DD137504A1 - Schaltungsanordnung zur pruefung von halbleiterspeichern - Google Patents

Schaltungsanordnung zur pruefung von halbleiterspeichern

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0017808A1 (de) * 1979-04-06 1980-10-29 General Instrument Corporation Verfahren, das das Testen einer elektrisch änderbaren mikroelektronischen Speicherschaltung einschliesst
DE3207485C2 (de) 1981-03-03 1986-07-03 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Nichtflüchtige Halbleiter-Speichervorrichtung
EP0509360A1 (de) * 1991-04-19 1992-10-21 Nec Corporation Dynamische RAM-Einrichtung mit einem Selektor für mehrere Wortleitungen, der bei einem Einbrenntest verwendet wird

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