CZ2017161A3 - Zapojení generátoru časové prodlevy - Google Patents
Zapojení generátoru časové prodlevy Download PDFInfo
- Publication number
- CZ2017161A3 CZ2017161A3 CZ2017-161A CZ2017161A CZ2017161A3 CZ 2017161 A3 CZ2017161 A3 CZ 2017161A3 CZ 2017161 A CZ2017161 A CZ 2017161A CZ 2017161 A3 CZ2017161 A3 CZ 2017161A3
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- input
- bits
- microstrip line
- binary counter
- speed binary
- Prior art date
Links
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 40
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 35
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 23
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Zapojení generátoru časové prodlevy v oblasti impulzních generátorů, který spouští běh prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače (10) MC100E016 dolních 8 bitů a druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače (15) MC100E016 horních 8 bitů pomocí klopného R-2 obvodu (29) a který používá na všech kritických spojích logických obvodů mikropáskové vedení (2, 4, 19, 22, 24, 27, 31, 33, 35, 37 a 39) se známou impedanci např. 100 Q a která jsou opatřena přizpůsobením (3, 5, 20, 23, 25, 28, 32, 34, 36, 38 a 40) o stejné impedanci, jak je mikropáskové vedení (tedy v tomto případě opět 100 ΩΩΩ)
Description
Oblast techniky fV X&4 - 2g4 7
Vynález se týká zapojení generátoru časové prodlevy spouštěcího běh čítače pomocí klopného R-S obvodu.
Dosavadní stav techniky
Reflektometr OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) je přístroj pro testování a měření průběhu útlumu optických tras. Reflektometr využívá metodu zpětného rozptylu, která je nepřímou a nedestruktivní metodou založenou na měření Rayleighova rozptylu, jenž přispívá k celkovému útlumu optického vlákna. Metoda je založená na detekci zpětně odražených optických pulzů, které měřicí přístroj vysílá do optické trasy. Reflektometr OTDR pracující v pulzním režimu vysílá posloupnost krátkých optických pulzů o délce přibližně několika stovek nanosekund až několika desítek mikrosekund. V důsledku Rayleighova rozptylu na nehomogenitách v jádře a v důsledku zpětných odrazů na konektorech, část optického výkonu se odráží zpět k začátku připojené trasy. Vyhodnocení zpětně odraženého záření umožňuje přesný odhad útlumových vlastností měřené trasy. Měřeným jevem je tedy úroveň výkonu zpětně odraženého záření jako funkce času propagace pulzů na místo odrazu a zpět.
Určení časové pozice vyslaného optického impulsu a odraženého optického signálu se provádí pomocí generátoru časové prodlevy časovacího obvodu OTDR. Generátor časové prodlevy Časovači obvod pracuje tak, že při aktivaci zdroje optického signálu se spouští odpočet nastaveného časového intervalu a čeká se na vynulování čítače, při kterém se vzorkuje velikost odraženého optického signálu.
Odpočet v obvodech reflektometrů, ať již metalických nebo optických vedení, se však vyjímá taktovací rychlosti odečtu a délkou časového kroku, který je potřeba rozlišit. Zpravidla se jedná o taktovací rychlost ve stovkách MHz a časový krok v jednotkách nanosekund.
V americké přihlášce vynálezu lěl U (^508^747 A je popsán systém a způsob provádění spouštěcích signálů v optickém reflektometrů, kde podle jednoho provedení
OTDR systém používá laserový paprsek pro vytvoření referenčního signálu. Tento signál se vede optickým vazebním členem 4x4, který rozděluje signál na první signál » 9 i ♦ i · » *
a druhý signál pomocí fázového posunu. Tyto signály jsou převedeny na elektrické signály a spouštěcí jednotka generuje spouštěcí impulsy v těch časových okamžicích, ve kterých tyto elektrické signály procházejí nulou.
Dále se využívá integrovaných obvodů, konkrétně logických obvodů v technologii ECL. Mezi jinými se nabízí integrovaný čítač MC100E016 firmy ON Semiconductor o šířce 8 bitů. Typická taktovací rychlost zmíněného obvodu dosahuje 900 MHz, což je pro většinu aplikací vyhovující. Problém ovšem nastává, pokud je potřeba navýšit počet bitů na 16, příp. na ještě větší počet Pak nezbývá nic jiného, než uvedené čítače zřetězit. Utrpí ovšem taktovací rychlost. Z informací v katalogovém listu vyplývá, že při navýšení výstupních bitů na 16 činí maximální taktovací rychlost 625 MHz, při dalším navýšení klesne na pouhých 500 MHz.
Optické testovací zařízení pro detekci a sledování ztrát a/nebo poruch v optických vláknech popisuje mezinárodní přihláška vynálezu^. WO^112509. Optické A testovací zařízení zahrnuje optický měřič optické časové oblasti světelných impulzů do testovacího vlákna. Zařízení dále zahrnuje optický zesilovač, který je uspořádán ve světelné dráze mezi optickým měřidlem optického časového pole a zkušebním vláknem pro zesilování světelných impulzů. Optický přepínač je umístěn ve světelné dráze mezi zesilovačem a zkušebním vláknem, aby se zabránilo nežádoucímu osvětlení zkušebního vlákna. Časové prostředky jsou uspořádány pro synchronizaci optického spínače tak, aby se spínač otevřel, když se světelný impulz dostane do spínače a uzavřel spínač, jakmile světlo opouští optický spínač.
Optický časově závislý odrazový systém (OTDR), který zahrnuje nový impulsní zdroj je popsán v americké přihlášce vynálezu N US 5033826 A. Systém tvoří oscilátor, fázový převodník, zesilovač, generátor optických impulzů, integrovaný elektrooptický obvod, detektor, časovač, konvertor a výstupní zařízení. Systém OTDR může být použit k určení toho, který povrch fotografické čočky nejvíce zhoršuje propustnost světla. Když je zesilovač aktivován, signál z oscilátoru spustí časovač a generátor impulsů. Časovač je proveden jako časově digitální obvod s analogovou interpolací.
Výsledný puls se přenáší přes integrovaný elektrooptický obvod do vyhodnocovací čočky. Když se objeví odraz z objektivu s největší intenzitou, tak výsledný detekční signál zastaví časovač. Výsledek je zobrazen a/nebo uložen na výstupním zařízení.
Optický impuls přenášený podél optické dráhy integrovaného elektrooptického obvodu je fázově posunut. Fázový posuvník je naprogramován tak, aby toto fázové zkreslení > « bylo přibližně kvadratické po dobu trvání impulsu, takže frekvence impulsu je lineárně utlumována. Integrovaný elektrooptický obvod zahrnuje disperzní mřížku, která zavádí časové zpoždění, jako funkci frekvence. Kombinace utlumování a rozptýlení světelného impulzu vede k výslednému impulsu, který je ve srovnání s jeho původní podobou komprimován. Komprimovaný impuls umožňuje přesnější identifikaci povrchu.
OTDR systém, který se používá v síti optických vláken ke kontrole poškození optických vláken, popisuje evropská přihláška vynálezu
Řídicí obvod generuje pulzní proud na základě elektrického impulsu z časovače. Zdroj světla vydává světelný impuls, který přejde do optického vlákna přes optickou vlnovodovou směrovou spojku a pak přejde k měřícímu optickému vláknu. Zpožďovací obvod zpomaluje digitální ovládací části, aby získal čas potřebný pro to, aby světelný impuls mohl jit tam a zpět v optickém vlákně.
V japonské přihlášce vynálezu jší JP H03282344 A, je popsán OTDR systém jednoduché konstrukce. Systém modifikuje optický impuls, čímž se omezí šířka impulsu. Konstrukce OTDR zahrnuje řídicí jednotku, oscilátor, fázový převodník, zesilovač, generátor optických impulzů, integrovaný elektrooptický obvod (IEOC), detektor, časovač, převodník a výstupní jednotku, tj. displej nebo paměť. IEOC zahrnuje substrát, vstupní optickou dráhu, disperzní mřížku, výstupní optickou dráhu, první elektrodu a druhou elektrodu. Elektrody mají rovnoběžné podélné segmenty a proud procházející těmito segmenty generuje pole prostupující optickou dráhu. Pole indukuje fázové zkreslení v optickém impulsu a jeho kratší šířka umožňuje snížení hmotnosti a velikosti konstrukce OTDR i zvýšení jeho přesnosti.
Nevýhoda dosavadního stavu techniky spočívá v následujícím:
První zmíněné zařízení využívá k dosažení krátkých časových intervalů optické vlákno. Časová konstanta tohoto zařízení je dána délkou optického vlákna a není ji možné operativně měnit. Navíc, optické vlákno dané délky není vhodné k miniaturizaci a k integraci.
Nevýhoda zařízení využívající vyráběných integrovaných obvodů a jejich zapojení podle katalogových listů spočívá zejména v tom, že tyto zařízení využívají ve svých obvodech přenosové cesty o neznámé impedanci bez potřebného přizpůsobení,
4» « « 4 « i 1 -» 4» «
5 « « 4 1 · ♦? « _ »·>«»· * · » 9» i š < < 1 » i 9* l · · · « · « · « · 9 · 4»·» · což v konečném důsledku vede k deformaci tvaru signálů a poklesu maximální přenosové a taktovací rychlosti.
Cílem vynálezu je návrh zapojení generátoru časové prodlevy časovacího obvodu optického reflektometru, které umožní dosažení co nejkratšího časového kroku, jenž vyplyne z co nejvyšší taktovací frekvence.
Podstata vynálezu
Výše uvedeného cíle je dosaženo zapojením generátoru časové prodlevy, který sestává z integrovaného obvodu, zahrnujícího vstup taktovacího signálu připojený přes první mikropáskové vedení na vstup CLK prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače dolních 8 bitů a druhým mikropáskovým vedením na vstup CLK druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače horních 8 bitů a dále zahrnující vstup dat pro odečet dolních 8 bitů připojený prvním standardním vedením na první převodník TTL/ECL, který je připojen přes druhé standardní vedení na vstup prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače dolních 8 bitů a dále zahrnující vstup pro odečet horních 8 bitů připojený třetím standardním vedením na druhý převodník TTL/ECL, který je připojený čtvrtým standardním vedením na vstup druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače horních 8 bitů, přičemž první synchronní vysokorychlostní binární čítač dolních 8 bitů je přes výstup TC připojen devátým mikropáskovým vedením na vstup CE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače horních 8 bitů a přes desáté mikropáskové vedení na vstup D1 hradla logického součtu obvodu a druhý synchronní vysokorychlostní binární čítač horních 8 bitů je přes výstup TC připojen jedenáctým mikropáskovým vedením na vstup D2 hradla logického součtu obvodu, které je přes výstup Q připojeno pátým mikropáskovým vedením na výstup ukončení běhu čítače a vstup spouštěcího signálu je připojen pátým standardním vedením na třetí převodník TTL/ECL, který je dále připojen třetím mikropáskové vedením na výstup spouštěcího signálu, jehož podstata spočívá vtom, že má třetí převodník TTL/ECL připojen čtvrtým mikropáskovým vedením na vstup S klopného obvodu R-S a hradlo logického součtu je přes výstup Q připojeno přes šesté mikropáskové vedení na vstup R klopného obvodu R-S, který je prostřednictvím výstupu Q připojen přes sedmé mikropáskové vedení na vstup PE prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače dolních a
a a
* a
a a
a ♦ · • a a · « · ί· * »· » i a ♦ a a a a
bitů a přes osmé mikropáskové vedení na vstup PE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače horních 8 bitů.
Podstata vynálezu spočívá v řešení generátoru časové prodlevy, který spouští běh čítače pomocí klopného R-S obvodu a který používá na všech kritických spojích logických obvodů mikropáskové vedení se známou impedancí (např. 100 Ω) opatřené přizpůsobením o stejné impedanci, jako je mikropáskové vedení (tedy v tomto případě opět 100 Ω). Je výhodné, je-li přizpůsobení provedeno formou Theveninového děliče.
Pro dosažení náběžných a sestupných hran signálu řádově ve stovkách pikosekund časovacího obvodu OTDR se musí používat mikropáskové vedení a patřičná přizpůsobení. Nepoužívá se standardních mikropáskových vedení 50 Ω, ale mikropáskových vedení 100 Ω. Integrita signálů zůstane zachována při mnohem menších šířkách cest mikropáskových vedení. Při impedanci mikropáskového vedení 100 Ω, substrátu FR4 a tloušťce substrátu 1.5 mm vychází šířka cesty mikropáskového vedení na 0.6 mm. Pokud se použije substrát FR4 o tloušťce 1 mm, je možné dosáhnout šířky vedení pouze 0.4 mm, což již plně vyhovuje šířkám vývodů moderních integrovaných obvodů.
Základní rozdíl oproti stávajícímu stavu techniky spočívá v doplnění schématu o klopný obvod R-S, který spouští a zastavuje čítání, funkční mikropáskové vedení známé impedance a o patřičná přizpůsobení těchto vedení.
Objasnění výkresů
Předkládaný vynález bude blíže osvětlen pomocí výkresu, na kterém obr. 1 znázorňuje schéma zapojení generátoru časové prodlevy spouštěcího běh čítače pomocí klopného R-S obvodu.
tLskahečnéní
Příklady provoděni vynálezu
Princip zapojení generátoru časové prodlevy bude osvětlen na příkladném provedení, popsaném v následném textu.
Zapojení generátoru časové prodlevy spouštěcího běh čítače pomocí klopného R-S obvodu je znázorněno na obr. 1. Zapojení v tomto provedení zahrnuje vstup 1 taktovacího signálu připojený přes první mikropáskové vedení 2 na vstup CLK prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 dolních 8 bitů typu MC100E016
-> » »· »>> »
4·
9· lil· · a druhým mikropáskovým vedením 4 na vstup CLK druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 horních 8 bitů typu MC100E016. A dále zahrnuje vstup 6 dat pro odečet dolních 8 bitů, který je připojen prvním standardním vedením 7 na první převodník 8 TTL/ECL, který je dále připojen přes druhé standardní vedení 9 na vstup prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 dolních 8 bitů typu MC100E016.A dále zahrnuje vstup 11 pro odečet horních 8 bitů, který je připojen třetím standardním vedením 12 na druhý převodník 13 TTL/ECL. jenž je připojen čtvrtým standardním vedením 14 na vstup druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 horních 8 bitů typu MC100E016, přičemž první synchronní vysokorychlostní binární čítač 10 dolních 8 bitů typu MC100E016 je přes výstup TC připojen jednak devátým mikropáskovým vedením 35, jenž je opatřeno devátým přizpůsobením 36, na vstup CE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 horních 8 bitů typu MC100E016 a jednak přes desáté mikropáskové vedení 37, jenž je opatřeno desátým přizpůsobením 38, na vstup Dl hradla 30 logického součtu obvodu realizováno obvodem MC100EL01, přičemž druhý synchronní vysokorychlostní binární čítač 15 horních 8 bitů typu MC100E016 je přes výstup TC připojen jedenáctým mikropáskovým vedením 39, jenž je opatřeno jedenáctým přizpůsobením 40, na vstup D2 hradla 30 logického součtu obvodu typu MC100EL01, které je přes výstup Q připojeno pátým mikropáskovým vedením 24, jenž je opatřeno pátým přizpůsobením 25, na výstup 26 ukončení běhu čítače. Dále zapojení zahrnuje vstup 16 spouštěcího signálu, který je připojen pátým standardním vedením 17 na třetí převodník 18 TTL/ECL, který je dále připojen mikropáskovým třetím vedením 19, které je opatřeno třetím přizpůsobením 20, na výstup 21 spouštěcího signálu, přičemž třetí převodník 18 TTL/ECL je připojen mikropáskovým čtvrtým vedením 22, jenž je opatřeno čtvrtým přizpůsobením 23, na vstup S klopného obvodu 29 R-S, realizován obvodem MC10H131, přičemž hradlo 30 logického součtu je přes výstup Q připojeno přes mikropáskové šesté vedení 27, jenž je opatřeno šestým přizpůsobením 28, na vstup R klopného obvodu 29 R-S, který je prostřednictvím výstupu Q připojen, jednak přes sedmé mikropáskové vedení 31, které je opatřeno sedmým přizpůsobením 32, na vstup PE prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 dolních 8 bitů typu MC100E016 a jednak přes osmé mikropáskové vedení 33, jenž je opatřeno osmým přizpůsobením 34, na vstup PE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 horních 8 bitů typu MC100E016.
-7- » ’ í » ·» »
9 * t 9 9 9t
J 9 9 · ·»
9 4 9·» 9*
-» 9 » 9 »* ’ 3 » 9 ♦ 9 · 3 3 J » * > ·
- » 99 • 3» • ·9 » »·
5¼ » 9 99
Funkce zapojení generátoru časové prodlevy spouštěcího běh čítače pomocí klopného R-S obvodu je následující. Přes blok 6 vstupuje dolních 8 bitů, a přes blok 11 vstupuje horních 8 bitů. Data pro odečet dolních 8 bitů jsou vedena z bloku 6 přes standardní vedení 7 na vstup prvního převodníku 8 úrovní TTL/ECL. Dále pak data pokračují standardními vedením 9 na vstup prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 dolních^ bitů (obvod MC100E016). Zatímco data pro odečet horních 8 bitů jsou vedena z bloku 11 přes standardní vedení 12 na vstup druhého převodníku 13 úrovní TTL/ECL. Dále pak data pokračují standardním vedením 14 na vstup druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 horních 8 bitů (obvody MC100E016). Ke spouštění prvního a druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 a 15 slouží vstup 16. Jedná se o signál úrovně TTL, který pokračuje standardním vedením 17 do třetího převodníku 18 úrovní TTL/ECL. Signál úrovně TTL dále vybavuje jak výstup spouštěcího signálu 21 přes třetí mikropáskové vedení 19 a třetí přizpůsobení 20, tak vstup S klopného obvodu 29 R-S přes mikropáskové vedení 22 a čtvrté přizpůsobení 23. To má za následek změnu logické úrovně na výstupu Q klopného obvodu 29 R-S, který vybavuje vstup PE (Parallel Load Enable) prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 přes sedmé mikropáskové vedení 31 a sedmé přizpůsobení 32, stejně tak vstup PE (Parallel Load Enable) druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 přes osmé mikropáskové vedení 33 a osmé přizpůsobení 34. Změna logické úrovně na uvedených PE vstupech zajistí přepis paměťových buněk prvního a druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 a 15 na hodnoty zadané bloky 6 a 11 vstupy dat pro odečet. Od této chvíle první synchronní vysokorychlostní binární čítač 10 a druhý synchronní vysokorychlostní binární čítač 15 navyšují svůj stav o jednotku podle taktovacího signálu, který je přiveden vstupem 1. Taktovací signál je rozveden pomocí prvního mikropáskového vedení 2 a prvního přizpůsobení 3 k prvnímu synchronnímu vysokorychlostnímu binárnímu čítači 10, stejně jako pomocí druhého mikropáskového vedení 4 a druhého přizpůsobení 5 k druhému synchronnímu vysokorychlostnímu binárnímu čítači 15. Výstupní signál TC (Terminál Count) prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 vybavuje vstup CE (Count Enable) druhého čítače 15 přes deváté mikropáskové vedení 35 a deváté přizpůsobení 36, stejně jako vstup hradla 30 logického součtu přes desáté mikropáskové vedení 37 a desáté přizpůsobení 38. Výstupní signál TC (Terminál Count) druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 15 vybavuje pouze vstup hradla 30 logického součtu přes jedenácté mikropáskové vedeni 39 a jedenácté přizpůsobení 40. Přetečení prvního a druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače 10 a 15 vyvolá souhlasnou úroveň na vstupech hradla 30 logického součtu. Ta má za následek změnu logické úrovně na výstupu Q hradla 30 logického součtu. Tato změna je rozvedena na výstup 26 ukončení běhu čítače pomocí pátého mikropáskového vedení 24 a pátého přizpůsobení 25, stejně jako na vstup R klopného obvodu 29 R-S pomocí šestého mikropáskového vedení 27 a šestého přizpůsobení 28. Tím je čítání ukončeno a čeká se na nový povel ze vstupu spouštěcího signálu 16.
Kritické signálové cesty se realizují jako mikropásková vedení s přesně definovanou hodnotou impedance. V tomto případě se používá hodnota 100 Ω. Dá se samozřejmě použít kterákoli jiná hodnota v rozsahu 10 Ω až 1 kΩ. Mikropásková vedení jsou vytvořena na substrátu FR4. Existují i jiné substráty, jako FR2, FR3, FR4, FR6, teflon apod. Substráty jsou z jedné strany opatřeny měděným páskem definované šířky a z druhé strany souvislou měděnou plochou. Šířka mikropáskového vedení vychází z měrné permitivity substrátu, která může být v rozsahu 1 až 100 a tloušťky substrátu, která může být v rozsahu 0.1 hMi až 10 mm a zvolené impedance mikropáskového vedení. Příklady hodnot šířek mikropáskového vedení jsou uvedeny výše. Impedance přizpůsobení (Theveninův dělič) musí mít stejnou hodnotu jako impedance mikropáskového vedení.
Průmyslová využitelnost
Generátor časové prodlevy spouštěcí běh čítače pomocí klopného R - S obvodu nachází průmyslovou využitelnost v rámci impulsních generátorů, při generování krátkých nastavitelných časových intervalů, při generování nastavitelných časových značek cejchovacích přístrojů apod.
-9Seznam vztahových značek
- vstup taktovacího signálu
- první mikropáskové vedení taktovacího signálu
- první přizpůsobení mikropáskového vedení
- druhé mikropáskové vedení taktovacího signálu
- druhé přizpůsobení mikropáskového vedení
- vstup dat pro odečet (dolních 8 bitů)
- standardní vedení do převodníku úrovní TTL/ECL
- první převodník úrovní TTL/ECL
- standardní vedení na vstup čítače
- první synchronní vysokorychlostní binární čítač dolních 8 bitů
- vstup dat pro odečet (horních 8 bitů)
- standardní vedení do převodníku úrovní TTL/ECL
- druhý převodník úrovní TTL/ECL
- standardní vedení na vstup čítače
- druhý synchronní vysokorychlostní binární čítač horních 8 bitů
- vstup spouštěcího signálu
- standardní vedení do převodníku úrovní TTL/ECL
- třetí převodník úrovní TTL/ECL
- třetí mikropáskové vedení spouštěcího signálu
- třetí přizpůsobení mikropáskového vedení
- výstup spouštěcího signálu, nejčastěji pro obvod LASERu
- čtvrté mikropáskové vedení spouštěcího signálu
- čtvrté přizpůsobení mikropáskového vedení
- páté mikropáskové vedení výstupu součtového hradla 30
- páté přizpůsobení mikropáskového vedení
- výstup ukončení běhu čítače, nejčastěji pro měřicí vzorkovací obvod
-10* · ·
- šesté mikropáskové vedení výstupu součtového hradla 30
- šesté přizpůsobení mikropáskového vedení
- klopný obvod R-S, který spouští a zastavuje čítání
- hradlo logického součtu
31- sedmé mikropáskové vedení výstupu klopného obvodu R-S (zajišťuje přednastavení čítače)
- sedmé přizpůsobení mikropáskového vedení
- osmé mikropáskové vedení výstupu klopného obvodu R-S (zajišťuje přednastavení čítače)
- osmé přizpůsobení mikropáskového vedení
- deváté mikropáskové vedení výstupu čítače TC (přenos do vyššího řádu čítání)
- deváté přizpůsobení mikropáskového vedení
- desáté mikropáskové vedení výstupu čítače TC (informace o přetečení)
- desáté přizpůsobení mikropáskového vedení
- jedenácté mikropáskové vedení výstupu čítače TC (informace o přetečení)
- jedenácté přizpůsobení mikropáskového vedení
Claims (3)
1. Zapojení generátoru časové prodlevy zahrnující vstup (1) taktovacího signálu připojený přes první mikropáskové vedení (2) na vstup CLK prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače (10) dolních 8 bitů a druhým mikropáskovým vedením (4) na vstup CLK druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače (15) horních 8 bitů a dále zahrnující vstup (6) dat pro odečet dolních 8 bitů připojený prvním standardním vedením (7) na první převodník (8) TTL/ECL, který je připojen přes druhé standardní vedení (9) na vstup prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače (10) dolních 8 bitů a dále zahrnující vstup (11) pro odečet horních 8 bitů připojený třetím standardním vedením (12) na druhý převodník (13) TTL/ECL, který je připojený čtvrtým standardním vedením (14) na vstup druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače (15) horních 8 bitů, přičemž první synchronní vysokorychlostní binární čítač (10) dolních 8 bitů je přes výstup TC připojen devátým mikropáskovým vedením (35) na vstup CE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače (15) horních 8 bitů a přes desáté mikropáskové vedení (37) na vstup D1 hradla (30) logického součtu obvodu a druhý synchronní vysokorychlostní binární čítač (15) horních 8 bitů je přes výstup TC připojen jedenáctým mikropáskovým vedením (39) na vstup D2 hradla (30) logického součtu obvodu, které je přes výstup Q připojeno pátým mikropáskovým vedením (24) na výstup (26) ukončení běhu čítače a vstup (16) spouštěcího signálu je připojen pátým standardním vedením (17) na třetí převodník (18) TTL/ECL, který je dále připojen třetím mikropáskovým vedením (19) na výstup (21) spouštěcího signálu^vyznačující se tím, že má třetí převodník (18) TTL/ECL připojen čtvrtým mikropáskovým vedením (22) na vstup S klopného obvodu (29) R-S a hradlo (30) logického součtu je přes výstup Q připojeno přes šesté mikropáskové vedení (27) na vstup R klopného obvodu (29) R-S, který je prostřednictvím výstupu Q připojen přes sedmé mikropáskové « 1
9 « « »99* 4 · *·
9 i 9 ** * · • 999 · · 99· • » 9 »9 9» „«>·· ·· ···· «·· ‘* vedení (31) na vstup PE prvního synchronního vysokorychlostního binárního čítače (10) dolních 8 bitů a přes osmé mikropáskové vedení (33) na vstup PE druhého synchronního vysokorychlostního binárního čítače (15) horních 8 bitů.
2. Zapojení generátoru časové prodlevy podle nároku ^vyznačující se tím, že první, druhé, třetí, čtvrté, páté, šesté, sedmé, osmé, deváté, desáté a jedenácté mikropáskové vedení (2, 4, 19, 22, 24, 27, 31, 33, 35,37 a 39) jsou opatřena prvním, druhým, třetím, čtvrtým, pátým, šestým sedmým, osmým, devátým, desátým a jedenáctým přizpůsobením (3, 5, 20, 23, 25, 28, 32, 34, 36,38 a 40).
3. Zapojení generátoru časové prodlevy podle nároku žp/yznačující se tím, že mikropáskové vedení (2, 4, 19, 22, 24, 27, 31, 33, 35, 37 a 39) jsou tvořena substrátem známé tloušťky 0.1 fcarrt až 10 mm a měrné permitivity v rozsahu 1 až 100, jenž je z jedné strany opatřen měděným páskem definované šířky a z druhé strany souvislou měděnou plochou.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ2017-161A CZ2017161A3 (cs) | 2017-03-21 | 2017-03-21 | Zapojení generátoru časové prodlevy |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZ2017-161A CZ2017161A3 (cs) | 2017-03-21 | 2017-03-21 | Zapojení generátoru časové prodlevy |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ307283B6 CZ307283B6 (cs) | 2018-05-09 |
| CZ2017161A3 true CZ2017161A3 (cs) | 2018-05-09 |
Family
ID=62068380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ2017-161A CZ2017161A3 (cs) | 2017-03-21 | 2017-03-21 | Zapojení generátoru časové prodlevy |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CZ (1) | CZ2017161A3 (cs) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5033826A (en) * | 1989-03-27 | 1991-07-23 | Hewlett-Packard Company | High temporal resolution optical instrument |
| ATE123568T1 (de) * | 1990-02-15 | 1995-06-15 | British Telecomm | Optische testapparatur mit einem otdr. |
| JPH03282344A (ja) * | 1990-03-27 | 1991-12-12 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学装置 |
| JP3206168B2 (ja) * | 1992-12-29 | 2001-09-04 | 安藤電気株式会社 | 光パルス試験器 |
-
2017
- 2017-03-21 CZ CZ2017-161A patent/CZ2017161A3/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CZ307283B6 (cs) | 2018-05-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102018629B1 (ko) | 전파 지연 결정 | |
| US5122978A (en) | Pulse width measurement technique | |
| US20100164476A1 (en) | On-die signal timing measurement | |
| US5235566A (en) | Clock skew measurement technique | |
| CN110514404A (zh) | 一种脉冲信号发生装置、方法 | |
| US8735790B2 (en) | Method for examining an object using a microscope with delayed control signals and a microscope for examining an object | |
| US6622107B1 (en) | Edge placement and jitter measurement for electronic elements | |
| US20230333160A1 (en) | Fan-out buffer with skew control function, operating method thereof, and probe card including the same | |
| TWI445990B (zh) | 用以決定補償參數之方法及裝置、用以提供補償測試信號之方法及測試系統、及電腦程式 | |
| CZ2017161A3 (cs) | Zapojení generátoru časové prodlevy | |
| Harper et al. | Calibration of a 70 GHz oscilloscope | |
| Zhou et al. | Some new methods for precision time interval measurement | |
| US7969163B2 (en) | Measuring signal propagation and adjustable delays in electronic devices | |
| US7363551B2 (en) | Systems and methods for measuring signal propagation delay between circuits | |
| CN109856594B (zh) | 一种时差测量体制无源定位的多路可控时延信号产生装置 | |
| EP0336025B1 (en) | Measurement method and apparatus using time domain reflectrometry | |
| WO2010093497A1 (en) | Method and apparatus for distance measurement using optical beam | |
| CN111537933B (zh) | 一种集成电路测试系统时间参数校准方法及校准装置 | |
| CZ30649U1 (cs) | Zapojení časovacího obvodu optického reflektometru | |
| JPH0210277A (ja) | 回路試験方法及びその装置 | |
| Prochazka et al. | Note: Electronic circuit for two-way time transfer via a single coaxial cable with picosecond accuracy and precision | |
| JP2571082B2 (ja) | 伝送線路長測定装置 | |
| Shin et al. | Time-frequency domain reflectometry for smart wiring systems | |
| Smith et al. | Electro-optic sampling of coplanar to coaxial transitions to enhance the calibration of fast oscilloscopes | |
| RU2159446C1 (ru) | Способ калибровки стробоскопических преобразователей |