CS226899B1

CS226899B1 - Diagnosable system circuitry with tested comparators

Info

Publication number: CS226899B1
Application number: CS986182A
Authority: CS
Inventors: Jiri Ing Smisek
Original assignee: Jiri Ing Smisek
Priority date: 1982-12-28
Filing date: 1982-12-28
Publication date: 1984-04-16

Description

Předmětem vynálezu je zapojeni diagnostikovatelného systému s testovanými komparátory, které je optimálně řešeno z hlediska minimálního počtu komparovaných jednotek systému.The object of the invention is to connect a diagnostic system with tested comparators, which is optimally solved in terms of a minimum number of compared units of the system.

Při návrhu systému se vždy snažíme zajistit kromě požadovaných funkčních vlastností také diagnostikovatelnost tohoto systému, a to pokud možno úplnou. Znamená to,nějakým způsobem detekovat a následně lokalizovat všechny poruchy, které se mohou v systému vyskytnout a přitom co nejlevněji. V některých aplikacích pak přistupuje ještě požadavek vysoké rychlosti lokalizace poruch. Uvedené požadavky lze splnit například použitím komparační metody testování prostřednictvím komparátorů, kdy v komparovaných jednotkách probíhá úplný test. V dosud známých zapojeních tohoto typu se však předpokládá, že komparátory tvoří tvrdé jádro, a že se netestují. V zapojeních s vysoce spolehlivými jednotkami je však pravděpodobnost výskytu poruchy v komparátoru srovnatelná s pravděpodobností výskytu poruchy v komparovaných jednotkách a uvedený předpoklad není splněn.When designing the system, we always try to ensure, in addition to the required functional properties, the diagnostics of the system, if possible complete. This means in some way detecting and subsequently locating all faults that may occur in the system and at the same time as cheaply as possible. In some applications, there is a need for a high rate of fault location. These requirements can be met, for example, by using a comparator-based comparative testing method where a complete test is performed in the comparator units. However, in prior art circuits of this type it is assumed that the comparators form a hard core and are not tested. However, in circuits with highly reliable units, the probability of occurrence of a failure in the comparator is comparable to the probability of occurrence of a failure in the comparator units and the above assumption is not met.

Tento případ řeší zapojení diagnostikovatelného systému s testovanými komparátory podle vynálezu, a to s ohledem na minimalizaci počtu komparovaných jednotek, jehož podstata spočívá v tom, že první svorka první aktivní jednotky je spojena s první svorkou prvního komparátoru, s první svorkou druhého spínače a s první svorkou prvního spínače, druhá svorka prvního komparátoru je spojena s druhou svorkou prvního spínače, s první svorkou druhé aktivní jednotky a 8 první svorkou druhého komparátoru a první svorka třetí aktivní jednot226 899This case solves the connection of a diagnostic system with the tested comparators according to the invention, with a view to minimizing the number of comparing units, which is characterized in that the first terminal of the first active unit is connected to the first terminal of the first comparator, the first terminal of the second switch and the first terminal the first switch, the second terminal of the first comparator is connected to the second terminal of the first switch, the first terminal of the second active unit and the first terminal of the second comparator, and the first terminal of the third active unit226 899

226 899 ky je spojena s druhou evorkou druhého komparátoru a s druhou svorkou^ druhého spínače·226 899 ky is connected to the second terminal of the second comparator and to the second terminal ^ of the second switch ·

Výhodou uvedeného zapojení je zajištění testovatelnoeti komparátorů, čímž odpadá předpoklad jejich bezporuchovosti, který nemusí být vždy splněn. Navíc je provedena z důvodů ekonomizace zapojení minimalizace počtu komparovaných jednotek.The advantage of this connection is the provision of testable comparators, which eliminates the assumption of their reliability, which may not always be met. In addition, minimizing the number of units to be compared is made for wiring economics.

Na přiloženém výkresu je příklad zapojení diagnostikovatelného systému s testovanými komparátory podle vynálezu pro případ, že se jedná o vícepočítačový systém s předpokladem výskytu jedné trvalé poruchy. Pravděpodobnost výskytu vícenásobné poruchy v rámci systému je zanedbatelná. První svorka 10 první aktivní jednotky 1 je spojena s první svorkou 20 prvního komparátoru 2 s první evorkou 140 druhého spínače 14 a s první svorkou 80 prvního spí- ¹nače 8. Druhá svorka 11 první aktivní jednotky 1 je spojena se evorkou 60 první paměti 6.The attached drawing shows an example of the connection of a diagnostic system with the tested comparators according to the invention in the case of a multi-computer system with the assumption of one permanent failure. The probability of a multiple failure within the system is negligible. The first terminal 10 of the first active unit 1 is connected to a first terminal of the first comparator 20 with the first two evorkou 140 of the second switch 14 and first terminal 80 of the first ^one Spl- NACE 8. Second terminal 11 of the first active unit 1 is connected to the first memory 60 evorkou 6th

Třetí svorka 12 první aktivní jednotky 1 je spojena se svorkou 70 prvního periferního zařízení 7. Druhá svorka 22 prvního komparátoru 2 je spojena s druhou svorkou 82 prvního spínače 8, s první svorkou 30 druhé aktivní jednotky g a s první svorkou 40 druhého komparátoru £. Druhá svorka 31 druhé aktivní jednotky g je spojena se evorkou 90 druhé paměti g. Tře- tí svorka 32 druhé aktivní jednotky g je spojena se svorkou 130 druhého periferního zařízení lg. První svorka 50 třetí aktivní jednotky g je spojena s druhou svorkou 42 druhého komparátoru 4 a s druhou svorkou 142 druhého spínače 14. Druhá svorka 51 třetí aktivní jednot ky g je spojena se evorkou 150 třetí paměti 15 a třetí svorka 52 třetí aktivní jednotky g je spojena se svorkou 160 třetího periferního zařízení 16.The third terminal 12 of the first active unit 1 is connected to the terminal 70 of the first peripheral device 7. The second terminal 22 of the first comparator 2 is connected to the second terminal 82 of the first switch 8, the first terminal 30 of the second active unit g and the first terminal 40 of the second comparator. The second terminal 31 of the second active unit g is connected to the terminal 90 of the second memory g. The third terminal 32 of the second active unit g is connected to the terminal 130 of the second peripheral device 1g. The first terminal 50 of the third active unit g is connected to the second terminal 42 of the second comparator 4 and the second terminal 142 of the second switch 14. The second terminal 51 of the third active unit g is connected to the terminal 150 of the third memory 15 and the third terminal 52 of the third active unit g is connected. with terminal 160 of third peripheral device 16.

Popis funkce zapojení : Průběh úplného testu aktivních jednotek 1, g a g realizovaných mikropočítači je srovnáván v reálném čase pomocí komparátorů 2 a 4. Spínače 8 a 14 jsou v rozepnutém stavu. Úplný test prvního komparátoru 2 provádí třetí aktivní jednotka g tím způ- sobem, že po sepnutí prvního spínače 8 aktivním signálem na prvním ovládacím vstupu 81 a druhého spínače 14 aktivním signálem na ovládacím vstupu 141 zadává stejné stimuly na vstupy 20 a 22. čímž první komparátor 2 testuje na signály faleěné neshody. Po skončení této části teetu se přepne aktivním signálem na druhém ovládacím vstupu 83 první spínač 8 do funkce negátoru a aktivním signálem na ovládacím vstupu 21 se změní funkce prvního komparátoru 2 na nonekvivalenci. Nyní se první komparátor 2. testuje na falešný signál dobroty. Podobně testuje první aktivní jednotka 1 druhý komparátor £ prostřednictvím druhého spínačeDescription of the wiring function: The complete test of the active units 1, g and g carried out by microcomputers is compared in real time using comparators 2 and 4. Switches 8 and 14 are in the open state. A complete test of the first comparator 2 is performed by the third active unit g in that, after switching the first switch 8 with the active signal on the first control input 81 and the second switch 14 with the active signal on the control input 141, it enters the same stimuli to inputs 20 and 22. 2 tests for false mismatch signals. At the end of this part of the teet, the first switch 8 switches to the negator function by the active signal at the second control input 83 and the function of the first comparator 2 changes to non-equivalence by the active signal at the control input 21. Now the first comparator 2 is tested for a false signal of goodness. Similarly, the first active unit 1 tests the second comparator 8 via a second switch

14. Signálem na prvním ovládacím vstupu 141 dojde k sepnuti druhého spínače 14 a signálem na druhém ovládacím vstupu 83 se změní funkce na negaci. Signálem na ovládacím vstupu 41 se přepíná funkce druhého komparátoru £ na nonekvivalenci. Zapojení je uvedeno pro případ, že pracují v normálním režimu tři podsystémy tvořené :14. The signal at the first control input 141 closes the second switch 14, and the signal at the second control input 83 changes the negation function. The signal at control input 41 switches the function of the second comparator 8 to non-equivalence. The wiring is shown in case three subsystems are working in normal mode:

a) první aktivní jednotkou 1 (mikropočítačem), první pamětí 6 a prvním periferním zařízením 2(a) the first active unit 1 (microcomputer), the first memory 6 and the first peripheral device 2

b) druhou aktivní jednotkou g (mikropočítačem), druhou pamětí g a druhým periferním zařízením lgb) a second active unit g (microcomputer), a second memory g and a second peripheral device lg

c) třetí aktivní jednotkou g (mikropočítačem), třetí pamětí 15 a třetím periferním zařízením 16.c) a third active unit g (microcomputer), a third memory 15 and a third peripheral device 16.

V diagnostickém režimu se paměti 6, g, lg a periferní zařízení g, 13. 16 testují z vlastních mikropočítačů 1, g, g. Pokud neobsahuje systém z funkčního hlediska tři mikropo3In the diagnostic mode, the memories 6, g, lg and the peripheral devices g, 13, 16 are tested from their own microcomputers 1, g, g.

226 899 čítače, pak se systém doplní redundatními jednotkami pouze pro diagnostiku. Na přiloženém výkresu je uveden příklad optimálního zapojení pro předpoklad, jedné trvalé poruchy t=l. Obecně lze dokázat, že systém musí obsahovat minimálně n_A = t + 2 aktivní jednotky· Pro226 899 counters, then the system is supplemented with redundant units only for diagnostics. The attached drawing shows an example of optimal wiring for the assumption of one permanent fault t = 1. Generally, it can be shown that the system must contain at least n _A = t + 2 active units · Pro

X . o· toto optimum vychází minimální počet komparátorů ηθ = ( g ) - 1. Se zvyěujícím se počtem poruch t je nutné rovněž zajistit minimální počet t úplných testů komparátorů a pasivních jednotek, tj. pamětí a přídavných zařízení. Pro realizaci z toho plyne zvýšený počet spínačů, přičemž konfigurace spínačů musí zajistit test přísluěného komparátoru z t aktivních jednotek, které nejsou tímto komparátorem testovány.X. o · this optimum is based on the minimum number of comparators ηθ = (g) - 1. As the number of failures t increases, it is also necessary to ensure a minimum number t of full comparator and passive unit tests, ie memories and add-ons. This results in an increased number of switches, and the switch configuration must provide a test for the corresponding comparator from the t active units not tested by the comparator.

Možnost použití uvedeného zapojení je u všech systémů, která jsou navrhovány pro diagnostiku využívající komparátory.It is possible to use this wiring for all systems that are designed for comparator diagnostics.

Claims

Diagnostic system connection with tested comparators, characterized in that the first terminal (10) of the first active unit (1) is connected to the first terminal of the comparator (2) and the first terminal (140) of the second switch (14) and to the first terminal (80) of the first switch (8), the second terminal (22) of the first comparator (2) is connected to the second terminal (82) of the first switch (8), the first terminal (30) of the second active unit (3) and the first terminal (40) of the second comparator (8). 4) and the first terminal (50) of the third active unit (5) is connected to the second terminal (42) of the second comparator (4) and to the second terminal (142) of the second switch (14).