CS262551B1 - ) Equipment for checking wiring connections - Google Patents
) Equipment for checking wiring connections Download PDFInfo
- Publication number
- CS262551B1 CS262551B1 CS859217A CS921785A CS262551B1 CS 262551 B1 CS262551 B1 CS 262551B1 CS 859217 A CS859217 A CS 859217A CS 921785 A CS921785 A CS 921785A CS 262551 B1 CS262551 B1 CS 262551B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- test
- computer
- tested
- equipment
- checking
- Prior art date
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Zařízení pro automatickou kontrolu správnosti galvanicky propojených bodů v testovaných soustavách, umožňující kontrolu prakticky neomezeného počtu galvanicky propojených bodů při značné rychlosti testování 10^ až 10^ s podle rozsáhlosti soustavy. Zařízení má minimální energetické nároky a je charakterizováno i nízkými pořizovacími náklady. Zařízení obsahuje počítač, testovací desky a konektory pro připojení k testované soustavě.Device for automatic control of the correctness of galvanically connected points in tested systems, enabling control of a practically unlimited number of galvanically connected points at a significant testing speed of 10^ to 10^ s depending on the size of the system. The device has minimal energy requirements and is also characterized by low acquisition costs. The device includes a computer, test boards and connectors for connection to the tested system.
Description
Vynález se týká zařízení pro kontrolu správnosti zapojení kabeláží. Dosud se toto provádí bu3 stanovením ohmického odporu bzučákem nebo tzv. žárovkovou kontrolou, kdy galvanické propojení je ňvyá*načeno rozsvícením paralelně zapojených žárovek. Modernější je komparační metoda, kdy provádí porovnáni bezchybně zapojené prověřené kabeláže a kabeláže testované. Tyto metody jsou složité a pracné.The invention relates to a device for checking the correctness of wiring connections. So far, this is done by determining the ohmic resistance BU3 buzzer or so. Bulb control where galvanic connection N * VYA Nacen lighting of lamps connected in parallel. A more modern method is the comparison method, where it performs a comparison of well-tested proven cabling and tested cabling. These methods are complex and laborious.
Konečné vyhodnocení se provádí z naměřených výsledků a to tak, že je musí provádět pracovník. Doba testování je závislá na použité metodě a rozsáhlosti testované soustavy, trvá 10 až 10 hodin. Kromě popsané metody, prvé, která je nejpracnější, vyžadují ostatní způsoby nákladný zdroj napětí a také počet galvanicky propojených bodů i rozsáhlost soustavy jsou omezeny výkonem zdroje a logickými ziskem integrovaných obvodů.The final evaluation is done from the measured results so that they have to be performed by the worker. Testing time depends on the method used and the size of the test system, it takes 10 to 10 hours. In addition to the described method, the first, which is the most laborious, other methods require an expensive voltage source, and both the number of galvanically connected points and the size of the system are limited by the power of the source and the logic gain of the integrated circuits.
K testování vodivého obrazu plošných spojů se pak používají nákladné testery s kontaktním polem s pružně uloženými kontakty rozmístěnými v rastru plošného spoje. Pro testy kabeláží je možno využít také tester pro testování vodivého obrazce plošných spojů, u něhož je kontaktní pole nahrazeno příslušnými konektory a změněno programového vybavení. Nevýhodou jsou značné pořizovací náklady a značný počet vodičů nutných pro spojení testeru s testovanou 3 4 soustavou. Počet vodičů je roven počtu bodů testované soustavy, tj. 10 až 10 . Nevýhody popsaných metod odstraňuje dále popsaný vynález.Expensive contact field testers with resiliently mounted contacts distributed in the circuit board are then used to test the conductive image of the printed circuit board. For wiring tests, it is also possible to use a tester for testing the conductive pattern of printed circuits, in which the contact field is replaced by the corresponding connectors and the software is changed. The disadvantage is the considerable purchase costs and the considerable number of wires required to connect the tester to the tested system. The number of conductors is equal to the number of points of the tested system, ie 10 to 10. The disadvantages of the described methods are overcome by the invention described below.
Podstata zařízení pro automatickou kontrolu správnosti galvanicky propojených bodů v testovaných soustavách, které obsahuje počítač spočívá podle vynálezu v tom, že počítač obsahuje adresový dekodér pro výběr testovacích desek, které jsou spojeny s testovanou soustavou, přičemž spojení testovacích desek s počítačem je provedeno neúplnou systémovou sběrnicí a jednožilovými vodiči.According to the invention, a device for automatically checking the correctness of galvanically coupled points in test systems comprising a computer is characterized in that the computer comprises an address decoder for selecting test boards which are connected to the test system. and single core conductors.
Výhodou zařízení je jeho jednoduché uspořádání.The advantage of the device is its simple arrangement.
Vynález bude popsán podle připojených výkresů, kde obr. 1 představuje blokové schéma zařízení a obr. 2 schéma testovací desky.The invention will be described with reference to the accompanying drawings, in which Fig. 1 is a block diagram of the apparatus and Fig. 2 a diagram of the test plate.
Zařízení dle obr. 1 je sestaveno z více testovacích desek , D ... spojených jednožilovými vodiči Cp C2 ...CN s počítačem P obsahujícím navíc adresový dekodér A pro výběr testovacích desek D^, P2 ... pN a zařízení umožňující komunikaci s uživatelem. Mezi počítačem P a všemi testovacími deskami , p2 ... pN je zapojena neúplná systémová sběrnice B. Tato neúplná systémová sběrnice B umožňuje komunikaci konkrétní testovací desky —1' —2 ·’* —N S P°čítačem P a to bud čtení nebo zápis. Testovací desky , P2 ... D^ jsou spojeny s testovanou soustavou konektory K. Počet vodičů v neúplné systémové sběrnici B je dán počtem testovaných bodů na testované soustavě p a počtem kontaktů na konektorech K. Tak například pro testovanou soustavu S s 20 480 testovanými body má neúplnová systémová sběrnice B 15 vodičů s 80 kontakty na každém konektoru K.The device according to FIG. 1 is composed of a plurality of test boards, D ... connected by single-core conductors Cp C2 ... C N to a computer P comprising in addition an address decoder A for selecting test boards D ^, P2 ... p N and a device enabling communication with the user. P between the computer and all testplates, P 2 ... P N is connected incomplete system bus B. This incomplete system bus B provides communication concrete test slabs -1' -2 · '* N S P P ° whose TACE and either read or write. The test boards, P2 ... D ^ are connected to the system under test by connectors K. The number of wires in the incomplete system bus B is given by the number of test points on the system under test and the number of contacts on connectors K. has an incomplete system bus B of 15 wires with 80 contacts per connector K.
Blokové schéma testovací desky D^, Ρ2 ... D^ je na obr. 2. Každá testovací deska , P2 ... PN je tvořena vstupními a výstupními portami PO, k nimž jsou připojeny dekodéry DE. Za dekodérem DE konkrétní testovací desky následuje demultiplexer DM s multiplexerem MX. Čtení a zápis dat umožní neúplná systémová sběrnice B zapojená mezi počítač a vstupní portu PO a vodič zapojený mezi portu PO a adresový dekodér A počítače P. Demultiplexer DM je přes kontakt K spojen s testovanou soustavou S a současně s multiplexerem MX, který je zapojen na portu PO. K multiplexeru MX je připojen též dekodér DE. Součástí testeru je počítač P s centrální jednotkou, s pamětmi typu ROM s programovým vybavením a dále s pamětmi typu RWM pro tabulky adres a závad. K počítači P je připojen interface vstupních a výstupních zařízení a adresový dekodér A pro výběr testovacích desek D^, ... pN po jednožilových vodičích C^, ...CN·A block diagram of the test board D ^, Ρ2 ... D ^ is shown in Fig. 2. Each test board, P2 ... P N consists of input and output ports PO, to which DE decoders are connected. The decoder DE of the particular test board is followed by a DM demultiplexer with an MX multiplexer. Reading and writing of data is possible by incomplete system bus B connected between PC and input port PO and wire connected between PO port and address decoder A of computer P. Demultiplexer DM is connected via contact K with the tested system S and simultaneously with the MX multiplexer connected PO port. A DE decoder is also connected to the MX multiplexer. The tester includes a computer P with a central unit, ROMs with software and RWMs for address and fault tables. The input / output device interface and the address decoder A are connected to the computer P for selecting the test boards D ^, ... p N over single-core conductors C ^, ... C N ·
Počítač P umožňuje kontrolu správnosti zapojení, vlastní testování a doplňující funkce. Kontrola správnosti zapojení testeru spočívá v aktivaci každého bodu testované soustavy S demultiplexeru DM a jeho přečtení přes multiplexer MX, při závadě hlásí adresu místa závady na výstupním zařízení. Vlastní testovací program pak postupně ukládá do paměti počítače P úplné adresy jednotlivých galvanických zapojení v testované soustavě S ze vstupního zařízení. Jeden bod testované soustavy S vždy aktivuje a všechny ostatní kontroluje.Computer P allows you to check the wiring, self-testing and additional functions. Checking the correctness of the tester is based on the activation of each point of the tested system S of the demultiplexer DM and its reading through the MX multiplexer, in case of a failure it reports the address of the fault location on the output device. The actual testing program then gradually stores in the memory of the computer P the full addresses of the individual galvanic connections in the tested system S from the input device. One point of the test system S always activates and checks all the others.
Zapojení testovacích desek Dp D2 ... DR umožňuje automatickou kontrolu správnosti galvanicky propojených bodů a jeho výhody se projeví zejména v případě použití testovacích desek.Connection of test boards Dp D 2 ... D R enables automatic checking of correctness of galvanically connected points and its advantages will show especially when using test boards.
Porovnáním správných a aktivních přeadresovaných údajů vyhodnotí úplné tabulky závad, to jest zkraty, chybějící spoje, odpojený vysílací bod od ostatních, které sdělí na výstupní zařízení. Výhodou uspořádání dle vynálezu je prakticky libovolný počet galvanicky propojených bodů na testované soustavě S, shodnost testovacích desek Dj., D2 ... DN a jejich jednoduché propojení s počítačem P.By comparing the correct and active redirected data, it evaluates the complete fault tables, ie shorts, missing links, disconnected transmission point from others, which it communicates to the output device. The advantage of the arrangement according to the invention is practically any number of galvanically connected points on the tested system S, the identity of the test boards Dj., D 2 ... D N and their simple connection with the computer P.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS859217A CS262551B1 (en) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | ) Equipment for checking wiring connections |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS859217A CS262551B1 (en) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | ) Equipment for checking wiring connections |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS921785A1 CS921785A1 (en) | 1988-07-15 |
| CS262551B1 true CS262551B1 (en) | 1989-03-14 |
Family
ID=5443321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS859217A CS262551B1 (en) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | ) Equipment for checking wiring connections |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS262551B1 (en) |
-
1985
- 1985-12-13 CS CS859217A patent/CS262551B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS921785A1 (en) | 1988-07-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7245139B2 (en) | Tester channel to multiple IC terminals | |
| US5414343A (en) | Permanently installed cable system with integrated multi-cable tester | |
| US4481627A (en) | Embedded memory testing method and apparatus | |
| US4768195A (en) | Chip tester | |
| US6505317B1 (en) | System and method for testing signal interconnections using built-in self test | |
| EP0087212B1 (en) | Method of and apparatus for the automatic diagnosis of the failure of electrical devices connected to common bus nodes and the like | |
| KR100396972B1 (en) | Manufacturing testing of hot-plug circuits on a computer backplane | |
| US4150331A (en) | Signature encoding for integrated circuits | |
| JPS61188638A (en) | Apparatus and method for testing electronic system | |
| JPH03228343A (en) | Ic tester | |
| US4525802A (en) | Portable electronic testing apparatus | |
| JPS6321154B2 (en) | ||
| US6744257B2 (en) | Apparatus, a method for testing an electrical wiring system, a computer program for testing an electrical wiring system and a computer-readable storage medium having stored thereon a computer program for testing an electrical wiring system | |
| CN113985321B (en) | Cable connection performance testing device and method with intelligent self-learning capability | |
| US6901541B2 (en) | Memory testing method and apparatus | |
| CA1290056C (en) | Circuit for testing the bus structure of a printed wiring card | |
| EP0682259A1 (en) | Circuit-test fixture that includes shorted-together probes | |
| US4701696A (en) | Retargetable buffer probe | |
| JP3555953B2 (en) | Apparatus for testing connections with pulling resistors | |
| US7439870B2 (en) | Apparatus for testing cables | |
| US7272760B2 (en) | Curve tracing device and method | |
| WO2001015174A1 (en) | A memory module test system with reduced driver output impedance | |
| US20060004533A1 (en) | MCU test device | |
| EP0103353A2 (en) | Method of and apparatus for multiplexed automatic testing of electronic circuits and the like | |
| KR20060132143A (en) | Semiconductor device test device for simultaneously testing a plurality of semiconductor devices to be tested |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| IF00 | In force as of 2000-06-30 in czech republic | ||
| MK4A | Patent expired |
Effective date: 20001213 |