DD209295A1 - OBJECT TABLE FOR REFLECTION MICROSCOPE PHOTOMETER - Google Patents
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Abstract
Gegenstand der Erfindung ist ein Objekttisch fuer Reflexions-Mikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu verwendenden Probe und einer Vergleichsprobe. Ziel der Erfindung ist es, einen Photometer-Objekttisch so zu gestalten, dass die Oberflaeche zweier Proben wahlweise ohne Zeitverluste, Nachjustieren oder Nachfokussieren in den Strahlengang des Mikroskopphotometers gebracht werden koennen. Das Wesen der Erfindung besteht darin, dass beide Proben mit Federkraft gegen eine gleiche, zu einer Kreuzfuehrung parallel liegende Anlageflaeche gedrueckt werden und die Justierschrauben gleichzeitig auf beide Proben wirken.The invention relates to an object table for reflection microscopy photometer for the alternate photometry of a sample to be used and a comparison sample. The aim of the invention is to make a photometer stage so that the surface of two samples can be selectively brought into the beam path of the microscope optics without loss of time, readjustment or refocusing. The essence of the invention is that both samples are pressed with spring force against a same, parallel to a Kreuzfuehrung Anlageflaeche and the adjusting screws act simultaneously on both samples.
Description
Objekttisch fur Heflexions-MikroskopphotometerObject table for Heflexions microscope photometer
der Zriiiiduagthe Zriiiiduag
Die 3rfindung betrifft einen Objekttisch für Se flexions-Llikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und einer Vergleichsprobe, bei-SOielsweise eines Reflexionsstandards.The invention relates to a stage for Se flexions optical microscope photometer for the alternate photometry of a sample to be measured and a comparative sample, in SOI manner of a reflection standard.
en. us. u
nniseilen. Lösun^er. niseilise. Solution .
Bei Messungen des Reflexionsvermögen von Probenoberflächen mit dem Mikroskopphotometer hat die Orientierung der Iflächennormalen der Proben zur optischen Achse des Mikrcskopes einen erheblichen Sinfluß auf das Meßergebnis* SineIn measurements of the reflectivity of sample surfaces with the microscope photometer, the orientation of the surface normal of the samples to the optical axis of the microscope has a significant sinusoidal flux on the measurement result
t J ustiermöglichte it von -^ 5 gilt als Mindestforderung♦ Zur Aufnahme entsprechender mikroskopischer Objekte sind seit langem Anschlifftische (DR-? 630 478}bekannt, die ein schnelles und einfaches Ausrichten polierter Proben senkrecht zur Mikroskopachse gestatten. Diese Spezialtische sind auf den Mikroskoptisch der G-rundausrüstung aufsetzbar» Die Probe wird von unten mit der zu untersuchenden !fläche gegen eine senkrecht zur optischen Achse der Mikroskope verlaufende Hache gepreßt. Sachteilig ist hierbei die fehlende Justierung, weil stets der Justierfehler von Anschlifftisch und Llikroskoptisch auf die zu untersuchende !flache übertragen wird* Dieser Fehler v;ird behoben, indes der Anschlifftisch auf drei SchraubfliSen justierbar gelagert wird. Die Justierung der reflektierenden Fläche ist hierbei unter mikroskopischer Beobachtung möglich»T It is possible to record appropriate microscopic objects for a long time. (DR-? 630 478), which allow a fast and easy alignment of polished specimens perpendicular to the microscope axis G-round equipment can be placed »The sample is pressed from below with the surface to be examined against a surface running perpendicular to the optical axis of the microscope.The lack of adjustment is factual because the adjustment error is always transferred from the attachment table and the microscope stage to the flat surface to be examined * This error is corrected by allowing the hook table to be adjusted to three screw flanges and adjusting the reflective surface under microscopic observation »
Zusätzlich, ist eine horizontale Verschiebung .der Probe in x- und y-Richtung möglich. Sin erheblicher 3achteil dieser Lösung besteht darin, daß .auf diesem !Zisch Probe und Seflexionsstandard an der gleichen Stelle gelagert sind. Der verfahrungsbedingte mehr oder weniger oft notwendige Austausch beider bringt hohe Zeitverluste mit sich, lach einer weiteren bekannten Lösung wird dieser ilachteil dadurch behoben, daß Probe und Heflexi.onsstandard sich auf einem './echselschlitten befinden und durch Verschieben gegen Anschlag wechselweise in den Meßbereich des Mikroskopes gebracht werden können.In addition, a horizontal displacement of the sample in x- and y-direction is possible. A considerable disadvantage of this solution is that on this sample the sample and the reflection standard are stored in the same place. The more or less frequently necessary replacement of the two caused by the process entails high losses of time. According to another known solution, this disadvantage is remedied by the fact that the sample and yeast standard are on a change carriage and by shifting against the stop alternately into the measuring range of the Microscope can be brought.
Die Probe und der Seflexionsstandard sind mittels Plastilin auf Objektträgern.befestigt und diese werden auf den 'wechselschlitten aufgesetzt. Die Ausrichtung der Oberfläche der Probe zur Auflagefläche des Objektträgers erfolgt mit einer Schliffpresse. Allgemein wird dabei jedoch nur eine Parallelität beider Plächen von. 30' erreicht, so daß für jede neu zu vermessende Probe dia Vorrichtung nachjustiert «erden muß«. Zusätzlich treten Unterschiede der Abstände der Probenoberflächen zu den Auflage flächen auf, die beim Probenwechsel ein 3achfokussierennotwendig machen.The sample and the Seflexionsstandard are attached by means of plasticine on slides. These are placed on the 'Wechselschlitten. The orientation of the surface of the sample to the support surface of the slide is carried out with a grinding press. In general, however, only a parallelism of both Plächen of. 30 'reached, so that for each newly measured sample dia device readjusted «earth must«. In addition, differences in the distances of the sample surfaces to the support surfaces occur, which necessitate a 3-axis focusing during the sample change.
Ziel der — r f i n. dun&Aim of - r f i n. Dun &
Siel der Erfindung ist es, einen Objekttisch für Heflesions-Mikroskopphotometer zur wechselweisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und eines Seflezionsstandards zu schaffen, bei dem die genannten Nachteile vermieden werden. 2Iach einer einmaligen Justierung sollen die Oberflächen zweier wahlweise in den Strahlengang des lükroskopphotometers. zu bringenden Proben.mit einem V/inkelfehler von ^5 senkrecht zur optischen Achse ausgerichtet sein.It is the object of the invention to provide a microscope slide microscope objective for the alternate photometry of a sample to be measured and a standard of seflection in which the mentioned disadvantages are avoided. 2 After a single adjustment, the surfaces of two should be placed either in the beam path of the photocell photometer. be aligned with an aberration of ^ 5 perpendicular to the optical axis.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Objekttisch für Eeflesions-idikroskopphotometer zur wechselteisen Photometrie einer zu vermessenden Probe und einer Yerglsichsprobe mit Justierschrauben zur Justierung der Probenoberfläche relativ zur optischen Achse des ilikroskopphotometers zu -schaffen,The invention has for its object to provide an object table for Eeflesions-idikroskopphotometer for interchangeable photometry of a sample to be measured and a Yerglsichsprobe with adjusting screws for adjusting the sample surface relative to the optical axis of the ilikroskopphotometers,
IkI I h IkI I h
bei der die Oberflächen, von der su ve^andten Probe und der Vergleichsprobe in einer gemeinsamen in ihrer Winkellage sur optischen Achse justierbaren Ebene verschiebbar angeordnet sind.in which the surfaces, of the lower sample and the comparative sample are displaceably arranged in a common plane adjustable in their angular position on the optical axis.
Srfindungsgeniäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß beide Proben mit !Federkraft gegen eine gleiche, zu einer Kreuzführung parallel liegenden Anlagefläche gedrückt werden und die Justierschrauben gleichseitig auf beide Proben wirken. Vorteilhaft sind stellbare Anschlage so angeordnet, daS von einem beliebigen Punkt der Meßprobe stets der gleiche Punkt der Vergleichsprobe und beim Rücklauf der zuletzt eingestellte Meßpunkt angefahren werden können.According to the invention, the object is achieved by pressing both samples against a same contact surface, which is parallel to a cross guide, and the adjustment screws act on both samples on the same side. Advantageously adjustable stops are arranged so that from any point of the sample always the same point of the reference sample and the return of the last set measuring point can be approached.
Die- Srfindung wird nachstehend anhand der schematischen 'Zeichnung näher erläutert« Es zeigen:Die- Srfindung will be explained below with reference to the schematic 'drawing closer' It shows:
Ir'ig» 1: 3inen erfindungsgemäßen Objekttisch im. Schnitt dargestellt,I r 'ig "1: 3inen stage according to the invention. Section shown,
Jig. 2: den Objekt ti sch nach Jig» 1 in Draufsicht. In Pig» 1 aardea ein Standardpräparat. 1 als Vergleichsprobe und eine zu prüfende Probe 2 mittels zweier gleich- . artiger Andruckvorrichtungen 7 gegen eine Anlageplatte 3 gedruckt. Die Proben 1, 2 und die Andruckvorrichtung 7 befinden sich in einem G-ehause 6* Das Gehäuse 6 ist auf einer Sreuzführung 9, von der nur eine Führungsrichtung dargestellt ist, befestigt. Die. Anlageplatte 3 besteht aus Q-Ias oder anderem geeigneten Material. Sie' wird mittels zweier Haltebügel 4- an zwei zu der Kreuzführung 9 parallele Anlageflächen 5 gedrückt. Die Kreuzführung 9 erlaubt die Verstellung des G-ehäuses 6 innerhalb eines Bewegungsbereiches, der von Anschlägen S begrenzt wird. Die lireuzführung 9 ist mit einer 2ischbasis 11 verbunden, die mittels einer Hingsch^albe 12 an einem, bis auf ein Objektiv 13 nicht dargestellten Mikroskop mit einer optischen Achse 14- befestigt ist*Jig. 2: the object ti sch after Jig »1 in plan view. In Pig »1 aardea a standard preparation. 1 as a comparative sample and a sample to be tested 2 by means of two equal. like pressure devices 7 printed against a contact plate 3. The samples 1, 2 and the pressure device 7 are in a G-ehause 6 * The housing 6 is mounted on a Sreuzführung 9, of which only one guide direction is shown attached. The. Attachment plate 3 is made of Q-1a or other suitable material. It 'is pressed by means of two brackets 4- to two parallel to the cross guide 9 contact surfaces 5. The cross guide 9 allows the adjustment of the G-ehäuses 6 within a range of motion, which is bounded by stops S. The luereuzführung 9 is connected to a 2ischbasis 11, which is attached by means of a Hingsch ^ albe 12 on a, not shown on a lens 13 microscope with an optical axis 14- *
?ig· 2 zeigt den erfindungsgesäßen Objekttisch in Draufsicht. Drei zwischen der xischbasis iT^cTer Ere uz'führung 9 wirkende2 shows the object table according to the invention in plan view. Three acting between the xischbasis iT ^ cTer ere uz'führung 9
- 4 - 4L *4 L·. i M·- 4 - 4L * 4 L ·. in the·
Justierschrauben 15 dienen der Justierung der unteren Fläche der Anlageplatte 3 und somit der Objekt oberfläche senkrecht zur optischen Achse 14 des Mikroskopes*.Adjusting screws 15 are used to adjust the lower surface of the contact plate 3 and thus the object surface perpendicular to the optical axis 14 of the microscope *.
Zur photometrisehen Auswertung einer Probe wird diese und die Vergleiehsprobe seitlich in das Gehäuse 6 eingeführt und beide werden mit den zu vermessenden Oberflächen mittels der Andr uc lev or richtung 7. an die Anlageplatte 3 gedrücict. Ba die Anlageplatte 3 vorher mittels der Justierschrauben 15 senkrecht zur optischen Achse- des Mikroskopes ausgerichtet wurde, kann sofort die Messung beginnen. Sin Wechsel zwischen der Probe und dem Standardpräparat 1 kann beliebig oft ohne Zeitverlust vorgenommen werden, ohne daß ein winkelfehler auftritt oder ein Sachfokussieren notwendig ist«For the photometric evaluation of a sample, these and the comparative sample are introduced laterally into the housing 6 and both are pressed onto the contact plate 3 with the surfaces to be measured by means of the suction device 7. If the contact plate 3 has previously been aligned perpendicular to the optical axis of the microscope by means of the adjusting screws 15, the measurement can begin immediately. The change between the sample and the standard preparation 1 can be carried out as often as desired without loss of time, without the occurrence of an angle error or the need for objective focusing. «
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