CS257664B1

CS257664B1 - Wiring the circuit to select the time in the ultrasonic material inspection device

Info

Publication number: CS257664B1
Application number: CS86334A
Authority: CS
Inventors: Vladimir Vokac
Original assignee: Vladimir Vokac
Priority date: 1986-01-16
Filing date: 1986-01-16
Publication date: 1988-05-16
Also published as: CS33486A1

Abstract

Zapojení je určeno pro ultrazvukové zařízení pro automatizovaná zjiětování vnitřních vad materiálů u kterých se v důsledku vnějěíoh příčin vyskytují krátkodobé výpadky akustioké vazby v obvodu vybíraoího Časového úseku. Zapojeni je upraveno tak, že na paralelní digitální vystup ultrazvukového tlduétkoměru Je připojen přes akumulátor dvojková informace dekodér zakázaného stavu, Současné je výstup ultrazvukového tlouétkoměru přiveden na obvod samočinné olony. Výstup dekodéru e propojen a prvním vstupem prvního hradového obvodu, na jehož druhý vstup je přiveden výstup obvodu samočinné olony. Výstup dekodéru je zároveň přes lnvertor přiveden na první vstup druhého hradlového obvodu, jehož druhý vstup Je spojen s výstupem generátoru pevné olony. Výstup prvního hradlového obvodu je přiveden na prvni vstup logiokého obvodu, na jehož . druhý vstup je přiveden výstup druhého hradlového obvodu a jeho výstup je spojen se vstupem obvodu samočinně sondy, jehož výstup je přiveden na defektoskop připojeny k akumulátoru dvojkové informace.The connection is intended for an ultrasonic device for automated detection of internal defects in materials in which, due to external causes, short-term failures of acoustic coupling occur in the circuit of the selecting time section. The connection is arranged so that the parallel digital output of the ultrasonic thickness gauge is connected via the accumulator to the binary information decoder of the forbidden state. At the same time, the output of the ultrasonic thickness gauge is fed to the circuit of the automatic shutter. The output of the decoder is connected to the first input of the first gate circuit, to the second input of which the output of the automatic shutter circuit is fed. The output of the decoder is also fed via the inverter to the first input of the second gate circuit, the second input of which is connected to the output of the fixed shutter generator. The output of the first gate circuit is fed to the first input of the logic circuit, to which the output of the automatic shutter circuit is fed. The second input is fed to the output of the second gate circuit and its output is connected to the input of the self-probe circuit, the output of which is fed to the defectoscope connected to the binary information accumulator.

Description

Vynález se týká zapojení obvodu vybíracího časového úseku v zařízení pro ultrazvukovou kontrolu materiálu. Jeho využiti je zejména u zařízení pro zkoušení plechů, širokopáskové oceli, případné jiných výrobků s konstantní tloušťkou stěny.The invention relates to circuitry of a pick-up time slot in an ultrasonic material inspection device. It is used especially for equipment for testing of sheet metal, wide strip steel, eventually other products with constant wall thickness.

Při kontrole materiálu s konstantní tloušťkou stěny se vyhodnocují ultrazvuková echa, která časově koincidují s přesně definovaným vybíráním úsekem. Automatizace kontrolního procesu vyžaduje, aby generování clony probíhalo samočinně, při současném respektování změn parametrů měřeného objektu a ostatních faktorů ovlivňujících kvalitu měření. Příkladem takového obvodu, kde jsou respektovány změny tloušťky kontrolovaného objektuj je zapojení pro samočinné nastavování clony pro vybírání ultrazvukových ech podle CS A.O. č. 263 177· Podstatou tohoto zapojení je, že na vstupy předvolby čítače vzad je výstupy připojen ultrazvukový měřič tloušťky a synchronizační výstup ultrazvukového měřiče tloušťky je připojen ne vstup druhého zpožďovacího obvodu. Hodinový vstup čítače vzad je přes hradlový obvod propojen na výstup hodinového generátoru frekvence, zatímco vstup pro povel k nastavení předvolby čítače je zaveden na výstup druhého zpožďovacího obvodu. Výstupy čítače vzad jsou vedeny na vstupy dekodéru, jehož výstup je zapojen na první vstup bistabilního klopného obvodu, jehož druhý vstup je zapojen na synchronizační výstup ultrazvukového defektoskopu. Výstup bistabilního klopného obvodu je propojen s druhým vstupem hradlového obvodu a s obvodem pro vybírání vadových ech v ultrazvukovém defektoskopu. U tohoto zapojení však není brána v úvahu kvalita akustické vazby mezi ultrazvukovým měničem a materiálem, což má za následek zkreslení výsledků měření v případě, kdy doba výpadku akustické vazby byla del ší než vzorkovací perioda tloušťkoměru a vazba je opět navazována.When checking material with a constant wall thickness, ultrasonic echoes are evaluated which coincide in time with a precisely defined section selection. The automation of the inspection process requires the iris generation to occur automatically, while respecting the changes in the parameters of the measured object and other factors affecting the quality of the measurement. An example of such a circuit where variations in the thickness of the inspected object are respected is the wiring for automatically adjusting the ultrasonic echoing screen according to CS A.O. No. 263 177 · The essence of this connection is that the ultrasonic thickness gauge is connected to the back preset inputs and the synchronization output of the ultrasonic thickness gauge is connected to the input of the second delay circuit. The reverse counter clock input is connected to the output of the clock frequency generator via the gate circuit, while the counter preset command input is output to the second delay circuit output. The counter outputs are routed to the decoder inputs, the output of which is connected to the first input of a bistable flip-flop, the second input of which is connected to the synchronization output of the ultrasonic flaw detector. The output of the bistable flip-flop is connected to the second input of the gate circuit and to the defect echo circuit in the ultrasonic flaw detector. However, in this connection, the quality of the acoustic coupling between the ultrasonic transducer and the material is not taken into account, resulting in a bias in the measurement results when the acoustic coupling failure time was longer than the thickness gauge sampling period and the coupling is re-established.

- 2 Vynález vychází z tohoto známého stavit techniky a odstraňuje výěe uvedené nedostatky zapojením, jehož podstata spočívá v ten, že na; paralelní digitální výstup ultrazvukového tleuělkeměru je připojen přes akumulátor dvojkové informace dekodér zakázaného stavu* Současné je paralelní digitální výstup ultrazvukového tlouělkoměru přiveden na první vstup obvodu samočinné clony,Výstup dekodéru zakázaného stavu je propojen s prvním vstupem prvního hradlového obvodu, na jehož druhý vstup je přiveden první vstup obvodu samočinné clony* Výstup dekodéru zakázaného stavu je zároveň přes invertor při· veden na první vstup druhého hradlového obvodu* Druhý vstup druhého hradlového obvodu je propojen s výstupem generátoru pevná dony* Výstup prvního hradlového obvodu je přiveden na první vstup logického obvodu a výstup druhého hradlového obvodu je přiveden na druhý vstup logického obvodu, jehéž výstup je spojen s druhým vstupem obvodu samočinné dony, jehož druhý výstup je přiveden na pracovní kanál defektoskopu* Defektoskop je připojen synchronizačním výstupem k akumulátoru dvojkové informace*The invention is based on this known prior art technique and removes the above-mentioned drawbacks by engaging the principle of the invention; parallel digital output of ultrasonic manometer is connected via binary information accumulator forbidden state decoder * Simultaneously, the parallel digital output of ultrasonic barometer is connected to the first input of the auto iris diaphragm circuit, the output of the forbidden state decoder is connected to the first input auto iris circuit input * Disable state decoder output is also connected via the inverter to the first input of the second gate circuit * The second input of the second gate circuit is connected to the fixed dony generator output * The output of the first gate circuit is connected to the first logic circuit input and output the gate circuit is connected to the second input of the logic circuit, the output of which is connected to the second input of the automatic donor circuit, the second output of which is connected to the working channel of the flaw detector. m output binary information to the battery *

Tímto zapojením je dosaženo, že po výpadku akustické vazby a jejím zpětném navázání je; po dobu vzorkovací periody tlouělkoměru nahrazena samočinná clona donou pevně definovanou*Tím je odstraněn zakázaný stav, kdy koncové echo časově koinciduje s donou*By this connection it is achieved that after the failure of the acoustic coupling and its reconnection it is; auto iris diaphragm fixed during the sample period of the thickness gauge * This removes the forbidden state where the end echo coincides with dona in time *

Blokové schéma přikladu zapojení obvodu podle vynálezu je znázorněno na připojeném výkresu.A block diagram of an exemplary circuit according to the invention is shown in the attached drawing.

Obvod sestává z ultrazvukového tlouělkoměru £, jehož výstup je veden jednak na vstup akumulátoru 2 dvojkové informace a jednak na první vstup obvodu £ samočinné dony* Taktovaci vstup akumulátoru 2 dvojkové informace je propojen s defektoskopem 2» synchronizačním signálem je akumulátor 2 dvojkové informace ovládám* Výstupní informace z akumulátoru 2 dvojkové informace je přivedena na vstup dekodéru 2 zakázaného stavu* Výstup z dekodéru 2 zakázaného stavu je přiveden jednak na první vstup prvního hradlového obvodu 6 a jednak ne vstup invertoru 8* Výstup invertoru 8 je přiveden na první vstup druhého hradlového obvodu 2· Na druhý vstup prvního hřeblového obvodu 6 je přiveden první výstup obvodu £ samočinné dony* Výstup prvního hradlového obvodu 6 je přiveden na první vstup logického obvodu 2 typu OR* Druhý vstup druhého hradlového obvodu je připojen na generátor 10 pevné dony . Výstup druhého hradlového obvodu 2 j® přiveden ne druhý vstup logického obvodu 2· Výstup logického obvodu 2 3® přiveden na druhý vstup obvodu £ samočinné dony, jehož druhý výstup je spojen se vstupem ůefektoskopu £·The circuit consists of an ultrasonic thickness gauge 6, the output of which is led both to the binary information accumulator input 2 and to the first input of the automatic dony circuit 6 * The clock input of the binary information accumulator 2 is connected to the defectoscope 2 » information from the accumulator 2 binary information is applied to the input of the decoder 2 of the discrete state * The output of the decoder 2 of the discrete state is connected to the first input of the first gate circuit 6 and to the input of the inverter 8. The second input of the first gate circuit 6 is connected to the first output of the autodial circuit 6. The output of the first gate circuit 6 is connected to the first input of a logic circuit 2 of the OR type. The output of the second gate circuit 2 is connected to the second input of the logic circuit 2.

- 3 Zapojení obvodu vybíracího časového úseku v zařízení pro ultrazvukovou kontrolu materiálu pracuje tak,, že vstupní informace z ultrazvukového tloušlkoměru Ί je ve vhodném okamžiku předána aku· mulátorem 2 dvojkové informace na vstup dekodéru jý zakázaného stavu. V případě, že bude možno použít samočinnou clonu obvodu 4, vhodná výstupní úroveň na dekodéru zakázaného stavu umožni generování samočinné clony obvodu J. přímo přes první hradlový obvod 6 a logický obvod J. Jestliže se však na vstupu dekodéru £ zakázaného stavu objeví informace o výpadku akustické vazby, jeho výstup zastaví generování automatické clony obvoťju 4 přes první hradlový obvod 6 a umožní průchod pevné clony přes druhý hradlový obvod j? a logický obvod 2· Tento stav. trvá po dobu měřícího cyklu ultra-* zvukového ti^Šlkoměru J,., dokud se na vstupu dekodéru jj zakázaného stavu neobjeví platná informace. Pak opět přebírá funkci-obvod 4 samočinné clony. V případě výpadku akustické vazby, jehož doba je delší než vzorkovací perioda ultrazvukového fclouštkoměru J_, není samočinná clona obvodu £ generována,The circuit wiring circuit in the ultrasonic material inspection device operates such that the input information from the ultrasonic thickness gauge ve is transmitted at a convenient time by the accumulator 2 of the binary information to the input of the decoder of the disabled state. If it is possible to use the automatic shutter of circuit 4, a suitable output level on the forbidden decoder will allow the automatic shutter for the circuit J to be generated directly through the first gate circuit 6 and the logic circuit J. However. of its acoustic coupling, its output stops the generation of the automatic orifice obojťju 4 over the first gate circuit 6 and allows the fixed orifice to pass through the second gate circuit j? and logic circuit 2 · This state. it lasts for the duration of the measurement cycle of the ultrasonic sounder 16 until valid information appears at the input of the disabled state decoder. It then takes over the function-circuit 4 of the auto-iris. In the event of a failure of the acoustic coupling, the duration of which is longer than the sampling period of the ultrasonic flux gauge 7, the automatic orifice of the circuit 6 is not generated,

Claims

Circuit selection circuit in the Dro ultrasonic material inspection device, characterized in that the parallel digital output of the ultrasonic thickness gauge (1) is connected via the accumulator (2) of the binary information decoder (5) of the disabled state and at the same time the parallel digital output of ultrasonic thickness gauge 1) is applied to the first input of the automatic shutter circuit (4), whereupon the output of the disabled state decoder (5) is coupled to the first input of the first gate circuit (6) to which the second input is. the first output of the automatic shutter circuit (4) and the output of the disabled state decoder (5) are connected via the inverter (8) to the first input of the second gate circuit (9), the second input of the second gate circuit (9) is connected to the generator output 10 (fixed orifice), then the output of the first gate circuit (6) is applied to the first input of the logic circuit (7) and the output D of the second gate circuit (9) is applied to the second input of the logic circuit (7) (4) an automatic orifice whose second output is fed to the working channel of the defectoscope (3) which is. connected to the accumulator / 2 / binary information.