CS240729B1 - Diagnostic Probe Measuring Noise - Google Patents
Diagnostic Probe Measuring Noise Download PDFInfo
- Publication number
- CS240729B1 CS240729B1 CS847218A CS721884A CS240729B1 CS 240729 B1 CS240729 B1 CS 240729B1 CS 847218 A CS847218 A CS 847218A CS 721884 A CS721884 A CS 721884A CS 240729 B1 CS240729 B1 CS 240729B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- ground
- noise
- output
- voltage source
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
Účelem vynálezu je zapojení pro měření šumu zejména u vnitřních přechodů polovodičových prvků. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že vývodu zdroje šumu se dotýká kladný měřici hrot, který je jednak spojen s generátorem měrného proudu, jenž je připojen na zdroj napětí, který je dále spojen s uzemněním, jednak je připojen přes vazební kondenzátor na výstup útlumového článku a na bázi tranzistoru, jehož emitor je spojen s .uzemněním a kolektor je připojen jak přes kolektorový rezistor na zdroj napětí, tak na vstup zesilovače, který je spojen se zdrojem napětí a uzemněním a jehož výstup je přiveden na vstup útlumového článku, který je spojen s uzemněním a na oddělovací kondenzátor, který je připojen k indikačnímu obvodu, jehož druhý vývod je připojen k uzemnění, jež je dále spojeno se záporným měřicím hrotem, který se dotýká druhého vývodu zdroje šumu. Další možností použití diagnostické sondy měřící šum je spektrální analýza, kterou lze zjistit složité dynamické chyby polovodičových prvků, které lze těžko zjistit jiným přístrojem.The purpose of the invention is a circuit for measuring noise, especially in internal junctions of semiconductor elements. The stated purpose is achieved by the fact that the output of the noise source is touched by a positive measuring tip, which is connected to a measuring current generator, which is connected to a voltage source, which is further connected to ground, and is connected via a coupling capacitor to the output of the attenuator and to the base of a transistor, whose emitter is connected to ground and the collector is connected via a collector resistor to the voltage source, and to the input of an amplifier, which is connected to the voltage source and ground and whose output is fed to the input of the attenuator, which is connected to ground and to a decoupling capacitor, which is connected to an indication circuit, the second output of which is connected to ground, which is further connected to a negative measuring tip, which is in contact with the second output of the noise source. Another option for using a diagnostic noise measuring probe is spectral analysis, which can detect complex dynamic errors in semiconductor elements that are difficult to detect with other instruments.
Description
(54) Diagnostická sonda měřicí íum(54) Diagnostic probe measuring noise
Účelem vynálezu je zapojení pro měření šumu zejména u vnitřních přechodů polovodičových prvků. Uvedeného účelu se dosáhne tím, že vývodu zdroje šumu se dotýká kladný měřicí hrot, který je jednak spojen s generátorem měrného proudu, jenž je připojen na zdroj napětí, který je dále spojen s uzemněním, jednak je připojen přes vazební kondenzátor na výstup útlumového článku a na bázi tranzistoru, jehož emitor je spojen s .uzemněním a kolektor je připojen jak přes kolektorový rezistor na zdroj napětí, tak na vstup zesilovače, který je spojen se zdrojem napětí a uzemněním a jehož výstup je přiveden na vstup útlumového článku, který je spojen s uzemněním a na oddělovací kondenzátor, který je připojen k indikačnímu obvodu, jehož druhý vývod je připojen k uzemnění, jež je dále spojeno se záporným měřicím hrotem, který se dotýká druhého vývodu zdroje šumu.The purpose of the invention is a circuit for noise measurement, especially at the internal transitions of semiconductor elements. This is achieved by contacting the outlet of the noise source with a positive measuring tip, which is connected to a specific current generator, which is connected to a voltage source, which is further connected to ground, and connected via a coupling capacitor to the attenuator output; based on a transistor whose emitter is connected to ground and the collector is connected via a collector resistor to a voltage source and to an amplifier input which is connected to a voltage source and ground and whose output is connected to the attenuator input which is connected to and to a decoupling capacitor which is connected to an indicating circuit whose second outlet is connected to ground, which is further coupled to a negative measuring tip which contacts the second outlet of the noise source.
Další možností použití diagnostické sondy měřící šum je spektrální analýza, kterou lze zjistit složité dynamické chyby polovodičových prvků, které lze těžko zjistit jiným přístrojem.Another possibility of using a diagnostic probe to measure noise is spectral analysis, which can detect complex dynamic errors of semiconductor devices that are difficult to detect by another device.
Vynález řeší zapojení diagnostické sondy měřící šum, zejména vnitřních přechodů polovodičových prvků v pásmu nízkých frekvencí.The invention solves the connection of a diagnostic probe measuring noise, in particular the internal transitions of semiconductor elements in the low frequency band.
Spektrální analýza v pásmu nízkých kmitočtů se provádí pomocí nákladných přístrojů na principu heterodynních zesilovačů. Hlavní nevýhodou těchto zapojení je složitost a nutnost dalších periferií.Spectral analysis in the low frequency band is carried out using costly instruments based on the principle of heterodyne amplifiers. The main disadvantage of these connections is the complexity and necessity of additional peripherals.
Uvedené nedostatky odstraňuje diagnostická sonda měřící šum. Její podstata spočívá v tom, že prvního vývodu zdroje šumu se dotýká kladný měřicí hrot, který je jednak spojen s generátorem měrného proudu, jenž je připojen na zdroj napětí, který je dále spojen s uzemněním, jednak je připojen přes vazební kondenzátor na výstup útlumového článku a na bázi tranzistoru, jehož emitor je spojen s uzemněním a kolektor je připojen jak přes kolektorový rezistor na zdroj napětí, tak na vstup zesilovače, který je spojen se zdrojem napětí a uzemněn a jehož výstup je přiveden ná vstup útlumového článku, který je spojen s uzemněním a ňa oddělovací kondenzátor, který je připojen k indikačnímu obvodu, jehož druhý vývod je připojen k uzemnění, jež je dále spojeno se záporným měřicím hrotem, který se dotýká druhého vývodu zdroje šumu.The above-mentioned deficiencies are eliminated by the diagnostic noise measuring probe. Its essence is that the first outlet of the noise source is touched by a positive measuring tip, which is connected to a specific current generator, which is connected to a voltage source, which is further connected to ground, and connected via a coupling capacitor to the attenuator output. and on the basis of a transistor whose emitter is connected to ground and the collector is connected via a collector resistor to a voltage source and to an amplifier input which is connected to a voltage source and grounded and whose output is connected to the attenuator input which is connected to and a decoupling capacitor which is connected to an indicating circuit, the second terminal of which is connected to a ground, which is further connected to a negative measuring tip which contacts the second terminal of the noise source.
Hlavní výhodou diagnostické sondy měřící šum je jednoduchost zapojení a efektivnost měření vnitřních přechodů diod, tranzistorů a integrovaných obvodů.The main advantage of the diagnostic noise measuring probe is its ease of connection and the efficiency of measuring internal transitions of diodes, transistors and integrated circuits.
Na výkresu je naznačen příklad zapojení podle tohoto vynálezu tvořící diagnostickou sondu měřící šum.In the drawing, an example of a circuit according to the present invention constituting a diagnostic probe measuring noise is shown.
Prvního vývodu zdroje 1 šumu se dotýká kladný měřicí hrot 2, který je jednak spojen s generátorem 3 měrného- proudu, jenž je připojen na zdroj 4 napětí, který je dále spojen s uzemněním 5, jednak je připojen přes vazební kondenzátor 6 na výstup útlumového článku 10 a na bázi tranzistoru 7, jehož emitor je spojen s uzemněním 5 a kolektor je připojen jak přes kolektorový rezistor 8 na zdroj 4 napětí, tak na vstup zesilovače 9, který je spojen se zdrojem 4 napětí a uzemněním 5 a jehož výstup je přiveden na vstup útlumového článku 10, který je spojen s uzemněním 5 a na oddělovací kondenzátor 11, který je připojen k indikačnímu obvodu 12, jehož druhý vývod je připojen k uzemnění 5, jež je dále spojeno se záporným měřicím hrotem 13, který se dotýká druhého vývodu zdroje 1 šumu.The first outlet of the noise source 1 is touched by a positive measuring tip 2, which is connected to a specific current generator 3, which is connected to a voltage source 4, which is further connected to ground 5, and connected via a coupling capacitor 6 to the attenuator output. 10 and based on a transistor 7, the emitter of which is connected to ground 5 and the collector is connected both via the collector resistor 8 to the voltage source 4 and to the input of the amplifier 9, which is connected to the voltage source 4 and the ground 5. input of attenuator 10, which is connected to ground 5 and to a decoupling capacitor 11, which is connected to an indicator circuit 12, the other of which is connected to ground 5, which is further connected to a negative measuring tip 13, which touches the second terminal of the source 1 noise.
Polovodičový přechod, zdroj 1 šumu je aktivizován proudem z generátoru 3 měrného proudu přes kladný měřicí hrot 2 a vzniklý šum je přiveden přes vazební kondenzátor 6 na předzesilovač tvořený tranzistorem 7, jehož pracovní bod je určen frekvenčně závislým, nelineárním útlumovým článkem 10 zpětné vazby vedené z výstupu zesilovače 9, jenž má velmi vysoký koeficient zesílení a velmi nízký vlastní šum, přičemž se šumový signál nelineárně zesiluje v oblasti šumového spektra jednak na předzesilovači a jednak na vlastním zesilovači 9, který je oddělen od indikačního obvodu 12 oddělovacím kondenzátorem 11. Šumové spektrum přivedené do indikačního obvodu 12, který je tvořen akustickým měničem, může být vyhodnocováno dalšími indikačními prvky.The semiconductor transition, the noise source 1 is activated by the current from the specific current generator 3 through the positive measuring tip 2, and the resulting noise is fed via the coupling capacitor 6 to the preamplifier formed by the transistor 7 whose operating point is determined by the frequency-dependent, the output of an amplifier 9 having a very high gain coefficient and a very low intrinsic noise, wherein the noise signal is non-linearly amplified in the noise spectrum both on the preamplifier and on the amplifier 9 itself, separated from the indication circuit 12 by a decoupling capacitor 11. the indication circuit 12, which is formed by an acoustic transducer, can be evaluated by other indication elements.
Další možností použití diagnostické sondy měřící šum je spektrální analýza, kterou lze zjistit složité dynamické chyby polovodičových prvků, které lze těžko zjistit jiným přístrojem.Another possibility of using a diagnostic probe to measure noise is spectral analysis, which can detect complex dynamic errors of semiconductor devices that are difficult to detect by another device.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS847218A CS240729B1 (en) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | Diagnostic Probe Measuring Noise |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS847218A CS240729B1 (en) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | Diagnostic Probe Measuring Noise |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS721884A1 CS721884A1 (en) | 1985-07-16 |
| CS240729B1 true CS240729B1 (en) | 1986-02-13 |
Family
ID=5420933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS847218A CS240729B1 (en) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | Diagnostic Probe Measuring Noise |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS240729B1 (en) |
-
1984
- 1984-09-25 CS CS847218A patent/CS240729B1/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS721884A1 (en) | 1985-07-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20040008043A1 (en) | Current probe device having an integrated amplifier | |
| US4176555A (en) | Signal amplifier system for controlled carrier signal measuring sensor/transducer of the variable impedance type | |
| US4252129A (en) | Device for measuring motion of living body organs | |
| CS240729B1 (en) | Diagnostic Probe Measuring Noise | |
| CN213846617U (en) | A Low-Noise Differential Amplification Filtering Circuit for High Precision Weak Signals | |
| JPH026268U (en) | ||
| RU2097772C1 (en) | Piezoelectric accelerometer | |
| US4075601A (en) | Combined pipeline marker and test unit | |
| US3336795A (en) | Semiconductor force measuring device | |
| SE8603175L (en) | TOP METER DEVICE DETECTOR CIRCUIT | |
| CN220854614U (en) | A detection system and protein analyzer based on filter amplification module | |
| CN212133914U (en) | Temperature measuring circuit of gyroscope | |
| SU1696866A1 (en) | Electronic converter for inductive transducers | |
| US3025468A (en) | Null type transistor beta measuring set | |
| CN206657480U (en) | A kind of tone indicator type electronics aquametry apparatus | |
| JP3016297B2 (en) | Method for measuring field effect transistors | |
| CN219608871U (en) | Sensor connecting circuit and gas monitoring system | |
| CN114660215B (en) | FID detection circuit of gas chromatograph | |
| CN118914703A (en) | Low-frequency noise test circuit and low-frequency noise test method | |
| US2534224A (en) | Crystal checking device | |
| SU1679342A1 (en) | Capacitance moisture meter | |
| CN116698214A (en) | Temperature monitoring device | |
| SU1606115A1 (en) | Rheoplethysmograph | |
| SU842643A1 (en) | Device for measuring transistor margin frequency | |
| CN114689699A (en) | Ultrasonic probe integrated with signal excitation amplification module |