CH621275A5 - - Google Patents
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- CH621275A5 CH621275A5 CH939477A CH939477A CH621275A5 CH 621275 A5 CH621275 A5 CH 621275A5 CH 939477 A CH939477 A CH 939477A CH 939477 A CH939477 A CH 939477A CH 621275 A5 CH621275 A5 CH 621275A5
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Nahtschweissen mittels eines Energiestrahles, bei welchem die Breite einer zu verschweissenden, von zwei Werkstückteilen begrenzten Trennfuge gemessen und die Zuführung von Füllmaterial in Abhängigkeit vom Messergebnis gesteuert wird.
Insbesondere betrifft die Erfindung das Energiestrahl- oder Elektronenstrahlschweissen grosser und dicker Werkstücke, also von Werkstücken, deren Dicke mehr als 5 mm, insbesondere mehr als 10 oder 20 oder sogar mehr als 30 oder 50 mm beträgt.
Beim Zusammenschweissen grosser und dicker Werkstückteile, z. B. der Ränder grosser Blechplatten, kann die Breite der Stoss- oder Trennfuge von 0 bis z. B. 3 mm oder mehr schwanken, da sich kleine Toleranzen bei grossen Werkstük-ken nur mit unverhältnismässig gesteigertem Aufwand erreichen lassen. Zum Ausfüllen der Trennfuge muss daher gewöhnlich Zusatz- oder Füllmaterial in den Schweissbereich eingeführt werden. Die Einführung von Zusatzmaterial kann ausserdem aus metallurgischen Gründen zweckmässig sein.
Aus der US-PS 3 165 619 (entsprechend DE-AS 1 270 708) ist bereits ein Elektronenstrahlschweissverfahren bekannt, bei welchem die noch offene Trennfuge vor dem Schweissbereich mittels eines sich vorne verjüngenden Fühlstiftes abgetastet, die Breite der Trennfuge an der abgetasteten Stelle aufgrund des mehr oder weniger weiten Eindringens der sich verjüngenden Spitze des Fühlstiftes gemessen und das Messergebnis zur Steuerung der Zuführungsgeschwindigkeit eines Fülldrahtes in den Schweissbereich gesteuert wird.
Das oben erwähnte bekannte Verfahren hat den Nachteil, dass eine mechanische Abtastung kompliziert sowie störungsanfällig ist und in manchen Fällen, z. B. bei gegeneinander in der Höhe versetzten Werkstückrändern ungenaue Ergebnisse liefert.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, das diese Nachteile vermeidet.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass die Breite der Trennfuge mittels einer Strahlung gemessen wird, die durch die die Trennfuge begrenzenden Werkstückteile, entsprechend der Breite der Trennfuge, beeinflusst wird.
Die Strahlung kann eine Korpuskularstrahlung wie Mole-kül-, Atom-, Ionen- oder Elektronenstrahlung sein und z. B. vom schweissenden Energiestrahl erzeugt werden, vorzugsweise wird jedoch elektromagnetische Strahlung, insbesondere Röntgenstrahlung, verwendet. Die elektromagnetische Strahlung kann ebenfalls durch den schweissenden Energiestrahl erzeugt werden. Beim Elektronenstrahlschweissen wird vorzugsweise Röntgenstrahlung verwendet, welche vom Elektronenstrahl im Schweissbereich oder an einem Target oder einer Röntgenanode erzeugt wird, welche von einem den Elektronenstrahl liefernden Strahlerzeuger aus gesehen hinter den zu verschweissenden Werkstückteilen angeordnet sind und vom Elektronenstrahl getroffen werden, nachdem dieser den Schweissbereich durchsetzt hat und hinten aus diesem wieder ausgetreten ist.
Wenn als Messstrahlung eine Strahlung erzeugt wird, die der Energiestrahl im Schweissbereich selbst erzeugt, wird der Strahlungsdetektor vorzugsweise so angeordnet, dass die die Trennfuge begrenzenden Wände der zu verschweissenden Werkstückteile als Blende wirken und den vom Strahlungsdetektor erfassten Öffnungswinkel der Strahlung in Richtung senkrecht zur Trennfuge begrenzen.
Gegenstand der Erfindung ist ferner eine Einrichtung zur Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens mit einer Vorrichtung zum Erzeugen und Richten des Energiestrahles auf einen Schweissbereich in einer Trennfuge zwischen zwei zu verschweissenden Werkstückteilen, einer Vorschubvorrichtung zum Erzeugen einer Relativbewegung zwischen den Werkstückteilen und dem Energiestrahl einer Vorrichtung zum Bestimmen der Breite der Trennfuge und einer durch die letztgenannte Vorrichtung gesteuerten Vorrichtung zum Einführen von Zusatzmaterial in einen vom Energiestrahl getroffenen Schweissbereich in der Trennfuge, welche dadurch gekennzeichnet ist, dass die Vorrichtung zum Bestimmen der Breite der Trennfuge mindestens einen Strahlungsdetektor enthält, welcher auf Strahlung anspricht, die durch an die Trennfuge angrenzende Bereiche der Werkstückteile, entsprechend der Breite der Trennfuge, beeinflusst worden ist.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert, dabei werden noch weitere Aspekte und Vorteile der Erfindung zur Sprache kommen.
Die Fig. 1, 2 und 3 zeigen jeweils eine Einrichtung zum Energiestrahlschweissen als Ausführungsbeispiele.
Die Erfindung wird im folgenden am Beispiel des Elektro-nenstrahlschweissens erläutert, sie lässt sich selbstverständlich in gleicher Weise beim Ionenstrahlschweissen verwenden und, soweit keine Röntgenstrahlen benutzt werden, auch beim La-serstrahlschweissen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand des Elektronen-strahlschweissens beschrieben. Elektronenstrahlschweissma-schinen sind bekannt (siehe z. B. US-PS 2 987 610), so dass die Einzelheiten der Schweissmaschine selbst die Vakuumkammer, die Werkstücktransporteinrichtung u. dgl. nicht dargestellt sind. In den Figuren sind entsprechende Teile mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet.
Fig. 1 zeigt schematisch das Verschweissen zweier als dicke Platten dargestellter Werkstückteile 10a und 10b mittels eines Elektronenstrahls 12, der in bekannter Weise von der Strahlquelle 37 erzeugt und auf eine zu verschweissende Trennfuge 14 zwischen den beiden Werkstückteilen fokussiert ist. Die Werkstückteile 10a, 10b werden auf nichtdargestellte Weise in Richtung eines Pfeiles 16 relativ zum Elektronenstrahl 12 bewegt. Vor dem Elektronenstrahl 12 (rechts in der Zeichnung) ist die Trennfuge 14 noch offen, im Schweissbereich, d. h. im Einwirkungsbereich des Elektronenstrahls, der vorzugsweise quer zur Längsrichtung der Trennfuge hin und her bewegt wird (Doppelpfeil 17) ist die Trennfuge mit einer Schmelze ausgefüllt, und im Anschluss an die Schmelze hinter dem Strahl sind die Werkstückteile durch eine Schweissnaht 18 verbunden. Zum Auffüllen der Trennfuge 14 wird in den Schweissbereich 20 ein Zusatzmaterial, z. B. in Form eines Fülldrahtes 24 eingeführt.
Der Querschnitt der Trennfuge 14 wird in einem vorgegebenen Abstand A vor dem Schweissbereich 20 bestimmt und die Vorschubgeschwindigkeit des Fülldrahtes wird wenigstens annähernd proportional zur ermittelten Querschnittsfläche gesteuert. Man kann auch die Zuführungsgeschwindigkeit des Fülldrahtes konstant halten und die Relativgeschwindigkeit zwischen den Werkstückteilen und dem Elektronenstrahl umgekehrt proportional zur ermittelten Querschnittsfläche steuern.
Die Steuerung der Zuführungsgeschwindigkeit des Zusatzmaterials kann verzögert werden, um den Abstand A zwischen der Messstelle und dem Schweissbereich zu kompensieren.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäss Fig. 1 wird die Querschnittsfläche der Trennfuge mittels eines bandförmigen Gammastrahlungsbündels 27 gemessen, das mittels eines radioaktiven Isotops erzeugt wird, das sich in einem Abschirmbehälter 29 mit schlitzförmiger Austrittsöffnung 31 befindet. Die Gammastrahlungsquelle wird auf der einen Seite der Werkstückteile angeordnet und die Intensität des Gamma-strahles wird auf der anderen Seite mittels eines Detektors 33, z. B. eines Zählrohrs od. dgl., gemessen. Sie ist in erster Nähe5
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Anstelle der Gammastrahlungsquelle kann man auch eine Quelle für eine längerwellige elektromagnetische Strahlung, wie optische Strahlung, oder eine Quelle für eine Korpuskularstrahlung verwenden, wie oben erwähnt wurde, selbstverständlich muss man dann auch einen Strahlungsdetektor verwenden, der auf die verwendete Strahlung anspricht.
Das der Querschnittsfläche proportionale Signal vom Detektor 33 wird in einer Verzögerungseinrichtung 35 so lange verzögert, wie der gemessene Querschnittsbereich braucht, um in den Einflussbereich des Elektronenstrahls 12 zu gelangen, also um eine Zeitspanne entspechend der für das Durchlaufen der Strecke A benötigten Zeit. Das verzögerte Signal steuert dann die Vorschubeinrichtung 25 in im Prinzip bekannter Weise.
Bei der Ausführungsform gemäss Fig. 2 wird die Querschnittsfläche mit Hilfe von Röntgenstrahlung bestimmt, die in vorteilhafter und zweckmässiger Weise durch den zum Schweissen verwendeten Elektronenstrahl 12 selbst erzeugt werden. Beim Nahtschweissen mittels eines Elektronenstrahls wird dieser bekanntlich im allgemeinen nicht völlig von den Werkstückteilen absorbiert, sondern es tritt ein Teil des Strahles aus der Rückseite des Schweissbereichs aus. Im Wege dieses austretenden Strahlrestes 12a wird nun ein Körper 40 angeordnet, welcher beim Auftreffen von energiereichen Elektronen Röntgenstrahlen emittiert. Der Körper 40 kann z. B. aus einem Wolframblechstreifen bestehen und sich über die ganze Länge der Trennfuge 14 erstrecken oder er kann aus einem relativ kleinen Körper aus Wolfram od. dgl. bestehen und bezüglich des Elektronenstrahls 12 fixiert sein. Bei der Ausführungsform gemäss Fig. 2 ist angenommen, dass die Werkstückteile 10a, 10b auf einem stationären Support 42 gehaltert sind, der einen Schlitz 44 aufweist, durch den der Elektronenstrahl hindurchtreten kann. Hinter der Trennfuge 14 und dem Schlitz 44 ist der Körper 40 in Form eines Wolframblechstreifens so angeordnet, dass er von dem austretenden Teil 12a des Elektronenstrahls 12 getroffen wird, der im Verlaufe des Schweissens in Richtung des Pfeiles 16a längs der Trennfuge 14 geführt wird.
Die an einem Auftreff-Fleck 46 an der Oberfläche des Körpers 40 erzeugte Röntgenstrahlung 48 durchsetzt die Trennfuge 14 und wird von einem Röntgenstrahlungsdetektor 33 wahrgenommen, der in einem Abschirmgehäuse 33a untergebracht ist, welches eine als Kollimator wirkende schlitzförmige Strahlungseintrittsöffnung 33b aufweist, welche den «Sichtbereich» des Detektors 33 auf einen schlitzförmigen Bereich 50 begrenzt, der sich quer über die Trennfuge 14 erstreckt. Die Intensität der vom Detektor 33 wahrgenommenen Röntgenstrahlung ist also wieder im wesentlichen der Breite der Trennfuge 14 proportional und das Ausgangssignal des Detektors 33 kann daher wie bei der Einrichtung gemäss Fig. 1 zur Steuerung der Zuführung von Zusatzmaterial verwendet werden, was in Fig. 2 zur Vereinfachung der Zeichnung nicht dargestellt ist.
Bei der Ausführungsform gemäss Fig. 3 wird zum Messen der Breite der hier im Querschnitt dargestellten Trennfuge 14 Strahlung verwendet, die vom Energiestrahl, z. B. Elektronenstrahl 12 im Schweissbereich 20 erzeugt wird. Als Strahlung wird vorzugsweise Röntgenstrahlung verwendet, man kann jedoch auch gestreute Elektronen, optische Strahlung oder Neutralteilchenstrahlung (Dampfmoleküle oder -atome, deren freie Weglänge beim Schweissen im Vakuum im allgemeinen gross genug ist, um sie als «Strahlung» ansehen zu können). Die vom Schweissbereich 20 innerhalb der Trennfuge 14 erzeugte Strahlung wird durch einen Strahlungsdetektor 33' er-fasst, der, wie Fig. 3 zeigt, so angeordnet und ausgebildet ist,
dass er nur Strahlung erfasst, die aus dem Inneren der Trenn-fuge 14 stammt. Diese Strahlung wird durch die die Trennfuge 14 begrenzenden Stirnflächen der Werkstückteile begrenzt, von denen in Fig. 3 nur die Stirnfläche 10'a des Werkstückteils 10a zu sehen ist. Die senkrecht zur Zeichenebene gerechnete Breite des Strahlungsbündels 60 ist also ein Mass für die Breite der Trennfuge 14.
Die Messung kann auch mittels eines Strahlungsdetektors 33" erfolgen, der, wie Fig. 3 zeigt, unterhalb der Werkstückteile angeordnet ist und ebenfalls Strahlung, insbesondere Röntgenstrahlung, erfasst, die vom Schweissbereich 20 im Inneren der Trennfuge 14 ausgeht und durch die einander gegenüberliegenden, die Trennfuge 14 begrenzenden Stirnwände der Werkstückteile begrenzt ist.
Man kann sogar zwei Strahlungsdetektoren 33' und 33" verwenden. Die Ausgangssignale der beiden Detektoren 33' und 33" werden einer Signalverarbeitungsschaltung 62 zugeführt, die entweder das grössere der beiden Signale auswählt und der Vorrichtung 25 zur Steuerung der Vorschubgeschwindigkeit des Fülldrahtes 24 zuführt oder einen Mittelwert aus den Detektorausgangssignalen bildet und der Vorschubsteuereinrichtung 25 zuführt. Die Verwendung des grösseren der beiden Detektorausgangssignale hat den Vorteil, dass ein ordnungsgemässes Ausfüllen der Trennfuge auch dann gewährleistet ist, wenn die Breite der Trennfuge sich in Richtung des Elektronenstrahls 12 ändert oder wenn die beiden Werkstückteile kleine Haftschweissstellen 64 miteinander verbunden sind, welche bei den Einrichtungen gemäss Fig. 1 und 2 eine Fuge der Breite 0 vortäuschen würden. Bei Fig. 3 kann man vorteilhafterweise auch Detektoren mit gesichtsfeldbegrenzenden Einrichtungen, wie Kollimatoren, verwenden, die das Gesichtsfeld in Höhenrichtung der Trennfuge 14 auf eine verhältnismässig grosse Höhe H begrenzen, so dass ein verhältnismässig grosser Höhenbereich der Trennfuge erfasst wird und Unregelmässigkeiten, wie z. B. Haftschweissstellen 64, keinen zu grossen Einfluss haben. Der Erfassungsbereich entsprechend der Höhe H beginnt dabei vorzugsweise erst in einem gewissen Abstand S bzw. S' unter der dem betreffenden Detektor zugewandten Oberfläche der Werkstückteile, damit eine Begrenzung des Strahlungsbündels durch die Stirnflächen der Werkstückteile gewährleistet ist. Die Strahlungsdetektoren 33', 33" können auch nur einen schlitzförmigen Sichtbereich mit kleiner Höhe H haben, ähnlich wie er bei 50 in Fig. 2 dargestellt ist.
Wenn der Energiestrahl 12 in Querrichtung der Trennfuge 14 hin und her bewegt (oszilliert) wird, werden die Strahlungsdetektoren bei den Ausführungsformen gemäss Fig. 2 und 3 Ausgangssignale in Form von Impulsen liefern, deren Breite ein Mass für die Breite der Trennfuge 14 ist. Die Impulse werden dann vorzugsweise begrenzt, so dass Intensitätsschwankungen der Strahlungsquelle ohne Einfluss bleiben, und dann wird ein der Breite der Impulse proportionales Steuersignal für die Fülldrahtvorschubeinrichtung gewonnen, z. B. durch Integrieren der zu Rechteckimpulsen geformten und begrenzten Impulse.
Bei den obigen Beispielen wurde derjenige Teil der Messstrahlung ausgenutzt, der von der Trennfuge durchgelassen wird. Man kann jedoch auch in manchen Fällen mit umgekehrten Verhältnissen arbeiten: Z. B. kann man bei der Einrichtung gemäss Fig. 1 die Streustrahlung oder Photoelektronen messen, die von dem schmalen Gammastrahlungsbündel an den getroffenen Oberflächenbereichen der Werkstückteile er- , zeugt werden. Der Detektor wird dann auf der gleichen Seite wie die Strahlungsquelle angeordnet, wie in Fig. 1 bei 33* angedeutet ist. Der Detektor liefert dann ein um so kleineres Ausgangssignal, je breiter die Trennfuge ist.
In entsprechender Weise kann auch das Ausführungsbeispiel gemäss Fig. 2 abgewandelt werden, indem man den De-
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tektor 33 so orientiert, dass der von ihm erfasste Bereich 50 im wesentlichen mit dem vom oszillierenden Elektronenstrahl 12 getroffenen Bereich zusammenfällt. Im allgemeinen ist die Emission von Röntgenstrahlung oder Streuelektronen an der Oberfläche der Werkstückteile 10a, 10b grösser als im Bereich 5 der Trennfuge 14, und das Ausgangssignal des Detektors 33
enthält dann ein der Trennfuge entsprechendes Minimum, dessen Breite als Mass für die Breite der Trennfuge 14 verwendet werden kann.
Das Minimum des Detektorausgangssignals kann durch eine Umkehrstufe in ein Maximum umgewandelt und dann in der beschriebenen Weise weiterverarbeitet werden.
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2 Blatt Zeichnungen
Claims (24)
- 621 2752PATENTANSPRÜCHEio152025301. Verfahren zum Nahtschweissen mittels eines Energiestrahles, bei welchem die Breite einer zu verschweissenden, von zwei Werkstückteilen begrenzten Trennfuge gemessen und die Zuführung von Füllmaterial in Abhängigkeit vom Mess- 5 ergebnis gesteuert wird, dadurch gekennzeichnet, dass die Breite der Trennfuge mittels einer Strahlung gemessen wird, die durch die die Trennfuge begrenzenden Werkstückteile, entsprechend der Breite der Trennfuge, beeinflusst wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,dass als Energiestrahl ein Elektronenstrahl verwendet wird.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass als Strahlung eine Korpuskularstrahlung wie . Molekül-, Atom-, Ionen- oder Elektronenstrahlung verwendet wird.
- 4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass als Strahlung elektromagnetische Strahlung verwendet wird.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,dass als Strahlung Röntgenstrahlung verwendet wird.
- 6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Querschnitt eines Bündels der Strahlung durch die die Trennfuge begrenzenden Werkstückteile begrenzt und die Intensität des begrenzten Strahlungsbündels gemessen wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch 2 und 5, bei welchem der Elektronenstrahl vom Schweissbereich nicht völlig absorbiert wird und zum Teil aus der einer Strahlquelle abgewandten Seite des Schweissbereiches wieder austritt, dadurch gekennzeichnet, dass im Wege des ausgetretenen Teiles des Strahles ein Körper, der, wenn er vom Elektronenstrahl getroffen wird, Röntgenstrahlen emittiert, angeordnet wird und dass die Röntgenstrahlung, nachdem sie die Trennfuge durchsetzt hat, gemessen wird.
- 8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass Strahlung, die durch den Energiestrahl im Schweissbereich erzeugt wurde und durch einen noch offenen Teil der Trennfuge gefallen und begrenzt ist, zur Messung der Spaltbreite verwendet wird.
- 9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,dass Strahlung, die von der Oberfläche der Werkstückteile ausgeht, von der Messung ausgeschlossen wird.
- 10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Messung mittels Strahlung erfolgt, die von den die Trennfuge begrenzenden Werkstückteilen ausgeht. 45
- 11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass zur Messung Strahlung verwendet wird, welche von den die Trennfuge begrenzenden Werkstückteilen gestreut wird.
- 12. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, 50 dass der Energiestrahl quer zur Trennfuge hin und her bewegt wird und dass zur Messung eine Strahlung erzeugt wird, die beim Auftreffen des Energiestrahles auf die die Trennfuge begrenzenden Werkstückteile entsteht, während der Energiestrahl im Bereich der Trennfuge die Strahlung weniger oder 55 gar nicht erzeugt.
- 13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Breite der Trennfuge aufgrund eines Minimums eines Detektorausgangssignals bestimmt wird.
- 14. Verfahren nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch 60 gekennzeichnet, dass zur Messung Strahlung herangezogen wird, die einen schmalen, quer zur Trennfuge verlaufenden Messbereich durchsetzt.
- 15. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einer Vorrichtung zum Erzeugen und Richten 65 des Energiestrahles auf einen Schweissbereich in einer Trenn40fuge zwischen zwei zu verschweissenden Werkstückteilen, einer Vorschubvorrichtung zum Erzeugen einer Relativbewegung zwischen den Werkstückteilen und dem Energiestrahl; einer Vorrichtung zum Bestimmen der Breite der Trennfuge und einer durch die letztgenannte Vorrichtung gesteuerten Vorrichtung zum Einführen von Zusatzmaterial in einen vom Energiestrahl getroffenen Schweissbereich in der Trennfuge, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zum Bestimmen der Breite der Trennfuge mindestens einen Strahlungsdetektor enthält, welcher auf Strahlung anspricht, die durch an die Trennfuge angrenzende Bereiche der Werkstückteile, entsprechend der Breite der Trennfuge, beeinflusst worden ist.
- 16. Einrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass sie mindestens einen Röntgenstrahlungsdetektor enthält.
- 17. Einrichtung nach Anspruch 15 oder 16 mit einer Vorrichtung zum Erzeugen eines Ladungsträgerstrahles, dadurch gekennzeichnet, dass auf der der Vorrichtung zum Erzeugen des Ladungsträgerstrahles abgewandten Seite der Werkstückteile im Wege des aus dem Schweissbereich austretenden Ladungsträgerstrahls ein Körper angeordnet ist, der beim Auftreffen des Ladungsträgerstrahls Röntgenstrahlen emittiert, und dass ein Röntgenstrahlungsdetektor auf der der Vorrichtung zum Erzeugen des Ladungsträgerstrahles zugewandten Seite der Werkstückteile so angeordnet ist, dass er die von dem Körper austretende Röntgenstrahlung erfasst, nachdem diese durch die Trennfuge zwischen den Werkstückteilen gefallen ist.
- 18. Einrichtung nach Anspruch 15,16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Strahlungsdetektor vorgesehen ist, der auf die Strahlung anspricht, welche vom Energiestahl im Schweissbereich erzeugt und von diesem aus durch einen Teil des Trennspaltes auf den Strahlungsdetektor fällt.
- 19. Einrichtung nach Anspruch 15 oder 16, gekennzeichnet durch eine Primärstrahlungsquelle, die ein Primärstrahlungs-bündel auf einen in Richtung der Relativbewegung gesehen vor dem Schweissbereich gelegenen Teil der Trennfuge richtet, und einen Strahlungsdetektor, der auf Sekundärstrahlung anspricht, welche von der Primärstrahlung an von ihr getroffenen, die Trennfuge begrenzenden Zonen der Werkstückteile erzeugt wird.
- 20. Einrichtung nach Anspruch 15 oder 16, bei welcher der Energiestrahl quer zur Trennfuge hin und her bewegt wird, gekennzeichnet durch einen Strahlungsdetektor, der auf Strahlung anspricht, welche von dem hin und her bewegten Energiestrahl an von ihm getroffenen Zonen der Werkstückteile bevorzugt erzeugt wird, während diese Strahlung vom Energiestrahl im Bereich der Trennfuge in wesentlich geringerem Masse erzeugt wird.
- 21. Einrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zum Einführen von Zusatzmaterial auf ein Signalminimum im Ausgangssignal des Strahlungsdetektors anspricht.
- 22. Einrichtung nach einem der Ansprüche 15 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass auf jeder Seite der Werkstückteile je ein Strahlungsdetektor angeordnet ist und dass die Ausgangssignale der Strahlungsdetektoren über eine Signalverarbeitungsschaltung der Vorrichtung zum Steuern der Zufuhr des Füllmaterials zugeführt sind.
- 23. Einrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalverarbeitungsschaltung das grössere der beiden Detektorausgangssignale auswählt.
- 24. Einrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalverarbeitungsschaltung die Detektorausgangssignale mittelt.3621 275
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