DD208872A5 - Abbildungssystem - Google Patents

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DD208872A5
DD208872A5 DD82245160A DD24516082A DD208872A5 DD 208872 A5 DD208872 A5 DD 208872A5 DD 82245160 A DD82245160 A DD 82245160A DD 24516082 A DD24516082 A DD 24516082A DD 208872 A5 DD208872 A5 DD 208872A5
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Mario Bertero
Edward R Pike
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Secr Defence Brit
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DD82245160A 1981-11-26 1982-11-23 Abbildungssystem DD208872A5 (de)

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NL (1) NL8204551A (fr)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19605884A1 (de) * 1996-02-19 1997-08-21 Velzel Christiaan H F Verfahren und Interferenzmikroskop zum Mikroskopieren eines Objektes mit extrem hoher Auflösung jenseits der Beugungsgrenze

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE455736B (sv) * 1984-03-15 1988-08-01 Sarastro Ab Forfaringssett och anordning for mikrofotometrering och efterfoljande bildsammanstellning
US4716414A (en) * 1984-05-10 1987-12-29 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Super resolution imaging system
DE3477271D1 (en) * 1984-12-28 1989-04-20 Ibm Waveguide for an optical near-field microscope
GB8509493D0 (en) * 1985-04-12 1985-05-15 Plessey Co Plc Scanning microscopes
GB8512045D0 (en) * 1985-05-13 1985-06-19 Dubilier Plc Scanning microscope
DE3540916A1 (de) * 1985-11-19 1987-05-21 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur raster-lichtmikroskopischen darstellung von objekten im dunkelfeld
US4845552A (en) * 1987-08-20 1989-07-04 Bruno Jaggi Quantitative light microscope using a solid state detector in the primary image plane
AT393192B (de) * 1989-02-20 1991-08-26 Infotech Computer Systeme Ges Verfahren zur verarbeitung von bildinformation in einer videokamera
GB8913129D0 (en) * 1989-06-07 1989-07-26 Secr Defence Scanning optical microscope
US5430807A (en) * 1992-12-14 1995-07-04 Gravely Research Corporation Variable magnification color scanning light microscope
US5479252A (en) * 1993-06-17 1995-12-26 Ultrapointe Corporation Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles
US5923430A (en) * 1993-06-17 1999-07-13 Ultrapointe Corporation Method for characterizing defects on semiconductor wafers
US5576827A (en) * 1994-04-15 1996-11-19 Micromeritics Instrument Corporation Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering
JPH08160305A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Nikon Corp レーザー走査顕微鏡
US5724401A (en) * 1996-01-24 1998-03-03 The Penn State Research Foundation Large angle solid state position sensitive x-ray detector system
US6148114A (en) * 1996-11-27 2000-11-14 Ultrapointe Corporation Ring dilation and erosion techniques for digital image processing
US6240219B1 (en) 1996-12-11 2001-05-29 Itt Industries Inc. Apparatus and method for providing optical sensors with super resolution
EP1096295A1 (fr) 1999-10-28 2001-05-02 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Dispositif et procédé pour améliorer la résolution de capteurs optiques
US20040130237A1 (en) * 1999-11-19 2004-07-08 Baker Robert M. L. Gravitational wave propulsion and telescope
US20070001541A1 (en) * 1999-11-19 2007-01-04 Baker Robert M L Jr Gravitational wave propulsion
US20040056545A1 (en) * 1999-11-19 2004-03-25 Baker Robert Ml Gravitational wave imaging
US20050236909A1 (en) * 1999-11-19 2005-10-27 Baker Robert M Jr Gravitational wave imaging
US20040202357A1 (en) 2003-04-11 2004-10-14 Perz Cynthia B. Silhouette image acquisition
GB201201140D0 (en) 2012-01-24 2012-03-07 Phase Focus Ltd Method and apparatus for determining object characteristics
GB201207800D0 (en) * 2012-05-03 2012-06-13 Phase Focus Ltd Improvements in providing image data
RU2631006C1 (ru) * 2016-10-26 2017-09-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Способ формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцевом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
IT201800001891A1 (it) 2018-01-25 2019-07-25 Fondazione St Italiano Tecnologia Metodo di imaging risolto nel tempo ad alta risoluzione spaziale.
RU182458U1 (ru) * 2018-05-04 2018-08-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцовом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
RU184988U1 (ru) * 2018-07-27 2018-11-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования изображения
CN113260895A (zh) 2019-03-19 2021-08-13 欧米克奥皮提克斯有限公司 单位放大倍率的显微镜
RU198112U1 (ru) * 2019-11-06 2020-06-18 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования фотонной струи

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3460880A (en) * 1964-12-18 1969-08-12 Beckman Instruments Inc Point illumination and scanning mechanism for microscopes
US3409872A (en) * 1966-12-05 1968-11-05 Exxon Production Research Co Optical diffraction system for analyzing and processing seismic data
US3604806A (en) * 1968-10-09 1971-09-14 Atomic Energy Authority Uk Pattern classification apparatus
DE2222852A1 (de) * 1971-05-11 1973-12-13 Image Analysing Computers Ltd Feldbeleuchtung fuer die bildanalyse
US3937580A (en) * 1974-07-11 1976-02-10 Recognition Systems, Inc. Electro-optical method for measuring gaps and lines
US4164788A (en) * 1976-10-13 1979-08-14 Atul Jain Super-resolution imaging system
US4136950A (en) * 1976-11-08 1979-01-30 Labrum Engineering, Inc. Microscope system for observing moving particles
US4121247A (en) * 1977-04-21 1978-10-17 Eastman Kodak Company Population and profile display of transparent bodies in a transparent mass
GB2095028A (en) * 1981-03-17 1982-09-22 Secr Defence Image correction in electron microscopes

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19605884A1 (de) * 1996-02-19 1997-08-21 Velzel Christiaan H F Verfahren und Interferenzmikroskop zum Mikroskopieren eines Objektes mit extrem hoher Auflösung jenseits der Beugungsgrenze

Also Published As

Publication number Publication date
US4549204A (en) 1985-10-22
CA1204312A (fr) 1986-05-13
DE3243890A1 (de) 1983-06-09
NL8204551A (nl) 1983-06-16
FR2522910A1 (fr) 1983-09-09
GB2113501A (en) 1983-08-03
GB2113501B (en) 1985-06-05
FR2522910B1 (fr) 1988-09-09

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