CN108572178A - 一种高精密高稳定性探测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种高精密高稳定性探测方法,包括以下步骤:步骤1,高清图像获取;步骤2,图像灰度对比;步骤3,确定缺陷区域;步骤4,获取缺陷区域的三维信息。本发明方法能够实现对待测物的自动化检测和智能识别,提高了传统工业加工领域的生产效率和产品的质量水平,从而促进智能加工行业的快速发展。本发明具有检测效率和检测精度高,缺陷识别率好,对设备的要求低、误差小的特点。

Description

一种高精密高稳定性探测方法
技术领域
本发明涉及产品检测加工装置领域,特别涉及一种高精密高稳定性探测方法。
背景技术
工件在进行切削、雕刻、塑变成形等机械加工后,需要对加工完成后的工件进行检测,以确定其加工质量。基于机器视觉的表面缺陷自动检测是确保自动化生产中工件质量的一个非常重要的环节。近几年来基于机器视觉的表面检测技术取得了重大进步,并且出现了一些新的研究热点,如瓶盖表面检测、苹果外观缺陷在线检测、凸轮轴表面缺陷检测、油封缺陷检测、金属表面划痕深度检测、钢带表面凹坑检测、轮胎表面缺陷检测、大尺寸钢球表面缺陷检测、大口径精密光学元件质量检测、铸坯表面缺陷检测、轴尖表面缺陷检测、多晶硅太阳能电池表面检测、铁路表面缺陷检测、铜带表面缺陷检测和电池表面缺陷检测等。虽然目前在表面缺陷检测方面已取得很大进步,但是在检测的精度和效率方面还有待提升。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种高精密高稳定性探测方法,通过图像灰度对比锁定缺陷区域,然后再得出缺陷区域的三维探测信息,解决了现有的检测方法存在检测精度差,检测效率低的问题。
为达到上述目的,本发明的技术方案如下:一种高精密高稳定性探测方法,包括以下步骤:
步骤1,高清图像获取;通过CCD相机对待测物进行拍摄,获得高清图像;
步骤2,图像灰度对比;根据高清图像的像素确定对比点,获取每个对比点的灰度值,并与标准图像进行对比,获得灰度异常对比点集合;
步骤3,确定缺陷区域;根据需检测的精度,确定单元区域的大小,单元区域由MxN个点的对比点组成,将高清图像划分成阵列分布的多个单元区域;去除灰度异常对比点集合中的孤立对比点,得到缺陷区域;
步骤4,获取缺陷区域的三维信息;提取高清图像的深度信息,从而获得待测物缺陷区域的表面高度信息,结合缺陷区域的坐标信息,得到待测物的表面三维缺陷信息。
作为本发明的一种优选方案,步骤1中通过平行光源对待测物表面进行倾斜照射。
作为本发明的一种优选方案,步骤4中通过CCD相机与平行光源、待测物三者的三角关系,根据投射光栅形变量,计算待物体表面高度信息。
作为本发明的一种优选方案,步骤3中在灰度异常对比点中,满足以下条件之一的即为孤立对比点:
1)以待判定的灰度异常对比点为中心的3x3对比点阵列内,周围相邻的8个对比点中无相邻灰度异常对比点;
2)以待判定的灰度异常对比点为中心的5x5对比点阵列内,灰度异常对比点的总数小于9。
作为本发明的一种优选方案,步骤3中所述单元区域的M≥5、N≥5;所述单元区域中去除孤立点后灰度异常对比点数量≥9,则为缺陷区域。
作为本发明的一种优选方案,步骤1中对CCD相机拍摄的高清图像进行减噪、滤波处理。
作为本发明的一种优选方案,所述平行光源为激光源和透镜组合;通过激光源和透镜组合形成线宽在300um-500um的平行条形激光,以一定的入射角投射到待测物表面。
通过上述技术方案,本发明技术方案的有益效果是:本发明方法能够实现对待测物的自动化检测和智能识别,提高了传统工业加工领域的生产效率和产品的质量水平,从而促进智能加工行业的快速发展。本发明具有检测效率和检测精度高,缺陷识别率好,对设备的要求低、误差小的特点。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
一种高精密高稳定性探测方法,包括以下步骤:
步骤1,高清图像获取;通过平行光源对待测物表面进行倾斜照射,然后使用CCD相机对待测物进行拍摄,获得高清图像;
步骤2,图像灰度对比;根据高清图像的像素确定对比点,获取每个对比点的灰度值,并与标准图像进行对比,获得灰度异常对比点集合;
步骤3,确定缺陷区域;根据需检测的精度,确定单元区域的大小,单元区域由MxN个点的对比点组成,将高清图像划分成阵列分布的多个单元区域;去除灰度异常对比点集合中的孤立对比点,得到缺陷区域;
步骤4,获取缺陷区域的三维信息;提取高清图像的深度信息,从而获得待测物缺陷区域的表面高度信息,具体的,通过CCD相机与平行光源、待测物三者的三角关系,根据投射光栅形变量,计算待物体表面高度信息,结合缺陷区域的坐标信息,得到待测物的表面三维缺陷信息。
实施例2
一种高精密高稳定性探测方法,对待测物进行探测,包括以下步骤:
步骤1,高清图像获取;采用激光源和透镜组合作为平行光源;通过激光源和透镜组合形成线宽在300um-500um的平行条形激光,以30-60°的入射角投射到待测物表面,然后使用CCD相机对待测物进行拍摄,获得高清图像,并进行减噪、滤波处理。
步骤2,图像灰度对比;根据高清图像的像素确定对比点,获取每个对比点的灰度值,并与标准图像进行对比,获得灰度异常对比点集合。
步骤3,确定缺陷区域;根据需检测的精度,确定单元区域的大小,单元区域由7x7个点的对比点组成,将高清图像划分成阵列分布的多个单元区域;去除灰度异常对比点集合中的孤立对比点,得到缺陷区域;其中在灰度异常对比点中,满足以下条件之一的即为孤立对比点:1)以待判定的灰度异常对比点为中心的3x3对比点阵列内,周围相邻的8个对比点中无相邻灰度异常对比点;2)以待判定的灰度异常对比点为中心的5x5对比点阵列内,灰度异常对比点的总数小于9。单元区域中去除孤立点后灰度异常对比点数量≥9,则为缺陷区域。
步骤4,获取缺陷区域的三维信息;提取高清图像的深度信息,从而获得待测物缺陷区域的表面高度信息,具体的,通过CCD相机与平行光源、待测物三者的三角关系,根据投射光栅形变量,计算待物体表面高度信息,结合缺陷区域的坐标信息,得到待测物的表面三维缺陷信息。
实施例3
一种高精密高稳定性探测方法,对待测物进行探测,包括以下步骤:
步骤1,高清图像获取;采用激光源和透镜组合作为平行光源;通过激光源和透镜组合形成线宽在300um的平行条形激光,以45°的入射角投射到待测物表面,然后使用CCD相机对待测物进行拍摄,获得高清图像,并进行减噪、滤波处理。
步骤2,图像灰度对比;根据高清图像的像素确定对比点,获取每个对比点的灰度值,并与标准图像进行对比,获得灰度异常对比点集合。
步骤3,确定缺陷区域;根据需检测的精度,确定单元区域的大小,单元区域由5x5个点的对比点组成,将高清图像划分成阵列分布的多个单元区域;去除灰度异常对比点集合中的孤立对比点,得到缺陷区域;其中在灰度异常对比点中,满足以下条件之一的即为孤立对比点:1)以待判定的灰度异常对比点为中心的3x3对比点阵列内,周围相邻的8个对比点中无相邻灰度异常对比点;2)以待判定的灰度异常对比点为中心的5x5对比点阵列内,灰度异常对比点的总数小于9。单元区域中去除孤立点后灰度异常对比点数量≥9,则为缺陷区域。
步骤4,获取缺陷区域的三维信息;提取高清图像的深度信息,从而获得待测物缺陷区域的表面高度信息,具体的,通过CCD相机与平行光源、待测物三者的三角关系,根据投射光栅形变量,计算待物体表面高度信息,结合缺陷区域的坐标信息,得到待测物的表面三维缺陷信息。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种高精密高稳定性探测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,高清图像获取;通过CCD相机对待测物进行拍摄,获得高清图像;
步骤2,图像灰度对比;根据高清图像的像素确定对比点,获取每个对比点的灰度值,并与标准图像进行对比,获得灰度异常对比点集合;
步骤3,确定缺陷区域;根据需检测的精度,确定单元区域的大小,单元区域由MxN个点的对比点组成,将高清图像划分成阵列分布的多个单元区域;去除灰度异常对比点集合中的孤立对比点,得到缺陷区域;
步骤4,获取缺陷区域的三维信息;提取高清图像的深度信息,从而获得待测物缺陷区域的表面高度信息,结合缺陷区域的坐标信息,得到待测物的表面三维缺陷信息。
2.根据权利要求1所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,步骤1中通过平行光源对待测物表面进行倾斜照射。
3.根据权利要求2所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,步骤4中通过CCD相机与平行光源、待测物三者的三角关系,根据投射光栅形变量,计算待物体表面高度信息。
4.根据权利要求3所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,步骤3中在灰度异常对比点中,满足以下条件之一的即为孤立对比点:
1)以待判定的灰度异常对比点为中心的3x3对比点阵列内,周围相邻的8个对比点中无相邻灰度异常对比点;
2)以待判定的灰度异常对比点为中心的5x5对比点阵列内,灰度异常对比点的总数小于9。
5.根据权利要求4所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,步骤3中所述单元区域的M≥5、N≥5;所述单元区域中去除孤立点后灰度异常对比点数量≥9,则为缺陷区域。
6.根据权利要求5所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,步骤1中对CCD相机拍摄的高清图像进行减噪、滤波处理。
7.根据权利要求6所述的高精密高稳定性探测方法,其特征在于,所述平行光源为激光源和透镜组合;通过激光源和透镜组合形成线宽在300um-500um的平行条形激光,以一定的入射角投射到待测物表面。
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