) als Kugelfläche ausgebildet ist, welche die Hauptstrahlen der Zeichnungsabbildung in sich reflektiert, dass die dabei entstehende Bildfeldwölbung durch eine die Teilerschicht tragende Bikonkavlinse (18) kompensiert wird, und dass mit dieser Bikonkavlinse eine solche Bikonvexlinse (19) verkittet ist, dass die Pupillenlage des obj ektabbildenden Strahlenganges durch die verkitteten Linsen nicht verändert wird. **WARNUNG** Ende DESC Feld konnte Anfang CLMS uberlappen**.
Claims (1)
- **WARNUNG** Anfang CLMS Feld konnte Ende DESC uberlappen **.Die Erfindung betrifft eine Zeichnungsvergleichseinrichtung an Messmikroskopen mit physikalischer Strahlenvereinigung im Mischbild.Messmikroskope mit Mischbildern sind bekannt. Sie werden sowohl mit geometrischer als auch mit physikalischer Strahlenvereinigung gefertigt. Bei der physikalischen Strahlenvereinigung schaltet man hinter die Augenlinse des Mikroskopokulars einen aus zwei Prismen zusammengesetzten Würfel mit teildurchlässiger Reflexionsfläche. Das durch den Würfel hindurch gehende Objektbild und das über seine Reflexionsfläche sichtbare virtuelle Bild der Zeichenebene werden einander überlagert. Auch ist es bekannt, den Unterschied der Mischbildkomponenten dadurch zu verdeutlichen, dass man die Teilbilder mit verschiedenfarbigem, möglichst & mplementärfarbenem Licht abbildet.Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass in einem Binokular-Messtubus mit Projektionseinrichtung zur zusätzlichen, gleichzeitigen Einspiegelung des Bildes einer in einer Projektionsebene angebrachten Zeichnung in die Beobachtungsokulare an der Zwischenbildebene des Mikroskopes ein Teilerspiegel vorgesehen ist.Zur unterschiedlichen Kennzeichnung von Objekt- und Zeichnungsbild in Farben, vorzugsweise in Komplementärfarben, kann der Teilerspiegel als Farbteilerspiegel ausgebil det sein. Bei nichttelezentrischem Strahlenverlauf in der Zwi schenbildebene kann die Teilerfläche des Teilerspiegels als Kugelfläche ausgebildet sein, welche die Hauptstrahlen der Zeichnungsabbildung in sich reflektiert. 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An der Zwischenbildebene 6 liegt die als kugelflächenförmige Teilerspiegelschicht 17 ausgebildete Grenzschicht zwischen einer Negativlinse 18 und einer Positivlinse 19, welche verkittet sind und deren Brechkräfte sich zu Null addieren.Zwischen diesem verkitteten System und dem Umlenkprisma 11 liegt im Strahlengang ein Prismensystem 12 mit einer weiteren Teilerschicht, an der sowohl das vom Objekt her kommende als auch das von der Zeichnung her kommende, in der Zwischenbildebene reflektierte Strahlenbündel vereinigt reflektiert werden. Durch Mehrfachreflexion im Prismensystem 12 gelangt der vereinigte Strahlengang über ein Wechselobjektiv 13, einen Umlenkspiegel 14 und ein Teilerprisma für Binoeinblick 15 in das Okular 16.Die an der Zwischenbildebene 6 liegende Teilerschicht ist derart ausgeführt, dass sie vorzugsweise zwei zueinander komplementäre Farbanteile (z. B. rot, grün) durchlässt, bzw.reflektiert. Dadurch wird z. B. vom das Objekt abbildenden Strahlengang nur der rote Anteil durchgelassen, von dem die Zeichnung abbildenden Strahlengang nur der grüne Anteil reflektiert, so dass nur die einander deckenden Teile von Objekt und Zeichnung weiss erscheinen.Bei richtiger Wahl der Vergrösserungen der Wechselobjektive 3 relativ zum Massstab der in der Ebene 7 befindlichen Zeichnung kommen die Bilder von Objekt und Zeichnung in der Zwischenbildebene 6 zur Deckung.Die Objektive 13 können beliebig gewechselt werden.Durch sie wird das Mischbild vergrössert.PATENTANSPRUCHZeichnungsvergleichseinrichtung an Messmikroskopen mit physikalischer Strahlenvereinigung im Mischbild, dadurch gekennzeichnet, dass in einem Binokular-Messtubus mit Pro jektionseinrichtung zur zusätzlichen, gleichzeitigen Einspiegelung des Bildes einer in einer Projektionsebene (7) angebrachten Zeichnung in die Beobachtungsokulare (16) an der Zwischenbildebene (6) des Mikroskop es ein Teilerspiegel (17) vorgesehen ist.UNTERANSPRÜCHE 1. Zeichnungsvergleichseinrichtung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass zur farblichen Kennzeichnung von Objekt- und Zeichnungsbild vorzugsweise in Form von komplementärer Färbung der Teilerspiegel als Farbteilerspiegel ausgebildet ist.2. Zeichnungsvergleichseinrichtung nach Patentanspruch und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für nichttelezentrischen Strahlenverlauf die Teilerfläche des Teilerspiegels (17) an der Zwischenbildebene (6) als Kugelfläche ausgebildet ist, welche die Hauptstrahlen der Zeichnungsabbildung in sich reflektiert, dass die dabei entstehende Bildfeldwölbung durch eine die Teilerschicht tragende Bikonkavlinse (18) kompensiert wird, und dass mit dieser Bikonkavlinse eine solche Bikonvexlinse (19) verkittet ist, dass die Pupillenlage des obj ektabbildenden Strahlenganges durch die verkitteten Linsen nicht verändert wird.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19727213618 DE7213618U (de) | 1972-04-12 | 1972-04-12 | Zeichnungsvergleichseinrichtung fuer messmikroskope |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CH552819A true CH552819A (de) | 1974-08-15 |
Family
ID=6629565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CH364973A CH552819A (de) | 1972-04-12 | 1973-03-13 | Zeichnungsvergleichseinrichtung fuer messmikroskope. |
Country Status (3)
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| CH (1) | CH552819A (de) |
| DE (1) | DE7213618U (de) |
Families Citing this family (7)
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1972
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-
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Also Published As
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| JPS4917753A (de) | 1974-02-16 |
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Legal Events
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