DD211675A5 - Elektrostatische haftplatte - Google Patents
Elektrostatische haftplatte Download PDFInfo
- Publication number
- DD211675A5 DD211675A5 DD82243929A DD24392982A DD211675A5 DD 211675 A5 DD211675 A5 DD 211675A5 DD 82243929 A DD82243929 A DD 82243929A DD 24392982 A DD24392982 A DD 24392982A DD 211675 A5 DD211675 A5 DD 211675A5
- Authority
- DD
- German Democratic Republic
- Prior art keywords
- dielectric layer
- electrode
- electrostatic
- dielectric
- sample
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/72—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using electrostatic chucks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/72—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using electrostatic chucks
- H10P72/722—Details of electrostatic chucks
Landscapes
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Eine elektrostatische Haftplatte bestehend aus einer Elektrodenplatte 1 aus einem elektrisch leitenden Material und einer dielektrischen Schicht 2, die auf einer Seite der Elektrodenplatte durch Flammenspritzen eines dielektrischen Materials aufgebracht ist. Die Oberseite der dielektrischen Schicht 2 ist mit Plastmaterial 3 impraegniert, und die Oberflaeche der dielektrischen Schicht 2 ist glatt und eben. Eine Probe 4 wird von der Elektrodenplatte 1 elektrostatisch angezogen, und somit auf der glatten und ebenen Oberflaeche der dielektrischen Schicht 2 festgehalten.
Description
: Elektrostatische Haftplatte
Die Erfindung betrifft eine elektrostatische Haftplatte für das elektrostatische Halten von Proben aus elektrisch leitendem Material oder aus Halbleitermaterial', die bei der Bearbeitung und Untersuchung der Proben eingesetzt wird.
Bei der Bearbeitung oder Untersuchung von Halbleitern ist es erforderlich, die Halbleiterscheiben (Wafers) in einer vorgeschriebenen Lage zu halten. Es ist notwendig, daß die Halbleiterscheiben auf einer flachen Auflage liegen, wenn insbesondere ein feines Muster auf der Scheibe aufzuzeichnen ist, um auf diese Weise eine integrierte Schaltung mit einer Anzahl von Transistoren herzustellen.
Gewöhnlich werden zum Einspannen und Halten von Proben mechanische Spannvorrichtungen, Hafimagnete, elektrische sowie Saugluftspannfutter unter Ausnutzung einer Druckdifferenz zwischen Halterungen fließenden Medien verwendet. Die elektrischen Halterungen sind bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen nützlich, da sie einfach zu betätigen sind und ι eine Probe auf einer flachen Ablage festhalten können.
; , Die elektrische Halterung, oder genauer gesagt, die elektrostatische Halterung, beruht auf der gegenseitigen Anziehung ι zwischen zwei Kondensatorplatten, die entgegengesetzt elektrisch aufgeladen werden. Sie umfaßt eine Elektrode und eine dielektrische Schicht auf einer Elektrode. Eine Probe eines elektrisch leitenden Materials oder Halbleitermaterials wird von der Elektrode angezogen und wird somit auf der dielektrischen Schicht festgehalten. Die Anziehungskraft F zwischen der Elektrode und der Probe hängt im wesentlichen von den physikalischen Eigenschaften der dielektrischen Schicht ab. Die Anziehungskraft F ist im allgemeinen gegeben durch:
wobei ε0 die dielektrische Konstante des Vakuums der dielektrischen Schicht ist, ε5 die relative Dielektrizitätskonstante der Schicht, S der Bereich der Berührungsflächen zwischen Probe und Elektrode, V die an der Schicht angelegte Spannung und t die Dicke der Schicht ist. Aus der Formel geht hervor, daß die Spannung V mit zunehmendem ε3 und abnehmender Dicke t kleiner wird. Die dielektrische Schicht muß sowohl verschleißfest als auch isolations- oder durchschlagfest sein, da eine Anzahl von Proben gleichzeitig auf diese gelegt werden. Eine elektrostatische Haftplatte mit einer dielektrischen Schicht aus Glimmer, Polyester oder Bariumtitanatwird in dem britischen Patent Nr. 144321 und in „EiectristaticWaferchuck for Electron Beam Microfabrication" (Elektrostatische Wafer-Halterung für die Herstellung von mikroelektronischen Bauelementen mit Hilfe des Elektronenstrahls) von George A. Wardly, Rev. Sei. Instrum., Band 44, Nr. 10, Oktober 1973, S. 1506 offenbart. Das Klebemittel kann dünn aufgetragen werden, damit eine gleichmäßig dicke Schicht entsteht. In den meisten Fällen hai die dielektrische Schicht keine glatte Oberfläche, selbst wenn sie gleichmäßig dick ist.
In der japanischen Patentveröffentlichung (Kokai) Nr. 55-145351 wird eine elektrostatische Haftplatte mit einer dielektrischen Schicht offenbart, die durch anodische Behandlung des Materials gebildet wird. Die dielektrische Schicht ist so dünn, daß sie Risse aufweist, nachdem mehrere Proben gleichzeitig auf ihm festgehalten wurden. Sobald Risse in der Schicht entstanden sind, kann sie nicht länger als Isolator dienen. Um dies zu vermeiden, läßt man das Elektrodenmaterial sehr stark oxidieren, so daß eine dickere dielektrische Schicht entsteht. Eine dicke dielektrische Schicht hat jedoch eine rauhe Oberfläche, und der Bereich der Berührungsfläche zwischen dielektrischer Schicht und Probe ist äußerst klein. In diesem Fall ist die Anziehungskraft zwischen. Probe und Elektrode vermindert. Des weiteren hat der poröse Teil der dicken dielektrischen Schicht eine relative Dielektrizitätskonstante von etwa 1, so daß die relative Dielektrizitätskonstante der Schicht klein ist. Folglich wird die Anziehungskraft zwischen Probe und Elektrode weit kleiner sein als gewünscht.
Ziel der Erfindung ist es, eine elektrostatische Halteplatte mit einer Schicht aus dielektrischem Material zu schaffen, das eine große Dielektrizitätskonstante, eine große mechanische Festigkeit und eine große Verschleißfestigkeit aufweist, wobei die Anziehungskraft zwischen der Probe und einer Elektrode stark ist.
Erfindungsgemäß wird eine elektrostatische Halteplatte geschaffen, deren dielektrische Schicht auf einer leitenden Platte, das heißt, Elektrode, durch Aufspritzen eines dielektischen Materials gebildet wird. Die dielektrische Schicht besteht aus Aluminiumoxid (AI2O3), Titandioxid (TiO2) oder Bariumtitanat (BaTiO3) oder einem Gemisch aus diesen Materialien und hat eine hinreichend große Dielektrizitätskonstante. Ein Gemisch aus diesen Materialien kann mit einer niedrigeren Temperatur aufgespritzt werden als jedes einzelne dieser Materialien. Wenn dies so ist, kann die dielektrische Schicht sehr einfach hergestellt und gut bearbeitet werden. Die durch Flammenspritzen aufgebrachte dielektrische Schicht haftet so fest auf der leitenden Platte, daß sie sich selbst dann nicht löst, wenn ihre Oberfläche poliert oder geschwabbelt wird, damit sie hinreichend glatt ist.
Kurz gesagt, eine erfindungsgemäße elektrostatische Haftplatte umfaßt eine Elektrodenplatte und eine isolierende dielektrische Schicht, die auf einer Oberfläche der Elektrodenplatte aufgebracht wurde. Die Platte dient der Anziehung einer Probe wie beispielsweise einer Halbleiterscheibe in Richtung dielektrischer Schicht, so daß die Probe völlig fest auf der Platte gehalten wird.
Ausführungsbeispie!:
An einem Ausführungsbeispiel soll die Erfindung nachfolgend näher erläutert werden. In der zugehörigen Zeichnung zeigen:
Figur 1: schematisch eine Querschnittsdarstellung einer elektrostatischen erfindungsgemäßen Haftplatte; Figur 2: ein Diagramm zur Darstellung der Beziehung zwischen der Anziehungskraft und der Stärke des elektrischen Feldes
in der Haftplatte gemäß Figur 1 und von zwei bekannten elektrostatischen Haftplatten. Eine erfindungsgemäße elektrostatische Haftplatte wird in Figur 1 im Querschnitt dargestellt Die Hafiplstte besteht aus
einer flachen Elektrodenplatte 1 und einer dielektrischen Schicht 2, die auf einer flachen Oberfläche der Elektrodenplatte 2, durch Flammspritzen aufgebracht wurde. Die Elektrodenpiatte 1 besteht aus Aluminium, Titanium, Kupfer, nichtrostendem Stahl und dergleichen. Die dielektrische Schicht 2 besteht aus Aluminiumoxid (AI2O3). Sie kann aus anderem dielektrischem Material wie beispielsweise Titandioxid (TiO2) oder Bariumtitanat (BaTiO3), oder aus einem Gemisch dieser Materialien und Aluminiumoxid hergestellt werden. Die dielektrische Schicht 2 ist mit einem Plastmaterial 3, das im wesentlichen aus einem synthetischen oder halbsynthetischen hochmolekularem Material wie beispielsweise Epoxydharz, Methakrylharz oder Fluorharz hergestellt wird, imprägniert. Die Oberfläche der dielektrischen Schicht 2 wird durch Polieren, Schwabbeln oder Schleifen geglättet.
Eine Probe 4 wird auf eine dielektrische Schicht 2 gelegt, und ein elektrisches Feld wird zwischen der Elektrode 1 und der Probe 4 erzeugt. Die Probe 4 wird dann zur dielektrischen Schicht 2 gezogen und auf dieser somit festgehalten. Insbesondere wird, wie in Figur 1 dargestellt, die negative Klemme einer Gleichspannungsquelle 5 an der Elektrodenplatte 1 und die positive Klemme der Gleichspannungsquelle 5 an der Probe 4 angeschlossen. Es wird somit ein elektrisches Feld erzeugt, das sich im wesentlichen senkrecht zur dielektischen Schicht 2 erstreckt und das zwischen der Elektrodenplatte 1 und der Probe 4 aufgebaut wird. Die dielektrische Schicht 2 unterliegt einer dielektrischen Polarisierung, wobei ihre Unterseite positiv und ihre Oberseite negativ aufgeladen wird. Dadurch wird die Probe 4 von der Elektrodenplatte 1 elektrostatisch angezogen und somit auf der dielektrischen Schicht 2festgehalten. Die Probe 4 ist entweder elektrisch leitend oder halbleitend, und sie kann deshalb eine H^lblejterscheibesein. __ _
Die dielektrische Schicht 2 hat eine große mechanische und eine große Verschleißfestigkeit, da sie aus Aluminiumoxid besteht, das im Flammenspritzverfahren auf der Elektrodenplatte 1 aufgebracht wurde. Darüber hinaus wird die Schicht 2 mit einem Plastmaterial 3 imprägniert und ist in der im folgenden dargestellten Hinsicht vorteilhaft. Wäre sie nicht mit Plastmaterial 3 imprägniert, wäre sie porös und könnte zur gegenseitigen Anziehung zwischen Elektrodenplatte 1 und Probe 4 nicht beitragen. Die mit Piastmaterial 3 imprägnierte Schicht 2 hat eine große Dielektrizitätskonstante. Wäre die Schicht 2 nicht mit Plastmaterial 3 imprägniert, wurden verschiedene Gase aus den Poren in die Vakuumhülle strömen, in der die Haftplatte angeordnet ist, was unvermeidlich zu einer Herabsetzung des Vakuums führte. Diese unerwünschte Erscheinung tritt nicht auf, da der größte Teil der Poren der dielektrischen Schicht 2 mit einem Plastmaterial 3 angefüllt ist. Tatsächlich werden ein paar Poren nicht mit dem Plastmaterial ausgefüllt, aber die Menge der in ihnen enthaltenen Gase ist so klein, daß das Vakuum nur geringfügig vermindert wird. Das Plastmaterial 3 muß eine Fließfähigkeit aufweisen, die groß genug ist, damit es gut in die Poren der dielektrischen Schicht 2 eindringen kann. Es ist nicht erforderlich, daß alle Poren der Schicht 2 mit Plastmaterial 3 ausgefüllt werden. Es reicht völlig aus, wenn das Plastmaterial 3 die Poren der Oberseite der Schicht 2 ausfüllt.
Die Oberfläche der dielektrischen Schicht 2 wird poliert oder geschwabbelt, damit sie glatt und eben wird. Wäre die Schicht nicht mit Plastmaterial 3 imprägniert und porös, wäre ihre Oberfläche rauh, obwohl sie poliert oder geschwabbelt wurde. Mit Plastmaterial 3 imprägniert, kann die dielektrische Schicht 2 eine so glatte und ebene Oberfläche haben, wie dies in Figur 1 gezeigt wird.
Es wurden mehrere elektrostatische Haftplatten mit einem Aufbau hergestellt, wie er in Figur 1 gezeigt wird. Diese Haftplatten und die herkömmlichen elektrostatischen Haftplatten wurden einer Prüfung unterzogen. Die Ergebnisse dieser Prüfung werden in Figur 2 gezeigt, wobei die Stärke eines elektrischen Feldes auf der horizontalen Achse und die Anziehungskraft aufder senkrechten Achse aufgetragen wurde. In Figur 2 zeigt die Gerade I die Beziehung zwischen Feldstärke und Anziehungskraft der erfindungsgemäßen Haftplatte, die aus Aluminium besteht, die im Flammenspritzverfahren aufgebracht wurde. Die Gerade Il stellt die Beziehung zwischen Feldstärke und Anziehungskraft der bekannten Haftplatte dar, deren dielektrische Schicht durch anodisches Oxydieren einer Aluminiumplatte hergestellt wurde. Die Gerade Illzeigtdie Beziehung zwischen Feldstärke und Anziehungskraft der bekannten Haftplatte, deren dielektrische Schicht aus Epoxidharz hergestellt wurde.
Die vorliegende Erfindung beschränkt sich nicht auf die oben beschriebene Ausführungsform. Zum Beispiel muß das Plastmaterial nicht unbedingt ein hochmolekulares Material wie beispielsweise Epoxidharz oder Fluorharz sein. Andere Plaste können gemäß dem beabsichtigten Zweck verwendet werden. Des weiteren können verschiedene Methoden für das Anlegen der Spannung an Elektrodenplatte und Probe angewendet werden. Des weiteren muß die angelegte Spannung nicht konstant sein. Es kann an die Elektrodenplatte und Probe eine Spannung angelegt werden, die mit Eigenfrequenz schwingt. Innerhalb des Geltungsbereiches der Erfindung sind andere Änderungen und Modifikationen möglich. Wie oben beschrieben, können für die Herstellung einer dielektrischen Schicht verschiedene dielektrische Materialien verwendet werden. Die dielektrische Schicht muß eine hinreichend große Dielektrizitätskonstante, eine hinreichende große mechanische Festigkeit und eine große Verschleißfestigkeit aufweisen. Wenn die dielektrische Schicht durch Auftragen eines dielektrischen Materials auf der Elektrodenplatte nach dem Flammenspritzverfahren hergestellt wird, dann ist kein Klebemittel erforderlich. Die dielektrische Schicht hat sich selbst nach einer langen Nutzungsdauer der elektrostatischen Haftpiatte nicht verschlechtert.
Die bekannte Haftpiatte, deren dielektrische Schicht durch Oxidieren einer Elektrode hergestellt wird, kann sich bei Änderungen der Umgebungstemperatur werfen. Schlimmstenfalls kann sie Risse bekommen, wenn sie wiederholt erhitzt und abgekühlt wird. Dies ist darauf zurückzuführen, daß Elektrode und dielektrische Schicht unterschiedliche Koeffizienten der Wärmeausdehnung haben. Die Haftplatte der vorliegenden Erfindung wirft sich nicht und bekommt auch keine Risse, da die dielektrische Schicht durch Flammenaufspritzen eines dielektrischen Materials auf der Elektrode aufgebracht wird und somit die Elektrode aus einem Material hergestellt werden kann, das im wesentlichen den gleichen Wärmeausdehnungskoeffizienten wie die dielektrische Schicht hat, oder aber, die dielektrische Schicht kann^aus einem Material hergestellt werden, das im wesentlichen den gleichen Wärmeausdehnungskoeffizienten wie die Elektrode hat. : Erfindungsgemäß wird die dielektrische Schicht durch Flammenaufspritzen des dielektrischen Materials auf der Elektrode : aufgebracht. Infolge der Oberlächenrauheit ist die dielektrische Festigkeit der dielektrischen Schicht nicht groß genug. Sobald jedoch die Oberseite mit einem Plastmaterial imprägniert wurde, ist ihre dielektrische Festigkeit groß genug.
Claims (5)
1. Elektrostatische Haftpiatte, bestehend aus einer Elektrode, die aus einem elektrisch leitenden Material hergestellt wird und eine flache Oberseite besitzt, sowie bestehend aus einer dielektrischen Schicht, die auf der Oberseite der Elektrode hergestellt wird und dafür bestimmt ist, eine Probe elektrostatisch zu halten, gekennzeichnet dadurch, daß die dielektrisch* Schicht durch Flammenaufspritzen eines dielektrischen Materials auf der Oberseite der Elektrode aufgebracht wird.
2. Elektrostatische Haftplatte nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß sie eine Einrichtung für die Erzeugung eines elektrischen Feldes umfaßt, das sich zu der flachen Oberseite der dielektrischen Schicht im wesentlichen senkrecht erstreckt.
3. Elektrostatische Haftpiatte nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß die dielektrische Schicht aus Aluminiumoxid, Titandioxid, Bariumtitanat, Keramik oder aus einem Gemisch aus zumindest zwei dieser Materialien hergestellt wird.
4. Elektrostatische Haftplatte nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß die Oberseite der dielektrischen Schicht mit Plastmaterial imprägniert wird.
5. Elektrostatische Haftplatte nach Punkt 4, gekennzeichnet dadurch, daß das Plastmaterial, ein hochpolymeres Material, aus einer Gruppe ausgewählt wird, zu der Methakrylharz, Epoxidharz und Fluorharz gehört.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen —
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57015875A JPS6059104B2 (ja) | 1982-02-03 | 1982-02-03 | 静電チヤツク板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DD211675A5 true DD211675A5 (de) | 1984-07-18 |
Family
ID=11900958
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DD82243929A DD211675A5 (de) | 1982-02-03 | 1982-10-12 | Elektrostatische haftplatte |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4480284A (de) |
| JP (1) | JPS6059104B2 (de) |
| DD (1) | DD211675A5 (de) |
| FR (1) | FR2520930A1 (de) |
Families Citing this family (366)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2154365A (en) * | 1984-02-10 | 1985-09-04 | Philips Electronic Associated | Loading semiconductor wafers on an electrostatic chuck |
| GB2147459A (en) * | 1983-09-30 | 1985-05-09 | Philips Electronic Associated | Electrostatic chuck for semiconductor wafers |
| EP0138254B1 (de) * | 1983-09-30 | 1988-06-01 | Philips Electronics Uk Limited | Elektrostatische Haltevorrichtung und Verfahren zum Beschicken |
| US4733632A (en) * | 1985-09-25 | 1988-03-29 | Tokyo Electron Limited | Wafer feeding apparatus |
| JPH0719831B2 (ja) * | 1986-10-13 | 1995-03-06 | 日本電信電話株式会社 | 静電チヤツク |
| US4724510A (en) * | 1986-12-12 | 1988-02-09 | Tegal Corporation | Electrostatic wafer clamp |
| US4864461A (en) * | 1987-04-14 | 1989-09-05 | Kabushiki Kaisha Abisare | Machine unit having retaining device using static electricity |
| US5103367A (en) * | 1987-05-06 | 1992-04-07 | Unisearch Limited | Electrostatic chuck using A.C. field excitation |
| ATE95513T1 (de) * | 1988-04-26 | 1993-10-15 | Toto Ltd | Verfahren zur herstellung dielektrischer keramik fuer elektrostatische haltevorrichtungen. |
| CH677400A5 (de) * | 1988-06-07 | 1991-05-15 | Max Zellweger | |
| JP2665242B2 (ja) * | 1988-09-19 | 1997-10-22 | 東陶機器株式会社 | 静電チャック |
| JPH0311750A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 試料吸着ホルダ |
| US5001594A (en) * | 1989-09-06 | 1991-03-19 | Mcnc | Electrostatic handling device |
| US4999507A (en) * | 1990-05-10 | 1991-03-12 | At&T Bell Laboratories | Apparatus comprising an electrostatic wafer cassette |
| US5073716A (en) * | 1990-05-10 | 1991-12-17 | At&T Bell Laboratories | Apparatus comprising an electrostatic wafer cassette |
| EP0460954B1 (de) * | 1990-06-08 | 1994-09-21 | Varian Associates, Inc. | Spannen eines Werkstücks |
| US5452177A (en) * | 1990-06-08 | 1995-09-19 | Varian Associates, Inc. | Electrostatic wafer clamp |
| JPH03163849A (ja) * | 1990-11-07 | 1991-07-15 | Toshiba Mach Co Ltd | 静電チャック |
| EP0493089B1 (de) * | 1990-12-25 | 1998-09-16 | Ngk Insulators, Ltd. | Heizungsapparat für eine Halbleiterscheibe und Verfahren zum Herstellen desselben |
| JPH06737A (ja) * | 1991-03-29 | 1994-01-11 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 静電チャック基板 |
| US5155652A (en) * | 1991-05-02 | 1992-10-13 | International Business Machines Corporation | Temperature cycling ceramic electrostatic chuck |
| US5325261A (en) * | 1991-05-17 | 1994-06-28 | Unisearch Limited | Electrostatic chuck with improved release |
| DE69224791T2 (de) * | 1991-11-07 | 1998-07-09 | Varian Associates | Elektrostatische antiklebe Halteplatte für eine Niederdruckumgebung |
| JP2865472B2 (ja) * | 1992-02-20 | 1999-03-08 | 信越化学工業株式会社 | 静電チャック |
| US5508086A (en) * | 1992-07-29 | 1996-04-16 | Abisare, Co., Ltd. | Electrostatic notice board system |
| US5600530A (en) * | 1992-08-04 | 1997-02-04 | The Morgan Crucible Company Plc | Electrostatic chuck |
| EP0620953B1 (de) * | 1992-11-06 | 1998-02-04 | Varian Associates, Inc. | Elektrostatische klemmvorrichtung zur halterung einer wafer |
| JPH06151084A (ja) * | 1992-11-11 | 1994-05-31 | Asahi Glass Co Ltd | 帯電除去用セラミックスおよびその製造用組成物 |
| JPH06225556A (ja) * | 1992-12-03 | 1994-08-12 | Abisare:Kk | 静電吸着装置 |
| US5384681A (en) * | 1993-03-01 | 1995-01-24 | Toto Ltd. | Electrostatic chuck |
| JPH06326175A (ja) * | 1993-04-22 | 1994-11-25 | Applied Materials Inc | 集積回路処理装置において使用されるウエハサポートの誘電材への保護被覆とその形成方法 |
| US6864570B2 (en) * | 1993-12-17 | 2005-03-08 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for fabricating self-assembling microstructures |
| US5463526A (en) * | 1994-01-21 | 1995-10-31 | Lam Research Corporation | Hybrid electrostatic chuck |
| US5729423A (en) * | 1994-01-31 | 1998-03-17 | Applied Materials, Inc. | Puncture resistant electrostatic chuck |
| US5801915A (en) * | 1994-01-31 | 1998-09-01 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck having a unidirectionally conducting coupler layer |
| US6278600B1 (en) | 1994-01-31 | 2001-08-21 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck with improved temperature control and puncture resistance |
| TW288253B (de) * | 1994-02-03 | 1996-10-11 | Aneruba Kk | |
| US5792562A (en) * | 1995-01-12 | 1998-08-11 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck with polymeric impregnation and method of making |
| KR960043037A (ko) * | 1995-05-29 | 1996-12-21 | 김광호 | 접촉식 서머척 및 그 제조방법 |
| JP2971369B2 (ja) * | 1995-08-31 | 1999-11-02 | トーカロ株式会社 | 静電チャック部材およびその製造方法 |
| EP0764979A3 (de) * | 1995-09-20 | 1998-07-15 | Hitachi, Ltd. | Elektrostatische Anziehungselektrode und Herstellungsverfahren dafür |
| US6370007B2 (en) | 1995-09-20 | 2002-04-09 | Hitachi, Ltd. | Electrostatic chuck |
| US5838529A (en) * | 1995-12-22 | 1998-11-17 | Lam Research Corporation | Low voltage electrostatic clamp for substrates such as dielectric substrates |
| US5708250A (en) * | 1996-03-29 | 1998-01-13 | Lam Resarch Corporation | Voltage controller for electrostatic chuck of vacuum plasma processors |
| US5761023A (en) * | 1996-04-25 | 1998-06-02 | Applied Materials, Inc. | Substrate support with pressure zones having reduced contact area and temperature feedback |
| EP0803900A3 (de) * | 1996-04-26 | 1999-12-29 | Applied Materials, Inc. | Oberflächenpräparation zur Erhöhung der Haftfähigkeit einer dielektrischen Schicht |
| US6108189A (en) * | 1996-04-26 | 2000-08-22 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck having improved gas conduits |
| US5751537A (en) * | 1996-05-02 | 1998-05-12 | Applied Materials, Inc. | Multielectrode electrostatic chuck with fuses |
| US6055150A (en) * | 1996-05-02 | 2000-04-25 | Applied Materials, Inc. | Multi-electrode electrostatic chuck having fuses in hollow cavities |
| TW303505B (en) * | 1996-05-08 | 1997-04-21 | Applied Materials Inc | Substrate support chuck having a contaminant containment layer and method of fabricating same |
| US5825607A (en) * | 1996-05-08 | 1998-10-20 | Applied Materials, Inc. | Insulated wafer spacing mask for a substrate support chuck and method of fabricating same |
| US5737175A (en) * | 1996-06-19 | 1998-04-07 | Lam Research Corporation | Bias-tracking D.C. power circuit for an electrostatic chuck |
| US6175485B1 (en) * | 1996-07-19 | 2001-01-16 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck and method for fabricating the same |
| US6117246A (en) * | 1997-01-31 | 2000-09-12 | Applied Materials, Inc. | Conductive polymer pad for supporting a workpiece upon a workpiece support surface of an electrostatic chuck |
| US6529362B2 (en) | 1997-03-06 | 2003-03-04 | Applied Materials Inc. | Monocrystalline ceramic electrostatic chuck |
| US5737178A (en) * | 1997-03-06 | 1998-04-07 | Applied Materials, Inc. | Monocrystalline ceramic coating having integral bonding interconnects for electrostatic chucks |
| WO1998047176A1 (en) * | 1997-04-11 | 1998-10-22 | The Morgan Crucible Company Plc | Composite ceramic dielectrics |
| US5841624A (en) * | 1997-06-09 | 1998-11-24 | Applied Materials, Inc. | Cover layer for a substrate support chuck and method of fabricating same |
| JPH11157953A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-15 | Nhk Spring Co Ltd | セラミックスと金属との構造体及びそれを用いた静電チャック装置 |
| EP0948042A1 (de) * | 1998-03-06 | 1999-10-06 | VenTec Gesellschaft für Venturekapital und Unternehmensberatung | Elektrostatische Vorrichtung zum Halten von Wafern und anderen Bauteilen |
| US5969934A (en) * | 1998-04-10 | 1999-10-19 | Varian Semiconductor Equipment Associats, Inc. | Electrostatic wafer clamp having low particulate contamination of wafers |
| US5905626A (en) * | 1998-04-12 | 1999-05-18 | Dorsey Gage, Inc. | Electrostatic chuck with ceramic pole protection |
| US6641939B1 (en) | 1998-07-01 | 2003-11-04 | The Morgan Crucible Company Plc | Transition metal oxide doped alumina and methods of making and using |
| US6259592B1 (en) | 1998-11-19 | 2001-07-10 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for retaining a workpiece upon a workpiece support and method of manufacturing same |
| US6115232A (en) * | 1998-12-03 | 2000-09-05 | Lsi Logic Corporation | Method for forming an ion implanted electrostatic chuck |
| US6263829B1 (en) | 1999-01-22 | 2001-07-24 | Applied Materials, Inc. | Process chamber having improved gas distributor and method of manufacture |
| JP2001209981A (ja) * | 1999-02-09 | 2001-08-03 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク基板成膜装置、光ディスク基板成膜方法、基板ホルダーの製造方法、基板ホルダー、光ディスクおよび相変化記録型光ディスク |
| JP3805134B2 (ja) * | 1999-05-25 | 2006-08-02 | 東陶機器株式会社 | 絶縁性基板吸着用静電チャック |
| WO2001011431A2 (en) * | 1999-08-06 | 2001-02-15 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus of holding semiconductor wafers for lithography and other wafer processes |
| US6839217B1 (en) | 1999-10-01 | 2005-01-04 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Surface structure and method of making, and electrostatic wafer clamp incorporating surface structure |
| US6538873B1 (en) | 1999-11-02 | 2003-03-25 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Active electrostatic seal and electrostatic vacuum pump |
| US6362946B1 (en) | 1999-11-02 | 2002-03-26 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Electrostatic wafer clamp having electrostatic seal for retaining gas |
| US6598559B1 (en) | 2000-03-24 | 2003-07-29 | Applied Materials, Inc. | Temperature controlled chamber |
| JP3599634B2 (ja) * | 2000-04-10 | 2004-12-08 | 信越化学工業株式会社 | イオン注入機用静電チャック |
| US6686598B1 (en) | 2000-09-01 | 2004-02-03 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Wafer clamping apparatus and method |
| US6581275B2 (en) | 2001-01-22 | 2003-06-24 | Applied Materials Inc. | Fabricating an electrostatic chuck having plasma resistant gas conduits |
| TW541586B (en) * | 2001-05-25 | 2003-07-11 | Tokyo Electron Ltd | Substrate table, production method therefor and plasma treating device |
| KR100427459B1 (ko) * | 2001-09-05 | 2004-04-30 | 주성엔지니어링(주) | 아크 방지용 정전척 |
| US6682627B2 (en) | 2001-09-24 | 2004-01-27 | Applied Materials, Inc. | Process chamber having a corrosion-resistant wall and method |
| US20030188685A1 (en) * | 2002-04-08 | 2003-10-09 | Applied Materials, Inc. | Laser drilled surfaces for substrate processing chambers |
| JP4260450B2 (ja) * | 2002-09-20 | 2009-04-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 真空処理装置における静電チャックの製造方法 |
| US20040066601A1 (en) * | 2002-10-04 | 2004-04-08 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Electrode configuration for retaining cooling gas on electrostatic wafer clamp |
| JP4186644B2 (ja) * | 2003-02-17 | 2008-11-26 | 株式会社Ihi | 真空処理装置の冷却装置 |
| US7910218B2 (en) | 2003-10-22 | 2011-03-22 | Applied Materials, Inc. | Cleaning and refurbishing chamber components having metal coatings |
| TWI242255B (en) * | 2004-07-21 | 2005-10-21 | Touch Micro System Tech | Wafer carrier |
| US7670436B2 (en) | 2004-11-03 | 2010-03-02 | Applied Materials, Inc. | Support ring assembly |
| US8617672B2 (en) | 2005-07-13 | 2013-12-31 | Applied Materials, Inc. | Localized surface annealing of components for substrate processing chambers |
| DE202005011367U1 (de) | 2005-07-18 | 2005-09-29 | Retzlaff, Udo, Dr. | Transfer-ESC auf Wafer-Basis |
| US7762114B2 (en) | 2005-09-09 | 2010-07-27 | Applied Materials, Inc. | Flow-formed chamber component having a textured surface |
| US9127362B2 (en) | 2005-10-31 | 2015-09-08 | Applied Materials, Inc. | Process kit and target for substrate processing chamber |
| US20070125646A1 (en) | 2005-11-25 | 2007-06-07 | Applied Materials, Inc. | Sputtering target for titanium sputtering chamber |
| US20080138504A1 (en) * | 2006-12-08 | 2008-06-12 | Coorstek, Inc. | Coatings for components of semiconductor wafer fabrication equipment |
| US7981262B2 (en) | 2007-01-29 | 2011-07-19 | Applied Materials, Inc. | Process kit for substrate processing chamber |
| US7942969B2 (en) | 2007-05-30 | 2011-05-17 | Applied Materials, Inc. | Substrate cleaning chamber and components |
| CN101884161A (zh) * | 2007-12-20 | 2010-11-10 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 静电卡盘以及形成方法 |
| US20110024049A1 (en) * | 2009-07-30 | 2011-02-03 | c/o Lam Research Corporation | Light-up prevention in electrostatic chucks |
| NL2007768A (en) | 2010-12-14 | 2012-06-18 | Asml Netherlands Bv | Substrate holder, lithographic apparatus, device manufacturing method, and method of manufacturing a substrate holder. |
| JP5609663B2 (ja) * | 2011-01-18 | 2014-10-22 | 旭硝子株式会社 | ガラス基板保持手段、およびそれを用いたeuvマスクブランクスの製造方法 |
| EP2490073B1 (de) * | 2011-02-18 | 2015-09-23 | ASML Netherlands BV | Substrathalter, lithografische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung eines Substrathalters |
| NL2008630A (en) | 2011-04-27 | 2012-10-30 | Asml Netherlands Bv | Substrate holder, lithographic apparatus, device manufacturing method, and method of manufacturing a substrate holder. |
| US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
| NL2010139A (en) | 2012-02-03 | 2013-08-06 | Asml Netherlands Bv | Substrate holder, lithographic apparatus, device manufacturing method, and method of manufacturing a substrate holder. |
| US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
| WO2014105989A1 (en) * | 2012-12-31 | 2014-07-03 | Flir Systems, Inc. | Wafer level packaging of microbolometer vacuum package assemblies |
| US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
| US10858737B2 (en) | 2014-07-28 | 2020-12-08 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead assembly and components thereof |
| US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
| US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
| US9718215B2 (en) | 2015-04-15 | 2017-08-01 | Halo Industries, Inc. | Capacitive clamping process for cleaving work pieces using crack propagation |
| US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
| US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
| US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
| US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
| US10343920B2 (en) | 2016-03-18 | 2019-07-09 | Asm Ip Holding B.V. | Aligned carbon nanotubes |
| US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
| US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
| US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
| US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
| US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
| RU173366U1 (ru) * | 2016-08-30 | 2017-08-23 | Общество с ограниченной ответственностью "БЕСТ" | Электростатическая информационно-демонстрационная доска |
| US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
| US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
| KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
| KR102762543B1 (ko) | 2016-12-14 | 2025-02-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
| US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
| US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
| US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
| US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
| US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
| US12040200B2 (en) | 2017-06-20 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus |
| US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
| KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
| US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
| US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
| TWI815813B (zh) | 2017-08-04 | 2023-09-21 | 荷蘭商Asm智慧財產控股公司 | 用於分配反應腔內氣體的噴頭總成 |
| US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
| US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
| US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
| US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
| US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
| US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
| US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
| US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
| WO2019103610A1 (en) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus including a clean mini environment |
| WO2019103613A1 (en) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | Asm Ip Holding B.V. | A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace |
| US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
| TWI799494B (zh) | 2018-01-19 | 2023-04-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
| WO2019142055A2 (en) | 2018-01-19 | 2019-07-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a gap-fill layer by plasma-assisted deposition |
| US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
| KR102657269B1 (ko) | 2018-02-14 | 2024-04-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 주기적 증착 공정에 의해 기판 상에 루테늄-함유 막을 증착하는 방법 |
| US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
| US10731249B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-08-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus |
| KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
| US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
| US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
| US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
| KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
| US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| KR102600229B1 (ko) | 2018-04-09 | 2023-11-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 장치, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| TWI843623B (zh) | 2018-05-08 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構 |
| US12025484B2 (en) | 2018-05-08 | 2024-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Thin film forming method |
| US12272527B2 (en) | 2018-05-09 | 2025-04-08 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for use with hydrogen radicals and method of using same |
| KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
| TWI840362B (zh) | 2018-06-04 | 2024-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 水氣降低的晶圓處置腔室 |
| US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
| US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
| US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
| KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
| TWI819010B (zh) | 2018-06-27 | 2023-10-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法 |
| CN120591748A (zh) | 2018-06-27 | 2025-09-05 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于形成含金属的材料的循环沉积方法及膜和结构 |
| US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
| US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
| US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
| US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
| US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| KR102707956B1 (ko) | 2018-09-11 | 2024-09-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
| CN110970344B (zh) | 2018-10-01 | 2024-10-25 | Asmip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
| US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
| KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| US12378665B2 (en) | 2018-10-26 | 2025-08-05 | Asm Ip Holding B.V. | High temperature coatings for a preclean and etch apparatus and related methods |
| US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
| KR102748291B1 (ko) | 2018-11-02 | 2024-12-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
| US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
| US11031272B2 (en) * | 2018-11-06 | 2021-06-08 | Mikro Mesa Technology Co., Ltd. | Micro device electrostatic chuck with diffusion blocking layer |
| US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
| US12040199B2 (en) | 2018-11-28 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
| US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
| KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
| US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
| JP7504584B2 (ja) | 2018-12-14 | 2024-06-24 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム |
| TWI819180B (zh) | 2019-01-17 | 2023-10-21 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
| KR102727227B1 (ko) | 2019-01-22 | 2024-11-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
| KR20200102357A (ko) | 2019-02-20 | 2020-08-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법 |
| TWI845607B (zh) | 2019-02-20 | 2024-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備 |
| KR102638425B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-02-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 내에 형성된 오목부를 충진하기 위한 방법 및 장치 |
| TWI842826B (zh) | 2019-02-22 | 2024-05-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備及處理基材之方法 |
| KR102858005B1 (ko) | 2019-03-08 | 2025-09-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
| KR102762833B1 (ko) | 2019-03-08 | 2025-02-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
| JP2020167398A (ja) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置 |
| KR102809999B1 (ko) | 2019-04-01 | 2025-05-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
| US11447864B2 (en) | 2019-04-19 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
| KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
| KR102929471B1 (ko) | 2019-05-07 | 2026-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
| KR102869364B1 (ko) | 2019-05-07 | 2025-10-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
| KR102929472B1 (ko) | 2019-05-10 | 2026-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
| JP7612342B2 (ja) | 2019-05-16 | 2025-01-14 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
| JP7598201B2 (ja) | 2019-05-16 | 2024-12-11 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
| USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| KR20200141003A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 가스 감지기를 포함하는 기상 반응기 시스템 |
| KR102918757B1 (ko) | 2019-06-10 | 2026-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 석영 에피택셜 챔버를 세정하는 방법 |
| KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
| USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
| JP7214867B2 (ja) * | 2019-06-28 | 2023-01-30 | 日本碍子株式会社 | 静電チャック |
| KR102911421B1 (ko) | 2019-07-03 | 2026-01-12 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
| JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
| CN112216646B (zh) | 2019-07-10 | 2026-02-10 | Asmip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
| KR102895115B1 (ko) | 2019-07-16 | 2025-12-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| KR20210010816A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법 |
| KR102860110B1 (ko) | 2019-07-17 | 2025-09-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
| US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
| KR102903090B1 (ko) | 2019-07-19 | 2025-12-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법 |
| TWI839544B (zh) | 2019-07-19 | 2024-04-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法 |
| TWI851767B (zh) | 2019-07-29 | 2024-08-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法 |
| US12169361B2 (en) | 2019-07-30 | 2024-12-17 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
| CN112309899B (zh) | 2019-07-30 | 2025-11-14 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| CN112309900B (zh) | 2019-07-30 | 2025-11-04 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
| KR20210018759A (ko) | 2019-08-05 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서 |
| KR20210018761A (ko) | 2019-08-09 | 2021-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 냉각 장치를 포함한 히터 어셈블리 및 이를 사용하는 방법 |
| KR20210021266A (ko) | 2019-08-14 | 2021-02-25 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 웨이퍼를 처리하는 장치 및 방법 |
| USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
| USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
| JP7810514B2 (ja) | 2019-08-21 | 2026-02-03 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
| USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
| USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
| USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
| KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
| US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
| KR102928101B1 (ko) | 2019-08-23 | 2026-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
| KR102868968B1 (ko) | 2019-09-03 | 2025-10-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 칼코지나이드 막 및 상기 막을 포함한 구조체를 증착하기 위한 방법 및 장치 |
| KR102806450B1 (ko) | 2019-09-04 | 2025-05-12 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
| KR102733104B1 (ko) | 2019-09-05 | 2024-11-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| US12046502B2 (en) * | 2019-09-09 | 2024-07-23 | Watlow Electric Manufacturing Company | Electrostatic puck and method of manufacture |
| US12469693B2 (en) | 2019-09-17 | 2025-11-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a carbon-containing layer and structure including the layer |
| US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
| CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
| TWI846953B (zh) | 2019-10-08 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理裝置 |
| KR20210042810A (ko) | 2019-10-08 | 2021-04-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
| TW202128273A (zh) | 2019-10-08 | 2021-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氣體注入系統、及將材料沉積於反應室內之基板表面上的方法 |
| TWI846966B (zh) | 2019-10-10 | 2024-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成光阻底層之方法及包括光阻底層之結構 |
| US12009241B2 (en) | 2019-10-14 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette |
| TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
| US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
| KR102845724B1 (ko) | 2019-10-21 | 2025-08-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
| KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
| US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
| KR102890638B1 (ko) | 2019-11-05 | 2025-11-25 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
| US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
| KR102861314B1 (ko) | 2019-11-20 | 2025-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
| CN112951697B (zh) | 2019-11-26 | 2025-07-29 | Asmip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| US11450529B2 (en) | 2019-11-26 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface |
| CN120432376A (zh) | 2019-11-29 | 2025-08-05 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| CN120998766A (zh) | 2019-11-29 | 2025-11-21 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
| JP7527928B2 (ja) | 2019-12-02 | 2024-08-05 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基板処理装置、基板処理方法 |
| KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| CN112992667A (zh) | 2019-12-17 | 2021-06-18 | Asm Ip私人控股有限公司 | 形成氮化钒层的方法和包括氮化钒层的结构 |
| US11527403B2 (en) | 2019-12-19 | 2022-12-13 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures |
| JP7636892B2 (ja) | 2020-01-06 | 2025-02-27 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | チャネル付きリフトピン |
| TWI901623B (zh) | 2020-01-06 | 2025-10-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氣體供應總成以及閥板總成 |
| US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
| KR102882467B1 (ko) | 2020-01-16 | 2025-11-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고 종횡비 피처를 형성하는 방법 |
| KR102675856B1 (ko) | 2020-01-20 | 2024-06-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법 |
| TWI889744B (zh) | 2020-01-29 | 2025-07-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 污染物捕集系統、及擋板堆疊 |
| TWI871421B (zh) | 2020-02-03 | 2025-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 包括釩或銦層的裝置、結構及其形成方法、系統 |
| KR20210100010A (ko) | 2020-02-04 | 2021-08-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치 |
| US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
| KR102916725B1 (ko) | 2020-02-13 | 2026-01-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 수광 장치를 포함하는 기판 처리 장치 및 수광 장치의 교정 방법 |
| US11781243B2 (en) | 2020-02-17 | 2023-10-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon |
| TWI895326B (zh) | 2020-02-28 | 2025-09-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 專用於零件清潔的系統 |
| CN113363196A (zh) | 2020-03-04 | 2021-09-07 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于反应器系统的对准夹具 |
| KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
| US11876356B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-16 | Asm Ip Holding B.V. | Lockout tagout assembly and system and method of using same |
| KR102775390B1 (ko) | 2020-03-12 | 2025-02-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법 |
| US12173404B2 (en) | 2020-03-17 | 2024-12-24 | Asm Ip Holding B.V. | Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method |
| KR102755229B1 (ko) | 2020-04-02 | 2025-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
| TWI887376B (zh) | 2020-04-03 | 2025-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體裝置的製造方法 |
| TWI888525B (zh) | 2020-04-08 | 2025-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
| KR20210127620A (ko) | 2020-04-13 | 2021-10-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 질소 함유 탄소 막을 형성하는 방법 및 이를 수행하기 위한 시스템 |
| US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
| KR20210128343A (ko) | 2020-04-15 | 2021-10-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조 |
| US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
| TW202143328A (zh) | 2020-04-21 | 2021-11-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於調整膜應力之方法 |
| TWI887400B (zh) | 2020-04-24 | 2025-06-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於穩定釩化合物之方法及設備 |
| KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
| TW202208671A (zh) | 2020-04-24 | 2022-03-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成包括硼化釩及磷化釩層的結構之方法 |
| US11898243B2 (en) | 2020-04-24 | 2024-02-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming vanadium nitride-containing layer |
| KR102866804B1 (ko) | 2020-04-24 | 2025-09-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리 |
| KR102783898B1 (ko) | 2020-04-29 | 2025-03-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
| KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
| TWI907417B (zh) | 2020-05-04 | 2025-12-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 半導體處理系統 |
| JP7736446B2 (ja) | 2020-05-07 | 2025-09-09 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同調回路を備える反応器システム |
| KR20210137395A (ko) | 2020-05-07 | 2021-11-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 불소계 라디칼을 이용하여 반응 챔버의 인시츄 식각을 수행하기 위한 장치 및 방법 |
| KR102788543B1 (ko) | 2020-05-13 | 2025-03-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
| US12057314B2 (en) | 2020-05-15 | 2024-08-06 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for silicon germanium uniformity control using multiple precursors |
| KR102905441B1 (ko) | 2020-05-19 | 2025-12-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
| KR102795476B1 (ko) | 2020-05-21 | 2025-04-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
| KR20210145079A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판을 처리하기 위한 플랜지 및 장치 |
| KR102702526B1 (ko) | 2020-05-22 | 2024-09-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 과산화수소를 사용하여 박막을 증착하기 위한 장치 |
| KR20210146802A (ko) | 2020-05-26 | 2021-12-06 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 붕소 및 갈륨을 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법 |
| TWI876048B (zh) | 2020-05-29 | 2025-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| TW202212620A (zh) | 2020-06-02 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法 |
| KR20210156219A (ko) | 2020-06-16 | 2021-12-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 붕소를 함유한 실리콘 게르마늄 층을 증착하는 방법 |
| TWI908816B (zh) | 2020-06-24 | 2025-12-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
| TWI873359B (zh) | 2020-06-30 | 2025-02-21 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| TWI896694B (zh) | 2020-07-01 | 2025-09-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 沉積方法、半導體結構、及沉積系統 |
| TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| TWI864307B (zh) | 2020-07-17 | 2024-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於光微影之結構、方法與系統 |
| KR20220011092A (ko) | 2020-07-20 | 2022-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 전이 금속층을 포함하는 구조체를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
| TWI878570B (zh) | 2020-07-20 | 2025-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
| TW202219303A (zh) | 2020-07-27 | 2022-05-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 薄膜沉積製程 |
| KR20220020210A (ko) | 2020-08-11 | 2022-02-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 티타늄 알루미늄 카바이드 막 구조체 및 관련 반도체 구조체를 증착하는 방법 |
| KR102915124B1 (ko) | 2020-08-14 | 2026-01-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 |
| US12040177B2 (en) | 2020-08-18 | 2024-07-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes |
| KR20220026500A (ko) | 2020-08-25 | 2022-03-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면을 세정하는 방법 |
| TW202534193A (zh) | 2020-08-26 | 2025-09-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法 |
| KR20220027772A (ko) | 2020-08-27 | 2022-03-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다중 패터닝 공정을 사용하여 패터닝된 구조체를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
| TWI904232B (zh) | 2020-09-10 | 2025-11-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 沉積間隙填充流體之方法及相關系統和裝置 |
| USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
| KR20220036866A (ko) | 2020-09-16 | 2022-03-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 산화물 증착 방법 |
| USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
| TWI889903B (zh) | 2020-09-25 | 2025-07-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
| US12009224B2 (en) | 2020-09-29 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for etching metal nitrides |
| CN114388427A (zh) | 2020-10-06 | 2022-04-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于在特征的侧壁上形成氮化硅的方法和系统 |
| KR20220045900A (ko) | 2020-10-06 | 2022-04-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치 |
| CN114293174A (zh) | 2020-10-07 | 2022-04-08 | Asm Ip私人控股有限公司 | 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备 |
| KR102855834B1 (ko) | 2020-10-14 | 2025-09-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 단차형 구조 상에 재료를 증착하는 방법 |
| KR102873665B1 (ko) | 2020-10-15 | 2025-10-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자의 제조 방법, 및 ether-cat을 사용하는 기판 처리 장치 |
| TW202217037A (zh) | 2020-10-22 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成 |
| TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
| TW202229620A (zh) | 2020-11-12 | 2022-08-01 | 特文特大學 | 沉積系統、用於控制反應條件之方法、沉積方法 |
| TW202229795A (zh) | 2020-11-23 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具注入器之基板處理設備 |
| TW202235649A (zh) | 2020-11-24 | 2022-09-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充間隙之方法與相關之系統及裝置 |
| KR20220076343A (ko) | 2020-11-30 | 2022-06-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터 |
| KR20220077875A (ko) | 2020-12-02 | 2022-06-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 샤워헤드 어셈블리용 세정 고정구 |
| US12255053B2 (en) | 2020-12-10 | 2025-03-18 | Asm Ip Holding B.V. | Methods and systems for depositing a layer |
| US12159788B2 (en) | 2020-12-14 | 2024-12-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures for threshold voltage control |
| CN114639631A (zh) | 2020-12-16 | 2022-06-17 | Asm Ip私人控股有限公司 | 跳动和摆动测量固定装置 |
| TW202232639A (zh) | 2020-12-18 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具有可旋轉台的晶圓處理設備 |
| TW202231903A (zh) | 2020-12-22 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成 |
| TW202242184A (zh) | 2020-12-22 | 2022-11-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 前驅物膠囊、前驅物容器、氣相沉積總成、及將固態前驅物裝載至前驅物容器中之方法 |
| TW202226899A (zh) | 2020-12-22 | 2022-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 具匹配器的電漿處理裝置 |
| USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
| USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
| USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
| USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
| US12062565B2 (en) | 2021-06-29 | 2024-08-13 | Asm Ip Holding B.V. | Electrostatic chuck, assembly including the electrostatic chuck, and method of controlling temperature of the electrostatic chuck |
| USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
| USD1099184S1 (en) | 2021-11-29 | 2025-10-21 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
| USD1060598S1 (en) | 2021-12-03 | 2025-02-04 | Asm Ip Holding B.V. | Split showerhead cover |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3197682A (en) * | 1961-04-13 | 1965-07-27 | Pure Oil Co | Safet electro-responsive-fluid chuck |
| US3253200A (en) * | 1961-08-30 | 1966-05-24 | Union Oil Co | Electro-viscous fluid chuck |
| US3330252A (en) * | 1964-09-10 | 1967-07-11 | Sperry Rand Corp | Masking device |
| GB1443215A (en) * | 1973-11-07 | 1976-07-21 | Mullard Ltd | Electrostatically clamping a semiconductor wafer during device manufacture |
| IL56224A (en) * | 1978-01-16 | 1982-08-31 | Veeco Instr Inc | Substrate clamp for use in semiconductor fabrication |
| DD143131A1 (de) * | 1979-04-26 | 1980-07-30 | Ute Bergner | Vorrichtung zum elektrostatischen halten von werkstuecken,insbesondere halbleiterscheiben |
-
1982
- 1982-02-03 JP JP57015875A patent/JPS6059104B2/ja not_active Expired
- 1982-09-29 US US06/428,341 patent/US4480284A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-10-11 FR FR8216981A patent/FR2520930A1/fr active Granted
- 1982-10-12 DD DD82243929A patent/DD211675A5/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2520930B1 (de) | 1984-05-25 |
| JPS6059104B2 (ja) | 1985-12-23 |
| US4480284A (en) | 1984-10-30 |
| FR2520930A1 (fr) | 1983-08-05 |
| JPS58137536A (ja) | 1983-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DD211675A5 (de) | Elektrostatische haftplatte | |
| DE60037885T2 (de) | Methode zur elektrostatischen Anziehung und Verarbeitung eines isolierneden Glassubstrates | |
| DE112014001279B4 (de) | Bearbeitungsverfahren einer Silizium-auf-Isolator-Struktur zur Verminderung von Licht-Punkt-Defekten und Oberflächenrauigkeit | |
| DE60021848T2 (de) | Keramisches heizgerät | |
| DE69625974T2 (de) | Verfahren und Struktur zur Verbesserung der Flüssigkeitsströmung für Wärmetransport in elektrostatische Halter | |
| DE3534886C2 (de) | ||
| DE112006002987T5 (de) | Aluminiumlegierungselement mit hervorragender Korrosionsbeständigkeit | |
| DE3013352A1 (de) | Vorrichtung zum elektrostatischen halten von werkstuecken, insbesondere halbleiterscheiben | |
| US20070131935A1 (en) | Capacitor and method of manufacturing same | |
| DE2347649C3 (de) | Dünnfilmschaltung | |
| DE10232080B4 (de) | Elektrostatischer Greifer und Verfahren zu dessen Herstellung | |
| DE10260853A1 (de) | Piezoaktor und ein Verfahren zu dessen Herstellung | |
| DE4033355A1 (de) | Verfahren zum elektrolytischen aetzen von siliziumkarbid | |
| US5091820A (en) | Ceramic piezoelectric element with electrodes formed by reduction | |
| DE112020004059T5 (de) | Druckwellenerzeugungsvorrichtung und verfahren zur herstellung derselben | |
| JP2013042181A (ja) | キャパシタの製造方法 | |
| DE2257649C3 (de) | Verfahren zum Bestimmen von fehlerhaften Isolierschichten auf Halbleitern - | |
| JPS6245698B2 (de) | ||
| DE102004014146B4 (de) | Gasmessfühler | |
| DD289065A5 (de) | Verfahren zur erzeugung einer dielektrischen schicht auf leichtmetallen oder deren legierungen | |
| DE2615620A1 (de) | Monolithische struktur und verfahren zur speicherung von elektrischen ladungen | |
| DE1489037B2 (de) | Verfahren zur herstellung von elektrischen kondensatoren | |
| US4987515A (en) | Ceramic capacitor with electrodes formed by reduction | |
| US3335073A (en) | Method of making anodized tantalum foil | |
| EP3959752B1 (de) | Elektromechanischer aktor mit keramischer isolierung und verfahren zu dessen herstellung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ENJ | Ceased due to non-payment of renewal fee |