CH558525A - Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede. - Google Patents

Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede.

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CH558525A
CH558525A CH690872A CH690872A CH558525A CH 558525 A CH558525 A CH 558525A CH 690872 A CH690872 A CH 690872A CH 690872 A CH690872 A CH 690872A CH 558525 A CH558525 A CH 558525A
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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems

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CH690872A 1971-05-12 1972-05-09 Procede et dispositif de mesure rapide des fuites d'une piece, et application du procede. CH558525A (fr)

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DE58906917D1 (de) * 1989-12-15 1994-03-17 Alcatel Hochvakuumtechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Leckprüfung.

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