CS241183B1

CS241183B1 - Method of locating defective measuring tips in printed circuit testers

Info

Publication number: CS241183B1
Application number: CS845064A
Authority: CS
Inventors: Karel Uhlir; Rene Kolliner; Vaclav Skvor
Original assignee: Karel Uhlir; Rene Kolliner; Vaclav Skvor
Priority date: 1984-06-29
Filing date: 1984-06-29
Publication date: 1986-03-13
Also published as: CS506484A1

Abstract

Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů. Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada. Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.The application for the invention relates to a method for locating defective measuring tips of adapters with a needle array in printed circuit board testers. The essence of the method is to divide the measuring tip array into columns and rows, perform two complete continuity and short circuit tests using two special printed circuit boards. One special printed circuit board connects all measuring tips within the rows, the second special printed circuit board connects all measuring tips within the columns. The tester software allows for identification of a defective measuring tip in the row and column where the tester reported a defect. The method can be used to locate defects in all adapters with a needle array of measuring tips, which are used in testers of unassembled and assembled printed circuit boards in the production of electronic devices.

Description

(54) Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů(54) Method of locating defective test tips in printed circuit board testers

88

Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů.The invention relates to a method for locating defective measuring tips of needle field adapters in circuit board testers.

Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada.The principle of the method is to divide the field of the measuring tips into columns and rows, to perform two complete tests for continuity and short circuit using two special printed circuit boards. One special printed circuit board connects all the measuring tips inside the rows, the other special printed circuit board connects all the measuring tips inside the columns. The tester software enables to identify the faulty measuring tip in the row and column where the fault was reported by the tester.

Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.The method can be used to locate faults in all needle tip adapters that are used in both unplated and stepped PCB testers in the manufacture of electronic equipment.

Vynález, řeší způsob ^lokalizace vadných měřicích lirotů u testerů \desek t plošných spojů, které používají adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a method for locating defective measuring orifices in printed circuit board testers that use adapters having a needle array of measuring tips.

V poslední době se rozvíjejí metody testování neosazených i osazených desek plošných spojů pomocí automatických testerů vybavených jehlovým polem měřicích hrotů, kontaktujícím vnitřní body desek. U těchto testerů je nutné mít možnost přesné lokalizace závad všech měřicích hrotů pro potřeby diagnostiky vlastního testeru. Přitom je třeba odhalit jak měřicí hroty s přerušeným spojem do testeru, tak měřicí hroty zkratované. V praxi se běžně používá metody vodivé desky; postup je následující: do jehlového pole měřicích hrotů testeru se upne deska, která má všechny své body navzájem propojeny (postačí deska z vodivého materiálu) a provede se test na souvislost. Jestliže není některý měřicí hrot připojen nebo je mechanicky poškozen a nekontaktuje, tester vypíše závadu včetně lokalizační informace. Tato metoda je však nepoužitelná pro nalezení místa závady při zkratu dvou měřicích hrotů nebo spojovacích cest. K odhalení místa zkratu je možno provést test na zkrat při nepřipojených měřicích hrotech, avšak tento test trvá velmi dlouho, typicky desítky minut.Recently, methods of testing both unpopulated and populated printed circuit boards have been developed using automatic testers equipped with a needle array of measuring tips, contacting the internal points of the boards. With these testers, it is necessary to be able to accurately locate the faults of all measuring tips for the purpose of self-tester diagnostics. It is necessary to detect both the test leads with a broken connection to the tester and the test leads shorted. In practice, the conductive plate method is commonly used; the procedure is as follows: a plate having all its points connected to each other (a plate of conductive material) is sufficient for the tester needle tips of the tester and a continuity test is performed. If one of the probe tips is not connected or is mechanically damaged and does not contact, the tester will display a fault including location information. However, this method is not applicable to finding a fault location when two measuring tips or connecting paths are short-circuited. A short-circuit test can be performed to detect the short-circuit location with the test tips not connected, but this test takes a very long time, typically tens of minutes.

Tuto nevýhodu odstraňuje způsob lokali•zace vadných; měřicích hrotů .podl-e vynálezu. : 'y zs \· ·· -· • Jeho podstatou je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky. K testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, přičemž při prvním testu se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, pro druhý test se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců; S výhodou je možno použít jediné desky plošných spojů s dvoustranným motivem bezcpokovených Otvorů, kterou je nutno mezi testy obrátit. Vadný měřicí hrot se nalezne v tom řádku a tom sloupci, kde byla hlášena testerem chyba; celou identifikaci je možno svěřit programovému vybavení testeru. Celý test, včetně zakládání desky, se provede v době typicky kratší než 1 minuta, protože při testu na zkrat není nutno kontrolovat všechny dvojice bodů speciální desky plošných spojů, kterých jsou řádově tisíce, ale pouze dvojice spojů této speciální desky, kterých jsou řádově desítky.This disadvantage is overcome by the method of locating defective ones; of the measuring tips according to the invention. : 'y zs \ · ·· - · • Its essence is to divide the field of the measuring tips into columns and rows. A printed circuit board is attached to the PCB, using a special PCB that connects all test points inside the rows during the first test, and a special PCB that connects all test points inside the columns for the second test; Advantageously, a single printed circuit board with a double-sided pattern of uncovered holes can be used, which must be reversed between tests. A faulty measuring tip is found in the row and column where the tester reported an error; all identification can be entrusted to the tester software. The entire test, including the placement of the board, is typically completed in less than 1 minute, since the short circuit test does not have to check all the pairs of special PCBs of the order of thousands, but only the pairs of this special board of tens. .

Výhodou způsobu lokalizace podle vynálezu je značná úspora času při provádění profylaktických testů samotného testeru a adaptéru jehlového pole měřicích hrotů a z toho vyplývající zvýšení produktivity práce.The advantage of the localization method according to the invention is the considerable time savings in carrying out prophylactic tests of the tester itself and the needle tip adapter of the measuring tips and the resulting increase in labor productivity.

Claims

Subject

Method of locating defective test tips in a printed circuit board tester, characterized in that the field of the test tips is divided into columns and rows, wherein a printed circuit board is attached to the printed circuit board, on which all test tips are interconnected during the first test. inside the rows and on which the second test points inside the columns are connected in a second test, identifying the faulty measuring tip as the one in which both the row and the column were found to be affected by the tester.