CN1042425A

CN1042425A - 光记录介质

Info

Publication number: CN1042425A
Application number: CN89108331A
Authority: CN
Inventors: 樋端久治; 黑岩光之; 美浓田武; 藤堂昭
Original assignee: Mitsui Petrochemical Industries Ltd
Current assignee: Mitsui Chemical Industry Co Ltd
Priority date: 1988-11-01
Filing date: 1989-10-31
Publication date: 1990-05-23
Anticipated expiration: 2004-10-31
Also published as: EP0367588A2; ATE108039T1; CN1042674C; KR930005975B1; DE68916511D1; US4994354A; CA2001769C; CA2001769A1; EP0367588B1; DE68916511T2; EP0367588A3; MY104251A; AU4395889A; AU606298B2; KR900008452A

Abstract

本发明中所揭示的光记录体具有良好的记录感光度以及良好的基片记录层的粘合性，所说的基片由乙烯和环烯烃的无规共聚物组成，并且具有一种特殊的结构。

Description

本发明涉及光记录介质，在这类光记录介质中，相应于信息的凹痕在记录层上形成，而记录层是在基片上由诸如光或热的能量射束照射构成的。

目前有两类光记录介质：一类是要形成物理变形部分，例如通过能量射束照射在记录层某一部位点上形成的孔或凹状点，另一类是要形成在光性能上例如由能量射束照射在记录层某一部位上的折射率和反射率业已改变的部分。

记录层主要由低熔点金属组成，例如至今业已公知作为两类光记当介质的记录层的碲（Te）（日本特开昭第71195/1983号和第9234/1983号）。代表低熔点金属膜的Te薄膜要能在其上形成所要求的物理变形部分或者通过照射很低的能量在光性能上业已改变的部分〔下文通称“凹痕”（pits）]，故它作高感光度材料是极其有用的。本文中所用的感光度是由单位表面积形成凹痕所需的能量（mJ/cm²）来定义。

虽然众所周知，记录层主要由Te构成，但是包含诸如聚碳酸酯树脂基片的一般基片的光记录介质和在其上叠压成层的这些记录层存在着一个记录感光度总是不足的问题。因此，需要提供一些记录感光度得以提高的光记录介质。

另外，包含诸如聚碳酸酯树脂基片的一般基片的光记录介质和在其上叠压成层的主要由Te构成的记录层还有一个基片与记录层的粘合力不够的问题。故而，需要一步脱除用作基片的聚碳酸酯树脂中所含有水。而且，有时还需要一步用等离子处理聚碳酸酯树脂基片的表面，以提高基片与记录层的粘合力。

为了提供记录感光度以及基片与记录层之间的粘合力均得以提高的光记录介质，本发明人进行了深入的研究并且发现，当使用由乙烯和一个环烯烃单元组成的具有特殊结构的无规共聚物作为基片和在其上以特殊的记录层叠压成层时，可以获得记录感光度以及基片与记录层之间的粘合力均佳的光记录介质。本发明人终于在这一发现的基础上完成了本发明。

再有，为了提高其抗氧化性，业已研究了主要包含Te的记录层的组合物与其氧化之间的关系。

例如，含C和H的Te膜以及含Cr的Te膜均已分别申请了日本专利（特公昭第33320/1984号和特开昭第63084/1984号）。

然而，已申请的主要包含Te的记录层其抗氧化性是不足的。

本发明旨在解决上述现有技术中存在的问题，而本发明的目的在于提供记录感光度以及基片与记录层之间的粘合力均佳的光记录介质。

本发明的第一种光记录介质包括一基片和在其上形成的一记录层，其中记录层用能量射束照射，以在其上形成相应于给定信息片的凹痕，从而记录信息片。所说的记录层是主要由Te构成的薄膜，另外还含有Cr、C和H。所说的基片由乙烯和环烯烃单位的一种环烯烃无规共聚物组成，由以下一般式[Ⅰ]表示。

本发明的第二种光记录介质包括一基片和在其上形成的一记录层，其中记录层用能量射束照射，以在其上形成相应于给定信息片的凹痕，从而记录信息片。所说的记录层是主要由Te构成的薄膜，另外还含有Cr、C和H。所说的基片由环烯烃无规共聚物组合物形成，它包括：

[A]一种环烯烃无规共聚物，它包含一乙烯单元和一由以下一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元，并且具有在135℃下萘烷中测定的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，软化温度（TMA）不低于70℃，

[B]一种环烯烃无规共聚物，它包含一乙烯单元和一由以下一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元，并且具有在135℃下萘烷中测定的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，软化温度（TMA）低于70℃，所说的[A]组分与所说的[B]组分的重量比为100/0.1到100/10。

一般式[Ⅰ]中，n为0或正整数，R¹-R¹²可以相同也可以不同，每个代表氢原子、卤原子或烃基，如果R⁹-R¹²结合在一起，则可形成可以任意具有双键或多个双键的单或多环的烃环，或者R⁹和R¹⁰或R¹¹和R¹²结合在一起，则可形成亚烷基。

在无规共聚物的聚合物链中，由一般式[Ⅰ]表示的环烯烃类衍生的单元以重复单元的形式存在，如以下一般式[Ⅱ]表示：

式中：R¹-R¹²以及n如上所限定。

图1为本发明的光记录介质的一实例的剖面示意图;

图2和图3所示为本发明的光记录介质和通常的记录介质之间的功能和效果的差别;

图4为本发明的光记录介质的另一实例的剖面示意图。

图中，10代表光记录介质，11代表基片，12代表记录层，13代表底涂层。

以下，将结合附图对本发明的光记录介质作更详细地说明。

如图1所示，本发明的光记录介质10包括基片11和在其上形成的记录层12。

基片

在本发明的第一种光记录介质10中，基片11由乙烯和由以下一般式[Ⅰ]表示的至少一个环烯烃单元的环烯烃无规共聚物组成，在135℃下萘烷中测定的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，

式中：n为0或正整数，优先采用为不大于3，R¹-R¹²可以相同也可以不同，每个代表氢原子、卤原子或烃基，如果R⁹-R¹²结合在一起，则可以形成可任意具有双键或多个双键的单或多环的烃环，或者R⁹和R¹⁰或R¹¹和R¹²结合在一起，则可形成亚烷基。

在本发明的第二种光记录介质10中，所说的基片11由环烯烃无规共聚物组合物构成，它包括：

[A]一种由一乙烯单元和一由一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元组成的环烯烃无规共聚物，它具有在135℃下萘烷中测定的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，软化温度（TMA）不低于70℃，

[B]一种由乙烯单元和一由一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元组成的环烯烃无规共聚物，它具有在135℃下萘烷中测定的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，软化温度（TMA）低于70℃，所说的组分[A]与所说的组分[B]组分的重量比为100/0.1到100/10。

当组分[A]即共聚物[A]进一步以上述规定的比例与组分[B]即共聚物[B]混合时，则与把记录层12叠合在仅由组分[A]组成的基片11上的情况相比，有可能进一步提高基片11和记录层12之间的粘合力。

本文所用的环烯烃包括诸如由一般式（Ⅰ）表示的以下不饱和单体。

由一般式[Ⅰ]表示的环烯烃可易于用环戊二烯类与由Diels-Alder反应来的合适的烯烃类的缩合反应制备。

由一般式[Ⅰ]表示的环烯烃类的实例包括如表1中所列举的化合物及其衍生物，以及除了1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘之外，八氢化萘类如2-甲基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-乙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-丙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-己基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-硬脂基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2，3-二甲基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-甲基-3-乙基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-氯代-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-溴代-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-氟代-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2，3-二氯代-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-环己基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘、2-正丁基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘以及2-异丁基-1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘。

如上所述，环烯烃无规共聚物含有乙烯单元和环烯烃单元作为主要组分。然而，除了所说的两种主要单元之外，环烯烃无规共聚物可任意地含有其他可共聚的不饱和单体单元，其范围为它们不妨碍本发明的目的的范围。可任意地被共聚的不饱和单体具体地为具有3-20个碳原子的α-烯烃类，例如丙烯、1-丁烯、4-甲基-1-戊烯、1-己烯、1-辛烯、1-癸烯、1-十二碳烯、1-十四碳烯、1-十六碳烯、1-十八碳烯、1-二十碳烯等等。

在构成本发明的第一光记录介质的基片的环烯烃无规共聚物中，由乙烯衍生的重复单元（a）的含量为40-85%（摩尔），优先采用的为50-75%（摩尔），而由环烯烃或环烯烃类衍生的重复单元（b）的含量为15-60%（摩尔），优先采用的为25-50%（摩尔），这些重复单元（a）和（b）在共聚物的直链上基本呈无规排列。重复单元（a）和（b）的摩尔百分比由¹³C-NMR测定。共聚物在135℃下可完全溶于萘烷，这一事实表明，所说的共聚物的化学结构基本上为直链且无胶凝交联结构。

经在135℃下萘烷中测定，共聚物的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，优先的为0.08-5dl/g。

经热力学分析仪测定，共聚物的软化温度（TMA）合乎需要的为至少70℃，优先采用的为90°-250°，较佳的为100°-200℃。

共聚物[A]的软化温度（TMA）通过采用Du Pont公司的热力学分析仪监控1毫米共聚物板的热变形行为来测定。更具体地说，将石英针状体垂直地放置在板上，加载49g，以5℃/分的速度对其加热。把针穿进板的深度为0.635毫米时的温度定为共聚物的软化温度。

共聚物的玻璃化转变温度通常为50-230℃，优先采用的为70°-210℃。

经用X-射线衍射法测定，共聚物的结晶度通常为0-10%，优先采用的为0-7%，较佳的为0-5%。

以下，将更详细地说明第二种光记录介质。

在软化温度（TMA）不小于70℃且包含在构成本发明的第二种光记录介质的基片的环烯烃无规共聚物组合物中的环烯烃无规共聚物[A]中，由乙烯衍生的重复单元（a）的含量为40-85%（摩尔），优先采用的为50-75%（摩尔），而由环烯烃或环烯烃类衍生的重复单元（b）的含量为15-60%（摩尔），优先采用的为25-50%（摩尔），这些重复单元（a）和（b）在共聚物[A]的直链上基本呈无规排列。重复单元（a）和（b）的摩尔百分比由¹³C-NMR测定。共聚物[A]在135℃下可完全溶于萘烷，这一事实表明，所说的共聚物的化学结构基本上为直链且无胶凝交联结构。

经在135℃下萘烷中测定，环烯烃无规共聚物[A]的特性粘度[η]为0.05-10dl/g，优先的为0.08-5dl/g。

经热力学分析仪测定，环烯烃无规共聚物[A]的软化温度（TMA）不小于70℃，优先采用的为90°-250℃，较佳的为100°-200℃。而且，所说的环烯烃无规共聚物[A]的玻璃化转变温度（Tg）通常为50-230℃，优先采用的为70-210℃。

经用X-射线衍射法测定，环烯烃无规共聚物的结晶度指数为0-10%，优先采用的为0-7%，较佳的为0-5%。

在软化温度（TMA）小于70℃且包含在构成本发明的第二种光记录介质的基片的环烯烃无规共聚物的组合物中的环烯烃无规共聚物[B]中，由乙烯衍生的重复单元（a）的含量为60-98%（摩尔），优先采用的为60-95%（摩尔），而由环烯烃或环烯烃类衍生的重复单元（b）的含量为2-40%（摩尔），优先采用的为5-40%（摩尔），这些重复单元（a）和（b）在共聚物[B]的直链上基本呈无规排列。重复单元（a）和（b）的摩尔百分比由¹³C-NMR测定。共聚物[B]在135℃下可完全溶解，这一事实表明，所说的共聚物的化学结构基本上为直链且无胶凝交联结构。

经在135℃下萘烷中测定，共聚物[B]的特性粘度[η]为0.05-5dl/g，优先采用的为0.08-3dl/g。

经热力学分析仪测定，共聚物[B]的软化温度（TMA）小于70℃，优先采用的为-10°-60℃，较佳的为10°-55℃。

共聚物[B]的玻璃化转变温度（Tg）通常为-30-60℃，优先采用的为-20-50℃。

经用X-射线衍射法测定，共聚物[B]的结晶度通常为0-10%，优先采用的为0-7%，较佳的为0-5%。

在用作本发明的第二种光记录介质的基片的环烯烃无规共聚物组合物中，共聚物[A]与共聚物[B]的重量比为100/0.1到100/10，优先采用的为100/0.3到100.7，较佳的为100/0.5到100/5。当共聚物[A]以上述限定的比与共聚物[B]混合时，在恶劣的条件下可以获得基片和记录层之间的良好的粘合，而保持基片本身的良好透明度和表面光滑度。此外，由包括共聚物[A]和共聚物[B]的环烯烃无规共聚物组合物构成的基片的优点是，本发明中所用的基片和记录层之间的良好粘合甚至在记录介质处于高温和潮湿的条件下仍不变坏。

构成本发明基片的环烯烃无规共聚物组合物的环烯烃无规共聚物和环烯烃无规共聚物[A]及[B]可以通过选择合适的条件来制备，制备它们的条件，可参照本申请人在日本特开昭第168708/1985号、第120816/1986号、第115912/1986号、第115916/1986号、第95905/1986号、第95906/1986号、第271308/1986号以及第272216/1986号中所提出的方法。

此外，本发明的光盘的基片可以由具有由环烯烃单体[Ⅰ]的开环作用而形成的一般式[Ⅲ]的重复单元的聚合物或者由具有由单元[Ⅲ]氢化而形成的一般式[Ⅳ]的重复单元的聚合物构成。

在一般式[Ⅲ]或[Ⅳ]中，n为R¹-R¹²如上所限定。

环烯烃无规共聚物或者环烯烃无规共聚物组合物可以与热稳定剂、老化稳定剂、抗静电剂、滑移剂、防粘剂、防雾剂、润滑剂、染料、颜料、天然油、合成油、蜡等等混合，并且它们的添加量适量。例如，可以任意混合的稳定剂具体包括酚类抗氧化剂，如四[亚甲基-3-（3，5-二-叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷、β-3-（3，5-二-叔丁基-4-羟苯基）丙酸烷基酯（具体地优先先用18C或低级烷基酯）、2，2′-草酰胺基双[乙基-3-（3，5-二-叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯等等，脂肪酸的金属盐类，如硬脂酸锌、硬脂酸钙、12-羟基硬脂酸钙等以及多元醇的脂肪酸酯类，如甘油-硬脂酸酯、甘油-月桂酸酯、甘油二硬脂酸酯、季戊四醇二硬脂酸酯、季戊四醇三硬脂酸酯等。这些化合物可以单独或者混合加入到共聚物或者共聚物组合物中。例如，可以用一种四[亚甲基-3-（3，5-二-叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷与硬脂酸锌和甘油-硬脂酸酯的混合物以及一些类似的混合物。

本发明优先选用酚类抗氧化剂与多元醇的脂肪酸酯的一些混合物。优先选用的多元醇的脂肪酸酯类为其中三元或多元醇的醇式羟基部分被酯化。

这些多元醇脂肪酸酯类的实例具体包括甘油脂肪酸酯，如甘油-硬脂酸酯、甘油-月桂酸酯、甘油-十四酸酯、甘油-十六酸酯、甘油二硬脂酸酯、甘油二月桂酸酯等以及季戊四醇的脂肪酸酯，如季戊四醇-硬脂酸酯、季戊四醇-月桂酸酯、季戊四醇二硬脂酸酯、季戊四醇二月桂酸酯、季戊四醇三硬脂酸酯等。

酚类抗氧化剂的用量为0.01-10份（重量），优先采用的为0.05-3份（重量），较佳的为0.1-1份（重量）（按环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物组合物的量计）。多元醇的脂肪酸酯的用量为0.01-10份（重量），优先采用的为0.05-3份（重量）（按环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物组合物的量计）。

在本发明的光记录介质中，环烯烃无规共聚物或者环烯烃无规共聚物组合物均用作基片11。虽然迄今还不知道产生这些意想不到效果的原因，但是本发明的光记录介质在记录感光度上是优于把聚碳酸酯或聚（甲基异丁烯酸酯）用作基片的通常光记录介质的。

由环烯烃无规共聚物或者环烯烃无规共聚物组合物构成的基片11与记录层12的粘合是良好的。因此，记录层具有良好的长期稳定性，可以有效地防止其被氧化。

故而，包含由环烯烃无规共聚物或环烯烃无规共聚物组合物构成的基片11以及在其上叠合的记录层12的光记录介质具有良好的记录感光度以及耐用性和长期稳定性。而且，本发明的光记录介质既不会引起翘曲，也不会引起开裂。

记录层

本发明的记录层12是一种主要由Te组成且另外还含有至少Cr、C和H的薄膜。记录层可以含有除Te之外的低熔点元素或其他组分。可以在记录层12中添加的元素除了Te以外包括诸如Ti、Mn、Ni、Zr、Nb、Ta、Al、Pt、Sb、Ge、Ag、Sm、Bi、In、Se、Pb、Co、Si、Pd、Sn、Zn等等。

Cr在记录层12中的含量为0.1-40%（原子），优先采用的为0.5-10%（原子），特别好的为1-4%（原子）（按记录层中存在的总原子计），或者为0.1-40%（原子），优先采用的为0.5-10%（原子），特别好的为1-4%（原子）（按记当层中存在的Te和Cr原子总数计）。通过把上述范围内的Cr原子加入到记录层中，有可能在不降低记录感光度或者在某些时候还会提高记录感光度的情况下提高所说记录层12的抗氧化性。

从提高记录层的记录感光度和使用寿命来看，则要求记录层12中的C含量小于40%（原子），优先采用的为3-20%（原子）（按记录层中存在的总原子计），或者小于40%（原子），优先采用的为3-20%（原子）（按记录层中存在的Te、Cr和C的总原子数计）。通过把上述范围内的C原子加入到记录层中，则可提高记录层的记录感光度和记录裕度。

从延长使用寿命来看，则要求记录层12中的H含量为1-40%（原子），优先采用的为3-25%（原子）（按记录层中存在的总原子计）。

记录层12中所含有元素量如金属元素象Te和Cr由ICP发射分光分析（induced coupled plasma emission spectrometry）测定。C含量由X-射线光电分光光谱法（ESCA）测定，H含量由有机元素分析测定。

对于把信息记录在具有上述组合物的记录层12来说，可以通过用能量射束，例如按照待记录的信息片调制激光束（开或关）照射记录层，再在记录层的照射部分上形成相应的凹痕，来实现给定信息片的所要求的记录。凹痕可以是由物理方式变形成的，如孔或凹点，或者可以是记录层的部分，其中光性能如折射率和反射率受能量射束照射业已被改变。

上述的记录层12的厚度必须厚到这样的程度，以致于获得足够的光反射率，同时还必须薄到这样的程度，以致于不损失感光度。具体来说，当在记录层12上形成以物理方式变形的部分如孔时，则记录层的膜厚度为大约100 -1μm，优先采用的为100-5000

，较佳的为150-700 。当在记录层12上形成其中光性能如折射率或反射率业已改变的部分，则记录层的膜厚度为大约100

-1μm，优先采用的为100-5000

，较佳的为200-2000

。

可以通过以下方法，在基片11上形成记录层12。

通过用Te-Cr合金作为靶子或者在含C和H的有机气体和CH₄或C₂H₂气与Ar气的混合气体中施用磁控管溅射的Te和Cr分别排列的靶子，可以使由含有C和H的Te-Cr合金薄膜构成的记录层12在基片11上形成。通过使以等离子形式的CH₄、Te和Cr的蒸气沉积而不用溅射，也可以使用含有C和H的Te-Cr合金薄膜构成的记录层12在基片11上形成。还可通过蒸气相生长或者等离子蒸气相生长，使记录层12在基片11上形成。此外，还可用其他的一些方法，使部分或全部Te、Cr、C和H原子离子化成束状并使之积聚在基片上。

在同时溅射Te和Cr时通过控制分别施加于Te和Cr的电压以及在应用一种合金靶子时通过改变合金组分，可以自由地控制由含有C的H的Te-Cr合金薄膜构成的记录层12的Te与Cr的原子含量比。

通过CH₄的Ar的混合比或者施加最好为高频电源，可以任意地控制在由Te-Cr合金薄膜构成的记录层12中的C的H的含量。记录层中H的最合适的含量将根据C含量确定。只要记录层中和H含量不高到氢气（H₂）放出，可以任意地选择H含量。此外，由于薄膜厚度与溅射时间成比例，故而“薄膜厚度”可易于控制。

由此形成的由含有C和H的Te-Cr合金薄膜构成的记录层12的光特性如折射率和消光系数随C和H的含量变化而变化。因此，薄膜厚度要根据用于记录信息的记录层的所要求的光特性来确定。

与仅用一种低熔点金属如Te所构成的记录层相比，上述记录层12在抗氧化性和记录感光度方面业已得到显著的提高。

例如，实验证实，当主要由Te组成且另外含有Cr、C和H的记录层长期置于高温和潮湿和条件下时，随着Cr含量的增加，记录层的反射率的变化会越来越小。因此，与仅由Te组成的记录层相比，本发明的记录层的抗氧化性得到提高。

实验还证实，本发明的记录层需要较小的记录能量输出且具有良好和记录感光度。

此外，如图2中曲线A所示，本发明的光记录介质在复制过程中对记录能量输出的瞬间电压波动的C/N比几乎不变，并且如图2中曲线B所示，与包括含有C和H的Te记录层的通常光记录介质相比，具有宽的记录裕度。除此之外，如图3中曲线B所示，与包括含有C和H的Te记录层的通常光记录介质相比，本发明的光记录介质在经过的时间中反射比几乎不变。以下表3将清楚地说明这种提高。

本发明在以上述的方法使记录层12在基片上形成之后，可以在含有惰性气体、还原性气体或氧的气体气氛中单独对记录层12或者与基片11一起进行热处理。热处理的温度必须低于记录层中所含和Te的熔点，优先采用的为70-300℃，特别是90-150℃。热处理时间至少为5秒，优先采用的为5秒-10小时，较佳的为5分钟-2小时。

由于在以上述的方法使所说的记录层在基片11上形成之后记录层12单独或与基片11一起热处理，故而记录层的记录感光度得以提高且记录裕度得以扩大。人们认为，这是由于热处理使记录层结晶到一定程度之故。

本发明并不限于图1所示的实施例，但是应当认为，在本发明的精神和范围内可以作出各种变换和改型。

例如，如图4所示，可以把底涂层13置于基片11和记录层12之间。底涂层包括诸如氟化镁（MgF₂）那样的氟化物的膜，如氧化硅（SiO₂，SiO）或者四氮化三硅（Si₃O₄）那样的硅化合物的膜，由Ti、Ni、Cr或Ni-Cr组成的金属膜，如聚四氟乙烯（PTFE）那样的氟取代的烃类化合物的膜和（或）其聚合物膜以及Cr-C-H膜（含有Cr、C和H的膜）。底涂层的膜厚一般为10-1000

，优先采用的为50-500

，虽然膜厚可随用于底涂层的材料的变化而变化。根据上述的膜厚度，以上所列举的这些底涂层均可保持其透明度，同时可以显示作为底涂层的各种持性。

如上所述，以与在用磁控管溅射、蒸气相生长、等离子蒸气相生长、真空蒸发或者旋转涂敷法形成记录层12的情况相同的方法，使底涂层13在基片11的表面上形成。

把上述的底涂层置于基片11和决录层12之间则使记录感光度进一步提高并且在某些情况下使其记录裕度进一步扩大。

以上述的方法通过把记录层12叠合在基片11上所得到的光记录介质具有特别良好的记录感光度并且有时具有扩大的记录裕度。

而且，如图1和图4所示，本发明可使表层在光记录介质10的记录层12的表面上形成。用于形成表层的材料包括用于记录层的元素、氧化物、氮化物以及Si、Ti的金属等。表层的薄膜厚度为5-100 ，优先采用的为10-50 ，虽然薄膜厚度可随用于形成表层的材料的变化而变化。

本发明的光记录介质具有这样一种结构，记录层主要由Te组成且另外含有Cr、C和H，记录层叠合在由乙烯-环烯烃无规共聚物构成的基片上。故而，它们具有良好的基片与记录层的粘合性能和具有良好的抗氧化性能及记录性能的长期稳定性。

此外，记录层的记录感光度得以提高，记录裕度得以扩大。

本发明的用作基片材料的共聚物的吸水值小于普通的树脂如聚碳酸酯树脂的值。故而，由所说的共聚物构成的基片在溅射之前仅仅需要大约由聚碳酸酯树脂构成的基片所需的一半抽真空时间。因此，将大大提高本发明的盘片的生产率。

以下，将结合实施例对本发明作详细地说明，但应当认为，本发明不限于这些实施例。

实施例1

真空容器抽真空之后，将Ar气和CH₄气充入该容器中，容器中的内部压力保持在6×10^-3Torr（Ar/CH气体流量比＝9/1）。在容器中，用Te和Cr作为靶子，同时溅射，调节施加到每个靶子上的电压和控制溅射时间，以获得由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的记录层，其在由乙烯和1，4，5，8-二甲桥-1，2，3，4，4a，5，8，8a-八氢化萘（化学结构式：

下文缩写为DMON）的非结晶性共聚物构成的光盘基片（下文称之为PO（1）基片）上的薄膜厚度为240A，从而获得一种光记录介质。经由¹³C-NMR分析测定，所说的共聚物的乙烯单元为59%（摩尔），DMON单元为41%（摩尔）。经在135℃下萘烷中测定，其特性粘度[η]为0.42dl/g，软化温度（TMA）为154℃。

实施例2

除了调节薄膜厚度到290

之外，重复实施例1的方法，得到一种在PO（1）基片上由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的记录层。

实施例3和4

使由实施例1和2分别得到的光记录介质各自在N₂气氛中100℃温度下热处理20分钟。

实施例5

除了使用Te₉₇Cr₃合金靶之外，采用Ar/CH气体流量比＝9/1，重复实施例1的方法，得到由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的一种记录层，其在PO（1）基片上的薄膜厚度为230

。使由此得到的光记录介质在N₂气氛中100℃温度下热处理20分钟。

实施例6

真空容器抽真空之后，将Ar气和CH₄气充入该容器中，容器中的内部压力保持在6×10^-3Torr（Ar/CH₄气体量比＝9/1）。在容器中，用Te和Cr作为靶子，同时溅射，调节施加到每个靶子上的电压和控制溅射时间，以得到在PO（1）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr和C在所说记录层中的原子比由一般式表示：（Te_98.8Cr_1-2）₉₆C₄，其薄膜厚度为240

。

实施例7

除了调节薄膜厚度到290

之外，重复实施例6的方法，得到在PO（1）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所说的记录层中的原子比由一般式表示：（Te₉₈Cr₂）₉₆C₄。

实施例8

除了调节薄膜厚到260

之外，重复实施例6的方法，得到在PO（1）基片上包含Te Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_96.8Cr_3.2）₉₆C₄。

实施例9

除了调节薄膜厚度到230

之外，重复实施例6的方法，得到在PO（1）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te₉₂Cr₈）₉₈C₂。

实施例10

除了采用Te₉₇Cr₇合金靶子和调节薄膜厚度到230

之外，重复实施例6的方法，得到在PO（1）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_97.5Cr_2.5）₉₆C。

实施例11

除了采用Te₉₄Cr₆合金靶和调节薄膜厚度到250

之外，重复实施例6的之法，得到在PO（1）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_95.1Cr_4.9）₉₈C₂。

实施例12-17

使由实施例6-11分别得到的光记录介质各自在N₂气氛中100℃温度下热处理20分钟。

对照实施例1

由环烯烃无规共聚物组合物构成的基片的制备

（ⅰ）聚合实施例1

软化温度不低于70℃的共聚物（A）的合成

用一装有搅拌叶片的2升玻璃聚合反应器，连续地进行乙烯和DMON之间的共聚反应。也就是说，连续地将DMON在环己烷中的溶液（使聚合反应器中的DMON浓度达60g/l）、作为催化剂的VO（OC₂H₅）Cl₂在环己烷中的溶液（使聚合反应器中的钒浓度达0.9毫摩尔）以及倍半氯化乙基铝[Al（C₂H₅）_1.5Cl_1.5]在环己烷中的溶液（使聚合反应器中的钒浓度达7.2毫摩尔/升）加入到聚合反应器中，同时，连续地从聚合反应器的底部抽出聚合液，使聚合反应器中的聚合液的容积保持为1升。同时，从聚合反应器的顶部以85升/小时的速率将乙烯，以6升/小时速率将氢以及以45升/小时的速率将氮供入聚合反应器中。通过使制冷剂经固定在聚合反应器外部的夹套循环，在10℃下进行共聚反应。

在上述的条件进行共聚作用，随后得到含有乙烯/DMON无规共聚物的聚合反应混合物。通过把少量异丙醇添加到从反应器的底部抽出的聚合液中使聚合反应停止。尔后，将聚合液倒入含有大约三倍于聚合液体积的丙酮的家用混合器中，同时起动混合器，从而使所得共聚物沉积。过滤收集沉积共聚物，再分散在丙酮中，使聚合物的浓度达到大约50g/l并在丙酮的沸点下处理该共聚物2小时。上述处理之后，过滤收集共聚物并在减压条件下于120℃干燥过夜（12小时）。

经由¹³C-NMR分析测定，所得乙烯DMON-无规共聚物（A）的乙烯单元为59%（摩尔）。经在135℃下萘烷中测定，特性粘度[η]为0.42dl/g，软化温度（TMA）为154℃。

（ⅱ）聚合实施例2

软化温度小于70℃的共聚物（B）的合成

除了将DMON、VO（OC₂H₅）Cl₂及倍半氯化乙基铝加入到聚合反应器中，使聚合反应器中的DMON、VO（OC₂H₅）Cl₂及倍半氯化乙基铝的浓度分别达23g/l、0.7mmol/l及5.6mmol/l以及分别以140升/小时、13升/小时和25升/小时的速率将乙烯、氢和氮供入聚合反应器中和聚合温度为10℃之外，进行与聚合实施例（1）中相同的聚合反应。共聚反应完成之后，如聚合实施例（1）那样，使所得的共聚物沉积、收集且在减压条件下于180℃干燥12小时。

经由¹³C-NMR分析测定，所得的乙烯DMON共聚物（B）的乙烯单元含量为89%（摩尔）。经在135℃下萘烷中测定，特性粘度[η]为0.44dl/g，软化温度（TMA）为39℃。

（ⅲ）由环烯烃无规共聚物组合物构成的基片的制备

将400g在聚合实施例（ⅰ）中制备的共聚物（A）和4g在聚合实施例（ⅱ）中制备的共聚物（B）（A/B＝100/1（重量）]加入到8升环己烷中且在大约50℃下溶解，同时充分地搅拌，得到一种均匀的溶液。将由此得到的均匀溶液倒在24升丙酮中，沉积一种（A）/（B）混合物。在减压条件下于120℃使由此得到的混合物干燥过夜。

使由此所得的（A）/（B）混合物与0.5%四[亚甲基-3-（3，5-二-叔丁基-4-羟苯基）丙酸酯]甲烷、0.05%硬酯酸锌以及0.5%作为稳定剂的甘油-硬脂酸酯混合（每种数量均按共聚物（A）和（B）的总重量计）。在23℃下，用φ20mm挤出机（L/D＝20）将所得混合物造粒，再用注塑成型机模塑成φ130mm，厚度1.2mm光盘基片（下文称之PO（2）基片）。

实施例18

真空容器抽真空之后，将Ar气和CH₄气充入该容器中，容器中的内部压力保持在6×10^-3Torr（Ar/CH₄气体流量比＝9/1）。在容器中，用Te和Cr作为靶子，同时溅射，调节施加到每个靶子上的电压和控制溅射时间，以获得由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的记录层，其在由对照实施例1中所得的环烯烃无规共聚物组合物构成的PO（2）基片上的薄膜厚度为240 ，从而得到一种光记录介质。

实施例19

除了调节薄膜厚度到290 之外，重复实施例18的方法，得到一种在PO（2）基片上由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的记录层。

实施例20和21

使由实施例18和19分别得到的光记录介质各自在N₂气氛中100℃温度下热处理20分钟。

实施例22

除了使用Te₉₇Cr₃合金靶之外，采用Ar/CH₄气体流量比＝9/1，重复实施例18的方法，得到由Te₈₇Cr₂C₄H₇构成的一种记录层，其在PO（2）基片上的薄膜厚度为230

。

实施例23

真空容器抽真空之后，将Ar气和CH₄气充入该容器中，容器中的内部压力保持在6×10^-3Torr（Ar/CH₄气体流量比＝9/1）。在容器中，用Te和Cr作为靶子，同时溅射，调节施加到每个靶子上的电压和控制溅射时间，以得到在PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_98.8Cr_1.2）₉₆C₄，其薄膜厚度为240

。

实施例24

除了调节薄膜厚度到290

之外，重复实施例23的方法，得到PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te₉₈Cr₂）₉₆C₄。

实施例25

除了调节薄膜厚度到260

之外，重复实施例23的方法，得到PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_96.8Cr_3.2）₉₆C₄。

实施例26

除了调节薄膜厚度达230

之外，重复实施例23的方法，得到PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te₉₂Cr₈）₉₈C₂。

实施例27

除了采用Te₉₄Cr₆合金靶子和调节薄膜厚度到230

之外，重复实施例23的方法，得到PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_97.5Cr_2.5）₉₆C₄。

实施例28

除了采用Te₉₄Cr₆合金靶子和调节薄膜厚度到250 之外，重复实施例23的方法，得到在PO（2）基片上包含Te、Cr、C和H的记录层，Te、Cr、和C在所述的记录层中的原子比由一般式表示：（Te_95.1Cr_4.9）₉₈C₂。

实施例29-34

使由实施例23-28分别得到的光记录介质各自在N₂气氛中100℃温度下热处理20分钟。

试验结果

（1）使光记录介质的盘片以1800rpm旋转且用频率为3.7MHz的激光束照射，以检验记录性能。本文所用的C/Nmax表示激光功率变化时C/N的最大值。记录感光度表示CNmax×0.9＜C/N达到时激光功率的最小值，裕度量表示C/Nmax×0.9＜C/N达到时激光功率的范围。

试验结果示于表2

表2

C/Nmax（dB）记录感光度（mW）裕度（mW）

实施例1 50 6.3 0.8

实施例2 51 7.0 0.5

实施例3 55.5 5.8 2.2

实施例4 56 6.6 1.4

实施例5 55.5 5.9 2.1

实施例6 51 6.5 0.5

实施例7 51 7.0 0.5

实施例8 52.5 6.4 0.6

实施例9 54 6.0 2.0

实施例10 53.5 6.1 1.3

实施例11 53 6.6 0.9

实施例12 55.5 5.8 2.2

实施例13 56 6.6 1.4

实施例14 55 6.4 2.1

实施例15 49 6.6 2.7

实施例16 55.5 5.9 2.6

实施例17 52.5 6.7 1.9

实施例18 50 6.3 0.8

实施例19 51 7.0 0.5

实施例20 55.5 5.8 2.2

实施例21 56 6.6 1.4

实施例22 55.5 5.9 2.1

实施例23 51 6.5 0.5

实施例24 51 7.0 0.5

实施例25 52.5 6.4 0.6

实施例26 54 6.0 2.0

实施例27 53.5 6.1 1.3

实施例28 53 6.6 0.9

实施例29 55.5 5.8 2.2

实施例30 56 6.6 1.4

实施例31 55 6.4 2.1

实施例32 49 6.6 2.7

实施例33 55.5 5.9 2.6

实施例34 52.5 6.7 1.9

（2）使光记录介质的盘片处于70℃和85%RH的环境中之后所测定的反射率R与原始反射率Ro相比较，以检验反射率波动百分数。

试验结果示于表3

表3

反射率波动百分数

（Ro-R）×100/Ro

实施例3 2%

实施例12 2%

实施例20 2%

实施例29 2%

对基片与记录层之间的粘合的评定

用以下的方法，对基片与实施例子3和20中所得的每一种光记录介质的记录层之间的粘合进行评定。其结果示于表4。

粘合试验

划格法附着力试验（JIS.K5400）

借助于切割刀，在记录层上，以长度和宽度的每个方向，间隔1mm，且相互成直角地划11条平行线。切片呈棋盘式的正方形，每1平方厘米有100个正方形。用玻璃纸带（一种Nichiban的产品）作剥离评定。

评定

（1）在形成记录层之后立即评定

（2）在80℃和85%RH环境下经过100小时之后评定。

表4

基片	光记录层	划格法附着力
				在形成记录层之后立即评定	在80℃／85％RH下经过100小时后评定
		实施例3实施例20	PO（1）基片PO（2）基片			Te₈₇ Cr₂ C₄H₇Te₈₇ Cr₂ C₄H₇	100／100＊未被剥离100／100＊未被剥离	－100／100＊未被剥离

＊100/100表示在100个正方形切片中，未被剥离的正方形切片数为100个。

Claims

1、一种光记录介质，包括基片和在其上形成的记录层，其特征在于所说的记录层用能量射束照射，以在其上形成相应于给定的信息片的凹痕，从而记录信息片，所说的记录层为一种主要由Te构成且另外含有Cr、C和H的薄膜，所说的基片包括由乙烯单元组成的环烯烃无规共聚物

式中：n为0或正整数，R¹-R¹²可以是相同的，也可以是不同的，各自代表氢原子、卤原子或者烃基，如果R⁹-R¹²结合在一起可形成可以任意地具有双键或多个双键的一种单环或多环的烃环，或者R⁹和R¹⁰或R¹¹和R¹²结合在一起可形成一亚烷基。

2、根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于所说的基片包含软化温度（TMA）不小于70℃的环烯烃无规共聚物。

3、根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层中Cr的含量为0.1-40%（原子）（按记录层中存在总原子计）。

4、根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层中C的含量为小于40%（原子）（按记录层中存在的总原子计）。

5、根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层中H的含量为1-40%（原子）（按记录层中存在的总原子计）。

6、根据权利要求1所述的光记录介质，其特征在于记录层的薄膜厚度为100

-1μm。

7、一种光记录介质，包括基片和在其上形成的记录层，其特征在于所说有记录层用能量射束照射，以在其上形成相应于给定的信息片的凹痕，从而记录信息片，所说的记录层为一种主要由Te构成且另外含有Cr、C和H的薄膜，所说的基片由包括以下共聚物的环烯烃无规共聚物组合物组成

[A]一种环烯烃无规共聚物，它由乙烯单元和自以下一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元构成，经在1350℃下萘烷中测定，其特性粘度[η]为0.05-10dl/g，软化温度（TMA）为小于70℃，

[B]一种环烯烃无规共聚物，它由乙烯单元和自以下一般式[Ⅰ]衍生的环烯烃单元构成，经在135℃下萘烷中测定，其特性粘度为0.05-5dl/g，软化温度（TMA）小于70℃，组分[A]与组分[B]的重量比为100/0.1-100/10，

式中：n为0或正整数，R¹-R¹²可以相同，也可以不同，各自代表氢原子、卤原子或烃基，如果R⁹-R¹²结合在一起，可以形成可以任意地具有双键或多个双键的一种单环或多环的烃环，或者R⁹和R¹⁰或R¹¹和R¹²结合在一起可形成一亚烷基。

8、根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于记录层中Cr的含量为0.1-40%（原子）（按记录层中存在的总原子计）。

9、根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于记录层中C的含量为小于40%（原子）（按记录层中存在总原子计）。

10、根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于记录层中H的含量为1-40%（原子）（按记录层中存在总原子计）。

11、根据权利要求7所述的光记录介质，其特征在于记录层的薄膜厚度为100

-1μm。