CS240728B1

CS240728B1 - Diagnostic probe impedance impedance

Info

Publication number: CS240728B1
Application number: CS847217A
Authority: CS
Inventors: Vaclav Sedy; Karel Matura
Original assignee: Vaclav Sedy; Karel Matura
Priority date: 1984-09-25
Filing date: 1984-09-25
Publication date: 1986-02-13
Also published as: CS721784A1

Abstract

Očelem vynálezu je zapojení pro měření impedance, zejména u vnitřních přechodů integrovaných obvodů. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že měřená impedance je připojena na záporný měřicí hrot přes ochranný rezistor na první vývod kondenzátorů derivačního obvodu a bázi tranzistoru tvarovacího obvodu, přičemž jeho emitor je uzemněn a kolektor je připojen na vstup hradla tvarovacího obvodu, přičemž výstup hradla tvarovacího obvodu je spojen jednak s druhým vývodem kondenzátorů derivačního obvodu, a jednak připojen na vstup hradla derivačního obvodu, přičemž výstup hradla derivačního obvodu je připojen přes kladný měřicí hrot na měřenou impedanci a zároveň je přiveden přes vazební rezistor na bázi tranzistoru oddělovacího zesilovače, jehož emitor je uzemněn a kolektor je spojen přes indikační obvod na zdroj napětí.The purpose of the invention is a circuit for measuring impedance, especially in internal transitions of integrated circuits. The stated purpose is achieved by the measured impedance being connected to a negative measuring tip via a protective resistor to the first terminal of the capacitors of the derivation circuit and the base of the transistor of the shaping circuit, with its emitter being grounded and the collector being connected to the input of the gate of the shaping circuit, with the output of the gate of the shaping circuit being connected on the one hand to the second terminal of the capacitors of the derivation circuit, and on the other hand connected to the input of the gate of the derivation circuit, with the output of the gate of the derivation circuit being connected via a positive measuring tip to the measured impedance and at the same time being fed via a coupling resistor to the base of the isolation amplifier transistor, the emitter of which is grounded and the collector being connected via an indication circuit to a voltage source.

Description

Očelem vynálezu je zapojení pro měření impedance, zejména u vnitřních přechodů integrovaných obvodů. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že měřená impedance je připojena na záporný měřicí hrot přes ochranný rezistor na první vývod kondenzátoru derivačního obvodu a bázi tranzistoru tvarovacího obvodu, přičemž jeho emitor je uzemněn a kolektor je připojen na vstup hradla tvarovacího obvodu, přičemž výstup hradla tvarovacího obvodu je spojen jednak s druhým vývodem kondenzátoru derivačního obvodu, a jednak připojen na vstup hradla derivačního obvodu, přičemž výstup hradla derivačního obvodu je připojen přes kladný měřicí hrot na měřenou impedanci a zároveň je přiveden přes vazební rezistor na bázi tranzistoru oddělovacího zesilovače, jehož emitor je uzemněn a kolektor je spojen přes indikační obvod na zdroj napětí.It is an object of the invention to provide an impedance measurement circuit, particularly at the internal transitions of integrated circuits. This is accomplished by connecting the measured impedance to the negative test tip through a protective resistor to the first terminal of the derivative circuit capacitor and to the base of the forming circuit transistor, its emitter being grounded and the collector connected to the gate input of the forming circuit, it is connected to the other terminal of the differentiator of the differentiator circuit and connected to the gate input of the differentiator circuit, whereby the output of the gate of the differentiator circuit is connected to the measured impedance via a positive tip. and the collector is connected via a display circuit to a voltage source.

Vynález řeší zapojení pro diagnostickou sondu měřicí impedanci v obvodu, zejména impedanci vnitřních přechodů integrovaných obvodů.The invention provides a circuit for a diagnostic probe measuring impedance in a circuit, particularly the impedance of the internal transitions of integrated circuits.

Dosud známá zapojení pro měření impedance používají samokmitající oscilátory, jejichž frekvence je ovlivňována měřenou impedancí nebo odporem. Hlavní nevýhodou těchto zapojení je malý rozsah měřených hodnot, nutnost použití přepínačů, rozsahů a jejich nevhodnost pro měření vnitřních přechodů integrovaných obvodů.The hitherto known impedance circuits use self-oscillating oscillators whose frequency is affected by the measured impedance or resistance. The main disadvantage of these circuits is the small range of measured values, the necessity of using switches, ranges and their unsuitability for measuring the internal transitions of integrated circuits.

Uvedené nedostatky odstraňuje diagnostická sonda měřící impedanci. Její podstata spočívá v tom, že měřená impedance je připojena na záporný měřicí hrot a dále přes ochranný rezistor na první vývod kondenzátoru derivačního obvodu a bázi tranzistoru tvarovacího obvodu, přičemž jeho emitor je uzemněn a kolektor je připojen na vstup hradla tvarovacího obvodu,. přičemž výstup hradla tvarovacího obvodu jě spojen jednak s druhým vývodem kondenzátoru derivačního obvodu a jednak připojen na vstup hradla derivačního obvodu, přičemž výstup hradla derivačního obvodu je připojen přes kladný měřicí hrot na měřenou impedanci a zároveň je přiveden přes vazební rezistor na bázi tranzistoru oddělovacího zesilovače, jehož emitor je uzemněn a kolektor je spojen přes indikační obvod na zdroj napětí.The impedance diagnostic probe remedies these deficiencies. It consists in that the measured impedance is connected to the negative measuring tip and further through a protective resistor to the first terminal of the derivative circuit capacitor and the base of the forming circuit transistor, its emitter being grounded and the collector connected to the gate of the forming circuit. wherein the forming circuit gate output is coupled to the other derivative circuit capacitor terminal and connected to the derivative circuit gate input, wherein the derivative circuit gate output is connected to the measured impedance via a positive probe tip and is coupled via a decoupling amplifier transistor based coupling resistor, whose emitter is grounded and the collector is connected via the indication circuit to a voltage source.

Hlavní výhodou diagnostické sondy měřicí impedanci je široký rozsah měřených impedancí bez použití přepínačů rozsahu měření, což umožňuje efektivní měření, zejména vnitřních přechodů integrovaných obvodů.The main advantage of the diagnostic impedance probe is the wide range of measured impedances without the use of measurement range switches, allowing efficient measurement, especially of internal transitions of integrated circuits.

Na výkresu je naznačen příklad zapojení podle tohoto vynálezu, tvořící diagnostickou sondu měřící impedanci.In the drawing, an example of a circuit according to the present invention constituting a diagnostic probe measuring impedance is shown.

Měřená impedance 1 je připojena na záporný měřicí hrot 2 a dále přes ochranný rezistor 3 na první vývod kondenzátoru 4 derivačního obvodu a bázi tranzistoru 5 tvarovacího obvodu, přičemž jeho emitor je uzemněn a kolektor je připojen na vstup hradla 6 tvarovacího obvodu, přičemž výstup hradla 6 tvarovacího obvodu je spojen jednak s druhým vývodem kondenzátoru 4 derivačního obvodu a jednak připojen na vstup hradla 7 derivačního obvodu, přičemž výstup hradla 7 derivačního obvodu je připojen přes kladný měřicí hrot 8 na měřenou impedanci 1 a zároveň je přiveden přes vazební rezistor 9 na bázi tranzistoru 10 oddělovacího zesilovače, jehož emitor je uzemněn na kolektor je spojen přes indikační obvod 11 na zdroj 12 napětí.The measured impedance 1 is connected to the negative measuring tip 2 and further through a protective resistor 3 to the first terminal of the derivative circuit capacitor 4 and the base of the forming circuit transistor 5, its emitter being grounded and the collector connected to the gate input 6 of the forming circuit. the forming circuit is connected to the other terminal of the differentiator of the differentiator circuit and connected to the input of the differentiator gate 7, the output of the differentiator gate 7 is connected via the positive measuring tip 8 to the measured impedance 1. 10 of a decoupling amplifier whose emitter is grounded to the collector is connected via the indicating circuit 11 to a voltage source 12.

Tranzistor 5 tvarovacího obvodu spolu s hradlem B tvarovacího' obvodu vytváří tvarové impulsy, které jsou přiváděny na hradlo 7 derivačního obvodu spojené s derivačním obvodem, který je tvořen kondenzátorem 4 derivačního obvodu, ochranným reZistorem 3 a měřenou impedancí 1, která určuje derivační konstantu, přičemž frekvence tvarových impulsů je funkcí derivační konstanty. Tvarové impulsy pilového průběhu z derivačního obvodu prověřují volampérovou charakteristiku vnitřních přechodů integrovaných obvodů v rozsahu tvarového impulsu. Signál se přes vazební rezistor 9 předává tranzistoru 10 oddělovacího zesilovače, který signál upraví pro indikační obvod 11, do něhož je dále veden, a který je tvořen akustickým měničem, přičemž může být doplněn o další indikační prvky.The shaping circuit transistor 5, together with the shaping circuit gate B, forms the shape pulses that are applied to the derivative circuit gate 7 connected to the derivative circuit consisting of the derivative circuit capacitor 4, the protective resistor 3 and the measured impedance 1 which determines the derivative constant. the frequency of the shape pulses is a function of the derivative constant. Shape pulses from the derivative circuit verify the volampere characteristics of the internal transitions of the integrated circuits within the shape pulse range. The signal is transmitted via coupling resistor 9 to a decoupling amplifier transistor 10, which adjusts the signal for the indication circuit 11 to which it is further routed, and which is formed by an acoustic transducer, and may be supplemented with other indication elements.

Další možností použití diagnostické sondy měřicí impedanci je rychlé měření odporů, indukčnosti a kapacity tam, kde není nutná znalost absolutní hodnoty, ale potřeba porovnávat hodnoty uvedených prvků.Another possibility of using a diagnostic probe of measuring impedance is to quickly measure resistance, inductance and capacitance where it is not necessary to know the absolute value but to compare the values of the mentioned elements.

Claims

Subject

Diagnostic sodium measuring impedance, characterized in that the measured impedance (1) is connected to the negative measuring tip (2j) via a protective resistor (3) to the first terminal of the derivative circuit capacitor (4) and the base of the forming circuit transistor (5j). the emitter is grounded and the collector is connected to the inlet of the forming circuit gate (6), the outlet of the forming circuit gate (6) being connected to the second invention of the derivative circuit capacitor (4) and connected to the gate inlet (7) of the differentiating circuit wherein the gate output (7j) of the differentiator circuit is connected via a positive measuring tip (8) to the measured impedance (1) and is also fed via a coupling resistor (9) based on a transistor (10) of a decoupling amplifier whose emitter is grounded and the collector connected through the indication circuit (11i to the voltage source (12)).