CS265627B1 - Adjustable electron microscope aperture holder - Google Patents

Adjustable electron microscope aperture holder Download PDF

Info

Publication number
CS265627B1
CS265627B1 CS879455A CS945587A CS265627B1 CS 265627 B1 CS265627 B1 CS 265627B1 CS 879455 A CS879455 A CS 879455A CS 945587 A CS945587 A CS 945587A CS 265627 B1 CS265627 B1 CS 265627B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
tube
aperture
microscope
electron microscope
diaphragm
Prior art date
Application number
CS879455A
Other languages
Czech (cs)
Other versions
CS945587A1 (en
Inventor
Jaroslav Ing Klima
Lubomir Rndr Tuma
Jiri Ing Petr
Original Assignee
Klima Jaroslav
Tuma Lubomir
Petr Jiri
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Klima Jaroslav, Tuma Lubomir, Petr Jiri filed Critical Klima Jaroslav
Priority to CS879455A priority Critical patent/CS265627B1/en
Publication of CS945587A1 publication Critical patent/CS945587A1/en
Publication of CS265627B1 publication Critical patent/CS265627B1/en

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

Je tvořen trubkou clony, která je ve své rozpěrné části opatřena podélnými zářezy, uvnitř trubky clony je vytvořeno lůžko clonového terčíku, přičemž trubka clony je svou rozpěrnou částí s přesahem suvně uložena v centrální trubce mikroskopu. Držák lze využít při konstrukci elektronových mikroskopů.It consists of a diaphragm tube, which is provided with longitudinal notches in its expansion part, a diaphragm target seat is formed inside the diaphragm tube, and the diaphragm tube is slidably mounted in the central tube of the microscope with its expansion part with an overlap. The holder can be used in the construction of electron microscopes.

Description

Vynález se týká nastavitelného držáku clony elektronového mikroskopu.The invention relates to an adjustable electron microscope aperture holder.

Elektronové mikroskopy jsou podél optické osy opatřeny několika clonami, které mají za úkol oddělit od středového svazku elektronů okrajové elektrony, které nejsou opticky kvalitní, a vymezit aperturu elektronového svazku, vytvořeného elektronově optickým tubusem. Tyto clony bývají bud stavitelné s možností jemného centrování zvnějšku mikroskopu, nebo pevné, nehybně umístěné podél optické osy tubusu. Pevné clony ve^tvaru terčíků s malým středovým otvorem bývají v držácích, jejichž poloha je pevně určena konstrukcí mikroskopu.The electron microscopes are provided with several orifices along the optical axis to separate non-optically high edge edge electrons from the central electron beam and define the aperture of the electron beam formed by the electron optical tube. These screens are either adjustable with the possibility of fine centering from the outside of the microscope or fixed, stationary along the optical axis of the tube. Fixed apertures in the form of discs with a small central opening tend to be in holders whose position is fixed by the structure of the microscope.

Nevýhodou tohoto stavu je, že vertikální polohu clony není možno měnit ani při přechodu k jinému režimu elektronově optické soustavy, což má za následek, že soustava clon může být optimalizována pouze pro jeden režim elektronově optické soustavy.The disadvantage of this state is that the vertical position of the aperture cannot be changed even when switching to another mode of the electron optical system, which results in the aperture system being optimized for only one mode of the electron optical system.

Uvedenou nevýhodu dosavadního stavu do značné míry odstraňuje nastavitelný držák clony elektronového mikroskopu podle vynálezu, jehož podstatou je, že je tvořen trubkou clony, která je ve své rozpěrné části opatřena podélnými zářezy, uvnitř trubky clony je vytvořeno lůžko clonového terčíku, přičemž trubka clony je svou rozpěrnou částí a přesahem suvně uložena v centrální trubce mikroskopu.This disadvantage of the prior art is largely eliminated by the adjustable electron microscope aperture holder of the present invention, which is formed by an aperture tube having longitudinal slits in its expansive portion, and an aperture target bed is formed within the aperture tube; the spacing part and the overlap are slidably mounted in the central tube of the microscope.

Výhody nastavitelného držáku clony elektronového mikroskopu podle vynálezu spočívají zejména v tom, že umožňuje libovolné nastavení vertikální polohy clon, takže polohu clon je možno optimalizovat pro každý režim elektronového mikroskopu.The advantages of the adjustable electron microscope aperture holder according to the invention are in particular that it allows arbitrary adjustment of the vertical aperture position so that the aperture position can be optimized for each electron microscope mode.

Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiloženého výkresu, na němž je znázorněno příkladné provedení nastavitelného držáku clony elektronového mikroskopu podle vynálezu.The invention will now be described in more detail with reference to the accompanying drawing, in which an exemplary embodiment of an adjustable electron microscope aperture holder according to the invention is shown.

Držák clony je v příkladném provedení tvořen trubkou 2 clony, která je ve své rozpěrné části 2 opatřena podélnými zářezy 3.· Uvnitř trubky 1. clony je vytvořeno lůžko £ clonového terčíku 5.. Trubka JL clony je svou rozpěrnou částí 2 s přesahem suvně uložena v centrální trubce £ mikroskopu. Clonový terčík 5 je v lůžku 4_ přidržován pružnou zátkou J7· Ve spodní Části trubky clony je vytvořen vnitřní manipulační závit _8. 'In the exemplary embodiment, the aperture holder is formed by an aperture tube 2, which has longitudinal slots 3 in its spacer part 2. The aperture target bed 5 is formed inside the aperture tube 1. The aperture tube 11 is slidably supported by its spacer part 2. in the central tube 6 of the microscope. The diaphragm target 5 is held in the seat 4 by a resilient plug 7. In the lower part of the diaphragm tube an internal handling thread 8 is formed. '

V činnosti nastavitelného držáku clony elektronového mikroskopu podle vynálezu se manipulační závit 8^ trubky 1. clony našroubuje na neznázorněnou vytahovací tyčku a s její pomocí se nasune do centrální trubky mikroskopu do polohy optimální pro zamýšlený režim činnosti. Centrální trubka 6 prochází pólovými nástavci cívek mikroskopu, přičemž její osa je současně osou pólových nástavců, a umožňuje minimalizaci počtu vakuových spojů v oblasti elektronového svazku. Trubka .1 clony je držena v centrální trubce j5 mikroskopu třením rozpěrné části o vnitřní povrch centrální trubky Toto tření spolehlivě fixuje polohu clonového terčíku _5 v průběhu práce s mikroskopem, nezamezuje však přestavění polohy trubky 1. clony s clonovým terčíkem 5. do jiné polohy pomocí vytahovací tyčky při změně režimu mikroskopu, ani úplnému vyjmutí trubky 1_ clony z elektronového mikroskopu za účelem vyčištění clonového terčíku _5.In the operation of the adjustable electron microscope diaphragm holder according to the invention, the manipulation thread 8 of the diaphragm tube 1 is screwed onto a pull-out rod (not shown) and is pushed into the central microscope tube in a position optimal for the intended mode of operation. The central tube 6 extends through the pole extensions of the microscope coils, the axis of which is at the same time the axis of the pole extensions, and allows to minimize the number of vacuum connections in the region of the electron beam. The diaphragm tube 1 is held in the central tube 5 of the microscope by rubbing the spacer portion on the inner surface of the central tube. This friction reliably fixes the position of the iris target 5 while operating the microscope, but does not prevent the positioning of the iris tube 5 with the iris target 5 the pull-out rod when changing the microscope mode, or completely removing the orifice tube 7 from the electron microscope to clean the orifice plate 5.

Vynález lze využít při konstrukci elektronových mikroskopů.The invention can be used in the construction of electron microscopes.

Claims (1)

PŘEDMĚT VYNALEZU /OBJECT OF THE INVENTION / Nastavitelný držák clony elektronového mikroskopu, vyznačující se tím, že je tvořen trubkou (1) clony, která je ve své rozpěrné části (2) opatřena podélnými zářezy (3), uvnitř trubky (1) clony je vytvořeno lůžko (4) clonového terčíku (5), přičemž trubka (1) clony je svou rozpěrnou částí (2) s přesahem suvně uložena v centrální trubce (6) mikroskopu.An adjustable electron microscope aperture holder, characterized in that it is formed by an aperture tube (1) having longitudinal slots (3) in its expansive portion (2), and an aperture target bed (4) is formed inside the aperture tube (1) ( 5), wherein the diaphragm tube (1) is slidably mounted in the central tube (6) of the microscope with its overlap portion (2).
CS879455A 1987-12-18 1987-12-18 Adjustable electron microscope aperture holder CS265627B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS879455A CS265627B1 (en) 1987-12-18 1987-12-18 Adjustable electron microscope aperture holder

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS879455A CS265627B1 (en) 1987-12-18 1987-12-18 Adjustable electron microscope aperture holder

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS945587A1 CS945587A1 (en) 1989-02-10
CS265627B1 true CS265627B1 (en) 1989-11-14

Family

ID=5444768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS879455A CS265627B1 (en) 1987-12-18 1987-12-18 Adjustable electron microscope aperture holder

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS265627B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
CS945587A1 (en) 1989-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5414261A (en) Enhanced imaging mode for transmission electron microscopy
US4596934A (en) Electron beam apparatus with improved specimen holder
EP0352552B1 (en) Process for illuminating an object in a transmission electron microscope and electron microscope suitable for that process
US4209698A (en) Transmission-type charged particle beam apparatus
JPH0357571B2 (en)
JP4361603B2 (en) High-temperature sample stage and detector for environmental scanning electron microscope
US5276324A (en) Composite scanning tunneling microscope
US3924126A (en) Electron microscopes
US2464419A (en) Method of and apparatus for selectively achieving electronic darkfield and bright field illumation
GB2040065A (en) Microscope
CS265627B1 (en) Adjustable electron microscope aperture holder
JP4354197B2 (en) Scanning electron microscope
KR920007183B1 (en) Color picture tube having inline electron gun with coma correction members
US7501638B1 (en) Charged particle beam emitting device and method for operating a charged particle beam emitting device
KR0174565B1 (en) Mechanically Stable Radiant Gun Assembly
US3660657A (en) Electron microscope with multi-focusing electron lens
JPH02126545A (en) Scanning electron beam apparatus
EP1087420A2 (en) Device for particle-optical illumination and imaging comprising a single field condensor-ojective lens
GB2118361A (en) Scanning electron beam apparatus
US4121100A (en) Electron microscope
HK146594A (en) Cathode-ray tube electron gun having improved screen grid
US2655601A (en) Electron microscope
US2575067A (en) Ion trap
JPH01319237A (en) Electron microscope
US2444700A (en) Method of operating electron guns