CS258565B1 - Analyzátor energií elementárních částic - Google Patents

Analyzátor energií elementárních částic Download PDF

Info

Publication number
CS258565B1
CS258565B1 CS868659A CS865986A CS258565B1 CS 258565 B1 CS258565 B1 CS 258565B1 CS 868659 A CS868659 A CS 868659A CS 865986 A CS865986 A CS 865986A CS 258565 B1 CS258565 B1 CS 258565B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
analyzer
conductive layer
rings
particle energy
particles
Prior art date
Application number
CS868659A
Other languages
English (en)
Other versions
CS865986A1 (en
Inventor
Jan Fiser
Original Assignee
Jan Fiser
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jan Fiser filed Critical Jan Fiser
Priority to CS868659A priority Critical patent/CS258565B1/cs
Publication of CS865986A1 publication Critical patent/CS865986A1/cs
Publication of CS258565B1 publication Critical patent/CS258565B1/cs

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Podstatou analyzátoru je, že brzdné pole vytvářejí vodivé prstence s postupně se zvětšujícími středovými otvory a uspořádané za sebou odděleně mezi izolačními kroužky ve směru k analyzační mřížce se souosým otvorem, nad kterým je umístěna izolační trubka opatřená vnitřní vodivou vrstvou a vnější vodivou vrstvou. Analyzátor je určen zejména pro zařízení na zkoumání a diagnostiku integrovaných obvodů pomocí elektronového svazku.

Description

Vynález se týká analyzátoru energií elementárních částic s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem.
Analyzátor energií elementárních částic s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem slouží k rozlišení energií elementárních částic, které vystupují z povrchu zkoumaného předmětu vlivem působení jiných elementárních částic, dopadajících na zkoumaný povrch předmětu umístěného v prostředí, ve kterém je snížen atmosférický tlak plynů do té míry, aby tento jev mohl nastat.
V současné době jsou analyzátory energií elementárních částic s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem vytvořeným například polovodivou vnitřní vrstvou na izolačním válci nebo polovodivou keramikou používány ve větší miře v zařízeních, pracujících s elektronovým svazkem, k získání informací o energiovém rozložení hlavně sekundárních elektronů.
Mřížky v analyzátorech energií jsou použity pro získání homogenního rozložení elektrostatického pole v prostoru analyzátoru. Je vyžadováno, aby mřížka z vodivého materiálu měla co nejmenší velikost ok a co nejtenčí vodiče mezi oky mřížky. Toto provedení však umožňuje zkoumat velice malou oblast vzorku. Pro získání informací z větších oblastí vzorku je nutné vytvořit v mřížce otvor, jehož velikost zhruba odpovídá velikosti zkoumané plochy vzorku.
Díky tomu však vznikne v oblasti otvoru nehomogenita rozloženi elektrostatického pole, což má za následek zhoršení rozlišovací schopnosti analyzátoru energií.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje analyzátor energií elementráních částic s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem, jehož podstatou je, že brzdné pole je vytvořené vodivými prstenci s postupně se zvětšujícími středovými otvory a uspořádanými za sebou odděleně mezi izolačními kroužky ve směru k analyzační mřížce se souosým otvorem, nad kterým je umístěna izolační trubka, opatřená vnitřní a vnější vodivou vrstvou.
Hlavní výhodou analyzátoru je zvýšeni jeho rozlišovací schopnosti, zadrží pozadí signálu vytvořeného částicemi prošlými otvorem analyzační mřížky. Značně se omezí vliv extrakčních poli na primární svazek elementárních částic a sníží se vliv terciálních částic.
Vynález blíže objasní přiložený výkres, na kterém je znázorněn ve zjednodušeném náčrtku analyzátor v osovém řezu.
Analyzátor tvoří jednak extrakční prostor 9 a jednak brzdné pole 10 vytvořené z vodivých prstenců 2, které jsou vzájemně odděleny izolačními kroužky 2· Vodivé prstence 2 mají ve směru k analyzační mřížce 2 zvětšující se středové otvory, takže vodivý prstenec 2 před analyzační mřížkou 3 má průměr otvoru téměř stejný s obvodem analyzační mřížky 2· Středový otvor analyzační mřížky 2 íe uzavřen izolační trubkou £, jehož vnitřní vodivá vrstva je pospojována na zemní potenciál a vnější vodivá vrstva 2 na záporný potenciál vůči analyzační mřížce 2·
Extrakční prostor 2 je uzavřen extrakční mřížkou 5, která je napojena na kladný potenciál vůči analyzační mřížce 2· Primární svazek 2 prochází uvnitř izolační trubky 2 přes brzdné pole 10 na povrch zkoumaného předmětu 11. Analyzátorem se zkoumaným předmětem 11 v elektronově optickém přístroji prochází primární svazek 2 částic, který dopadá na povrch zkoumaného předmětu 11 a z jeho povrchu vybudí sekundární částice, které jsou předmětem zkoumání.
Sekundární částice postupují přes brzdné pole 10 k analyzační mřížce 2· V brzdném poli 10 ztratí částice část své energie a pouze ty částice, které mají energii vyšší než je potenciál analyzační mřížky 3 projdou do extrakčního pole 22· Odtud přes extrakční mřížku 2 opustí analyzátor, za nímž jsou zachycovány detektorem částic a vyhodnocovány.
Vhodně uspořádané středové otvory ve vodivých prstencích 2 zabraňují průchodu částic, vzniklých na vnitřním povrchu analyzátoru dopadem rychlých částic, k analyzační mřížce 2·
Izolační trubka 4 stíní svým průměrem otvor v analyzační mřížce 2 a zabraňuje průchodu částic do extrakčního prostoru 2 nehomogenitou tohoto otvoru. Vnitřní vodivá vrstva 7_ zabraňuje působení extrakčního pole vytvořeného extrakční mřížkou 5. Vnější vodivá vrstva 2 zabraňuje dopadu částic prošlých do extrakčního prostoru 2 na izolační trubku 2Analyzátor energií s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem je hlavně určen při zařízení na bezkontaktní zkoumání a diagnózu integrovaných obvodů pomoci elektronového svazku.

Claims (1)

  1. Analyzátor energií elementárních částic s rovinnými mřížkami a postupným brzdným polem, vyznačený tím, že brzdné pole (10) je vytvořené vodivými prstenci (2) s postupně se zvětšujícími středovými otvory a uspořádanými za sebou odděleně mezi izolačními kroužky (6) ve směru k analyzační mřížce (3) se souosým otvorem, nad kterým je umístěna izolační trubka (4) opatřená vnitřní vodivou vrstvou (7) a vnější vodivou vrstvou (8).
CS868659A 1986-11-26 1986-11-26 Analyzátor energií elementárních částic CS258565B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS868659A CS258565B1 (cs) 1986-11-26 1986-11-26 Analyzátor energií elementárních částic

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS868659A CS258565B1 (cs) 1986-11-26 1986-11-26 Analyzátor energií elementárních částic

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS865986A1 CS865986A1 (en) 1987-12-17
CS258565B1 true CS258565B1 (cs) 1988-08-16

Family

ID=5437449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS868659A CS258565B1 (cs) 1986-11-26 1986-11-26 Analyzátor energií elementárních částic

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS258565B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS865986A1 (en) 1987-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0431289B1 (en) Apparatus for testing samples using charged particles
JP2886508B2 (ja) 荷電粒子検出器およびこれを使用した質量分析計
EP0559202B1 (en) Secondary ion mass spectrometer for analyzing positive and negative ions
US4831267A (en) Detector for charged particles
US3681600A (en) Retarding field electron spectrometer
US3835328A (en) Ionization system for sensing and measuring gaseous impurities
US4126782A (en) Electrostatic charged-particle analyzer
US3579270A (en) Energy selective ion beam intensity measuring apparatus and method utilizing a scintillator to detect electrons generated by the beam
US3694652A (en) Electron probe apparatus using an electrostatic field to cause secondary electrons to diverge
US4146787A (en) Methods and apparatus for energy analysis and energy filtering of secondary ions and electrons
US8866103B2 (en) Charged particle energy analysers and methods of operating charged particle energy analysers
US9384936B2 (en) Energy filter for charged particle beam apparatus
RU2117939C1 (ru) Спектрометр ионной подвижности
CS258565B1 (cs) Analyzátor energií elementárních částic
US2772362A (en) Ion source for a mass spectrometer
GB2262649A (en) Energy analyser
EP0357145A1 (en) Energy analyser and spectrometer for low-energy electrons
US5594244A (en) Electron energy spectrometer
Yang et al. Development of a newly compact double-focusing mass spectrometer
US5969354A (en) Electron analyzer with integrated optics
Poschenrieder et al. New Directional and Energy Focusing Time of Flight Mass Spectrometers for Special Tasks in Vacuum and Surface Physics
US3614420A (en) Monopole mass spectrometer
Park Chemical analysis of surfaces
US3435334A (en) Method and apparatus for measuring high vacuums
US3519814A (en) Image converter electrode arrangement for a mass spectrometer