CN101413986B - 一种测试智能卡可靠性的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明针对智能卡在生产、制造和使用过程中，数据异常丢失或者功能失效的现象提出了一种测试智能卡可靠性的方法。本方法的测试流程包括：(1)生成测试卡；(2)实施加速老化测试方法对卡片进行测试；(3)测试完成后，检验测试卡的功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。本发明提出的智能卡的测试方法，对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现产品由于芯片系统设计不足而引起的制造过程成品率降低的问题，以及克服在使用环境中智能卡的数据易丢失等缺陷。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试智能卡可靠性的方法。
背景技术
随着计算机软件技术和集成电路的不断发展，智能卡的应用越来越广泛，从个人手机SIM卡到金融业的银行卡和身份认证，智能卡在发挥着重要作用。在智能卡的应用领域中，特别是金融业对其数据的保密性和稳定性的要求越来越高，同时随着半导体微细加工技术的发展，越来越多的新兴制造技术和器件应用在智能卡芯片系统中，因此对智能卡系统的稳定性与可靠性测试已成为一项很重要的工作。
现有的测试技术和方法，大都是在智能卡芯片系统上电稳定后进行测试，比如存储器数据保持性试验和擦写寿命测试，但在制造过程测试和现场使用过程中，智能卡工作的环境比较复杂。由于现有测试方法不能覆盖到智能卡工作环境的不稳定状态，不能够发现因芯片系统的稳定性或者对异常情况的防护措施考虑不全面而导致的卡片失效，但实际的制造过程测试或者用户使用过程中的不规范操作，造成智能卡生产成品率降低或者存储器内数据丢失的问题时有发生。
发明内容
针对上述现有测试技术的不足以及实际测试需要，本发明提出了一种测试智能卡可靠性的方法，能够提高测试的覆盖率，避免产品由于测试不足而发生潜在的质量问题。
为了解决上述问题，本发明提出一种智能卡的测试方法，包括：
(1)生成测试卡；
(2)通过实施老化测试方法对卡片进行测试。
(3)测试完成后，检验测试卡的电性能和功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。
作为优选，为了扩大测试覆盖率以确保产品可靠性，按照本发明所公开的测试方法对智能卡进行老化测试，检验智能卡在异常上/下电的过程中是否功能失效或者数据被改写，检验智能卡性能和功能的稳定性。
作为优选，所述步骤(1)具体为：选取电性能和功能正常的样卡，通过读写器在测试样卡的非易失性存储器空间内写数据或者根据用户所需的智能卡的文件结构、数据结构和相关软件保护措施，建立卡片结构，生成测试卡。
作为优选，所述步骤(2)具体为：将智能卡产品与读卡设备的连接从符合ISO7816协议规定的连接方式转换为非标准的连接方式，即VCC、RST、CLK、I/O和GND等信号管脚以随机顺序与读卡设备进行连接。
作为优选，所述步骤(2)具体为：使测试卡片与读卡设备进行间歇性的通讯，在读卡设备一直处于寻卡状态时，插拔卡片的信号管脚。上述测试的过程中，智能卡的五个有效信号管脚随机的与读卡设备进行非标准的接触，从而达到所需要的测试目的。
本发明提出的智能卡测试方法，使测试更加切实的模拟用户使用现场和制造过程，能够提前发现智能卡由于芯片系统可靠性问题而引起的提前失效，避免由于测试覆盖度不够而造成的制造过程成品率的降低和数据异常丢失问题的出现。
附图说明
图1是本发明提出的智能卡的测试方法优选实施流程图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步的详细描述。
本发明优选实施流程图如图所示，包括以下内容：
(1)生成测试卡；
(2)对卡片进行加速老化测试；
(3)测试完成后，检验测试卡的电性能和功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。
作为优选，所述步骤(1)具体为：选取电性能和功能正常的样卡，通过读写器在测试样卡的非易失性存储器空间内写数据(例如除了用户程序以外的区域写全十六进制数“55AA”)或者根据用户所需的智能卡的文件结构、数据结构和相关软件保护措施，建立卡片结构，生成测试卡。为了便于确认测试卡完成老化测试后存储器空间内数据是否发生变化，通过读卡设备读出存储器空间内全部数据，包括用户程序数据，并进行备份；或者在用户程序中实现对存储器数据的异或校验功能，在老化测试前对测试卡的存储器数据进行校验并记录校验值。
作为优选，所述步骤(2)中的加速老化测试为检验智能卡在异常上/下电的过程中是否功能失效或者存储器数据被改写，考核智能卡性能和功能的稳定性，这样扩大了测试覆盖率以确保产品可靠性，避免经过测试的卡在用户的实际使用中出现数据异常丢失的现象。
作为优选，所述步骤(2)具体为使用已有的测试卡与读卡设备通信，并将测试卡与读卡设备的连接方式转换为不符合ISO7816协议的非标准方式。
作为优选，所述步骤(2)中将智能卡产品与读卡设备的连接从符合ISO7816协议规定的方式转换为非标准的连接方式，即VCC、RST、CLK、I/O和GND等信号管脚以随机顺序与读卡设备进行连接，例如将卡片和读卡设备的VCC、RST、CLK、I/O和GND等信号触点转化为DIP形式，这样卡片和读卡设备的VCC、RST、CLK、I/O和GND等信号管脚形成并行的触点，改变了原来的ISO7816协议规定的接触模式。因而插拔卡片转换成DIP形式的VCC、RST、CLK、I/O和GND等信号管脚时，这些管脚以随机顺序与读卡设备的信号触点进行接触，
作为优选，所述步骤(2)中使测试卡片与读卡设备进行间歇性的通讯，使读卡设备一直处于寻卡状态时，插拔卡片的信号管脚。例如卡片和读卡设备的触点转换为DIP形式，将直接插拔DIP插座。
作为优选，所述步骤(3)具体为：测试完成后，检验测试卡的电性能、功能和存储器数据的完整性。首先通过读卡设备对测试卡进行复位，检查卡片的复位应答是否正确；然后读出存储器所有数据，与测试之前备份的数据进行比较，如果测试卡复位应答错误或者存储器数据发生变化，则测试失败；如果测试卡复位应答正确，并且存储器数据完整性良好，则测试成功。
根据本发明中提供的测试智能卡可靠性的方法，可以对智能卡可靠性进行严格地考核，能够提前发现产品由于芯片系统设计不足而引起的制造过程成品率降低的问题，以及克服在使用环境中智能卡的数据易丢失等缺陷。
对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变化，因此所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴，都在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于所述方法，包括以下步骤：
(1)生成测试卡；
(2)通过实施老化测试方法对卡片进行测试；
(3)测试完成后，检验测试卡的电性能和功能，并校验存储器内保存的数据，如果测试卡的功能失效或者存储器数据发生改变，则测试失败，如果功能正常，并且存储器数据未被改写，则测试成功。
2.根据权利要求1所述的一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于对测试卡进行老化测试，检验测试卡在异常上/下电的过程中是否功能失效或者数据被改写，考核测试卡性能和功能的稳定性。
3.根据权利要求1或2所述的一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于，所述步骤(1)具体为：选取电性能和功能正常的样卡，通过读写器在测试样卡的非易失性存储器空间内写数据或者根据用户所需的智能卡的文件结构、数据结构和相关软件保护措施，建立卡片结构，生成测试卡。
4.根据权利要求1或2所述的一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于，所述步骤(2)具体为：将测试卡与读卡设备的连接从符合ISO7816协议规定的连接方式转换为非标准的连接方式，即VCC、RST、CLK、I/O和GND信号管脚以随机顺序与读卡设备进行连接。
5.根据权利要求1或2所述的一种测试智能卡可靠性的方法，其特征在于，所述步骤(2)具体为：使测试卡片与读卡设备进行间歇性的通讯，在读卡设备一直处于寻卡状态时，插拔卡片的信号管脚。
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