CN1551993A - 用于评价一组电子元件的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明披露了一种用于在把元件安装在电子装置上之前评价一组相同的电子元件的方法，所述方法包括：在把所述电子元件从所述的组中安装到电子装置中之前，在多个相继的时间间隔期间，收集代表和所述电子元件相关的环境条件的数据(102)；存储收集的数据(104)；并根据基于存储的数据估算的暴露于环境条件的累积效果评价所述电子元件是否适合于安装(106)；以及对于被确定适合于安装的电子元件，把合适的电子元件安装在电子装置中。

Description

用于评价一组电子元件的方法和装置
背景
当装配电子装置时，制造者通常处理大量的电子元件。这些电子元件易于受到破坏，尤其是在印刷电路板的制造过程期间，这是因为被长期暴露于具有高的环境湿度的环境下的缘故。环境湿气可以穿透到湿度敏感元件的体内，并存留于其内。在某些制造处理期间，例如回流(reflow)，这些电子元件被暴露在高温下。高温可以使存留的湿气膨胀，因而破坏电子元件。
为了把这种破坏减到最小，可以在升高的温度下对电子元件进行烘干，以便在回流或暴露于高温之前除去至少一些存留的湿气。
发明内容
在一个宽的方面，本发明披露了一种用于监视与包括一组电子元件的容器相关的环境条件的方法。所述方法包括把一个湿度记录器连附于所述容器，所述湿度记录器具有响应大气湿气含量的检测元件，存储器装置，以及和所述检测元件以及所述存储器装置电气耦联的处理器。所述处理器被配置用于定期地接收来自检测元件的表示大气湿气含量的信息，并根据接收的信息，在所述存储器装置中存储数据。
在第二个宽的方面中，本发明披露了一种用于在把元件安装在电子装置上之前评价一组相同的电子元件的方法。所述方法包括在把所述电子元件从所述的组中安装到电子装置中之前，在多个相继的时间间隔期间，收集代表与所述电子元件相关的环境条件的数据，存储收集的数据，并根据基于存储的数据估算的暴露于环境条件的累积效果评价所述电子元件是否适合于安装。
在另一个宽的方面中，披露了一种要被安装在电子装置中的电子元件的容器，所述容器包括容纳一组电子元件的存储装置，以及和所述存储装置耦联的并且和所述一组电子元件相关的环境条件记录器。所述环境条件记录器包括响应周围环境条件的检测元件，处理器以及相关的存储器装置。所述处理器被配置用于在多个相继的时间间隔期间接收来自检测元件的代表周围环境条件的数据，从而累积地、可访问地在所述相关的存储器装置中存储所述数据，并根据暴露于周围环境条件的累积的效果评价所述电子元件是否适合于安装。
在另一个宽的方面中，本发明披露了一种用于在把电子元件安装在电子装置上之前评价一组相同的电子元件的系统。所述系统包括容纳一组相同的电子元件的存储装置，和所述存储装置耦联的并和所述一组相同的电子元件相关的环境条件记录器，以及包括一个处理器和一个存储器装置单元的远程设备。所述环境条件记录器被配置用于在多个相继的时间间隔期间收集代表环境条件的数据，所述处理器被配置用于从所述环境条件记录器接收收集的数据并根据收集的数据评价所述电子元件是否适合于安装。
在另一个宽的方面中，本发明披露了一种物品，所述物品包括计算机可读的介质，所述介质存储计算机可执行的指令，用于使一个计算机系统根据接收的基于时间的、代表与所述一组电子元件相关的环境湿气含量的数据评价一组电子元件是否适合于安装。
在一些实施例中，可以具有下述的一个或几个优点。在回流以及其它的制造处理期间，由于存留的湿气的膨胀而导致的电子元件破坏的频率可以被减到最小。这可以改善电元件和电子装置的可靠性。
可利用的元件历史数据的增加使得用户能够作出关于在回流之前电子元件是否干透的较好的决定。因而，可以减少不必要的烘干的频率。
可以更好地理解质量控制管理技术，进而通过提高制造处理的效率，可以节省制造成本。
此外，可以简化在电子元件安装到电子装置上之前对和电子元件相关的环境数据的收集和解释。
从下面的详细说明、附图和权利要求可以容易地看出其它特征和优点。
附图说明
图1是用于评价一组电子元件的流程图；
图2A和2B是用于评价一组电子元件的系统方块图；
图3A-3E表示用于耦联环境条件检测器到一组电子元件上的技术；
图4是用于监视和评价装置中的一组电子元件的流程图；
图5提供一个一般作为时间的函数表示的环境数据；
图6A和6B是用于处理数据以便评价一组电子元件的流程图；
图7是包括总的底线寿命估算数据的现有技术的表；
图8是包括表示烘干条件的数据的现有技术的表；以及
图9提供一个一般作为时间函数表示的数据的例子。
具体实施方式
图1表示在把任何电子元件安装到装置上之前评价一组电子元件的方法。所述的一组电子元件可以包括例如容纳在运输的封装内的相同的电子元件，或者其被连附于一个卷轴装置上，或者容纳在一个硬纸箱内供将来安装在电子装置中。
评价这些元件的方法包括在102在一个时间期间收集表示潜在地可能改变的环境条件的数据，例如环境湿气含量。所述环境湿气含量可被直接或间接地检测。例如，环境湿气含量可被直接地作为绝对湿度测量，所述湿度被表示为在一个给定的空气体积内的水蒸气的质量，通常以每立方米克表示。
另外，可以根据温度和相对湿度的测量值确定环境湿气含量。也可以使用用于测量或确定环境湿气含量的其它方法。
一组电子元件所暴露于的环境条件的改变可以归因于把所述一组电子元件从一个地方运输到另一个地方，其中每个地方具有不同的周围环境条件。另外，环境条件可以在一个位置改变，例如在储藏设备中。虽然这种设备一般包括环境控制系统，用于调节主要的环境条件，但是这些系统具有有限的控制能力。此外，这些系统容易发生故障，因而把一组电子元件暴露于潜在的有害的环境条件下一个不能接受的长的时间。
用于评价一组电子元件的方法还包括在104存储收集的数据。这样存储的数据可以提供特定的环境条件在一个时间长度期间如何改变的指示。提出这种理解可以帮助评价一组电子元件是否能够经受住印刷电路板的装配处理，因而被认为是否适合于安装。
所述方法还包括在106评价相关的电子元件在一个装置中的安装的合适性。安装的合适性可以由于暴露于环境湿气下而受到不利影响。评价106可以包括例如估算与一组电子元件相关的剩余底线寿命。剩余底线寿命可以表述为湿气敏感器件可以暴露于给定的一组环境条件下而例如在回流期间而不易于受到随后的破坏的一个估算的时间量。剩余的底线寿命可以随时间而累积地减少。
评价106还可以包括确定累积的环境暴露系数。这种累积的环境暴露系数可以是在随着时间的环境温度和相对湿度的一个积分函数。这种系数可以提供一组电子元件在暴露于潜在地有害的环境条件之后，用于印刷电路板装置组装过程的潜在的合适性的任意指示。
评价106还可以包括确定表示和一组电子元件相关的期望可靠性的可靠性指数。这种可靠性指数可以通过比例函数来计算，所述比例函数包括在分子中的计算的环境暴露系数和在分母中的表示理想的可靠性的任意基准值。这种可靠性指数例如可被表示为一个分数、一个小数或者百分数。
评价106还可以包括比较量化一个期望的可靠性的计算值和一个任意的最小的可接受的值，以便判断关于特定的一组电子元件是否适合于装入一种装置中的进行/不进行的类型确定。
现在参看图2A的系统200，环境条件记录器202包括响应环境温度的温度检测元件204和响应环境相对湿度的相对湿度检测元件206。所述检测元件204、206是实时响应的。环境条件记录器202还包括积分处理器208，存储器装置210，和定时元件212，它们可以是处理器208的一部分。处理器208被配置用于定期地采样来自检测元件204、206的数据，并将所述数据存储在存储器装置210中。
环境条件记录器202可以通过通信信道216和远程装置214相连。远程装置214例如可以是计算机、个人数字助理(PDA)，或者包括处理器218和存储器装置220的寻呼装置。通信信道216例如可以是无线电通信信道。
远程装置214还通过通信信道224和存储器装置222相连。存储器装置222例如可以是盘驱动器，并且可以读出存储在计算机可读介质例如盘228上的用于远程装置214的指令226。或者，存储器装置可以是闪存存储器装置。
环境条件记录器202能够和打算最终安装在一个电子装置中的一组电子元件耦联。环境条件记录器202可以收集代表所述相关的一组电子元件暴露于的环境条件的数据。处理器208可以对所述数据进行本地处理。或者，环境条件记录器202可以把收集的数据传递给远程装置214进行处理。
如图2B所示远程装置的处理器218和存储器装置220的功能可被合并在环境条件记录器202A的本地处理器208A和存储器装置210A中。环境条件记录器202A还包括指示器230，例如发光二极管(LED)，用于向检查LED的用户传递肯定的/否定的、进行/不进行类型的数据。
参见图3A，电子元件制造者可以把环境条件记录器202连附于密封的室302的内部的电子元件的卷轴304上，以便进行运输。环境条件记录器202例如可以利用粘接材料或者通过把环境条件记录器202插入和卷轴304相连的存储袋中被连附。密封的室302可用于运输和存储电子元件的一个卷轴或几个卷轴。
或者，制造者在没有环境条件记录器202的气密袋302中运输电子元件的卷轴304。在这种情况下，电子装置制造者可以在打开密封袋302时把环境条件记录器连附到电子元件的卷轴304上并将其复位。
在某些实施例中，环境条件记录器202是一种在不锈钢容器306中的机器可读的计算机芯片，所述容器306被连附到具有孔310的法兰(flange)部件308上。每个环境条件记录器202具有可被外部机器读出的唯一的识别数。这个唯一的识别数可用于相关的一组电子元件的唯一的识别符。环境条件记录器也可以是可复位的。
参见图3B，电子元件的卷轴304可被从密封的室302中移走，并被安装到卷轴型电子元件进给器312上。
图3C表示一种便携进给器台架315，其具有被安装在其两个槽内的两个进给器312。当进给器312被安装在其选择的槽中时，它们的相关的环境条件记录器202可以被暂时地从每个卷轴304上被移走，并被置于和每个进给器槽相邻的台架315上的永久安装的相应的读出器316中。当操作者把进给器312安装在台架315中以便配置所述台架进行特定的工作时，其把环境条件记录器插在台架315上的合适的读出器316中。进给器台架315的配置可以在台架被带到一个布置机器对接之前完成。当台架被对接时，一系列读出器316可以被连接，以便通过终端连接器318与其它元件台架以及系统控制器通信。这种通信可以通过其它介质实现，例如计算机网络。
每个读出器316限定一个容器320，用于接收环境条件记录器202。每个读出器316还具有阳性连接器和阴性连接器，在每端各有一个，使得读出器316可以机械地连成一串，并且只具有一个阳性连接器和一个阴性连接器用于和其它的读出器串以及主机通信。每个读出器316包括微处理器(未示出)，用于读取在环境条件记录器202内嵌入的芯片。读出器316一般可位于进给器312或台架315的任何位置上。
在从卷轴304把电子元件安装到电子装置之后，如果卷轴304上仍然留有电子元件，则可以把环境条件记录器302连附于卷轴304上，然后放回存放处。或者，如果卷轴304的全部电子元件被用完，则环境条件记录器202可被复位，然后连附于一个不同组的电子元件上。复位环境条件记录器202可以包括擦除其存储器。
图3D表示连附有环境条件记录器202的存储箱322。存储箱322包含一组离散的电子元件324，可在工厂或仓库中使用以用于存储离散的元件，密封的室302(含有电子元件)或电子元件的卷轴304。环境条件记录器202可被永久地连附在存储箱322上，或者例如利用黏合剂被可除去地连附在存储箱322上。
图3E表示相同电子元件的阵列326，环境条件记录器202和所述阵列耦联。所述耦联例如可以使用黏合剂或夹子连接来实现。
下面参照图4说明用于监视与包括一组电子元件的容器相关的环境条件的方法，所述方法包括在450对所述容器连附一个环境条件记录器。所述环境条件记录器可以包括响应大气湿气含量的检测元件、存储器装置，以及和所述检测元件以及存储器装置电气耦联的处理器。所述处理器被配置用于定期地接收来自检测元件的表示大气湿气含量的信息，并根据接收的信息在存储器装置中存储数据。所述容器和连附的环境条件记录器可以在452被从一个存放区运送到一个装配站，在所述装配站至少一些电子元件被安装到电子装置中。在454在所述装配站由装配站的存储器读出器访问在存储器装置中存储的数据。在装配站的存储器读出器可以根据存储器读出器访问的数据评价所述一组电子元件中的电子元件是否适合于安装在所述电子装置中。在456可以从容器中除去所述一组电子元件的一部分，供在装配站安装在电子装置中。然后在458把具有剩下的一组电子元件部分和连附有环境条件记录器的容器从装配站运送到存储区。
图5表示由环境条件记录器202随时间记录的环境条件测量的曲线。例如，处理器218可以把从检测元件204，206接收的原始数据组织成所示的形式。上部曲线402的纵轴406表示环境相对湿度，横轴408表示时间。上部曲线402表示相关的一组电子元件暴露于的环境中的环境相对湿度随时间的改变。在图上的点404表示相对湿度的实际采样。为了使曲线的精度最高，以便最接近地表示实际的环境条件，须要减少在采样点404之间的时间。不过，这样会加速用完环境条件记录器202中的可利用的存储器。
下部曲线412的纵轴410表示环境温度，横轴414表示时间。下部曲线412表示相关的一组电子元件所暴露的环境中的环境温度随时间的改变。下部曲线的时间轴414和上部曲线408的时间轴相同。因此能够估算在沿着所示的时间轴上任何一点的环境相对湿度和环境温度。这种信息可被用于确定在沿着所示的轴线的每一点的相关的一组电子元件所暴露的环境中的环境湿气含量。图中所示的信息可以从环境条件记录器202输出到远程装置214或者被存储在环境条件记录器202的存储器装置210中进行本地处理。
参看图6A的流程图，处理器在502接收例如随时间记录的表示和一组电子元件相关的相对湿度值和记录的温度值的数据。接收的数据表示环境湿气含量随时间的变化。如上所述，处理器可以是远程装置的一部分，或者被合并在环境条件记录器中。如果处理器位于远方，则可以通过通信信道例如RS232连接或无线连接接收数据。如果处理器和环境条件记录器202A是一个整体，则数据可以直接从存储器装置210A读出。
在504处理器可以确定一个参考时间，以便开始计算相关的一组电子元件的剩余的底线寿命。这个参考时间例如可以是假定剩余的底线寿命没有被减少并且可被用作基线来计算随后减少到剩余的底线寿命的一个相关的时间。这个参考时间可以通过对接收的曲线数据应用一种算法来确定，以便确定一组电子元件暴露于干燥条件(即在一个预定的时间长度内在一个预定值以上的温度和/或相对湿度)下的时间，以便把剩余的底线寿命有效复位到100％。或者，所述参考时间可以是和第一个或最后的测量数据值相关的时间。为了说明的目的，可以假定参考时间间隔相应于首先测量的一组数据值。
在506处理器初始化代表总的剩余底线时间寿命的计数器，例如通过把计数器中的值设置为100％。在一个实施例中，在计数器中的这个值是一个代表剩余底线寿命的百分数。对于相关的一组电子元件经受的底线寿命的每个减少，计数器可被减少。在一个特定的实施例中，由环境条件记录器202记录的每组温度和相对湿度测量表示在周围环境中存在的湿气的数量。如果湿气的数量超过一个特定的值，总的剩余底线寿命便被减少。如果湿气的数量在某个值以下，总的剩余底线寿命便增加。如果总的剩余底线寿命计数器的值达到0％，则和所述一组电子元件相关的剩余底线寿命被认为是0％。如果在总的剩余底线寿命计数器中的值是100％，则和一组电子元件相关的剩余底线寿命被认为是100％。
在508处理器考虑一组数据点，例如表示第一记录的时间间隔的数据点，并在510确定所述数据是否表示一个烘干条件。用于确定烘干条件的环境参数可以基于工业标准信息。烘干条件例如可以由可以对相关的电元件产生干燥效果的温度和相对湿度值的一个特定的组合表示。
如果在510处理器确定干燥事件或烘干事件不被所述数据表示，则在522处理器计算底线寿命的减少。这种计算可以根据工业上可利用的标准或者其它指南进行。然后在524处理器根据所述计算使总的剩余底线寿命计数器减少一个合适的数量。总的剩余底线寿命接收器应当被配置用于只存储0％和100％之间的值。任何使在计数器中存储的值增加或减少到所述范围之外的试图都应当被忽略。
如果在510处理器确定发生了干燥或烘干事件，则处理器在512确定烘干周期是否完成。例如如果在总的剩余底线寿命计数器中的值等于100％，则可认为烘干周期完成。此外，工业实用标准提供了详述用于完成烘干周期的指南。如果烘干周期误完成，则在514处理器把剩余底线寿命计数器中的值设置为100％。
如果在512处理器确定烘干周期未完成，则处理器在516根据和被考虑的时间间隔相关的数据计算剩余底线寿命的增加。这种计算可以通过利用工业标准指南进行。然后在518处理器使总的剩余底线寿命计数器中的值增加一个等于计算的底线寿命增加的量。要被存储在总的剩余底线寿命计数器中的最大可允许的值是100％。任何使这个值增加超过这个数量的试图都应当被忽略。
接着，在520处理器确定所有的记录数据是否都被考虑过。如果在520处理器确定所有的数据都已被考虑过，则在526处理器确定在总的剩余底线寿命计数器中的值是否等于0％。如果所述的值等于0％，则处理器在528断定相关的一组电子元件不适合于安装在电子装置中。如果在总的剩余底线寿命计数器中的值大于0％，则处理器在530断定相关的一组电子元件适合于安装在电子装置中。
图6B表示上述方法的一种增强的方案，在某些例子中，其根据表示一段时间内的的环境湿气含量的一组数据，提供一组电子元件的安装合适性的更快速的确定。
首先，处理器在532接收表示随着时间的环境湿气含量的数据。处理器在534初始化在总的剩余底线寿命计数器中的值，例如，通过把所述的值设置为100％。然后处理器在536考虑最后记录的时间间隔的数据组，并在538确定所述数据是否表示烘干条件。如果处理器在538确定所述数据表示烘干条件，则处理器在540考虑是否一组电子元件被暴露于一个完整的烘干周期而引起底线寿命的完全复位。如果一组电子元件被暴露一个完整的烘干周期，则处理器在541断定剩余的寿命的数量等于在考虑烘干条件之前由剩余底线寿命计数器中的值表示的寿命的数量。
如果处理器在40确定烘干周期未完成，则处理器在542考虑和以前的时间间隔相关的数据。这个周期可以继续到处理器在540确定烘干周期完成或者直到未完成的烘干周期结束。
如果处理器在538确定被考虑的一组数据不表示烘干条件，则处理器在544确定以前考虑的一组数据是否表示烘干条件。如果以前考虑的一组数据表示烘干条件，则电子元件可能已被暴露于某个有限的不是完整的烘干周期。然后处理器在504确定一个参考时间间隔(即第一时间间隔)，并进行参照图6A所述的处理。
再次参看图6B，如果处理器在544确定先前的一组数据不表示烘干，则处理器在546计算和被考虑的一组数据相关的底线寿命的减少量，并在548使总的剩余底线寿命计数器相应地减少。总的剩余底线寿命计数器应当被配置用于存储0％和100％之间的任何值。任何使存储在所述计数器中的值减少到小于0％的试图都应当被忽略。
然后处理器在550考虑在总的剩余底线寿命计数器中的值是否等于0％。如果所述的值等于0％，则处理器在552可以断定相关的一组电子元件不适合于安装在电子装置中。如果在总的剩余底线寿命计数器中的值大于0％，则处理器在554确定是否所有的时间记录的时间间隔都被考虑过。如果所有的时间间隔都被考虑过，则处理器在556可以根据存储在总的剩余底线寿命计数器中的值推断估算的剩余底线寿命。如果所有的时间间隔未被考虑过，则处理器在542可以考虑和另一个时间间隔即前一个时间间隔相关的数据。
在断定相关的电子元件的一个估算的底线寿命或者安装的合适性之后，处理器可以输出表示其推断的数据。由处理器输出的数据可被存储在存储器装置中，可被在屏幕上显示，可用于使发光二极管发光，或者可以传输给被配置用于执行特定操作的自动控制器。自动控制器例如可以响应表示和一组电子元件相关的低的剩余底线寿命的数据停止回流操作。
图7表示1999年4月公布的IPC/JEDECJ-Std-033联合工业标准中的一个引用表，根据特定的系统结构，其包括可被存储在本地存储器装置例如210A或者在远程存储器装置例如220中的信息。处理器可以使用包括在表602中的信息估算剩余底线寿命的减少。
表602提供可应用于暴露于环境相对湿度值604范围为20-90％RH和温度606为20℃，25℃和30℃的各种电子元件的等效的减少的底线寿命(以天测量的)。表602尤其适用于利用酚醛树脂、联苯或者多功能环氧树脂模制成分模制的SMD，不过，类似的信息可用于其它的技术和材料。表602还表示，电子元件的本体厚度608和潮湿敏感度值(M.S.等级)610可以影响其相关的总的等效底线寿命。这些变量和每组电子元件的特定的特性有关。表示本体厚度608和潮湿敏感度值610的这个信息可被在相关的环境条件记录器202中编程，以便被自动地读出。
图8表示1999年4月公布的IPC/JEDECJ-Std-033联合工业标准中的第二个引用表802，该表包括也可以存储在存储器装置例如210A中的信息。处理器也可以使用包括在表802中的信息，用于确定一组电子元件经历的烘干事件。
这些信息详细说明了元件干燥条件。如果处理器确定记录数据的时间间隔满足表802所示的条件，其便可以认为在所述时间间隔之后底线寿命开始变劣。
在表802中包括的数据可用于导出和一组电子元件相关的估算的底线寿命的增加的估算值。
图9表示对于相关的一组电子元件在4天的时间间隔内取的环境条件测量的特定曲线。所示的曲线可用于说明上述的概念。上部的曲线702表示在所述时间内取的相对湿度的测量，下部的曲线704表示在所述时间内取的温度测量。时间单位在横轴上表示为日。与此类似的数据可以从环境条件记录器202输出，用于由远程装置进一步处理，或者由在环境条件记录器202中的集成的处理器进一步处理。
处理器首先接收曲线数据和表示被试的一组电子元件的本体厚度和潮湿敏感度值的数据。所有这些数据可以从环境条件记录器202中读出。为了进行说明，可以假定表示本体厚度的数据是2.5毫米，潮湿敏感度610为4级。然后处理器通过把计数器中的值设置为100％初始化相关的剩余底线寿命计数器。
处理器考虑相应于最后记录的时间间隔的一组数据。处理器确定环境条件(即温度为30℃，相对湿度是20％)不是烘干条件。处理器还考虑是否发生过局部烘干事件。处理器通过考虑是否由比正在考虑的时间间隔较后的时间间隔内的一组数据表示烘干条件来考虑是否发生过局部烘干事件。
接着，处理器计算在和最后一组数据点相关的时间间隔期间底线寿命的减少，所述时间间隔是从第三天到第四天的时间间隔。在这个时间间隔内，数据表示温度为30℃，相对湿度为20％。处理器可以根据表602参考存储在存储器装置中的信息，并确定在这种环境条件下的等效总底线寿命是5天。因为相关的时间间隔的长度是1天，处理器可以确定和最后时间间隔相关的底线寿命减少系数等于1/5天或20％。处理器由20％确定在总的剩余底线寿命计数器中存储的值。此时所述存储的值是80％。
因为在总的剩余底线寿命计数器中的值不等于0％，并且所有的记录时间间隔没有全部被考虑，处理器便考虑相应于以前的时间间隔的数据点。以前的一组数据也不代表烘干条件。处理器由从第二天到第三天计算和所述数据相关的底线寿命减少系数。在这个时间间隔期间，数据表示温度是30℃，相对湿度是30％。参考相应于表602的数据的存储数据，在这种环境条件下电子元件的等效总底线寿命是4天。和这个时间间隔相关的时间的长度是1天。因此，和这个时间间隔相关的底线寿命的减少可被估算为1/4天或25％。然后处理器把总的剩余底线寿命计数器减少25％，从而得到的值是55％。
因为存储在总的剩余底线寿命计数器中的值不小于0％，尚未考虑所有的相关时间间隔，并且以前的时间间隔的数据点不代表烘干事件，处理器估算从第一天到第二天的前一个时间间隔的底线寿命减少系数。在这个时间期间，数据表示温度是25℃，相对湿度是50％。再次参考表602的数据，在这种环境条件下的电子元件的等效的总底线寿命是4天。因而，处理器确定在这些条件下在一天的时间间隔内25％的底线寿命期满。然后处理器使总的剩余底线寿命计数器再次减少25％成为30％。
再一次，总底线寿命减少系数仍然不等于0％，尚未考虑所有的相关时间间隔，并且和以前的时间间隔相关的数据点不代表发生烘干事件。处理器估算从第0天到第一天的底线寿命的减少。在这个时间期间，数据表示温度是30℃，相对湿度是20％。再次参考表602的数据，在这种环境条件下的电子元件的等效的总底线寿命是5天。因而，处理器确定在这些条件下在一天的时间间隔内20％的底线寿命期满。然后处理器使存储在总的剩余底线寿命计数器中的值减少20％成为10％。
在总的剩余底线寿命计数器中存储的值仍然不等于0％，不过，所有的相关时间间隔都已被考虑过。因此，处理器断定，相关一组电子元件剩余10％的底线寿命。
处理器可以比较10％的值和一个可接受的最小值，或者其可以进一步处理把剩余底线寿命的百分数转换成在特定的环境条件下用天或小时表示的剩余的底线寿命的数量。例如，如果上述的电子元件要在相对湿度为20％，温度为30℃的环境下存储6小时(0.25天)，再次参看表602，总的附加的底线寿命的变劣估算为0.25天/5天＝5％。这可以被认为是可以接受的或者是不能接受的。
上述的技术的许多特征可被修改。例如，环境条件检测器可被配置用于和回流机通信，以便根据记录的数据的评价允许或不允许进行回流。也可以实施用于估算剩余底线寿命的其它标准和指南。其它的数据，例如和相关的一组电子元件相关的零件号和序列号，可被存储在环境条件记录器202的存储器装置210中。处理器208可以能够把收集的数据转换成其它的格式，例如直方图。处理器28可被配置用于在采样之间进入“睡眠”模式，这可以延长向环境条件记录器202供电的电池的寿命。环境条件记录器202的存储器装置210可以是能够擦除和重新使用的。系统的各个特征可以用硬件、软件或硬件和软件的组合来实现。例如，系统的一些特征可以以在可编程计算机上执行的计算机程序来实现。每个程序可以用高级程序语言或目标定向的程序语言来实现，以便和计算机系统通信。此外，每个这种计算机程序可被存储在存储介质上，例如可以通用或专用可编程计算机或处理器读取的只读存储器(ROM)，当由计算机读取所述存储介质时用于配置和操作所述计算机，从而执行上述的功能。
已经说明了本发明的若干个实施例。然而，应当理解，不脱离本发明的范围和构思，可以作出各种改变和改型。因而，其它的实施例落在下面的权利要求的范围内。

Claims (28)

1.一种用于在把一组元件安装在电子装置上之前评价相同的一组电子元件的方法，所述方法包括：
在把所述电子元件从所述的组中安装到电子装置中之前，在多个相继的时间间隔期间，收集(102)代表和所述电子元件相关的环境条件的数据；
存储(104)收集的数据；
并根据基于存储的数据估算的暴露于环境条件的累积效果评价(106)所述电子元件是否适合于安装；以及对于被确定适合于安装的电子元件，
把合适的电子元件安装在电子装置中。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述收集(102)表示环境条件的数据包括检测大气湿气含量。
3.如权利要求2所述的方法，其中检测大气湿气含量包括测量环境温度和测量相对湿度。
4.如前面任何一个权利要求所述的方法，其中评价(106)电子元件是否适合于安装包括：
通过计算和每个相继的时间间隔相关的底线寿命减少值来估算和电子元件相关的剩余底线寿命；以及
根据和每个相继的时间间隔相关的底线寿命减少值确定总的剩余底线寿命值。
5.如权利要求4所述的方法，其中估算剩余底线寿命包括确定和一个参考剩余底线寿命值相关的参考时间。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述参考时间被确定为开始收集表示环境条件的数据的时间。
7.如权利要求5或6所述的方法，其中所述参考时间根据发生烘干事件的时间被确定。
8.如权利要求5-7任何一个所述的方法，其中所述参考时间根据电子元件在一个大于预设温度的温度下经历的一个延长的暴露的时间来确定。
9.如权利要求5-8任何一个所述的方法，其中所述参考时间被确定为最后一组数据被收集的时间。
10.如权利要求4-9任何一个所述的方法，其中估算剩余底线寿命包括：
计及所述一组电子元件的湿度灵敏度等级；以及
计及和所述一组电子元件相关的本体厚度。
11.如上面任何一个权利要求所述的方法，其中评价电子元件是否适合于安装包括随时间积分一组检测的湿气含量值，用于计算一个积累的环境暴露系数。
12.如上面任何一个权利要求所述的方法，其中评价电子元件是否适合于安装包括比较估算的暴露于环境条件的积累效应和一个预定的接受标准，以便确定一个估算的可靠性系数。
13.一种要被安装在电子装置中的电子元件的容器，所述容器包括：
容纳一组电子元件的存储装置(304，322，326)；以及
和所述存储装置(304，322，326)耦联的并且和所述一组电子元件相关的环境条件记录器(202，202a)，所述环境条件记录器(202，202a)包括响应周围环境条件的检测元件(204，206)、处理器(208，208a)，以及相关的存储器装置(210，210a)，所述处理器(208，208a)被配置用于在多个相继的时间间隔期间接收来自所述检测元件的表示周围环境条件的数据，从而累积地、可访问地在所述相关的存储器装置(210，210a)中存储所述数据，并根据暴露于周围环境条件的累积的效果评价所述电子元件是否适合于安装。
14.如权利要求13所述的容器，其中所述存储装置(304，322，326)包括含有多个相同电子元件的卷轴(304)。
15.如权利要求13或14所述的容器，其中所述检测元件响应环境湿气含量。
16.如权利要求13-15任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于产生图表数据相对表示时间的轴线的图形表示。
17.如权利要求13-16任何一个所述的容器，其中环境条件记录器(202，202a)还包括定时元件(212)，并且其中处理器(208，208a)在由定时元件(212)测量的预定的时间间隔接收和存储数据。
18.如权利要求13-17任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于传递存储的数据以及对所述电子元件是否适合于安装的判定到远程装置(214)。
19.如权利要求13-18任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于估算和所述电子元件相关的剩余底线寿命。
20.如权利要求13-19任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于确定和一个参考剩余底线寿命值相关的参考时间。
21.如权利要求13-20任何一个所述的容器，其中处理器(208，208a)还被配置用于计算和多个相继的时间间隔相关的底线寿命的减少，并根据计算的和每个相继的时间间隔相关的底线寿命的减少来计算积累的总的剩余底线寿命。
22.如权利要求19所述的容器，其中估算剩余底线寿命包括考虑和所述一组电子元件相关的湿气敏感度等级以及和所述组内的每个电子元件相关的本体厚度。
23.如权利要求13-22任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于随时间积分一组检测的环境湿气含量值，用于计算积累的环境暴露系数。
24.如权利要求13-23任何一个所述的容器，其中所述处理器(208，208a)还被配置用于比较所述数据和一个预定基线，以便确定估算的可靠性系数。
25.一种用于在把电子元件安装在电子装置上之前评价相同的一组电子元件的系统，所述系统包括：
容纳相同的一组电子元件的存储装置(304，322，326)；
和所述存储装置(304，322，326)耦联的并和所述一组相同的电子元件相关的环境条件记录器(202，202a)，所述环境条件记录器(202，202a)被配置用于在多个相继的时间间隔期间收集代表环境条件的数据；以及
以及包括处理器(218)和存储器装置单元(220)的远程设备(214)，所述处理器(218)被配置用于从所述环境条件记录器(202，202a)接收收集的数据并根据收集的数据评价所述电子元件是否适合于安装。
26.如权利要求25所述的系统，其中所述处理器(218)还被配置用于估算和所述一组电子元件相关的剩余底线寿命。
27.如权利要求25或26所述的系统，其中处理器(208，208a)还被配置用于计算和多个相继的时间间隔中每一个时间间隔相关的底线寿命的减少，并根据计算的和每个相继的时间间隔相关的底线寿命的减少来计算总的剩余底线寿命。
28.如权利要求26所述的系统，其中估算剩余底线寿命包括考虑和所述一组电子元件相关的湿气敏感度等级以及和所述一组电子元件相关的本体厚度。
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