CS205863B1 - Placing element on the plast carrier with increased output load - Google Patents

Placing element on the plast carrier with increased output load Download PDF

Info

Publication number
CS205863B1
CS205863B1 CS209079A CS209079A CS205863B1 CS 205863 B1 CS205863 B1 CS 205863B1 CS 209079 A CS209079 A CS 209079A CS 209079 A CS209079 A CS 209079A CS 205863 B1 CS205863 B1 CS 205863B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
plastic carrier
lead
chip
thermally
conductive material
Prior art date
Application number
CS209079A
Other languages
Czech (cs)
Inventor
Jaroslav Zurek
Original Assignee
Jaroslav Zurek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jaroslav Zurek filed Critical Jaroslav Zurek
Priority to CS209079A priority Critical patent/CS205863B1/en
Publication of CS205863B1 publication Critical patent/CS205863B1/en

Links

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Description

Vynález se týká vsazovací součástky na pomocném plastovém nosiči vytvořené z konvenčního čipu polovodiče propojeného volnými vodiči se souborem vývodů umožňující zvětšení výkonového zatížení součástky při montáži do hybridního integrovaného obvodu.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an insertion component on an auxiliary plastic carrier formed from a conventional semiconductor chip interconnected by free conductors with a plurality of terminals to increase the power load of the component when mounted in a hybrid integrated circuit.

Zhotovení hybridních integrovaných obvodů podle přesných požadavků zákazníka vyžaduje použít součástek, u kterých jsou předem známy elektrické vlastnosti a/nebo které lze v průběhu výrobních operaci změřit. Pasivní části hybridního integrovaného obvodu tvořené Vodivou sítí spojů, resistory, kondenzátory, izolačními vrstvami lze poměrně dohře měřit a jejich vlastnosti se obvykle při montážních operacích nemění. Podobný požadavek je kladen i na polovodičové vsazovací součástky, u kterých je potenciálně větší nebezpečí změny elektrických vlastností jak při montáži do hybridního integrovaného obvodu, tak horším odvodem tepla při provozu. Proto v minulosti byly vyvinuty vsazovací součástky lišící se konstrukčně svou strukturou i upravenými vývody a dnes známé jako čip s nosníkovými vývody, lícní čip, čip v miniaturním keramickém nebo plastovém pouzdru, čip na plastovém transportním nosiči s upravenými výstupními elektrodami z čipu nebo upravenými výstupky na plastovém' nosiči obecně známé jako technologie TAB (Tápe Automated Bonding). Technologie TAB splňuje požadavky zvětšeného výkonového zatížení vsazovací součástky i automatizovaného měření a montáže do hybridního integrovaného obvodu, na druhé straně vyžaduje konstrukční úpravy jednotlivých čipů včetně souboru vývodů a nelze ji použít zcela obecně pro libovolný typ pasivní nebo aktivní vsazovací součástky hybridního integrovaného obvodu. Uvedené nedostatky jsou odstraněny konstrukcí vsazovací součástky podle vynálezu.Manufacturing hybrid integrated circuits to customer's exact requirements requires the use of components for which electrical properties are known in advance and / or can be measured during manufacturing operations. The passive parts of the hybrid integrated circuit, consisting of a conductive network of connections, resistors, capacitors, insulating layers, can be relatively well measured and their properties usually do not change during assembly operations. A similar requirement is placed on semiconductor inserts, where there is a potentially greater risk of changing electrical properties both when mounted in a hybrid integrated circuit and inferior heat dissipation during operation. In the past, inset components have been developed which differ in their structure and modified outlets and are now known as a chip with beam outlets, a face chip, a chip in a miniature ceramic or plastic case, a chip on a plastic transport carrier with modified output electrodes from the chip, or plastic carrier commonly known as TAB (Automated Bonding) technology. TAB technology meets the increased power load requirements of the inserter as well as automated measurement and assembly to the hybrid integrated circuit, on the other hand, requires the design of individual chips, including the pin set, and cannot be used generally for any type of passive or active hybrid integrated circuit inset. These drawbacks are overcome by the construction of the insert member according to the invention.

Předmětem vynálezu je vsazovací součástka na plastovém nosiči se zvětšeným výkonovým zatížením, vytvořená jako koncepční čip, připojená na chladič v sestavě souboru vývodů integrálně spojený s transportním plastovým nosičem a propojeňý se souborem vývodů volnými vodiči, vyznačená tím, že pod připojeným čipem je v plastovém nosiči okénko vyplněné tepelně a elektricky vodivým materiálem tvořícím spojení mezi čipem a podložkou hybridního integrovaného obvodu, přičemž soubor vývodů je připojen k vodivé síti hybridního integrovaného obvodu hromadným svářením případně pájením.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is a plug-in component on a plastic carrier with increased power load, formed as a conceptual chip, connected to a heat sink in an array of terminal assemblies integrally coupled to a transport plastic carrier and interconnected with the array of terminals by free conductors. a window filled with thermally and electrically conductive material forming the connection between the chip and the hybrid IC circuit board, the set of terminals being connected to the hybrid integrated circuit conductive network by mass welding or soldering.

Vsazovací součástka konstruovaná podle vynálezu je znázorněna v jedné variantě na obr. 1 a v druhé variantě na obr. 2.The insertion member constructed in accordance with the invention is shown in one variation in Fig. 1 and in a second variation in Fig. 2.

Konvenční čip polovodiče 1 vyráběný v neomezeném sortimentu typů jako konstrukčně nej jednodušší provedení polovodičové součástky je připojen na chladič 11 v souboru vývodů 3 integrálně spojených s transportním plastovým nosičem 4. Elektrody čipu polovodiče 1 jsou propojeny volnými vodiči 2 se souborem vývodů 3 a celek takto vzniklé vsazovací součástky je povrchově chráněn ochrannou vrstvou 5. V transportním plastovém nósiiči 4 pod připojeným čipem 1 je vytvořeno volné okénko 6, které je vyplněno tepelně a elektricky vodivým materiálem. Tepelně a elektricky vodivý materiál je hutný kov, například měď, nikl, kovar, ocel případně pájka cín, olovo nebo cín, olovo, stříbro. . V další alternativě může být tepelně a elektricky vodivým materiálem termosetlcká látka s plnidlem například zlata, stříbra, niklu, železa, wolframu, molybdenu, tantalu, olova, cínu.A conventional semiconductor chip 1 manufactured in an unlimited range of types as the simplest construction of the semiconductor component is connected to a heatsink 11 in a set of terminals 3 integrally connected to a transport plastic carrier 4. The electrodes of the semiconductor chip 1 are connected by free conductors 2 to the set of terminals 3 and the whole The insertion part is surface-protected by a protective layer 5. In the transport plastic carrier 4 below the connected chip 1, a free window 6 is formed which is filled with thermally and electrically conductive material. The thermally and electrically conductive material is a dense metal, for example copper, nickel, covar, steel or solder tin, lead or tin, lead, silver. . In another alternative, the thermally and electrically conductive material may be a thermosetting agent with a filler, for example gold, silver, nickel, iron, tungsten, molybdenum, tantalum, lead, tin.

Vsazovací součástka je připojena k podložce 9 hybridního Integrovaného obvodu tepelně a elektricky vodivým materiálem 7, soubor vývodů 3 k vodivé síti 8 hybridního integrovaného obvodu hromadným pájením nebo svářením v místě 10. Jiná varianta pro zvětšení výkonové zatížitelnosti vsazovací součástky na pomocném plastovém: nosiči je znázorněna na obr. 3, kde chladič v sestavě souboru vývodů na plastovém nosiči má tvar misky 13, ve které je namontován čip polovodiče připojený výše popsaným způsobem.The insertion member is connected to the hybrid integrated circuit mat 9 by a thermally and electrically conductive material 7, a set of terminals 3 to the conductive network 8 of the hybrid integrated circuit by mass soldering or welding in place 10. Another variant for increasing the load capacity of the insertable component on an auxiliary plastic: Fig. 3, wherein the heat sink in the terminal assembly on the plastic carrier has the shape of a cup 13 in which a semiconductor chip mounted in the manner described above is mounted.

Claims (3)

PREDMET VYNALEZUOBJECT OF THE INVENTION 1. Vsazovací součástka na plastovém nosiči se zvětšeným výkonovým zatížením vytvořená jako. konvenční čip, připojená na '' chladič v sestavě soůboru vývodů integrálně spojený s transportním plastovým nosičem a propojený se souborem vývodů volnými vodiči, vyznačená tím, že pod připojeným čipem (1) je v plastovém nosiči (4) okénko (6) vyplněné tepelně a elektricky vodivým materiálem tvořícím spojení mezi čipem (1) a podložkou (9) hybridního integrovaného obvodu, přičemž soubor vývodů (3) je připojen k vodivé síti hybridního integrovaného obvodu (8) hromadným svářením případně pájením.1. Insertion component on a plastic carrier with increased power load formed as. a conventional chip connected to a heat sink in the lead set assembly integrally coupled to the transport plastic carrier and connected to the set of terminals by free conductors, characterized in that a window (6) thermally filled in the plastic carrier (4) is below the attached chip (1); an electrically conductive material forming the connection between the chip (1) and the hybrid integrated circuit mat (9), the set of terminals (3) being connected to the conductive network of the hybrid integrated circuit (8) by mass welding or soldering. 2. Vsazovací součástka podle bodu 1, vyznačená: tím, že tepelně a elektrický vodivý materiál v okénku plastového nosiče je hutný kov, například měď, nikl, kovar, ocel, případně pájl^á cín-olovo, nebo cín-olovo-stříbro.Insert according to claim 1, characterized in that the thermally and electrically conductive material in the window of the plastic carrier is a dense metal, for example copper, nickel, covar, steel, optionally tin-lead or tin-lead-silver. 3. Vsazovací součástka podle bodu 1, vyznačená tím, že tepelně a elektricky vodivý ' materiál je termosetlcká látka s plnidlem zlata, stříbra, niklu, železa, wolframu, molybdenu, tantalu, olova, cínu.3. Insert according to claim 1, characterized in that the thermally and electrically conductive material is a thermosetting agent with a filler of gold, silver, nickel, iron, tungsten, molybdenum, tantalum, lead, tin.
CS209079A 1979-03-29 1979-03-29 Placing element on the plast carrier with increased output load CS205863B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS209079A CS205863B1 (en) 1979-03-29 1979-03-29 Placing element on the plast carrier with increased output load

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS209079A CS205863B1 (en) 1979-03-29 1979-03-29 Placing element on the plast carrier with increased output load

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS205863B1 true CS205863B1 (en) 1981-05-29

Family

ID=5356975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS209079A CS205863B1 (en) 1979-03-29 1979-03-29 Placing element on the plast carrier with increased output load

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS205863B1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4763188A (en) Packaging system for multiple semiconductor devices
US4941033A (en) Semiconductor integrated circuit device
US5942795A (en) Leaded substrate carrier for integrated circuit device and leaded substrate carrier device assembly
EP0117111B1 (en) Semiconductor device assembly
US4296456A (en) Electronic package for high density integrated circuits
US5521429A (en) Surface-mount flat package semiconductor device
US6538313B1 (en) IC package with integral substrate capacitor
US4783697A (en) Leadless chip carrier for RF power transistors or the like
KR100628286B1 (en) Electronic module with canopy carrier
EP0498412A1 (en) Semiconductor device including a package having a plurality of bumps arranged in a grid form as external terminals
US20050011672A1 (en) Overmolded MCM with increased surface mount component reliability
US7342300B2 (en) Integrated circuit incorporating wire bond inductance
GB2035701A (en) Flat package for integrated circuit devices
KR920001691A (en) Zero Power IC Module
US20050173796A1 (en) Microelectronic assembly having array including passive elements and interconnects
IE53953B1 (en) Packages for enclosing semiconductor elements
EP0700086A2 (en) Integrated circuit package with improved heat dissipation
US6115255A (en) Hybrid high-power integrated circuit
US4910584A (en) Semiconductor device
EP0031240B1 (en) An electrical component comprising semiconductor chips
US4731700A (en) Semiconductor connection and crossover apparatus
US6198166B1 (en) Power semiconductor mounting package containing ball grid array
US7102211B2 (en) Semiconductor device and hybrid integrated circuit device
KR100675030B1 (en) Integrated circuit package
CS205863B1 (en) Placing element on the plast carrier with increased output load