CN115578956A - 显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质。该显示面板不良像素点的检测方法包括：获取待测像素点的位置信息；基于待测像素点的位置信息确定待测像素点是否为边沿像素点；若是，基于待测像素点的位置信息确定待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取相邻像素点、增加像素点和待测像素点的亮度，将相邻像素点和增加像素点的亮度与待测像素点的亮度进行对比以确定待测像素点是否为不良像素点；其中，相邻像素点和增加像素点的数量之和不少于4个。通过采用上述方案，解决了现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题，增加了检查的准确性和可靠性。

Description

显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质

技术领域

本发明涉及显示面板生产的技术领域，尤其涉及显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

像素点是显示面板的显示画面的最小发光单元。在生产工序如果存在异常状态可能会导致显示面板上产生不良像素点，不良像素点会影响显示面板的显示性能，因此，检出显示面板上的不良像素点至关重要。

现有技术中，对不良像素点的检测通常采用以下方法：如图1所示，对于任意一个待测像素点1，通过其与上下左右四个相邻像素点2进行亮度对比，从而检查出该待测像素点1是否为不良像素点。如图2和图3所示，但是对于显示面板边沿的像素点，通常没有上下左右等四个相邻像素点2，只有三个相邻像素点2或者两个相邻像素点2进行对比。例如对于两个边沿相接的边角处的待测像素点1，只有两个相邻像素点2进行对比。如图2所示，图2中以待测像素点1处于右下角处的边角为例，此时相邻像素点2只有上方和左方的两个相邻像素点2。对于边角以外的其余边沿处的像素点，只有三个相邻像素点2进行对比，如图3所示，图3中以待测像素点1位于右边沿且不为边角处为例，此时待测像素点1的相邻像素点2只有上下左三个相邻像素点2进行对比。现有技术存在以下缺陷：对于边沿处的像素点而言，对比像素点的减少会导致检出能力的下降，故现有的不良像素点的检测方法准确性较差。

发明内容

本发明提供了一种显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质，以解决现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种显示面板不良像素点的检测方法，该显示面板不良像素点的检测方法包括：

获取所述待测像素点的位置信息；

基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点；

若是，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个；

若否，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点，获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

在本发明的可选实施例中，所述增加像素点与所述待测像素点的距离小于预设距离。

在本发明的可选实施例中，所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。

在本发明的可选实施例中，所述增加像素点包括第一增加点；

所述第一增加点与所述待测像素点具有两个相同的所述相邻像素点。

在本发明的可选实施例中，所述增加像素点还包括第二增加点；

所述第二增加点位于所述待测像素点的上、下、左、右四个方向中的至少一个，且与所述待测像素点具有一个相同的所述相邻像素点。

在本发明的可选实施例中，所述基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，包括：

基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边角像素点；

若否，将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点，且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点，其中，所述第一增加点的数量为两个；

若是，将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点，且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点和第二增加点；其中，所述第一增加点的数量为一个，所述第二增加点的数量为两个。

在本发明的可选实施例中，所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点之前，还包括：

确定所述相邻像素点和所述增加像素点是否存在不良像素点；

若否，执行将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点的步骤；

若是，剔除所述相邻像素点和所述增加像素点中的不良像素点，相应的，所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点，包括：

将剔除不良像素点的所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

根据本发明的另一方面，提供了一种显示面板不良像素点的检测装置，该显示面板不良像素点的检测装置包括：

位置获取模块，用于获取所述待测像素点的位置信息；

确定模块，用于基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点；

第一对比模块，用于当所述待测像素点为边沿像素点，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个；

第二对比模块，用于当所述待测像素点不为边沿像素点，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点，获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的显示面板不良像素点的检测方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的显示面板不良像素点的检测方法。

本发明实施例的技术方案，通过获取所述待测像素点的位置信息，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点，当待测像素点为边沿像素点时，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个。当待测像素点不为边沿像素点时，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点，获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。从而对于边沿像素点，在相邻像素点的基础上会增加一些增加像素点与待测像素点进行亮度对比，同时所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个，故比起现有的边沿像素点在检测时只能与两个或者三个相邻像素点进行对比，显著提高了不良像素点的检出能力，解决了现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题，增加了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是相关技术提供的一种显示面板的待测像素点不为边沿像素点的结构示意图；

图2是相关技术提供的一种显示面板的待测像素点为边角像素点的结构示意图；

图3是相关技术提供的一种显示面板的待测像素点为边沿像素点且不为边角像素点的结构示意图；

图4为本发明实施例一提供的一种显示面板不良像素点的检测方法的流程图；

图5为本发明实施例一提供的一种显示面板的待测像素点为边沿像素点的结构示意图；

图6为本发明实施例一提供的另一种显示面板的待测像素点为边沿像素点的结构示意图；

图7为本发明实施例一提供的一种显示面板的待测像素点为边角像素点的结构示意图；

图8是根据本发明实施例二提供的一种显示面板不良像素点的检测装置的结构框图；

图9是实现本发明实施例的显示面板不良像素点的检测方法的电子设备的结构示意图。

其中：1、待测像素点；2、相邻像素点；3、增加像素点；31、第一增加点；32、第二增加点。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例一

图4为本发明实施例一提供的一种显示面板不良像素点的检测方法的流程图，本实施例可适用于显示面板检测的情况，该方法可以由显示面板不良像素点的检测装置来执行，该显示面板不良像素点的检测装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该显示面板不良像素点的检测装置可配置于VAP设备中，VAP设备即用于对显示面板的像素点进行检测的设备。如图4所示，该显示面板不良像素点的检测方法包括：

S110、获取所述待测像素点1的位置信息。

其中，如图5所示，待测像素点1是指当前在测试是否为不良像素点的像素点，位置信息反映待测像素点1在显示面板中的实际位置。在一个具体的实施例中，位置信息可为坐标值，通过待测像素点1的具体坐标值，便可知道待测像素点1在显示面板中的实际位置。

S120、基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1是否为边沿像素点。

其中，边沿像素点是指位于面板边沿的像素点，即面板所有的像素点中处于最外圈的像素点。在一个具体的实施例中，当位置信息为坐标值时，假设长度方向为X方向，宽度方向为Y方向，X方向的像素点有15360个，Y方向的像素点有2160个，每个像素点的位置信息即为坐标值(X，Y)，当X为1或者15360，又或者Y为1或2160时，便可确定该待测像素点1为边沿像素点。

若是，执行步骤S130，若否，执行步骤S140。

S130、基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2和增加像素点3，获取所述相邻像素点2、所述增加像素点3和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点2和所述增加像素点3的数量之和不少于4个。

其中，相邻像素点2是指与待测像素点1紧挨着的像素点，即待测像素点1上、下、左、右四个方向中离待测像素点1最近的一个像素点。增加像素点3是指除相邻像素点2外，在其他像素点中额外选取的用于跟待测像素点1进行对比的点。对于边沿像素点而言，由于其在边沿，所以相邻像素点2的数量通常只有两个或者三个，即用于对比的相邻像素点2较少。不良像素点包括不良暗点和不良亮点，不良暗点是指相对于对比的像素点为全暗或微暗的点，不良亮点是指相对于对比的像素点为过亮的点。将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比是指待测像素点1分别与每一个相邻像素点2和每一个增加像素点3进行亮度对比。

S140、基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2，获取所述相邻像素点2和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

其中，当待测像素点1不为边沿像素点时，每个待测像素点1的上、下、左、右等四个方向均存在相邻像素点2，即此时有四个相邻像素点2与待测像素点1进行对比，因此，只需直接将所述相邻像素点2与所述待测像素点1的亮度进行对比，便可确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

上述方案，通过获取所述待测像素点1的位置信息，基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1是否为边沿像素点，当待测像素点1为边沿像素点时，基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2和增加像素点3，获取所述相邻像素点2、所述增加像素点3和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点2和所述增加像素点3的数量之和不少于4个。当待测像素点1不为边沿像素点时，基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2，获取所述相邻像素点2和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。从而对于边沿像素点，在相邻像素点2的基础上会增加一些增加像素点3与待测像素点1进行亮度对比，同时所述相邻像素点2和所述增加像素点3的数量之和不少于4个，故比起现有的边沿像素点在检测时只能与两个或者三个相邻像素点2进行对比，显著提高了不良像素点的检出能力，解决了现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题，增加了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

在本发明的可选实施例中，所述增加像素点3与所述待测像素点1的距离小于预设距离。其中，像素点的对比，主要是亮度大小和发亮区域的对比，而对于面板上每个像素点，都有材料和制作工艺上的细微差异，导致整张面板亮度不均匀，为了更准确的判断像素点是否合格，最好选择与待测像素点1的距离较近的像素点进行对比，因为此时的材料和制作工艺差异性最小。故通过使增加像素点3与所述待测像素点1的距离小于预设距离，能够提高检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

在上述实施例的基础上，所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。其中，两个相邻的像素点即为距离最近的两个像素点，与待测像素点1的距离大于相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距的像素点，是比起相邻像素点2外离待测像素点1最近的像素点，通过使得预设距离大于相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距，能够使得增加像素点3离待测像素点1的材料和制作工艺差异性较小，提高检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

在本发明的可选实施例中，如图6所示，所述增加像素点3包括第一增加点31；所述第一增加点31与所述待测像素点1具有两个相同的所述相邻像素点2。其中，由于像素点规则排列，与所述待测像素点1具有两个相同的所述相邻像素点2的第一增加点31即为除相邻像素点2以外离所述待测像素点1最近的像素点。对于显示面板右边沿的待测像素点1而言，第一增加点31即为待测像素点1左方的相邻像素点2的上方和下方的像素点。由于第一增加点31为除相邻像素点2以外离所述待测像素点1最近的像素点，所以与待测像素点1的材料和制作工艺差异性较小，提高了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

在上述实施例的基础上，如图7所示，所述增加像素点3还包括第二增加点32；所述第二增加点32位于所述待测像素点1的上、下、左、右四个方向中的至少一个，且与所述待测像素点1具有一个相同的所述相邻像素点2。

其中，所述待测像素点1的相邻像素点2即处于第二增加点32与待测像素点1之间，第二增加点32即为除相邻像素点2和第一增加点31外离所述待测像素点1最近的像素点。由于第二增加点32为除相邻像素点2和第一增加点31以外离所述待测像素点1最近的像素点，所以与待测像素点1的材料和制作工艺差异性较小，提高了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判的情况发生。

在本发明的可选实施例中，所述基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2和增加像素点3，包括：

基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1是否为边角像素点。

若否，将位置信息与所述待测像素点1的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点2，且基于所述待测像素点1的位置信息确定第一增加点31，其中，所述第一增加点31的数量为两个。

若是，将位置信息与所述待测像素点1的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点2，且基于所述待测像素点1的位置信息确定第一增加点31和第二增加点32；其中，所述第一增加点31的数量为一个，所述第二增加点32的数量为两个。

其中，如图6和图7所示，边角像素点是指两个边沿相接的边角处的像素点，对于边角像素点，只有两个相邻像素点2进行对比，即上左、上右、下左、下右中的一种。例如当边角像素点为右下角的边角处的像素点时，相邻像素点2只有上方和左方的像素点。对于不属于边角像素点的边沿像素点来说，则有三个相邻像素点2。根据位置信息确定待测像素点1是否为边角像素点的方式有多种，例如位置信息为坐标值时，通过坐标值便可方便的进行判断。在一个具体的实施例中，位置信息为坐标值，假设X方向的像素点有15360个，Y方向的像素点有2160个，每个像素点的位置信息即为坐标值(X，Y)，当像素点坐标为(1,1)、(1,2160)、(15360,1),(15360,2160)中的一个时，待测像素点1确认为边角像素点。

对于不为于边角像素点的边沿像素点，其存在三个相邻像素点2，同时其存在两个第一增加点31，则相邻像素点2和第一增加点31之和为五个，故此时有五个像素点与待测像素点1进行对比，已经能够较为精准的检测出待测像素点1是否为不良像素点，无需再增加额外的像素点进行对比。同时增加的两个第一增加点31为对称的，两个第一增加点31与待测像素点1之间的距离一样，因此客观条件上保持一致性，可以确保对比数据的有效性，提高了检测的精准度。

对于为边角像素点的边沿像素点，由于其在边角处，所以只存在两个相邻像素点2，同时也只存在一个第一增加点31，倘若不增加第二增加点32，则用于对比的像素点数量过少，此时增加第二增加点32，同时第二增加点32的数量为两个，两个第二增加点32相对于待测像素点1也对称，两个第二增加点32与待测像素点1之间的距离一样，因此客观条件上保持一致性，可以确保对比数据的有效性，提高了检测的精准度。

综上，该方案相比于现有的边沿像素点在检测时只能与两个或者三个相邻像素点2进行对比，显著提高了显示面板的边沿像素点的不良检出能力，具体的能够提高0.11％，同时增加了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判定的情况。

在本发明的可选实施例中，所述将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点之前，还包括：

确定所述相邻像素点2和所述增加像素点3是否存在不良像素点。

若否，执行将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点的步骤。

若是，剔除所述相邻像素点2和所述增加像素点3中的不良像素点，相应的，所述将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点，包括：

将剔除不良像素点的所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

其中，确定所述相邻像素点2和所述增加像素点3是否存在不良像素点可采用循环检测的方式，例如当相邻像素点2和增加像素点3均存在上、下、左、右四个方向相邻的像素点，可以将所述相邻像素点2与其上、下、左、右四个方向相邻的像素点进行亮度对比，从而判断该相邻像素点2是否为不良像素点，同时将增加像素点3与其上、下、左、右四个方向相邻的像素点进行亮度对比，从而判断该增加像素点3是否为不良像素点，当所述相邻像素点2和所述增加像素点3中的至少一个为不良像素点时，即说明所述相邻像素点2和所述增加像素点3存在不良像素点，反之，则不存在不良像素点。此外，对于一个显示面板中的多个像素点，检测时可同步检测，也可按特定的顺序检测，当按特定的顺序检测时，可将已检测的像素点的检测结果保存在系统内。例如当所述相邻像素点2和所述增加像素点3在待测像素点1检测之前已经进行过不良检测，可直接根据检测结果来确定所述相邻像素点2和所述增加像素点3是否为不良像素点。

当所述相邻像素点2和所述增加像素点3中不存在不良像素点时，说明所述相邻像素点2和所述增加像素点3均为正常像素点，因此，可以直接将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

当所述相邻像素点2和所述增加像素点3中存在不良像素点时，将待测像素点1与不良像素点进行对比得到的结果有误，无法准确的确定该待测像素点1是否为不良像素点。此时剔除所述相邻像素点2和所述增加像素点3中的不良像素点，进而将剔除不良像素点的所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点，能够使得到的结果更精准，提高了显示面板的边沿像素点的不良检出能力，增加了检查的准确性和可靠性，减少漏检和误判定的情况。

实施例二

图8为本发明实施例二提供的一种显示面板不良像素点的检测装置的结构示意图。如图5和图8所示，该显示面板不良像素点的检测装置包括：

位置获取模块61，用于获取所述待测像素点1的位置信息。

确定模块62，用于基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1是否为边沿像素点。

第一对比模块63，用于当所述待测像素点为边沿像素点，基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2和增加像素点3，获取所述相邻像素点2、所述增加像素点3和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点2和所述增加像素点3的数量之和不少于4个。

第二对比模块64，用于当所述待测像素点不为边沿像素点，基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1的相邻像素点2，获取所述相邻像素点2和所述待测像素点1的亮度，将所述相邻像素点2与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

可选的，所述增加像素点3与所述待测像素点1的距离小于预设距离。

可选的，所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。

可选的，如图6所示，所述增加像素点3包括第一增加点31；所述第一增加点31与所述待测像素点1具有两个相同的所述相邻像素点2。

可选的，如图7所示，所述增加像素点3还包括第二增加点32；所述第二增加点32位于所述待测像素点1的上、下、左、右四个方向中的至少一个，且与所述待测像素点1具有一个相同的所述相邻像素点2。

可选的，如图6和图7所示，第一对比模块63包括边角确定子模块、第一确定子模块、第二确定子模块。

边角确定子模块，用于基于所述待测像素点1的位置信息确定所述待测像素点1是否为边角像素点。

第一确定子模块，用于当所述待测像素点1为边角像素点，将位置信息与所述待测像素点1的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点2，且基于所述待测像素点1的位置信息确定所述第一增加点31，其中，所述第一增加点31的数量为两个。

第二确定子模块，用于当所述待测像素点1不为边角像素点，将位置信息与所述待测像素点1的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点2，且基于所述待测像素点1的位置信息确定所述第一增加点31和所述第二增加点32；其中，所述第一增加点31的数量为一个，所述第二增加点32的数量为两个。

可选的，该显示面板不良像素点的检测装置还包括不良确定模块、执行模块和剔除模块。

不良确定模块，用于确定所述相邻像素点2和所述增加像素点3是否存在不良像素点。

执行模块，用于当所述相邻像素点2和所述增加像素点3存在不良像素点，执行将所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点的步骤。

剔除模块，用于当所述相邻像素点2和所述增加像素点3不存在不良像素点，剔除所述相邻像素点2和所述增加像素点3中的不良像素点，相应的，第一对比模块63，还用于将剔除不良像素点的所述相邻像素点2和所述增加像素点3的亮度与所述待测像素点1的亮度进行对比以确定所述待测像素点1是否为不良像素点。

本发明实施例所提供的显示面板不良像素点的检测装置可执行本发明任意实施例所提供的显示面板不良像素点的检测方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

实施例三

图9示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

如图9所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在随机访问存储器(RAM)13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、只读存储器(ROM)12以及随机访问存储器(RAM)13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。

电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如显示面板不良像素点的检测方法。

在一些实施例中，显示面板不良像素点的检测方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由只读存储器(ROM)12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的显示面板不良像素点的检测方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行显示面板不良像素点的检测方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，包括：

获取所述待测像素点的位置信息；

基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点；

若是，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个；

若否，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点，获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

2.根据权利要求1所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述增加像素点与所述待测像素点的距离小于预设距离。

3.根据权利要求2所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述预设距离大于两个相邻的像素点的两倍间距且小于两个相邻的像素点的三倍间距。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述增加像素点包括第一增加点；

所述第一增加点与所述待测像素点具有两个相同的所述相邻像素点。

5.根据权利要求4所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述增加像素点还包括第二增加点；

所述第二增加点位于所述待测像素点的上、下、左、右四个方向中的至少一个，且与所述待测像素点具有一个相同的所述相邻像素点。

6.根据权利要求5所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，包括：

基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边角像素点；

若否，将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点，且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点，其中，所述第一增加点的数量为两个；

若是，将位置信息与所述待测像素点的位置信息相邻的像素点确定为相邻像素点，且基于所述待测像素点的位置信息确定第一增加点和第二增加点；其中，所述第一增加点的数量为一个，所述第二增加点的数量为两个。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法，其特征在于，所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点之前，还包括：

确定所述相邻像素点和所述增加像素点是否存在不良像素点；

若否，执行将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点的步骤；

若是，剔除所述相邻像素点和所述增加像素点中的不良像素点，相应的，所述将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点，包括：

将剔除不良像素点的所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

8.一种显示面板不良像素点的检测装置，其特征在于，包括：

位置获取模块，用于获取所述待测像素点的位置信息；

确定模块，用于基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点是否为边沿像素点；

第一对比模块，用于当所述待测像素点为边沿像素点，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点和增加像素点，获取所述相邻像素点、所述增加像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点和所述增加像素点的亮度与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点；其中，所述相邻像素点和所述增加像素点的数量之和不少于4个；

第二对比模块，用于当所述待测像素点不为边沿像素点，基于所述待测像素点的位置信息确定所述待测像素点的相邻像素点，获取所述相邻像素点和所述待测像素点的亮度，将所述相邻像素点与所述待测像素点的亮度进行对比以确定所述待测像素点是否为不良像素点。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的显示面板不良像素点的检测方法。

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