CN223436070U - 测试装置 - Google Patents

测试装置

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CN223436070U
CN223436070U CN202422644017.2U CN202422644017U CN223436070U CN 223436070 U CN223436070 U CN 223436070U CN 202422644017 U CN202422644017 U CN 202422644017U CN 223436070 U CN223436070 U CN 223436070U
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China
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test
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tested
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李海涛
缪楠
郑淏檑
程高飞
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Hangzhou Changchuan Technology Co Ltd
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Hangzhou Changchuan Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种测试装置,包括:安装架,具有多个测试位;电路板模块,每个测试位用于安装一个电路板模块;每个电路板模块包括电路板;测试针模块,安装于电路板模块;每个测试针模块包括测试针,每个测试针的一端与其对应的电路板电连接,另一端用于与待测件电连接;测试板,各电路板模块的电路板均与测试板电连接,部分或全部电路板将通过测试针获得的待测件的检测信号汇聚至测试板。由于测试位有多个,在对待测件测试时,多个测试位的多个电路板模块可以同时获得待测件多个位置上的检测信号并将检测信号汇聚至测试板,测试板能够集中采集测试信息,每次可以实现对待测件的多个位置或全部位置进行测试,提高了测试待测件的测试效率。

Description

测试装置
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,特别是涉及一种测试装置。
背景技术
随着经济的发展和社会的进步,电子元器件(如集成电路(IC))在人们生活中的应用越来越广泛。在电子元器件出厂前,需要通过测试机对其进行测试,以保证电子元器件性能稳定可靠。
测试负载板(Load Board,简称为LB板)是连接测试机和被测电子元器件的桥梁,LB板通常包括一些接口,LB板通过这些接口实现与电子元器件的机械及电路连接,从而对电子元器件进行测试。通常,在对电子元器件进行测试前,常需要通过外部测试装置对其测试校准。但是,传统的测试装置每次只能对LB板的单个位置进行测试,对LB板全部位置都进行测试完成花费的时间长,测试效率较低。
实用新型内容
基于此,有必要针对采用传统的测试装置测试如LB板的待测件时测试效率低的问题,提供一种能够提高测试待测件测试效率的测试装置。
一种测试装置,包括:
安装架,具有多个测试位;
电路板模块,每个所述测试位用于安装一个所述电路板模块;每个所述电路板模块包括电路板;
测试针模块,安装于所述电路板模块;每个所述测试针模块包括测试针,每个所述测试针的一端与其对应的所述电路板电连接,另一端用于与待测件电连接;
测试板,各所述电路板模块的所述电路板均与所述测试板电连接,部分或全部所述电路板将通过所述测试针获得的待测件的检测信号汇聚至所述测试板。
上述测试装置,当对待测件进行测试时,操作安装于电路板模块上的测试针模块的测试针与待测件电连接,电路板能够通过测试针获得待测件的检测信号并将检测信号汇聚至测试板。由于测试位有多个,在对待测件进行测试时,多个测试位的多个电路板模块可以同时获得待测件多个位置上的检测信号并将检测信号汇聚至测试板,测试板能够集中采集测试信息,每次可以对待测件的多个位置进行测试,相对于每次对单个位置进行测试的情况,使得待测件所有待测位置均测试完成所花费的时间变短,提高了测试待测件的测试效率。
在其中一个实施例中,所述安装架具有两组测试位组,两组所述测试位组在第一方向上分布于所述测试板的两侧;每组所述测试位组包括沿所述第一方向和/或第二方向布设的多个所述测试位;
其中,每个所述测试针均沿第三方向延伸,所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两相交。
在其中一个实施例中,每组所述测试位组包括沿所述第二方向依次布设的8个所述测试位。
在其中一个实施例中,每个所述电路板模块安装有第一测试针模块和/或第二测试针模块,所述第一测试针模块与所述第二测试针模块用于适配不同数量的测试针。
在其中一个实施例中,每个所述电路板模块还包括安装座,所述电路板安装于所述安装座,所述安装座与所述安装架可拆解连接;
所述测试针模块可拆卸地安装于所述安装座。
在其中一个实施例中,所述测试装置包括自锁机构,所述自锁机构安装于所述安装架;
所述自锁机构具有锁紧状态和放松状态,当所述自锁机构处于所述锁紧状态时能够将所述安装座锁紧于所述安装架,当所述自锁机构处于所述放松状态时,所述自锁机构放松所述安装座以使所述安装座能够与所述安装架分离。
在其中一个实施例中,所述自锁机构包括座体、弹性件和卡扣,所述座体与所述安装架相连,所述卡扣可转动地安装于所述座体,所述弹性件设于所述卡扣与所述座体之间;
其中,当所述电路板模块安装于所述安装架,所述安装座施加作用力于所述卡扣,以使所述弹性件弹性变形蓄能;当所述安装座安装到位时,所述卡扣在所述弹性件的回复力作用下卡紧所述安装座。
在其中一个实施例中,所述安装座与所述安装架中一者设有定位销,另一者设有定位孔,所述定位销穿设于所述定位孔以用于定位所述电路板模块;
和/或
所述安装架与所述安装座设有用于判断所述安装座是否安装到位的辅助定位标识。
在其中一个实施例中,每个所述电路板模块还包括手提把手,所述手提把手与所述安装座可拆卸连接。
在其中一个实施例中,所述电路板设于所述安装座的一侧,所述手提把手与所述电路板位于所述安装座的同一侧并架设于所述电路板。
附图说明
图1为本申请一实施例提供的测试装置的结构图(图1中未示出电路板);
图2为图1中所示的测试装置的俯视图(图2中示出了电路板);
图3为图1中所示的测试装置的测试针模块安装于一电路板模块上的结构图;
图4为图1中所示的测试装置的第一测试针模块的结构图;
图5为图1中所示的测试装置的测试针模块安装于另一电路板模块上的结构图;
图6为图1中所示的测试装置的另一视角的结构图;
图7为图6中所示的测试装置的B处放大图;
图8为图1中所示的测试装置的自锁机构的结构图;
图9为图1中所示的测试装置的安装座与安装架的定位图;
图10为图1中所示的测试装置的第二测试针模块的结构图;
图11为图1中所示的测试装置的再一视角的结构图。
附图标记说明:
100、测试装置;10、安装架;11、测试位;111、第一通孔;12、第一架层;13、第二架层;A、测试位组;20、电路板模块;21、电路板;22、安装座;221、固定孔;23、手提把手;231、第一连接板;232、第二连接板;233、手提板;30、测试针模块;31、测试针;32、针座;30a、第一测试针模块;30b、第二测试针模块;40、测试板;50、排线;60、自锁机构;61、座体;62、弹性件;63、卡扣;631、导向面;70、定位孔;80、定位销;110、辅助定位标识;120、支撑脚架;130、自锁螺钉。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进,因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
参阅图1及图2,本申请一实施例提供一种测试装置100,用于对待测件进行测试。可选地,测试装置100用于测试的待测件为LB板,LB板应用于数字测试机上将测试机与被测电子元器件(如集成电路,IC)相连,测试机通过LB板对被测电子元器件进行测试。其中LB板上设有接口,LB板通过这些接口实现与被测电子元器件的机械及电路连接。可以理解的是,对于测试装置100用于测试的待测件的种类不作限定,只要能够与测试装置100的测试针31(下述)实现信号传输的待测件均可。
测试装置100包括安装架10和电路板模块20。安装架10具有多个测试位11,每个测试位11用于安装一个电路板模块20。每个电路板模块20均包括电路板21。可选地,电路板21为PCB板。
测试装置100还包括测试针模块30和测试板40。测试针模块30安装于电路板模块20,每个测试针模块30包括测试针31。安装于电路板模块20上的测试针模块30的每个测试针31的一端与该电路板模块20的电路板21电连接,另一端用于与待测件电连接。各电路板模块20的电路板21均与测试板40电连接,部分或全部电路板21将通过测试针31获得的待测件的检测信号汇聚至测试板40。
本申请实施例提供的测试装置100,当对待测件进行测试时,操作安装于电路板模块20上的测试针模块30的测试针31与待测件电连接,电路板21能够通过测试针31获得待测件的检测信号并将检测信号汇聚至测试板40。由于测试位11有多个,在对待测件进行测试时,多个测试位11的多个电路板模块20可以同时获得待测件多个位置上的检测信号并将检测信号汇聚至测试板40,测试板40能够集中采集测试信息,每次可以对待测件的多个位置进行测试,相对于每次对单个位置进行测试的情况,使得待测件所有待测位置均测试完成所花费的时间变短,提高了测试待测件的测试效率。
继续参阅图2,电路板21可以通过排线50连接到测试板40,电路板21检测的检测信号通过排线50传输给测试板40。测试板40集中采集的测试信息能够通过示波器显示。其中,示波器是一种测试仪器,它能够将肉眼看不见的电信号变换成看得见的图形,便于人们研究各种电现象的变化过程。
在此需要说明的是,虽然测试位11为多个,但是在实际应用过程中,多个测试位11可以同时工作,也可以只有一个测试位11或者部分测试位11处于工作状态,其他测试位11处于闲置状态或者不工作状态,依据需要而定。如一些情况下,如果待测件的尺寸较小或者待测件的待测区域的尺寸较小时,只采用其中一个测试位11的电路板模块20以及安装于该电路板模块20的测试针模块30对待测件进行测试。而当只有一个测试位11工作时,可以直接将该测试位11的电路板21与测试板40断开,而通过导线与示波器直接相连,以通过示波器读取数据;或者,该测试位11的电路板21仍然与测试板40相连,由于其他电路板21没有数据传输,测试板40此时只采集该电路板21传输的数据。
一些实施例中,继续参阅图1,安装架10为双层架空结构,分别为沿第三方向依次布设的第一架层12和第二架层13,测试位11设置于第一架层12上,测试板40设置于第二架层13上。如此设置,安装于测试位11的模块不会受到测试板40的干涉。当然,其他一些实施例中,安装架10还可以采用其他设置方式,如设置为单层结构,在此不作限定。
安装架10具有两组测试位组A,两组测试位组A在第一方向上分布于测试板40的两侧,每组测试位组A包括沿第一方向和/或第二方向布设的多个测试位11。其中,每个测试针31均沿第三方向延伸,第一方向、第二方向与第三方向两两相交。具体地,第一方向、第二方向和第三方向两两垂直。第一方向为图1中Y方向,第二方向为图1中X方向,第三方向为图1中Z方向。
上述设置,由于两组测试位组A在第一方向上分布于测试板40的两侧,测试位11布置规整,当电路板21通过排线50与测试板40相连时,排线50布置规整,避免排线50乱排。同时,由于测试针31沿第三方向延伸,测试时便于各测试针31与待测件接触。
一些实施例中,继续参阅图1,每组测试位组A包括多个沿第二方向依次布设的测试位11,此时,各测试位11在第一方向上均与测试板40相邻,以便于位于测试位11的电路板21与测试板40相连。
一些具体实施方式中,继续参阅图1及图2,每组测试位组A包括沿第二方向依次布设的8个测试位11,且两组测试位组A的测试位11在第一方向上一一对应。此时,测试装置100具有16个测试位11,在测试待测件时,最多16个测试位11对待测件进行测试,测试效率较高。
可以想到的是,其他一些实施方式中,对于每组测试位组A所包括的测试位11的数量不作限定,且对于两组测试位组A所包括的测试位11的对应关系不作限定。如还可以设置每组测试位组A包括1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个或者多于8个测试位11,且两组测试位组A所包括的测试位11在第一方向上错位设置。
另一些实施例中,每组测试位组A包括沿第一方向布设的多个测试位11,此时,每组测试位组A所包括的多个测试位11在第一方向上距离测试板40的距离有所不同。对于测试位组A沿第一方向上所包括的测试位11的数量不作限定,如可以为1个、2个、3个、4个或者多于4个。
值得注意的是,当每组测试位组A包括沿第一方向布设的多个测试位11,两组测试位组A可以在第一方向上错位,也可以正对,在此不作限定。
再一些实施例中,每组测试位组A包括沿第一方向和第二方向布设的多个测试位11,即为,每组测试位组A所包括的多个测试位11沿第一方向和第二方向呈阵列布设。在此需要说明的是,本实施例中,对于每组测试位组A所包括的测试位11的数量亦不作限定,且对于两组测试位组A各测试位11之间的相对位置关系亦不作限定。
一些实施例中,参阅图3,每个电路板模块20还包括安装座22,电路板21安装于安装座22上,安装座22与安装架10可拆卸连接。其中,测试针模块30可拆卸地安装于安装座22。如此,使得电路板模块20的安装和拆卸方便,同时,使得测试针模块30的安装和拆卸方便。
可选地,参阅图4,测试针模块30还包括针座32,测试针31安装于针座32上,针座32与安装座22可拆卸连接。
一些实施方式中,电路板21在第三方向上安装于安装座22的一侧,测试针模块30的针座32在第三方向上安装于安装座22的另一侧,测试针31沿第三方向穿设于针座32以与电路板21电连接。一般地,参阅图5,安装座22在第三方向上的一侧表面具有固定孔221,电路板21的两端分别搭接在图5中安装座22两端设有固定孔221的表面上,固定螺钉穿设于两端的固定孔221将电路板21安装固定于安装座22在第三方向上的一侧表面上。
继续参阅图1,测试位11沿第三方向贯穿设有第一通孔111,安装座22对应第一通孔111安装于安装架10上,安装于安装座22上的测试针31穿过第一通孔111与待测件电连接。当然,其他一些实施例中,测试位11可以省略第一通孔111,只要能够便于电路板模块20的安装且能够实现测试针31与待测件电连接的设置方式均可。
一些实施例中,参阅图6及图7,测试装置100包括自锁机构60,自锁机构60安装于安装架10上。自锁机构60具有锁紧状态和放松状态,当自锁机构60处于锁紧状态时能够将安装座22锁紧于安装架10上;当自锁机构60处于放松状态时,自锁机构60放松安装座22,以使安装座22能够与安装架10分离。可见,自锁机构60不但能够将安装座22锁紧于安装架10上,还能放松安装座22实现安装座22与安装架10的拆卸分离。
参阅图8,自锁机构60包括座体61、弹性件62和卡扣63。座体61与安装架10相连,卡扣63可转动地安装于座体61上,弹性件62设于卡扣63与座体61之间。其中,当电路板模块20安装于安装架10上时,安装座22施加作用力于卡扣63,卡扣63传递作用力于弹性件62,以使弹性件62弹性变形蓄能。当安装座22安装到位时,卡扣63在弹性件62的回复力作用下卡紧安装座22。在此需要说明的是,当需要卡扣63放松安装座22而将安装座22从安装架10上拆卸时,向卡扣63施加作用力,使得弹性件62弹性变形即可实现。
可以想到的是,另一些实施例中,自锁机构60还能够采用其他方式设置,只要能够在锁紧状态和放松状态之间切换,以锁紧和放松安装座22即可,在此亦不作限定。
可选地,卡扣63设有导向面631,以用于导向安装座22。如此,安装座22在导向面631的导向作用下运动到位,以便于卡扣63卡紧安装座22。
值得注意的是,每个电路板模块20可以配置一个自锁机构60,也可以配置多个自锁机构60,相邻两个电路板模块20可以共用自锁机构60,也可以不共用自锁机构60。
一种具体实施方式中,继续参阅图7,每个电路板模块20配置3个自锁机构60,在第一方向上的一端设有一个自锁机构60,该端的自锁机构60定义为第一自锁机构60,另一端设有两个自锁机构60,该端的自锁机构60定义为第二自锁机构60。每个电路板模块20与第一自锁机构60一一对应,相邻两个电路板模块20共用一个第二自锁机构60。
一般地,为了避免电路板模块20松动,电路板模块20还通过固定螺钉与安装架10相连。具体地,电路板模块20可以选择自锁螺钉130与安装架10相连,以防止拆卸时螺钉掉落。
测试针模块30的针座32也通过固定螺钉与电路板模块20的安装座22相连,从而实现测试针模块30与电路板模块20的可拆卸连接。
一些实施例中,参阅图7及图9,安装座22与安装架10中一者设有定位孔70,另一者设有定位销80,定位销80穿设于定位孔70以用于定位电路板模块20。通过定位销80与定位孔70配合,便于对电路板模块20进行定位,保证电路板模块20准确安装到位,确保安装于电路板模块20的测试针模块30的测试针31与待测件上接口接触,如与LB板上的pogo区的针孔有效接触。
每个电路板模块20可以通过两个定位销80分别与两个定位孔70配合定位,也可以通过一个定位销80与一个定位孔70配合定位,还可以通过多于两个定位销80与多于两个定位孔70配合定位。
安装架10与安装座22设有用于判断安装座22是否安装到位的辅助定位标识110,通过观察安装架10与安装座22上的辅助定位标识110是否对位,从而判断安装架10是否安装到位,保证了电路板模块20安装于安装架10上的位置的准确性。
可选地,继续参阅图7,安装座22的边缘线作为其上的辅助定位标识110,安装架10上设有线槽,线槽作为安装架10上的辅助定位标识110。在安装电路板模块20时,通过观察安装座22的边缘线是否与安装座22上的线槽对位,以确定电路板模块20是否安装到位。
可以想到的是,另一些实施例中,安装架10和安装座22上的辅助定位标识110还可以采用其他方式设置,只要能够达到便于观察安装座22是否安装到位的效果即可。
一些实施例中,每个电路板模块20还包括手提把手23,手提把手23与安装座22可拆卸连接。手提把手23便于手提电路板模块20,从而便于电路板模块20的拆装。
电路板21与手提把手23均位于安装座22的同一侧,一般地,电路板21与手提把手23在第三方向上位于安装座22的同一侧,并且手提把手23架设于电路板21上。此时,手提把手23不但便于手提,并且,由于手提把手23架设于电路板21上,手提把手23对电路板21起到了一定的保护作用。同时,测试针31和电路板21电相连,手提把手23也对测试针31起到了一定的保护作用。
继续参阅图3,手提把手23包括第一连接板231、第二连接板232和便于手提的手提板233,第一连接板231与第二连接板232间隔设置,并分别与安装座22在第一方向或第二方向的两端相连,手提板233的两端分别与第一连接板231和第二连接板232相连。另一些实施例中,对于手提把手23的结构设置不作限定。
一些实施例中,参阅图5和图10,每个电路板模块20安装有第一测试针模块30a和/或第二测试针模块30b,第一测试针模块30a与第二测试针模块30b用于适配不同数量的测试针31。如此,第一测试针模块30a与第二测试针模块30b可以自由组合安装于电路板模块20上,以满足测试不同待测件的需求。如一些具体实施方式中,每个电路板模块20可容纳8个测试针模块30,第一测试针模块30a有68个测试针31,第二测试针模块30b有34个测试针31,两种规格的测试针模块30自由组合安装于电路板模块20上,满足LB板上不同pogo连接器的需求。
应当理解,其他一些实施方式中,对于每个电路板模块20可安装(或容纳)的测试针模块30的数量不作限定,如还可以为1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个或者多于8个。同时,对于第一测试针模块30a和第二测试针模块30b所包括的测试针31的数量不作限定,如可以少于34个,或者多于68个等。
一些实施例中,参阅图11,测试模块还包括支撑脚架120,支撑脚架120与安装架10相连。在安装和测试时,支撑脚架120可以对下方的电子器件起到避位保护的作用。
本申请实施例提供的测试装置100,至少包含如下有益效果:
1、安装架10上设有16个测试位11,16个测试位11的电路板模块20和测试针模块30可同时工作对待测件进行测试,测试板40能够通过16个电路板模块20的电路板21集中采集测试信息,提高了测试待测件的测试效率。
2、具有68个测试针31的第一测试针模块30a和具有34个测试针31的第二测试针模块30b可以自由配置,满足LB板上不同pogo连接器的需求。
3、通过定位销80和定位孔70的配合,以及安装座22和安装架10上辅助定位标识110的设计,确保测试针31与LB板上的pogo区针孔有效接触,提高测试的准确性。
4、自锁机构60通过卡扣式设计,便于电路板模块20的拆装。
5、手提把手23的设计,便于手握拆装电路板模块20。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试装置,其特征在于,包括:
安装架(10),具有多个测试位(11);
电路板模块(20),每个所述测试位(11)用于安装一个所述电路板模块(20);每个所述电路板模块(20)包括电路板(21);
测试针模块(30),安装于所述电路板模块(20);每个所述测试针模块(30)包括测试针(31),每个所述测试针(31)的一端与其对应的所述电路板(21)电连接,另一端用于与待测件电连接;
测试板(40),各所述电路板模块(20)的所述电路板(21)均与所述测试板(40)电连接,部分或全部所述电路板(21)将通过所述测试针(31)获得的待测件的检测信号汇聚至所述测试板(40)。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述安装架(10)具有两组测试位组(A),两组所述测试位组(A)在第一方向上分布于所述测试板(40)的两侧;每组所述测试位组(A)包括沿所述第一方向和/或第二方向布设的多个所述测试位(11);
其中,每个所述测试针(31)均沿第三方向延伸,所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两相交。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,每组所述测试位组(A)包括沿所述第二方向依次布设的8个所述测试位(11)。
4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,每个所述电路板模块(20)安装有第一测试针模块(30a)和/或第二测试针模块(30b),所述第一测试针模块(30a)与所述第二测试针模块(30b)用于适配不同数量的测试针(31)。
5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,每个所述电路板模块(20)还包括安装座(22),所述电路板(21)安装于所述安装座(22),所述安装座(22)与所述安装架(10)可拆解连接;
所述测试针模块(30)可拆卸地安装于所述安装座(22)。
6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置包括自锁机构(60),所述自锁机构(60)安装于所述安装架(10);
所述自锁机构(60)具有锁紧状态和放松状态,当所述自锁机构(60)处于所述锁紧状态时能够将所述安装座(22)锁紧于所述安装架(10),当所述自锁机构(60)处于所述放松状态时,所述自锁机构(60)放松所述安装座(22)以使所述安装座(22)能够与所述安装架(10)分离。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述自锁机构(60)包括座体(61)、弹性件(62)和卡扣(63),所述座体(61)与所述安装架(10)相连,所述卡扣(63)可转动地安装于所述座体(61),所述弹性件(62)设于所述卡扣(63)与所述座体(61)之间;
其中,当所述电路板模块(20)安装于所述安装架(10),所述安装座(22)施加作用力于所述卡扣(63),以使所述弹性件(62)弹性变形蓄能;当所述安装座(22)安装到位时,所述卡扣(63)在所述弹性件(62)的回复力作用下卡紧所述安装座(22)。
8.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,所述安装座(22)与所述安装架(10)中一者设有定位销(80),另一者设有定位孔(70),所述定位销(80)穿设于所述定位孔(70)以用于定位所述电路板模块(20);
和/或
所述安装架(10)与所述安装座(22)设有用于判断所述安装座(22)是否安装到位的辅助定位标识(110)。
9.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,每个所述电路板模块(20)还包括手提把手(23),所述手提把手(23)与所述安装座(22)可拆卸连接。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,所述电路板(21)设于所述安装座(22)的一侧,所述手提把手(23)与所述电路板(21)位于所述安装座(22)的同一侧并架设于所述电路板(21)。
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