DD254788A1 - Kontaktiereinrichtung zur elektrischen pruefung von bestueckten/unbestueckten verdrahtungstraegern - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Kontaktiereinrichtung zur elektrischen Pruefung von Verdrahtungstraegern, die in allen Bereichen der Elektrotechnik/Elektronik anwendbar ist. Erfindungsgemaess sind in die Loecher einer oberen und einer unteren Positionierplatte ferromagnetische Kontaktstifte lose eingelegt und zwischen den Positionierplatten mit Zufuehrungsdraehten verbunden. Die Kontaktierung erfolgt ueber Elektromagnete. Figur
Description
Hierzu 1 Seite Zeichnung
Die Erfindung betrifft eine Kontaktiereinrichtung zur elektrischen Prüfung von bestückten/unbestückten Verdrahtungsträgern, z.B. um diese auf vorhandene Verbindungen und Kurzschlüsse zu testen.
Anwendungsgebiet der Erfindung sind alle Bereiche, in denen Verdrahtungsträger geprüft werden müssen, z. B. in der Nachrichten-und Rechentechnik, der Konsumelektronik usw.
Es ist bekannt, daß gegenwärtig flächige Verdrahtungsträger, wie Leiterplatten, zur Prüfung der auf ihnen bestehenden Verdrahtung vorrangig durch federnde Kontaktstifte an den interessierenden Prüfstellen, zweckmäßigerweise den Leiterzugenden, angetastet werden.
Eine effektive elektrische Prüfung erfordert dabei das gleichzeitige Antasten einer großen Anzahl — unter Umständen von einigen hundert—Prüf punkten. Diese sind typischerwiese über die gesamte Fläche des Verdrahtungsträgers verteilt und liegen zum Teil eng nebeneinander.
Mit sinkendem Abstand der Antaststellen wird die Fertigung der einzelnen spiralgefederten Kontaktstifte immer komplizierter und teurer.
Bei der Verwendung von spiralgefederten Kontaktstiften wird durch die relativ großen äußeren Abmessungen im Bereich von etwa 1,25 mm bis 0,64 mm Abstand zwischen den Kontaktstiften die technologische Grenze ihrer Einsatzfähigkeit erreicht. Solche Kontaktstifte finden z.B. bei den in den DE-OS 3031137 und DE-OS 3229448 beschriebenen Kontaktiereinrichtungen Anwendung.
Bei der in der DE-OS 3337915 vorgestellten Lösung sind die Kontaktstifte in einer ersten Platte fest angeordnet und werden in einer zweiten Positionierplatte geführt. Die Kontaktstifte bestehen aus einem flexiblen Material. Dadurch ist es möglich, ohne Spiralfedern auszukommen. Bei der Kontaktierung erfolgt allerdings eine seitliche Auslenkung der Kontaktstifte, so daß ihre Anordnung in minimalem Abstand nicht möglich ist.
Ziel der Erfindung ist eine Kontaktiereinrichtung zum Prüfen von bestückten oder unbestückten Verdrahtungsträgern, die einen einfachen Aufbau besitzt und die sich effektiv und mit hoher Genauigkeit fertigen läßt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Kontaktiereinrichtung zu schaffen, mit der die Verdrahtung auf bestückten/ unbestückten Verdrahtungsträgern mit Kontaktstiften geprüft werden kann, die über eine kontinuierlich und leicht veränderbare Einstellung der Kontaktkraft verfügt, wobei die Antastung von vielen, auch eng nebeneinander liegenden Kontaktstellen gleichzeitig möglich sein soll.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einer Kontaktiereinrichtung zur elektrischen Prüfung von bestückten/unbestückten Verdrahtungsträgern mit Kontaktstiften und mit einer oberen und einer unteren Positionierplatte dadurch gelöst, daß die Kontaktstifte lose in den Löchern der oberen und der unteren Positionierplatte angeordnet sind, daß sich zwischen den Positionierplatten Zuführungsdrähte befinden, die mit den Kontaktstoffen elektrisch leitend verbunden sind, daß ein
Verdrahtungsträger auf einem Eisenkern eines ersten Elektromagneten positioniert ist, daß über der oberen Postionierplatte ein Eisenkern und eine Spule eines zweiten Elektromagneten angeordnet sind und daß die Kontaktstifte aus einem ferromagnetischen Material bestehen.
Eine Variante der Erfindung besteht darin, daß die Kontaktstifte permanentmagnetisch sind. Dann kann der zu prüfende Verdrahtungsträger in bekannter Weise auf einer geeigneten Auflageplatte positioniert werden und der erste Elektromagnet kann entfallen.
Eine zweite Variante der Erfindung besteht darin, daß die Zuführungsdrähte an den Rand der einer oder beider Positionierplatten geführt sind, daß die Löcher einer oder beider Positionierplatten metallisiert sind und daß mindestens eine der Positionierplatten eine oder mehrere Signalverdrahtungsebenen enthält. Diese Variante ermöglicht es, die Kontaktstifte in einem engerem Abstand anzuordnen. Die Signalverdrahtungsebenen sind dabei in erforderlicher Weise mit den metallisierten Löchern verbunden.
Zur Prüfung von Verdrahtungsträgern werden die beiden Elektromagneten wechselweise eingeschaltet und heben die Kontaktstifte auf Grund ihrer magnetischen Kraftwirkung entweder an oder senken sie ab. Ist der zweite Elektromagnet eingeschaltet, hängen die Kontaktstifte am Eisenkern und geben den Verdrahtungsträger frei, so daß dieser gewechselt werden
Zum Kontaktieren des Verdrahtungsträgers wird der erste Elektromagnet eingeschaltet. Da seine Magnetkraft stromabhängig ist, kann durch Variation der angelegten Spannung die Kontaktkraft kontinuierlich eingestellt werden und somit an die Kontaktmaterialien von Verdrahtungsträgern und Kontaktstiften definiert angepaßt werden.
Beim Einsatz von permanentmagnetischen Kontaktstiften kann der erste Elektromagnet entfallen oder es kann mit kleineren Magneten gearbeitet werden, da dann durch Vertauschen der Strompolarität an den Anschlußklemmen des bzw. der Magneten ihre magnetische Polarität gewechselt werden kann und damit die Wirkungsrichtung der Kraft.
Die Erfindung wird nachstehend an einem Ausführungsbeispiel erläutert.
Die Fig. zeigt die erfindungsgemäße Kontaktiereinrichtung, bei der zur besseren Veranschaulichung nur wenige Prüfnadeln dargestellt wurden.
Die Kontaktiereinrichtung besteht aus einer oberen und einer unteren Positionierplatte 3; 5, in die Kontaktstifte 10 aus ferromagnetischem Material lose eingelegt sind. Die Kontaktstifte 10 sind zwischen den beiden Positionierplatten 3; 5 mit Zuführungsdrähten 4 elektrisch leitend verbunden. Zur Platzersparnis sind die Zuführungsdrähte in jeweils unterschiedlicher Höhe angeordnet.
Der zu prüfende Verdrahtungsträger 6 ist auf einem Eisenkern 1 eines ersten Elektromagneten positioniert.
Über der oberen Positionierplatte 3 befindet sich ein zweiter Elektromagnet.
Dargestellt ist der kontaktierte Zustand, d. h. der erste Elektromagnet ist eingeschaltet und zieht die ferromagnetischen Kontaktstifte 10 auf die anzutastenden Prüfstellen des Verdrahtungsträgers. Der zweite Elektromagnet ist ausgeschaltet.
Zum Entkontaktieren wird der erste Elektromagnet ausgeschaltet und der zweite Elektromagnet eingeschaltet, wodurch die Kontaktstifte 10 an den Eisenkern 7 des zweiten Elektromagneten gezogen werden und den Verdrahtungsträger freigeben, so daß ein neuer eingelegt werden kann.
Claims (3)
- -1- ^O*t /ööPatentansprüche:1. Kontaktiereinrichtung zur elektrischen Prüfung von bestückten/unbestückten Verdrahtungsträgern mit Kontaktstiften und mit einer oberen und einer unteren Positionierplatte, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (10) lose in den Löchern der oberen Positionierplatte (3) und der unteren Positionierplatte (5) angeordnet sind, daß sich zwischen den Positionierplatten (3, 5) Zuführungdrähte (4) befinden, die mit den Kontaktstifen (10) elektrisch leitend verbunden sind, daß ein Verdrahtungsträger (6) auf einem Eisenkern (1) eines ersten Elektromagneten positioniert ist, daß über der oberen Positionierplatte (3) ein Eisenkern (7) und eine Spule (8) eines zweiten Elektromagneten angeordnet sind und daß die Kontaktstifte (10) aus einem ferromagnetischem Material bestehen.
- 2. Kontaktiereinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (10) permanentmagnetisch sind.
- 3. Kontakteinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zuführungsdrähte an den Rand mindestens einer der beiden Positionierplatten (3; 5) geführt sind, daß die Löcher einer oder beider Positionierplatten (3; 5) metallisiert sind und daß die Positionierplatten (3; 5) eine oder mehrere Signalverdrahtungsebenen enthalten.
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| DD254788A1 true DD254788A1 (de) | 1988-03-09 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006022330A1 (de) * | 2006-05-10 | 2007-11-15 | Göpel electronic GmbH | Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten |
| EP2631659A2 (de) | 2012-02-27 | 2013-08-28 | Göpel electronic GmbH | Kontaktierungsanordnung zur elektrischen Kontaktierung von Testpunkten |
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1986
- 1986-12-02 DD DD29694286A patent/DD254788A1/de not_active IP Right Cessation
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006022330A1 (de) * | 2006-05-10 | 2007-11-15 | Göpel electronic GmbH | Modul zur elektrischen Kontaktierung von Leiterplatten |
| DE102006022330B4 (de) * | 2006-05-10 | 2009-04-30 | Göpel electronic GmbH | Kontaktierungsanordnung mit einer Leiterplatte und einem aufsetzbaren Modul zur elektrischen Kontaktierung der Leiterplatte |
| EP2631659A2 (de) | 2012-02-27 | 2013-08-28 | Göpel electronic GmbH | Kontaktierungsanordnung zur elektrischen Kontaktierung von Testpunkten |
| DE102012101556A1 (de) | 2012-02-27 | 2013-08-29 | Göpel electronic GmbH | Kontaktierungsanordnung zur elektrischen Kontaktierung von Testpunkten |
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