CH717253A2 - Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen. - Google Patents

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen, insbesondere zur optischen Erfassung von strukturierten und/oder bildhaften Oberflächen, Räumen und/oder zum Beispiel von Gemälden oder Skulpturen, welches einfach und ortsunabhängig anwendbar ist. Hierzu umfasst das Gerät (1) ein Gehäuse, in dem lichtaussendende und lichtempfangende Elemente angeordnet sind, wobei es einen ersten Bereich mit mindestens einer Linse (2), einen in Längsrichtung nachfolgenden Bereich mit einem Screen (5) und einen anschliessenden Griffbereich (6) aufweist.

Description

[0001] Die Erfindung betrifft ein Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen, insbesondere zur optischen Erfassung von strukturierten und/oder bildhaften Oberflächen, Räumen und/oder zum Beispiel von Gemälden oder Skulpturen.
[0002] Eine stationäre optische Abtastvorrichtung für ebene Oberflächen ist in der DE 3737631 C1 offenbart. Sie weist eine Laserlichtquelle, eine vom Laserlichtstrahl beaufschlagte Lichtablenkvorrichtung, ein Abbildungselement, einen abbildenden Retroreflektor sowie eine Lichtempfangsvorrichtung auf. Sie dient der Fehlersuche an reflektierenden Oberflächen, wobei ein Flattern der Oberfläche Messungen nicht beeinträchtigen soll.
[0003] Eine weitere stationäre optische Vorrichtung zur Erfassung von Oberflächen eines Bauteils ist in der DE 102008018586 A1 beschrieben. Vorgesehen sind zwei Lichtquellen und eine Kameraeinrichtung, wobei die Kamera die an den Oberflächen des Bauteils reflektierten Lichtstrahlen der Lichtquellen zur Erzeugung eines Bildes der Oberflächen empfängt.
[0004] Eine ähnliche optische Untersuchungseinrichtung zur Erfassung der Eigenschaften von rechteckigen Halbleitern zeigt die DE 102016011497 B4.
[0005] Eine optische Abtastvorrichtung zur Aufzeichnung und Wiedergabe von Informationen, bei der Lichtstrahlen mit zumindest drei Wellenlängen benutzt werden, eine optische Pickupvorrichtung, zeigt die EP 1381035 B1.
[0006] Ein stationäres Messsystem zur Erfassung von Oberflächen und zur hyperspektralen Bildgebung ist in der DE 102017000296 A1 beschrieben. Es wird ein Beleuchtungsmuster eines ersten Messlichts mit einer Vielzahl von Wellenlängen erzeugt und das Beleuchtungsmuster auf der zu untersuchenden Oberfläche abgebildet, so dass es von einem chromatischen Objektiv in verschiedenen Abständen scharf abgebildet werden kann. Die Intensitätsverteilung des aufgespaltenen ersten Messlichts wird mittels eines Detektors erfasst und daraus topografische Eigenschaften der zu untersuchenden Oberfläche ermittelt. Die Oberfläche wird zudem mit einem zweiten Messlicht homogen beleuchtet. Ein multifokales chromatisch codiertes 3D-Messverfahren wird mit einem nichtkonfokalen zweiten Messlicht kombiniert. Struktur und Zusammensetzung der Oberflächen sollen schnell und genau bestimmbar sein.
[0007] In der DE 102014018940 A1 ist ein Verfahren zur Begutachtung von Farb- oder Lackoberflächen unter Verwendung einer Leuchte offenbart. Die Leuchte, eine LED- oder Halogenleuchte, soll ein tageslichtähnliches Lichtspektrum erzeugen können, das steuer- oder regelbar ist. Insbesondere soll ein umschalten zwischen Tageslicht und dem zur Beurteilung der Oberfläche besser geeigneten Farbspektrum möglich sein. Die Leuchte kann als Handleuchte ausgebildet sein.
[0008] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen bereitzustellen, das einfach und ortsunabhängig anwendbar ist.
[0009] Die Lösung der Aufgabe erfolgt mit den Merkmalen des unabhängigen Patentanspruchs 1.
[0010] Das erfindungsgemässe Gerät umfasst ein Gehäuse, in dem lichtaussendende und lichtempfangende Elemente angeordnet sind, wobei es stabförmig ausgebildet ist und einen ersten Bereich mit mindestens einer Linse, einen in Längsrichtung nachfolgenden Bereich mit einem Screen und einen anschliessenden Griffbereich aufweist.
[0011] Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen offenbart.
[0012] Das erfindungsgemässe Gerät ist ein tragbares Handgerät, kann aber auch als Standgerät ausgebildet sein und wird insbesondere für die Erfassung der Oberflächenstrukturen von Kunstobjekten (z.B. Gemälde oder Skulpturen) verwendet.
[0013] Die Erfindung wird nachfolgend in einem Ausführungsbeispiel anhand einer Zeichnung näher beschrieben.
[0014] In der Zeichnung zeigt die einzige Figur ein erfindungsgemässes Gerät 1 zur optischen Erfassung von Oberflächen in einer Ausführungsform. Das Gerät 1 weist ein Gehäuse auf, das im Beispiel stabförmig und mit einem zylindrischen Querschnitt ausgebildet ist. Es umfasst drei Bereiche. Einen ersten Bereich mit einer stabförmigen Linse 2, einen in Längsrichtung nachfolgenden Bereich mit einem Screen 5 einen anschliessenden Griffbereich 6.
[0015] Das Gerät 1 wird mit einer Hand im Griffbereich 6 gehalten, der zudem mit einer, den Griff verbessernden Oberfläche versehen sein kann.
[0016] Die Linse 1 ist im Beispiel stabförmig und erstreckt sich von einer Stirnfläche des Geräts 1 bis zum Screen 5. In einer nicht dargestellten Ausführungsform können auch runde Linsen angeordnet sein.
[0017] Parallel zur Linse 2 sind rechts und links von dieser Lichtquellen 3, 4, im Beispiel LED-Lichtquellen, angeordnet. Die Linse 2 fokussiert die von den Lichtquellen 3, 4 emittierten und von einer zu analysierenden Oberfläche reflektierten Lichtwellen mittels nicht dargestellter Fotorezeptoren, die im Innern des Geräts 1 angeordnet sind.
[0018] Die Empfangen Lichtinformationen werden dann durch dielogische Kombination der Umgebungs-Sensorischen Daten zu zusammenhängenden Oberflächenstrukturen kombiniert, welche dann zur Weiterverarbeitung an eine mit dem Gerät verbundenen Steuereinheit weitergeleitet werden. Je nach Verfahren und benötigter Rechenleistung, kann dieser Verarbeitungsschritt der logischen Kombination der Daten der Fotorezeptoren mit den Umgebungs-Sensorischen Datenauf einer externen, mit dem Gerät verbundenen, Steuereinheit erfolgen.
[0019] Der Screen 5 ist mit Anzeige- und Bedienelementen versehen und vorteilhaft als Touchscreen ausgebildet. Der Screen 5 ist mit einer autonomen Rechnereinheit versehen, die ebenfalls im Innern des Geräts 1 angeordnet ist. Die Rechnereinheit verfügt über Anschlüsse zur Wartung und Synchronisierung des Geräts 1.
[0020] Das Gerät 1 kann weiterhin mit, nicht dargestellten, Sensoren versehen sein: -Lasersensoren für Abstandsmessungen -Ultraschallsensoren zur Umgebungserkennung und für Abstandsmessungen -Gyrosensoren zur Erfassung von Drehbewegungen in drei Achsen, um Position und Ausrichtung des Geräts 1 feststellen zu können.
[0021] Das Gerät 1 verfügt weiterhin über Kommunikationsmodule, die auch optional sein können: -Bluetooth-Modul -WLAN Netzwerk-Modul -Modul zur Satellitenortung (zum Beispiel GPS, Galileo, GLONASS, Beidou).
[0022] Die Energieversorgung des Geräts 1 erfolgt mittels eines, im Handbereich 6 angeordneten, aufladbaren Akkus.
Auflistung der Bezugszeichen
[0023] 1 Gerät 2 Linse 3 Lichtquelle 4 Lichtquelle 5 Screen 6 Griffbereich

Claims (5)

1. Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen, insbesondere zur optischen Erfassung von strukturierten und/oder bildhaften Oberflächen, Räumen und/oder Gemälden oder Skulpturen umfassend ein Gehäuse, in dem lichtaussendende und lichtempfangende Elemente angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass es stabförmig ausgebildet ist und einen ersten Bereich mit mindestens einer Linse (2), einen in Längsrichtung nachfolgenden Bereich mit einem Screen (5) und einen anschliessenden Griffbereich (6) aufweist.
2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als tragbares Handgerät ausgebildet ist.
3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Linse (2) stabförmig oder rund ausgebildet ist.
4. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Linse (2) mindestens eine Lichtquelle (3, 4) zugeordnet ist.
5. Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass es mit einer Rechnereinheit und mindestens einem Sensor und/oder mindestens einem Kommunikationsmodul versehen ist.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH717253A2 (de) * 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen.
CH717252A2 (de) 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Verfahren zur Wiedererkennung von Oberflächen.
CH717251A2 (de) 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Verfahren zur Beurteilung von Kontrasten von Oberflächen.

Family Cites Families (49)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3737631C1 (de) 1987-11-05 1989-03-02 Sick Optik Elektronik Erwin Optische Abstastvorrichtung fuer ebene Oberflaechen
US5094525A (en) * 1990-08-03 1992-03-10 Nelson Jr Paul A System for projecting kaleidoscopic images for group viewing using a dynamically operating kaleidoscope as an integral element
US5521984A (en) 1993-06-10 1996-05-28 Verification Technologies, Inc. System for registration, identification and verification of items utilizing unique intrinsic features
US5744791A (en) * 1996-07-24 1998-04-28 Symbol Technologies, Inc. Solar energy-powered optical reader
DE60018735T2 (de) 1999-01-22 2006-01-26 Konica Minolta Opto, Inc., Hachioji Optische Abtastvorrichtung, Aufzeichnungs- /-Wiedergabegerät mit dieser optischen Abtastvorrichtung, optisches Element und Verfahren zur Informationsaufzeichnung /-Wiedergabe
US20140221846A1 (en) * 1999-03-23 2014-08-07 Shabbir Bambot System and method for determining tissue characteristics
SE518050C2 (sv) 2000-12-22 2002-08-20 Afsenius Sven Aake Kamera som kombinerar skarpt fokuserade delar från olika exponeringar till en slutbild
EP1386481A1 (de) 2001-05-07 2004-02-04 Flir Systems AB Infrarotstrahlungsempfindliche infrarotkamera
US6885440B2 (en) * 2001-11-07 2005-04-26 S31, Llc System and method for detecting and classifying biological particles
US20030164456A1 (en) * 2002-02-25 2003-09-04 Emerge Interactive, Inc. Apparatus and method for detecting fecal and ingesta contamination on hands using an lllumination imaging device
US7321470B2 (en) * 2002-10-08 2008-01-22 Olympus Corporation Camera
US7531349B1 (en) * 2004-01-13 2009-05-12 Raytheon Company Standoff bioagent-detection apparatus and method using multi-wavelength differential laser-induced fluorescence
WO2005115737A2 (en) * 2004-03-22 2005-12-08 Quantaspec Inc. System and method for detecting and identifying an analyte
US20080266549A1 (en) * 2007-04-26 2008-10-30 Ese Inc. Chemical Constituent Analyzer
DE102008018586A1 (de) 2008-04-12 2009-11-05 Mühlbauer Ag Optische Erfassungsvorrichtung und Verfahren für die Erfassung von Oberflächen von Bauteilen
US8044354B2 (en) * 2008-12-04 2011-10-25 The Boeing Company Method for classifying resins types in carbon fiber reinforced plastic materials using IR spectroscopy
JP5477551B2 (ja) * 2009-08-20 2014-04-23 株式会社リコー 反射型光学センサ及び画像形成装置
US8373140B2 (en) * 2010-03-31 2013-02-12 Ecolab Usa Inc. Fluorometric sensor
WO2012087754A1 (en) 2010-12-22 2012-06-28 University Of Pittsburgh - Of The Commonwealth System Of Higher Education Depth-selective fiber-optic probe
US9423548B2 (en) * 2011-05-04 2016-08-23 The Research Foundation Of The City University Of New York Multiple wavelength light source and signal collection device and methods for using the same
US9697596B2 (en) * 2011-05-17 2017-07-04 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting parts
US10952600B2 (en) * 2014-07-10 2021-03-23 Covidien Lp Endoscope system
US20160178528A1 (en) * 2014-12-19 2016-06-23 Agiltron, Inc. Devices for detecting contamination in coatings
DE102014018940A1 (de) 2014-12-22 2016-06-23 Sata Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Begutachtung von Oberflächen, insbesondere von Farb- oder Lackoberflächen
CN104866837B (zh) 2015-06-02 2018-08-10 上海交通大学 字画微观纹理的图像采集装置及其采集方法
EP3332243B1 (de) * 2015-08-03 2024-05-01 YSI, Inc. Fluorimeter mit mehrfacherregung und mehrfachemission für multiparametrische überwachung der wasserqualität
EP3380987B1 (de) 2015-11-27 2024-04-10 Kerquest Verfahren zur authentifizierung und/oder überprüfung der integrität einer person
JP6675194B2 (ja) 2015-12-15 2020-04-01 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法、プログラム並びに記憶媒体
CN105740820B (zh) 2016-01-29 2020-01-03 魏志宇 辨别用图片的获取方法和辨别用图片的获取系统
RU2770174C2 (ru) 2016-05-17 2022-04-14 Керквест Способ улучшенной аутентификации материального предмета
WO2018012862A1 (ko) * 2016-07-13 2018-01-18 문정본 3차원 스캐너와 이를 이용한 인공물가공장치
WO2018044972A1 (en) * 2016-08-30 2018-03-08 Sensii, Inc. A personal liquid analysis system
DE102016011497B4 (de) 2016-09-21 2019-01-24 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Optische Untersuchungseinrichtung und optisches Untersuchungsverfahren mit sichtbarem und infrarotem Licht für Halbleiterbauteile
FR3059104B1 (fr) 2016-11-18 2020-12-11 Electricite De France Dispositif et procede d'estimation d'un parametre d'un materiau polymere
DE102017000296B4 (de) * 2017-01-15 2021-02-11 Baden-Württemberg Stiftung Ggmbh Messsystem und Verfahren zur kombinierten Erfassung der Oberflächentopographie und hyperspektralen Bildgebung
DE202017001743U1 (de) * 2017-03-31 2017-05-08 Siemens Aktiengesellschaft Gasanalysator
US10891485B2 (en) 2017-05-16 2021-01-12 Google Llc Image archival based on image categories
JP2020513127A (ja) 2017-05-19 2020-04-30 グーグル エルエルシー 環境センサデータを用いる効率的な画像解析
US10192305B2 (en) 2017-06-02 2019-01-29 Visualmind Oy Method and system for analyzing test image
WO2019165302A1 (en) * 2018-02-23 2019-08-29 Globalasereach Llc Device for delivering precision phototherapy
CN108898597B (zh) 2018-06-28 2021-10-15 广东创图文化传媒有限公司 一种基于智能手机的书画鉴证的方法
US11328380B2 (en) * 2018-10-27 2022-05-10 Gilbert Pinter Machine vision systems, illumination sources for use in machine vision systems, and components for use in the illumination sources
US12290258B2 (en) * 2019-12-13 2025-05-06 Dinesh Vyas Stapler apparatus and methods for use
US11793397B2 (en) * 2020-03-09 2023-10-24 Omniscient Imaging, Inc. Encapsulated opto-electronic system for co-directional imaging in multiple fields of view
CH717252A2 (de) 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Verfahren zur Wiedererkennung von Oberflächen.
CH717253A2 (de) * 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Gerät zur optischen Erfassung von Oberflächen.
CH717251A2 (de) 2020-03-23 2021-09-30 4Art Holding Ag Verfahren zur Beurteilung von Kontrasten von Oberflächen.
US11448598B1 (en) * 2020-07-13 2022-09-20 Photon Systems, Inc. Methods and systems for detection of biohazard signatures in complex clinical and environmental samples
US20230243820A1 (en) * 2022-02-01 2023-08-03 Wallac Oy Lateral flow test strip reader and related methods

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