CH558525A - Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede. - Google Patents

Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede.

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    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems

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CH690872A 1971-05-12 1972-05-09 Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede. CH558525A (fr)

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DE58906917D1 (de) * 1989-12-15 1994-03-17 Alcatel Hochvakuumtechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Leckprüfung.

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