CH694342A5 - Mikrometer. - Google Patents

Description

  



   



   Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikrometer zum Messen des  äusseren Durchmessers eines zu messenden Objektes, während das Objekt  gehalten wird. Im Besonderen betrifft die vorliegende Erfindung ein  Mikrometer, welches erlaubt, einfach und genau zu bestimmen, ob sich  an einem Anschluss irgendein rückseitiger Grat gebildet hat oder  nicht. 



   Die vorliegende Anmeldung basiert auf der japanischen Patentanmeldung  Nr. Hei. 11-69 063, welche hierin als Referenz enthalten ist.   Stand der Technik  



   Allgemein wird ein Mikrometer, welches ein Instrument ist, das eine  Schraubspindel mit sehr präziser Teilung als Messmittel benützt,  zum Messen eines äusseren Durchmessers eines kleinen Objektes verwendet.  Obwohl solch ein Mikrometer normalerweise zum Messen des äusseren  Durchmessers eines zu messenden Objektes verwendet wird, wird es  auch als Messinstrument eingesetzt, um aus dem gemessenen Wert des  äusseren Durchmessers zu bestimmen, ob das gemessene Objekt ein gutes  Produkt ist oder nicht. 



   Falls sich in der Produktion eines Kabelbaumes, welcher zur Übertragung  kleiner elektrischer Leistungen oder zur Übertragung eines Signals  (wie beispielsweise Daten oder Instruktionen) zu einem zugehörigen  Gerät verwendet wird, auf dem Kabelbaum rückseitige Gräte gebildet  haben, so ist dieser Kabelbaum kein gutes Produkt. Deshalb wird das  Produkt geprüft oder inspiziert, um zu bestimmen, ob sich an dem  Kabelbaum irgendein rückseitiger Grat gebildet hat oder nicht. 



     Die Messung von rückseitigen Gräten eines Anschlusses wurde bisher  so gemacht, dass abwechslungsweise zwei Mikrometer benützt wurden,  und zwar ein Spitzenmikrometer 100 (gezeigt in Fig. 16) und ein Schneidenmikrometer  200 (gezeigt in Fig. 17), wobei das Spitzenmikrometer 100 einen Amboss  110 umfasst, welcher ein spitzes äusseres Ende hat, und das Schneidenmikrometer  200 einen Amboss 210 und eine Spindel 220, welche beide ein flaches,  plattenförmiges äusseres Ende haben. Aus den Werten, welche mit den  beiden Mikrometern abgelesen wurden, wurde die Differenz berechnet  und basierend darauf die Bestimmung gemacht. 



   Im Einzelnen wird zuerst ein zu messendes Objekt 300 zwischen den  Amboss 110 und eine Spindel 120 des Spitzenmikrometers 100 eingesetzt,  und der Amboss 110, wie in Fig. 18A gezeigt, in Berührung mit dem  Objekt 300 gebracht, welches in Kontakt mit der Spindel 120 gehalten  wird, und der Wert, z.B. 0.98, abgelesen. Dann wird das Objekt 300  zwischen den Amboss 210 und die Spindel 220 des Schneidenmikrometers  200 eingesetzt, und der Amboss 210, wie in Fig. 18B gezeigt, in Berührung  mit dem Objekt 300 gebracht, welches in Kontakt mit der Spindel 220  gehalten wird, und der Wert, z.B. 1.02, abgelesen. Die beiden gemessenen  Werte sind verschieden voneinander, da die Position des Ambosses  210 während der Messung verschieden ist von der Position des Ambosses  des Spitzenmikrometers 100 während der Messung.

   Dann wird die Differenz  zwischen den beiden gemessenen Werten berechnet und auf Grund der  Differenz bestimmt, ob das Produkt gut ist oder nicht. Falls nämlich  die berechnete Differenz zwischen den beiden gemessenen Werten Null  (0) ist, heisst das, dass das Produkt gut ist, und falls die berechnete  Differenz zwischen den beiden gemessenen Werten beispielsweise 0.04  ist, heisst das, dass das Produkt defekt ist. 



   Auf diese Weise erhält man in der konventionellen Methode die beiden  gemessenen Werte, indem man zwei Mikrometer benützt. Die beiden gemessenen  Werte werden anschliessend miteinander verglichen, um zu bestimmen,  ob ein Grat vorhanden ist oder nicht. In dieser konventionellen Methode  zur Bestimmung des Vorhandenseins von Gräten wird die Messung ausgeführt,  indem abwechslungsweise die beiden Mikrometer (d.h. das Spitzenmikrometer  und das Schneidenmikrometer) benützt werden und    anschliessend  aus den beiden gemessenen Werten die Differenz berechnet wird, und  bestimmt wird, ob irgendein Grat vorhanden ist oder nicht. So müssen  zwei Messungen ausgeführt werden, weshalb viel Zeit für die Messung  benötigt wird, und oft kommt es zu einer Fehlbestimmung infolge eines  Fehlers in der Berechnung.

   Gelegentlich werden auch die Gräte durch  die Messkraft (5 N) der flachen Schneiden zerdrückt. Aus diesem Grund  sind Probleme festgestellt worden, derart, dass Fehlbestimmungen  vorkommen, dass es infolge Verschiebens der Messposition zu einer  Änderung des gemessenen Wertes kommt, und dass die Bestimmung nicht  ausgeführt werden kann, wenn sich ein Grat auf einer Seite des Anschlusses  gebildet hat.  Darstellung der Erfindung  



   Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Mikrometer zur  Verfügung zu stellen, mit welchem eine Messung in kurzer Zeit ausgeführt  werden kann, und mit welchem Fehlbestimmungen reduziert werden können,  und welches den gemessenen Wert stabil liefert. 



   Um das obige Ziel zu erreichen, wird gemäss der vorliegenden Erfindung  ein Mikrometer vorgeschlagen, welches eine Spindel umfasst, welche  ein flaches, plattenförmiges äusseres Ende hat; einen Amboss, welcher  einen Ambosskörper einschliesst, der stabförmig ausgebildet ist;  einen Stift, welcher einen kleineren Durchmesser hat als der Ambosskörper  und welcher eine vorbestimmte Länge hat, wobei der Stift am äusseren  Ende des Ambosskörpers ausgebildet ist;

   einen röhrenförmigen Messaufnehmerteil,  welcher so an den Ambosskörper angepasst ist, dass der Messaufnehmerteil  entlang dem Ambosskörper gleitend bewegt werden kann, und ein äusseres  Ende des Messaufnehmerteiles plattenförmig ausgebildet ist, und der  Messaufnehmerteil ein Loch zum Einführen eines Stiftes einschliesst,  welches in einem zentralen Teil des äusseren Endes des Messaufnehmerteiles  angebracht ist, wobei der Stift so in das Loch zum Einführen eines  Stiftes einführbar ist, dass der Stift aus dem äusseren Ende des  Messaufnehmerteiles hervorragt; und eine Messuhr, welche an ihrem  äusseren Ende in Kontakt mit    dem Messaufnehmerteil gebracht wird,  und welche imstande ist, in Übereinstimmung mit der Gleitbewegung  des Messauf-nehmerteiles sowohl Plus- als auch Minuswerte anzuzeigen;

    und wobei das äussere Ende des Messaufnehmerteiles mit dem äusseren  Ende der Spindel in Berührung steht, und wenn das äussere Ende der  Stiftes des Ambosskörpers mit dem äusseren Ende des Messaufnehmerteiles  zusammenfällt, die Messuhr auf Null gestellt wird; und wobei ein  zu messendes Objekt zwischen den Messaufnehmerteil und die Spindel  eingeführt ist. Wenn im obigen Mikrometer das äussere Ende des Messaufnehmerteiles  in Berührung mit dem zu messenden Objekt gebracht wird, wird durch  die Grösse der Gleitbewegung des Messaufnehmerteiles bestimmt, ob  das zu messende Objekt ein geeignetes ist. Dementsprechend kann die  Messung in kurzer Zeit ausgeführt werden, Fehlbestimmungen können  reduziert werden, und es können stabile Messwerte erhalten werden.                                                             



   Weiter ist es gemäss der vorliegenden Erfindung vorteilhaft, dass  das Mikrometer einen äusseren End-anschlag umfasst, welcher mit dem  äusseren Ende des zu messenden Objektes in Kontakt gebracht wird,  um das äussere Ende des Objektes in einer vorbestimmten Position  zu positionieren, und eine Zentriervorrichtung, welche das zu messende  Objekt hält, um das Objekt relativ zum Amboss und zur Spindel zu  zentrieren, wenn das äussere Ende des zu messenden Objektes gegen  das äussere Ende des äusseren Endanschlages angeschlagen wird.

   In  diesem Mikrometer wird das zu messende Objekt gegen den äusseren  Endanschlag angeschlagen, sodass das Objekt in einer vorbestimmten  Position positioniert ist, und gehalten, um es in einer zentrierten  Position zwischen dem Amboss und der Spindel zu positionieren, und  anschliessend wird das äussere Ende des Messaufnehmerteiles mit dem  zu messenden Objekt in Berührung gebracht, sodass aus der Grösse  der Gleitbewegung des Messaufnehmerteiles bestimmt werden kann, ob  das zu messende Objekt ein geeignetes ist. Dementsprechend kann das  zu messende Objekt einfach in der vorbestimmten Position positioniert  werden, d.h. in der Achse des Ambosses und der Spindel, und die Messung  kann aus diesem Grund in kurzer Zeit durchgeführt werden, Fehlbestimmungen  können reduziert werden und es können stabile Messwerte erhalten  werden. 



     Weiter ist es gemäss der vorliegenden Erfindung vorteilhaft, dass  der äussere Endanschlag ein Mikrometer umfasst. Mit dieser Konstruktion  wird, wenn das äussere Ende des zu messenden Objektes die Messposition  erreicht, verhindert, dass es sich weiter über die Messposition hinaus  bewegt, weshalb das äussere Ende des zu messenden Objektes einfach  und genau in der Messposition positioniert werden kann. 



   Weiter ist es gemäss der vorliegenden Erfindung vorteilhaft, dass  die Zentriervorrichtung dem äusseren Ende des Ambosses beim äusseren  Ende der Spindel ausweicht und das Objekt bei den äusseren Enden  der Messabschnitte der Spindel und des Ambosses, welche die Einführungsrichtung  des Objektes schneiden, von der Ober- und Unterseite des Objektes  her festhält, womit das Objekt zentriert wird. Mit dieser Konstruktion  wird das zu messende Objekt einfach in der Achse des Ambosses und  der Spindel positioniert. 



   Weiter ist es gemäss der vorliegenden Erfindung vorteilhaft, dass  die Zentriervorrichtung ein Paar Klauen, bestehend aus einer unteren  und oberen Klaue, umfasst, um das zu messende Objekt zwischen den  Klauen von unten und von oben festzuhalten, wobei die Klauen durch  Aufwärts- und Abwärtsbewegen eines Hebels zu einander und voneinander  weg bewegt werden können. Mit dieser Konstruktion kann das äussere  Ende des zu messenden Objektes mit einem Griff in der Achse des Ambosses  und der Spindel positioniert werden. 



   Weiter wird im Mikrometer gemäss der vorliegenden Erfindung durch  Erfassen der Grösse der Gleitbewegung des äusseren Endes des Messaufnehmerteiles  relativ zum Stift des Ambosskörpers bestimmt, ob irgendein Grat vorhanden  ist. Entsprechend kann mit dieser Konstruktion positiv bestimmt werden,  ob irgendein Grat vorhanden ist oder nicht.

    Kurze Beschreibung  der Zeichnungen         Fig. 1 ist eine Ansicht, welche eine  Gesamtkonstruktion einer bevorzugten Ausführung eines Mikrometers  gemäss vorliegender Erfindung zeigt;     Fig. 2 ist eine perspektivische  Ansicht, welche einen Amboss und ein Messaufnehmerteil von Fig. 1  zeigt;     Fig. 3 ist ein Grundriss des Messaufnehmerteiles von  Fig. 2;     Fig. 4 ist eine Seitenansicht von rechts des Messaufnehmerteiles  von Fig. 2;     Fig. 5 ist ein Querschnitt des Messaufnehmerteiles  von Fig. 2;     Fig. 6 ist eine Ansicht zur Erklärung des Messprinzips  des Mikrometers von Fig. 1;     Fig. 7 ist eine Ansicht, welche  einen Zustand von Fig. 6 zeigt, in welchem eine Nullpunkteinstellung  ausgeführt wird;     Fig. 8 ist eine Ansicht, welche einen Zustand  von Fig. 6 zeigt, in welchem ein normales Produkt gemessen wird;

       Fig. 9 ist eine Ansicht, welche einen Messzustand von Fig.  6 zeigt, in welchem der Radius (R)-Bereich und die äusseren Enden  der rückseitigen Gräte in derselben Ebene angeordnet sind;      Fig. 10 ist eine Ansicht, welche einen Messzustand von Fig. 6 zeigt,  in welchem die äusseren Enden von zwei rückseitigen Gräten über den  Radius (R)-Bereich vorstehen;     Fig. 11 ist eine Ansicht, welche  einen Messzustand von Fig. 6 zeigt, in welchem ein einzelner Grat  über den Radius (R)-Bereich vorsteht;       Fig. 12 ist eine Ansicht,  welche eine Gesamtkonstruktion einer andern Ausführung eines Mikrometers  gemäss der vorliegenden Erfindung zeigt;     Fig. 13 ist ein Grundriss,  welcher das Mikrometer von Fig. 12 im zusammengebauten Zustand zeigt;     Fig. 14 ist ein Grundriss des Mikrometers von Fig. 12 im zusammengebauten  Zustand;

       Fig. 15 ist eine Ansicht zur Erklärung des offenen  und geschlossenen Zustandes der oberen und unteren Greiferklaue;     Fig. 16 ist eine Ansicht, welche ein konventionelles Spitzenmikrometer  zeigt;     Fig. 17 ist eine Ansicht, welche ein konventionelles  Schneidenmikrometer zeigt;     Fig. 18 ist eine Ansicht, welche  eine Messmethode zeigt, in welcher ein konventionelles Spitzenmikrometer  und ein konventionelles Schneidenmikrometer verwendet werden.   Wege zur Ausführung der Erfindung  



   Im Folgenden werden mit Bezug auf die Fig. 1 bis 15 bevorzugte Ausführungen  der vorliegenden Erfindung beschrieben. 



   Fig. 1 zeigt eine bevorzugte Ausführung eines Mikrometers gemäss  der vorliegenden Erfindung. 



   In den Zeichnungen umfasst das Mikrometer 1 einen bogenförmigen Rahmen  2, und das eine Ende des Rahmens 2 ist mit einem nach innen    gerichteten  Amboss 3 versehen. Das andere Ende des Rahmens 2 ist verschiebbar  mit einer nach innen gerichteten Spindel 4 versehen. 



   Ein Messaufnehmerteil 5 ist an den Amboss 3 angepasst. 



   Ein Schaltteil 6 ist auf dem Rahmen 2 montiert. Referenznummer 7  bezeichnet einen Anzeigeteil zur Anzeige eines gemessenen Wertes,  Referenznummer 8 eine Trommel, und Referenznummer 9 einen Drehgriff.  Eine Messuhr 10 ist mit einer geeigneten Methode (nicht gezeigt)  in einer vorbestimmten Position fixiert, um an ihrem äusseren Ende  mit dem Messaufnehmerteil 5 Kontakt zu machen. Die Messuhr wird auf  Null gesetzt, wenn das äussere Ende ihres Messaufnehmers den Messaufnehmerteil  5 kontaktiert, und in Übereinstimmung mit der Bewegung des Messaufnehmerteiles  5 verschiebt sich ein Zeiger der Messuhr 10 zur Plus (+)-Seite und  Minus (-)-Seite. 



   Die Beziehung zwischen dem Amboss 3 und dem Messaufnehmerteil 5 ist  in Fig. 2 dargestellt. Der Amboss 3 schliesst einen stabförmigen  Ambosskörper 3A ein, welcher ein äusseres Ende hat, das als Teil  3B mit abnehmendem Durchmesser ausgebildet ist. Ein Stift 3C mit  kleinerem Durchmesser ist daran ausgebildet und ragt vom äusseren  Ende des Teiles 3B mit abnehmendem Durchmesser entlang der Achse  des Ambosskörpers 3A vor. 



   Wie in den Fig. 3 bis 5 gezeigt, ist der Messaufnehmerteil 5 zylindrisch  geformt und schliesst einen Messaufnehmerkörper 5A ein, welcher ein  offenes hinteres Ende hat. Ein Flansch 5B, welcher einen grösseren  Durchmesser hat als der Messaufnehmerkörper 5A, ist am hinteren Ende  des Messaufnehmerkörpers 5A angebracht. Das äussere oder vordere  Ende des Messaufnehmerkörpers 5A ist geschlossen und ist an der äusseren  Oberfläche des äusseren Endes als plattenförmiger Schneidenteil 5C  geformt. In einem zentralen Teil des äusseren Endes des Messaufnehmerkörpers  5A ist ein Loch 5D angebracht. 



     Der Amboss 3 ist in den Messaufnehmerteil 5 eingepasst, und wenn  der Amboss 3 in den Messaufnehmerteil 5 eingeführt ist, passt der  Stift 3C, welcher am äusseren Ende des Teiles 3B mit abnehmendem  Durchmesser ausgebildet ist, in das Loch 5D im Messaufnehmerteil  5. Der Stift 3C des Ambosses 3 ist länger als das Loch 5D im Messaufnehmerteil  5. 



   Als Nächstes wird mit Bezugnahme auf die Fig. 6 bis 11 eine Messmethode  zum Erfassen von rückseitigen Gräten unter Verwendung des Mikrometers  von Fig. 1 beschrieben. 



   In Fig. 6 wird ein zu messendes Objekt 11 (beispielsweise ein Kabelbaum)  zwischen dem Amboss 3 und der Spindel 4 des Mikrometers 1 gehalten.  Im Einzelnen wird der Drehgriff 9 des Mikrometers 1 gedreht, um die  Spindel 4 vom Amboss 3 wegzubewegen, und anschliessend das zu messende  Objekt 11 zwischen den Amboss 3 und die Spindel 4 eingeführt, und  dann der Drehgriff 9 erneut gedreht, um die Spindel 4 zu bewegen,  um damit das Objekt 11 zwischen dem Amboss 3 und der Spindel 4 zu  halten. 



   Zum Messen des Objektes 11 unter Verwendung des Mikrometers 1 wird  zuerst der Drehgriff 9 gedreht, um die Spindel 4 zu bewegen, um das  äussere Ende der Spindel 4 in Berührung mit dem äusseren Ende des  Stiftes 3C des Ambosses 3 und dem äusseren Ende des Schneidenteiles  5C des Messaufnehmerteiles 5 zu bringen. In diesem Zustand wird die  Zeigerposition der Messuhr 10, welche an ihrem äusseren Ende mit  der Endfläche des Flansches 5B des Messaufnehmerteiles 5 Kontakt  macht, so eingestellt oder justiert, dass 0 (Null) abgelesen wird.  Dies ist eine so genannte Nullpunktjustierung. 



   Dann wird der Drehgriff 9 des Mikrometers 1 gedreht, um die Spindel  4 in Öffnungsrichtung (d.h. in Richtung weg vom Amboss 3) zu bewegen,  um dazwischen Platz zu schaffen. Danach wird das zu messende Objekt  11 zwischen den Amboss 3 und die Spindel 4 eingeführt, und anschliessend  wird der Drehgriff 9 erneut gedreht, um die Spindel 4 in Schliessrichtung  (d.h. in Richtung zum Amboss 3) zu bewegen, sodass das äussere Ende  der Spindel 4 das Objekt 11 mit vorgegebenem Druck gegen den Amboss  3 presst. In    diesem Zeitpunkt steht das äussere Ende des Schneidenteiles  5C des Messaufnehmerteiles 5 über den Stift 3C des Ambosses 3 vor,  und der Zeiger der Messuhr 10 verschiebt sich zur Minus (-)-Seite,  sodass bestimmt wird, dass das zu messende Objekt ein normales Produkt  ist. 



   Wenn sich der Zeiger der Messuhr 10 zur Minus (-)-Seite verschiebt,  wird bestimmt, dass das zu messende Objekt ein normales Produkt ist.  Wenn der Zeiger der Messuhr 10 in der 0 (Null)-Position gehalten  wird oder sich zur Plus (+)-Seite verschiebt, wird bestimmt, dass  das zu messende Objekt 11 kein normales Produkt ist. 



   Der Zeiger der Messuhr 10 wird in der 0 (Null)-Position gehalten,  wenn, wie in Fig. 9 gezeigt, die äusseren Enden der rückseitigen  Gräte in einer Ebene angeordnet sind mit dem höchsten Punkt (äussersten  Teil) des Radius (R)-Bereiches des zu messenden Objektes. Im Einzelnen  wird das zu messende Objekt 11 zwischen den Amboss 3 und die Spindel  4 eingeführt, und anschliessend der Drehgriff 9 gedreht, um die Spindel  4 in Schliessrichtung zu bewegen, sodass das äussere Ende der Spindel  4 das Objekt 11 mit vorgegebenem Druck gegen den Amboss 3 presst.  In diesem Zeitpunkt stösst das äussere Ende des Stiftes 3C des Ambosses  3 gegen den höchsten Punkt des Radius (R)-Bereiches des Objektes  11, während das äussere Ende des Schneidenteiles 5C des Messaufnehmerteiles  5 gegen die äusseren Enden der rückseitigen Gräte stossen, welche  sich am Objekt 11 gebildet haben.

   In diesem Zustand sind das äussere  Ende des Stiftes 3C des Ambosses 3 und das äussere Ende des Schneidenteiles  5C des Messaufnehmerteiles 5 in derselben Position angeordnet. In  diesem Zeitpunkt zeigt der Zeiger der Messuhr 10 auf 0 (Null). 



   Der Zeiger der Messuhr 10 verschiebt sich zur Plus (+)-Seite, wenn,  wie in Fig. 10 gezeigt, die rückseitigen Gräte 11A und 11B, welche  sich entsprechend auf gegenüberliegenden Seiten des zu messenden  Objektes 11 gebildet haben, über den Radius (R)-Bereich vorstehen.  Im Einzelnen wird das zu messende Objekt 11 zwischen den Amboss 3  und die Spindel 4 eingeführt, und anschliessend wird der Drehgriff  9 gedreht, um die Spindel 4 in Schliessrichtung zu bewegen, sodass  das äussere Ende der Spindel 4 das    Objekt 11 mit vorgegebenem  Druck gegen den Amboss 3 presst.

   In diesem Zeitpunkt stösst das äussere  Ende des Stiftes 3C des Ambosses 3 gegen den höchsten Punkt des Radius  (R)-Bereiches des Objektes 11, während das äussere Ende des Schneidenteiles  5C des Messaufnehmerteiles 5 gegen die äusseren Enden der rückseitigen  Gräte 11A und 11B stösst, welche sich entsprechend auf gegenüberliegenden  Teilen des Objektes 11 gebildet haben. In diesem Zustand steht das  äussere Ende des Stiftes 3C des Ambosses 3 über das äussere Ende  des Schneidenteiles 5C des Messaufnehmerteiles 5 vor, und der Zeiger  der Messuhr 10 verschiebt sich deshalb zur Plus (+)-Seite, auf diese  Weise die Bildung von rückseitigen Gräten des Objektes 11 anzeigend.                                                           



   Der Zeiger der Messuhr 10 verschiebt sich auch zur Plus (+)-Seite,  wenn sich nur auf einer Seite des zu messenden Objektes 11 ein rückseitiger  Grat 11A gebildet hat, welcher, wie in Fig. 11 gezeigt, über den  Radius (R)-Bereich vorsteht. Im Einzelnen wird das zu messende Objekt  11 zwischen den Amboss 3 und die Spindel 4 eingeführt und anschliessend  wird der Drehgriff 9 gedreht, um die Spindel 4 in Schliessrichtung  zu bewegen, sodass das äussere Ende der Spindel 4 das Objekt 11 mit  vorgegebenem Druck gegen den Amboss 3 presst. In diesem Zeitpunkt  stösst das äussere Ende des Stiftes 3C des Ambosses 3 gegen den höchsten  Punkt des Radius (R)-Bereiches des Objektes 11, während das äussere  Ende des Schneidenteiles 5C des Messaufnehmerteiles 5 gegen das äussere  Ende des rückseitigen Grates 11A stösst, welcher sich auf einer Seite  des Objektes 11 gebildet hat.

   In diesem Zustand steht das äussere  Ende des Stiftes 3C des Ambosses 3 über das äussere Ende des Schneidenteiles  5C des Messaufnehmerteiles 5 vor, und der Zeiger der Messuhr 10 verschiebt  sich zur Plus (+)-Seite, auf diese Weise die Bildung eines rückseitigen  Grates am Objekt 11 anzeigend. 



   Auf diese Weise wird unter Verwendung des erfindungsgemässen Mikrometers  bestimmt, ob sich irgendein rückseitiger Grat an dem zu messenden  Objekt 11 gebildet hat oder nicht, und auf diese Weise werden die  Gräte durch den Amboss 3 und die Spindel 4 nicht zerdrückt, im Gegensatz  zur konventionellen Konstruktion, und darüber hinaus kommt es, im  Gegensatz zur konventionellen Konstruktion, zu keiner Änderung des  gemessenen Wertes    infolge Verschiebens der Messposition, sogar  wenn sich auf einer Seite des zu messenden Objektes ein Grat gebildet  hat. Auf diese Weise können diese Nachteile der konventionellen Konstruktion  beseitigt werden, und es kann stabil und in kurzer Zeit bestimmt  werden, ob irgendein rückseitiger Grat vorhanden oder nicht vorhanden  ist, ohne jegliche Fehlbestimmung zu verursachen. 



   Fig. 12 zeigt eine andere Ausführung eines Mikrometers gemäss der  vorliegenden Erfindung. 



   In den Zeichnungen schliesst das Mikrometer 1 einen bogenförmigen  Rahmen 2 ein, und das eine Ende des Rahmens 2 ist mit einem nach  innen gerichteten Amboss 3 versehen. Das andere Ende des Rahmens  2 ist verschiebbar mit einer nach innen gerichteten Spindel 4 versehen.                                                        



   Ein Messaufnehmerteil 5 ist an den Amboss 3 angepasst. 



   Ein Schaltteil 6 ist auf dem Rahmen 2 montiert. Referenznummer 7  bezeichnet einen Anzeigeteil zur Anzeige eines gemessenen Wertes,  Referenznummer 8 eine Trommel, und Referenznummer 9 einen Drehgriff.  Die Beziehung zwischen dem Amboss 3 und dem Messaufnehmerteil 5 in  dieser Ausführung ist ähnlich zur Beziehung zwischen dem Amboss 3  und dem Messaufnehmerteil 5 in der Ausführung von Fig. 1 und ist  in Fig. 2 dargestellt. Im Einzelnen schliesst der Amboss 3 einen  stabförmigen Ambosskörper 3A ein, welcher ein äusseres Ende hat,  das als Teil 3B mit abnehmendem Durchmesser ausgebildet ist. Ein  Stift 3C mit kleinerem Durchmesser ragt vom äusseren Ende des Teiles  3B mit abnehmendem Durchmesser entlang der Achse des Ambosskörpers  3A vor. 



   Der Messaufnehmerteil 5 in dieser Ausführung ist ähnlich zum Messaufnehmerteil  5 in der Ausführung von Fig. 1 und ist in den Fig. 3 bis 5 dargestellt.  Im Einzelnen ist der Messaufnehmerteil 5 zylindrisch geformt und  schliesst einen Messaufnehmerkörper 5A ein, welcher ein offenes hinteres  Ende hat. Ein Flansch 5B, welcher einen grösseren Durchmesser hat  als der Messaufnehmerkörper 5A, ist am hinteren Ende des Messaufnehmerkörpers  5A angebracht. Das äussere oder vordere Ende des Messaufnehmerkörpers    5A ist geschlossen und ist an der äusseren Oberfläche des äusseren  Endes als plattenförmiger Schneidenteil 5C geformt. In einem zentralen  Teil des äusseren Endes des Messaufnehmerkörpers 5A ist ein Loch  5D angebracht. 



   Eine Öffner- und Schliessergrundplatte 12 hat die Form einer rechteckigen  Platte, und ein rechteckiger Zahn 13 ist daran angebracht und ragt  auf einer Seite (Frontseite) der Öffner- und Schliessergrundplatte  12 vor. Ein Loch 14 ist durch den Zahn 13 angebracht, und der Amboss  3 des Mikrometers 1 ist in das Loch 14 eingepasst, und der Messaufnehmerteil  5 ist an das äussere Ende des Ambosses 3 angepasst, welcher aus dem  Loch 14 hervorragt. 



   Ein L-förmiger Befestigungsarm 15 hat ein äusseres Ende, welches  in einem Winkel von im Wesentlichen 90 DEG  abgebogen ist, und ist  fest an der Öffner- und Schliessergrundplatte 12 befestigt. Am äusseren  Ende des Befestigungsarmes 15 ist eine Vertiefung 16 angebracht,  und in dieser Vertiefung 16 eine Messuhr 10 befestigt (nicht gezeigt),  welche mit ihrem äusseren Ende mit dem Messaufnehmerteil 5 Kontakt  macht. Die Zeigerposition der Messuhr 10 ist so justiert oder gestellt,  dass 0 (Null) abgelesen wird, wenn das äussere Ende des Messaufnehmers  der Messuhr 10 mit dem Messaufnehmerteil 5 Kontakt macht. In Übereinstimmung  mit der Bewegung des Messaufnehmerteiles 5 verschiebt sich der -Zeiger  der Messuhr 10 zur Plus (+)-Seite und Minus (-)-Seite. 



   Ein oberer Öffner- und Schliesserarm 17 hat ein Loch 18, welches  in einem Abschnitt an dessen einem Ende angebracht ist. Eine Hülse  20 ist in dieses Loch 18 eingepasst, und ein Bolzen 21 in ein Loch  19 eingesetzt, welches durch die Öffner- und Schliessergrundplatte  12 angebracht ist, dadurch den oberen Öffner- und Schliesserarm 17  mit der Öffner- und Schliessergrundplatte 12 verbindend. Aus diesem  Grund ist der obere Öffner- und Schliesserarm 17 um das Loch 18 drehbar.                                                       



   Ein unterer Öffner- und Schliesserarm 22 hat ein Loch 23, welches  in einem Abschnitt an dessen einem Ende angebracht ist. Eine Hülse  25 ist in dieses Loch 23 eingepasst, und ein Bolzen 26 in ein Loch  24 eingesetzt,    welches durch die Öffner- und Schliessergrundplatte  12 angebracht ist, dadurch den unteren Öffner- und Schliesserarm  22 mit der Öffner- und Schliessergrundplatte 12 verbindend. Aus diesem  Grund ist der untere Öffner- und Schliesserarm 22 um das Loch 23  drehbar. 



   Am anderen Ende des oberen Öffner- und Schliesserarmes 17 ist ein  Klauenmontageteil 27 ausgebildet, und eine obere Greiferklaue 28  durch Bolzen oder etwas Vergleichbares entfernbar auf dem Klauenmontageteil  27 montiert. Am anderen Ende des unteren Öffner- und Schliesserarmes  22 ist ein Klauenmontageteil 29 ausgebildet, und eine untere Greiferklaue  30 durch Bolzen oder etwas Vergleichbares entfernbar auf dem Klauenmontageteil  29 montiert. 



   Die obere Greiferklaue 28 ist so gestaltet, dass sie über dem zu  messenden Objekt 11 angeordnet ist, welches zwischen der Spindel  4 und dem Stift 3C des Ambosses 3 (und dem Schneidenteil 5C des Messaufnehmerteiles  5) eingeführt ist. Die obere Greiferklaue 28 schliesst einen Block  28A ein, welcher durch die Bolzen auf den Klauenmontageteil 27 befestigt  ist, und einen nach unten vorstehenden Klauenteil 28B, welcher am  äusseren Ende des Blockes 28A ausgebildet ist. Der Klauenteil 28B  hat die Form einer dünnen Platte mit einer vorbestimmten Breite,  und in einem zentralen Abschnitt des Klauenteiles ist eine u-förmige  Kerbe 28C angebracht.

   Diese Kerbe 28C ist dafür vorgesehen, dass  der Klauenteil 28B nicht mit dem Schneidenteil 5C des Messaufnehmerteiles  5 und dem Schneidenteil der Spindel 4 zusammenstösst, wenn die obere  Greiferklaue 28 in Greifkontakt mit dem zu messenden Objekt 11 gebracht  wird. 



   Die untere Greiferklaue 30 ist so gestaltet, dass sie unter dem zu  messenden Objekt 11 angeordnet ist, welches zwischen der Spindel  4 und dem Stift 3C des Ambosses 3 (und dem Schneidenteil 5C des Messaufnehmerteiles  5) eingeführt ist. Die untere Greiferklaue 30 schliesst einen Block  30A ein, welcher durch die Bolzen auf dem Klauenmontageteil 29 befestigt  ist, und einen nach oben vorstehenden Klauenteil 30B, welcher am  äusseren Ende des Blockes 30A ausgebildet ist. Der Klauenteil 30B  hat die Form einer dünnen Platte mit einer vorbestimmten Breite,  und in einem zentralen Abschnitt des    Klauenteiles ist eine u-förmige  Kerbe 30C angebracht.

   Diese Kerbe 30C ist dafür vorgesehen, dass  der Klauenteil 30B nicht mit dem Schneidenteil 5C des Messaufnehmerteiles  5 und dem Schneidenteil der Spindel 4 zusammenstösst, wenn die untere  Greiferklaue 30 in Greifkontakt mit dem zu messenden Objekt 11 gebracht  wird. 



   Zum Auseinanderbewegen der oberen und unteren Greiferklauen 28 und  30, welche an den entsprechenden äusseren Enden des oberen und unteren  Öffner- und Schliesserarmes 17 und 22 montiert sind, ist ein Hebel  31 vorgesehen. Durch den Hebel 31 ist ein Loch 32 angebracht, und  in dieses Loch 32 eine Lagerbüchse 34 eingepasst, und der Hebel 31  drehbar mittels eines Bolzens 33 durch diese Lagerbüchse an der Öffner-  und Schliessergrundplatte 12 montiert, welcher Bolzen in ein Loch  35 eingesetzt ist, welches durch die Öffner- und Schliessergrundplatte  12 angebracht ist. Ein Stift 36 ist am Hebel 31 angebracht, und in  ein Loch 37 eingepasst, welches im oberen Öffner- und Schliesserarm  17 angebracht ist. Ein Stift 38 ist ebenfalls am Hebel 31 angebracht,  und in ein Loch 39 eingepasst, welches im unteren Öffner- und Schliesserarm  22 angebracht ist. 



   Das Mikrometer 1 ist an der Öffner- und Schliessergrundplatte 12  montiert, und der obere Öffner- und Schliesserarm 17, der untere  Öffner- und Schliesserarm 22 und der Hebel 31 sind an der Öffner-  und Schliessergrundplatte 12 montiert. Fig. 13 ist eine Draufsicht,  welche diesen Zustand zeigt, wobei der Klauenmontageteil 27 des oberen  Öffner- und Schliesserarmes 17, die obere Greiferklaue 28 (welche  auf dem Klauenmontageteil 27 montiert ist), der Klauenmontageteil  29 des unteren Öffner- und Schliesserarmes 22 und die untere Greiferklaue  30 (welche auf dem Klauenmontageteil 29 montiert ist) weggelassen  sind. 



   In den Zeichnungen umfasst ein äusserer Endanschlag 40 einen Mikrometerkopf.                                                   



   Referenznummer 41 bezeichnet eine Spindel, Referenznummer 42 eine  Trommel und Referenznummer 43 einen Drehgriff. Referenznummer 44  bezeichnet einen Schaltteil und Referenznummer 45 einen Anzeigeteil  zur    Anzeige eines gemessenen Wertes. Dieser äussere Endanschlag  40 ist senkrecht zum Mikrometer 1 angeordnet und derart mit einer  Befestigungsvorrichtung (nicht gezeigt) befestigt, dass das äussere  Ende der Spindel 41 in die Nähe des Schneidenteiles 5C des Messaufnehmerteiles  5 des Mikrometers 1 zu liegen kommt. Wenn kein Objekt gegen das äussere  Ende der Spindel 41 stösst, wird im Anzeigeteil 45 der Wert 0 (Null)  angezeigt.

   Das zu messende Objekt 11 wird in Pfeilrichtung A zwischen  den Amboss 3 und die Spindel 4 eingeführt (Fig. 13), und wenn das  äussere Ende des Objektes 11 gegen das äussere Ende der Spindel 41  gestossen oder gepresst wird, wird im Anzeigeteil 45 ein Plus(+)-  oder Minus (-)-Wert angezeigt. Daraus wird bestimmt, ob das zu messende  Objekt 11 in eine vorbestimmte Position zwischen dem Amboss 3 und  der Spindel 4 eingeführt worden ist oder nicht. 



   Fig. 13 zeigt einen Zustand, in welchem das zu messende Objekt 11  so in Pfeilrichtung A (Fig. 13) zwischen dem Amboss 3 und der Spindel  4 eingeführt ist, dass das äussere Ende des Objektes 11 gegen das  äussere Ende der Spindel 41 stösst, und deshalb das zu messende Objekt  in der vorbestimmten Position gehalten wird. 



   Fig. 14 ist eine Draufsicht, welche einen Zustand zeigt, in welchem  das Mikrometer 1 an der Öffner- und Schliessergrundplatte 12 montiert  ist, und der obere Öffner- und Schliesserarm 17, der untere Öffner-  und Schliesserarm 22 und der Hebel 31 an der Öffner- und Schliessergrundplatte  12 montiert sind. Diese Figur zeigt klar die Positionen des Klauenmontageteiles  27 des oberen Öffner- und Schliesserarmes 17 und der oberen Greiferklaue  28, welche auf dem Klauenmontageteil 27 montiert ist (und daraus  folgend die Positionen des Klauenmontageteiles 29 des unteren Öffner-  und Schliesserarmes 22 und der unteren Greiferklaue 30, welche auf  dem Klauenmontageteil 29 montiert ist), in Bezug zum Stift 3C des  Ambosses 3 des Mikrometers 1, zum Schneidenteil 5C des Messaufnehmerteiles  5, zum äusseren Ende der Spindel 4 und zur Spindel 41 des äusseren  Endanschlages 40. 



   Fig. 15 zeigt die Beziehung zwischen dem oberen Öffner- und Schliesserarm  17, dem unteren Öffner- und Schliesserarm 22 und dem Hebel 31. Der  Hebel 31 ist um die Lagerbüchse 34 drehbar. Wenn der Hebel in     Pfeilrichtung B um die Drehachse bewegt wird, bewegt sich der obere  Öffner- und Schliesserarm 17 in öffnender Richtung (durch Pfeil C  angezeigt) um die Hülse 20, da der Stift 36 auf dem Hebel 31 ins  Loch 37 eingepasst ist. Ebenso wird, wenn der Hebel 31 in Pfeilrichtung  B um die Drehachse bewegt wird, der untere Öffner- und Schliesserarm  22 in öffnender Richtung (durch Pfeil D angezeigt) um die Hülse 25  bewegt, da der Stift 38 auf dem Hebel 31 ins Loch 39 eingepasst ist.  Auf diese Weise können die Greiferklauen (die obere und untere Greiferklaue  28 und 30) durch Bewegen des Hebels 31 in Pfeilrichtung B (d.h. nach  abwärts) voneinander wegbewegt werden. 



   Aus diesem Grund können in dieser Ausführung sowohl das Zentrieren  des zu messenden Objektes 11 als auch das Positionieren des Objektes  11 in der vorbestimmten Position einfach bewerkstelligt werden. Deshalb  werden Gräte, im Gegensatz zur konventionellen Konstruktion, nicht  vom Amboss 3 und der Spindel 4 zerdrückt, und darüber hinaus kommt  es, im Gegensatz zur konventionellen Konstruktion, zu keiner Änderung  des gemessenen Wertes infolge Verschiebens der Messposition, sogar  wenn sich auf einer Seite des zu messenden Objektes ein Grat gebildet  hat. Auf diese Weise können diese Nachteile der konventionellen Konstruktion  beseitigt werden, und es kann stabil und in kurzer Zeit bestimmt  werden, ob irgendein rückseitiger Grat vorhanden oder nicht vorhanden  ist, ohne jegliche Fehlbestimmung zu verursachen. 



   Die vorliegende Erfindung hat die obige Konstruktion, und aus diesem  Grund werden folgende vorteilhaften Wirkungen erzielt. 



   In der vorliegenden Erfindung gemäss Ansprüchen 1 und 2 kann die  Messung in kurzer Zeit bewerkstelligt werden, und Fehlbestimmungen  werden reduziert, und es können stabile Messwerte erhalten werden.                                                             



   In der vorliegenden Erfindung gemäss Anspruch 3 kann das zu messende  Objekt einfach in der vorbestimmten Position positioniert werden  d.h. in der Achse des Ambosses und der Spindel, und aus diesem Grund  kann die Messung in kurzer Zeit bewerkstelligt werden, und Fehlbestimmungen  werden reduziert, und es können stabile Messwerte erhalten werden.                                                             



     Wenn in der vorliegenden Erfindung gemäss Anspruch 4 das äussere  Ende des zu messenden Objektes die Messposition erreicht, wird es  daran gehindert, sich über die Messposition hinaus zu bewegen, und  aus diesem Grund kann das äussere Ende des zu messenden Objektes  einfach und genau in der Messposition positioniert werden. 



   In der vorliegenden Erfindung gemäss Anspruch 5 kann das äussere  Ende des zu messenden Objektes einfach in der Achse des Ambosses  und der Spindel positioniert werden. 



   In der vorliegenden Erfindung gemäss Anspruch 6 kann das äussere  Ende des zu messenden Objektes mit einem Griff in der Achse des Ambosses  und der Spindel positioniert werden.

Claims (7)

1. Mikrometer, umfassend: eine Spindel, welche ein äusseres Ende hat, welches in einer flachen plattenförmigen Art geformt ist; einen Amboss, welcher einen Ambosskörper einschliesst, welcher in einer stabförmigen Form geformt ist; einen Stift von vorbestimmter Länge, welcher einen kleineren Durchmesser hat als der Ambosskörper, und welcher Stift am äusseren Ende des Ambosskörpers ausgebildet ist;

einen Messaufnehmerteil von röhrenförmiger Form, welcher an den Ambosskörper angepasst ist, und welcher Messaufnehmerteil gleitend entlang dem Ambosskörper bewegbar ist, und das äussere Ende des Messaufnehmerteiles in plattenförmiger Form geformt ist, und der Messaufnehmerteil ein Loch zum Einführen eines Stiftes einschliesst, welches in einem zentralen Teil des äusseren Endes des Messaufnehmerteiles angebracht ist, wobei der Stift so ins Loch zum Einführen eines Stiftes einführbar ist, dass der Stift aus dem äusseren Ende des Messaufnehmerteiles herausragt; und eine Messuhr, welche, an ihrem äusseren Ende in Kontakt mit dem Messaufnehmer gebracht, imstande ist, in Übereinstimmung mit der Gleitbewegung des Messaufnehmerteiles Plus- und Minuswerte anzuzeigen;

in welchem Mikrometer beim Anstossen des äusseren Endes des Messaufnehmerteilers gegen das äussere Ende der Spindel und beim Zusammenfallen des äusseren Endes des Stiftes des Ambosskörpers mit dem äusseren Ende des Messaufnehmerteiles eine Nullstellung der Messuhr erfolgt; und in welchem Mikrometer ein zu messendes Objekt zwischen dem Messaufnehmerteil und der Spindel eingeführt ist.

2. Mikrometer gemäss Anspruch 1, in welchem, wenn das äussere Ende des Messaufnehmerteiles in Berührung mit dem zu messenden Objekt bringbar ist, aus der Grösse der Gleitbewegung des Messaufnehmerteiles relativ zum Stift des Ambosskörpers bestimmbar ist, ob das zu messende Objekt ein geeignetes ist.

3.

Mikrometer gemäss einem der Ansprüche 1 oder 2, umfassend zusätzlich: einen äusseren Endanschlag, welcher mit dem zu messenden Objekt in Kontakt gebracht wird, um das äussere Ende des Objektes in einer vorbestimmten Position zu positionieren; und eine Zentriervorrichtung, welche das zu messende Objekt festhält, um das Objekt relativ zum Amboss und zur Spindel zu zentrieren, wenn das äussere Ende des zu messenden Objektes gegen das äussere Ende des äusseren Endanschlages stösst, in welchem Mikrometer das zu messende Objekt gegen den äusseren Endanschlag gestossen wird, sodass das Objekt in einer vorbestimmten Position positioniert ist, und festgehalten wird, um das Objekt in einer zentrierten Position zwischen dem Amboss und der Spindel zu positionieren,

und anschliessend das äussere Ende des Messaufnehmerteiles in Berührung mit dem zu messenden Objekt gebracht wird, sodass aus der Grösse der Gleitbewegung des Messaufnehmerteiles relativ zum Stift des Ambosskörpers bestimmt wird, ob das zu messende Objekt ein geeignetes ist.

4. Mikrometer gemäss Anspruch 3, in welchem der genannte äussere Endanschlag einen zusätzlichen Mikrometer umfasst.

5. Mikrometer gemäss einem der Ansprüche 3 oder 4, in welchem die genannte Zentriervorrichtung dem äusseren Ende des Ambosses beim äusseren Ende der Spindel ausweicht und das Objekt bei den äusseren Enden der Messabschnitte der Spindel und des Ambosses, welche die Einführungs richtung des Objektes schneiden, von der Ober- und Unterseite des Objektes her festhält, womit das Objekt zentriert wird.

6.

Mikrometer gemäss einem der Ansprüche 3 bis 5, in welchem die genannte Zentriervorrichtung ein Paar obere und untere Klauen umfasst, um das zu messende Objekt zwischen den Klauen von der oberen und unteren Seite her zu halten, und das Klauenpaar durch Aufwärts- und Abwärtsbewegen eines Hebels zueinander und voneinander weg bewegt werden kann.

7. Mikrometer gemäss einem der Ansprüche 1 bis 6, in welchem aus der Grösse der Gleitbewegung des äusseren Endes des Messaufnehmerteiles relativ zum äusseren Ende des Stiftes des Ambosskörpers bestimmbar ist, ob irgendein Grat vorhanden ist.