DD292082B5 - Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung - Google Patents

Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung Download PDF

Info

Publication number
DD292082B5
DD292082B5 DD33794490A DD33794490A DD292082B5 DD 292082 B5 DD292082 B5 DD 292082B5 DD 33794490 A DD33794490 A DD 33794490A DD 33794490 A DD33794490 A DD 33794490A DD 292082 B5 DD292082 B5 DD 292082B5
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
waveguide
strip
solid surface
photothermal
thermal lens
Prior art date
Application number
DD33794490A
Other languages
English (en)
Inventor
Heinz-Guenter Dr Sc Walther
Kerstin Dipl-Phys Friedrich
Andreas Dr Rasch
Wolfgang Prof Dr Karthe
Original Assignee
Univ Schiller Jena
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Schiller Jena filed Critical Univ Schiller Jena
Priority to DD33794490A priority Critical patent/DD292082B5/de
Priority to DE4104013A priority patent/DE4104013A1/de
Publication of DD292082B5 publication Critical patent/DD292082B5/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/171Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with calorimetric detection, e.g. with thermal lens detection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/171Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with calorimetric detection, e.g. with thermal lens detection
    • G01N2021/1712Thermal lens, mirage effect

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

Hierzu 1 Seite Zeichnungen
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Gewinnung phototherrnischer Meßsignale, die von einer durch einen fokusierten Licht- oder Teilchenstrahl erwärmten Probenoberfläche hergeleitet werden können. Solche Meßsignale sind bei der photothermischen Mikroskopie, der photothermischefi Spektroskopie und der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung aufzunehmen. Ihre Kenntnis und Auswertung vermittelt Informationen über die laterale und vertikale Verteilung der Meßobjektseigenschaften. Damit wird unter anderem auch eine berührungsfreie und zerstörungsfreie Prüfung und Bewertung von strukturierten Halbleiterbauelementen möglich.
Charakteristik des bekannten Standes der Technik
Bei der photothermischen Untersuchung von Festkörperoberflächen werden diese mit einem fokussierten, in seiner Intensität zeitveränderlichen Licht- oder Teilchenstrahl bestrahlt. Zum Nachweis der durch e'en lokalisierten Energieeintrag erzeugten Oberflächenerwärmung dient ein Meßlichtstrahl, der dicht über die Probenoberfläche vorbeigeführt wird und im Gebiet des temperaturinduzierten Brechzahlgradienten in der Luft eine Ablenkung oder Phasenstörung erfährt (Photothermische Deflexionstechnik: Canad. J. Phys. 64 [1986], S. 1023-1029). Die Größe des Meßsignals hängt empfindlich vom möglichst kleinen Verhältnis des Abstands von Meßstrahlmitte bis Festkörperoberfläche zur thermischen Diffusionslänge in Luft ab. Da bei ortsauflösenden Messungen die thermische Diffusionslänge im Bereich einiger pm liegen sollte, muß der Meßstrahl ebenfalls sehr dicht an die Meßobjektoberfläche herangeführt werden. Die bekannten Methoden der photothermischen Deflexionstechnik haben den prinzipiellen Nachteil, daß der Meßstrahlabstand infolge des endlichen Meßstrahldurchmessers bzw. des Aperturwinkels bei fokussiertem Meßstrahl einen minimalen Wert nicht unterschreiten kann. Dieser Wert wird für großflächigere Meßobjekte größer. Damit sind vor allem ausgedehnte Festkörper nicht mehr räumlich hochauflösend mit der Methode der photothermischen Deflexionsmessung untei. ^uiDar.
Ziel der Erfindung
Ziel der Erfindung ist es, einen Sensor für die photothermische Deflexionsmessung mit hoher Empfindlichkeit zu schaffen, der auch für beliebig ausgedehnte Meßobjekte benutzt werden kann.
Darlegen des Wesens dor Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die auf der Meßobjektoberfläche photothermisch erzeugte lokale Temperaturänderung unter Benutzung eines an eier Oberfläche vorbeigeführten Meßstrahls zu detektieren. Die Lösung dieser Aufgabe gelingt mit einer Anordnung zum Nachweis dar lokalen Erwärmung von Festkörperoberflächen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung erfindungsgemäß dadurch, daß für die Führung eines Meßstrahls durch den Brechungsindexgradienten (thermische Linse) im Medium vor der Festkörperoberfläche mindestens ein geeignet zur Festkörperoberfläche positionierter Streifenwellenleiter vorgesehen ist, dessen wellenleitende Schicht der Festkörperoberfläche zugewandt ist. Dabei kann der Streifenwellenleiter entweder parallel zur Festkörperoberfläche oder aber unter einem zur Meßstrahlausbreitungsrichtung kleinen Winkel positioniert sein, wobei aber in jedem Fall die Stirnflächen des Wellenleiters so abgeschrägt sind, daß der Meßstrahl parallel zur Oberfläche des Meßobjekts austritt. Dabei kann ein Streifenwellenleiter vorgesehen sein, dessen Ende im Bereich der erzeugten thermischen Linse liegt. Photothormisch induzierte Temperaturschwankungen im Gebiet der thermischen Linsen verändern das Reflexionsvermögen an der Stirnfläche des Streifenwellenleiters. Daraus läßt sich in bekannter Weise ein Meßsignal für die Temperaturschwankungen ableiten.
Es besteht aber auch die vorteilhafte Möglichkeit, daß zwei Streifenwellenleiter vorgesehen sind, deren Enden derart positioniert sind, daß sie im Bereich der erzeugten thermischen Linse einen schmalen Spalt bilden. Dabei moduliert die zeitveränderliche thermische Linse im Luftspalt zwischen den beiden Streifenwellenleitern die Überkoppeleffektivität, woraus in bekannter Weise ein Meßsignal für die Temperaturschwankungen abgeleitet werden kann. Die Einspeisung des Meßlichtes in den Streifenwellenleiter kann über Lichtfasern erfolgen. Der Vorteil der erfindungsgemäßen Führung des Meßstrahls im · Streifenwellenleiter besteht darin, daß der Testlichtstrahl beliebig dicht an die Probenoberfläche herangeführt werden kann, so daß die Empfindlichkeit der photothermischen Deflexionsmessung sehr ansteigt. Die Anordnung erlaubt dabei die Vermessung beliebig großer Festkörperoberflächen. Vorteilhaft ist weiterhin, daß die wellenleitende Anordnung kompakt ist und in einfacher Weise erschütterungs- und nachjustierfrei zum Mikroskopobjektiv angebracht werden kann.
Ausführungsbeispiel
Das Wesen der Erfindung soll an einem in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbeispiel näher erläutert werden. Es zeigen
Fig. 1: die Anordnung mit 2 Streifenwellenleitern nach dem Mach-Zehncler-Prinzip, dargestellt von unten Fig. 2: die Seitenansicht der Streifenwellenleiter nach Fig. 1.
Zur Messung der thermischen Linse (8), die über dem vom fokussierten Heizlaserstrahl (10) am Ort (9) der zu untersuchenden Probenoberfläche (7) erzeugt wurde, soll ein integriert-optisches Mach-Zehnder-Interferrometer genutzt werden. Dessen Aufbau besteht aus zwei identisch hergestellten und in einem Abstand von ΊΟΌμιη angeordneten Y-verzweigten optischen Streifenweüenleitem (5 bzw. 8, Fig. 1) auf der Basis von Lithiumniobat als Substratmaterial (1, Fig. 1). Die beiden Y-Verzweiger müssen dabei so justiert werden, daß die aus den-. Eingangsverzweiger (5) austretenden Teilwellen nach Durchlaufen der Stieckavonca. 100 pm (Abstand der beiden Verzweiger) wieder in die Wellenleiter des Ausgangsverzweigers (6)einkoppeln. Die Justage der Anordnung über der zu untersuchenden Festkorperoberfläche erfolgt in der Weise, daß in einem Arm des Interferometers das modulierte Temperaturfeld über eine Änderung des Brechungsindex des Mediums zwischen den Wellenleitern (sogenannte thermische Linse) eine Phasenänderung der optischen Wr!i« verursacht. Die Wellenleiterbahnen (2) werden durch Protonenaustausch und sich anschließender Temperung in Lithiumniobat hergestellt und zur Lichteinkopplung bzw. -auskopplung mit Monomodelichtleitfasern (3) versehen. Ein in den Vergleichsarm des Interferometers eingesetztes Elektrodenpaar (4) dient zur Beeinflussung der Phase der dort geführten optischen Wolle. Damit kann der Kontrast der zu messenden Intensitätsänderung am Interferometerausgang maximiert werden. Zur Erreichung eines hohen Meßsignals sind die beiden Wellenleiter möglichst dicht an die Probenoberfläche heranzuführen.

Claims (6)

Patentansprüche:
1. Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwärmung von Festkörperoberflächen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung, dadurch gekennzeichnet, daß für die Führung eines Meßstrahls durch den Brechungsindexgradienten der thermischen Linse (8) mindestens ein geeignet zur Festkörperoberfläche positionierter Streifenwellenleiter vorgesehen ist, dessen wellenleitende Schicht der Festkörperoberfläche einer Probe (7) zugewandt ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Streifenwellenleiter mit einer Wellenleiterbahn (2) vorgesehen ist, dessen Ende im Bereich der erzeugten thermischen Linse (8) liegt.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Streifenwellenleiter mit Wellenleiterbahnen (2) vorgesehen sind, deren Enden derart zueinander positioniert sind, daß sie einander gegenüberliegend im Bereich dor erzeugten thermischen Linse (8) einen schmalen Spa.t bilden.
4. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßstrahl durch einen ersten Y-Verzw aiger (Eingangsverzweiger 5) in einen Meßzweig und einen Referenzzweig aufteilbar ist, die sich bildenden Tuilstrahlen nach dem Durchlauf durch den Spalt in einen zweiten Y-Verzweiger (Ausgangsverzweiger 6) wieder zusammenführbar sind und die thermische Linse (8) nur im Spalt im Bereich des Meßzweiges ist.
5. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die mindestens eino Wellenleiterbahn (2) des Streifenwellenleiters parallel zur Festkörperoberfläche der Probe (7) positioniert ist.
6. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die mindestens eine Wellenleiterbahn (2) des Streifenwellenleiters in Meßstrahl-Ausbreitungsrichtung unter einem kleinen Winkel zur Festkörperoberfläche der Probe (7), quer zur Ausbreitungsrichtung jedoch parallel zur Festkörperoberfläche positioniert ist, wobei die Stirnfläche der Wellenleiterbahn (2) des Streifenwellenleiters im Bereich der thermischen Linse (8) so abgeschrägt ist, daß der geführte Meßstrahl parallel zur Festkörperoberfläche austritt.
DD33794490A 1990-02-19 1990-02-19 Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung DD292082B5 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD33794490A DD292082B5 (de) 1990-02-19 1990-02-19 Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung
DE4104013A DE4104013A1 (de) 1990-02-19 1991-02-09 Anordnung zum nachweis der lokalen erwaermung von festkoerperflaechen nach dem prinzip der photothermischen strahlablenkung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD33794490A DD292082B5 (de) 1990-02-19 1990-02-19 Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DD292082B5 true DD292082B5 (de) 1994-07-28

Family

ID=5616517

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD33794490A DD292082B5 (de) 1990-02-19 1990-02-19 Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung

Country Status (2)

Country Link
DD (1) DD292082B5 (de)
DE (1) DE4104013A1 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4508388B2 (ja) * 2000-09-08 2010-07-21 財団法人神奈川科学技術アカデミー 熱レンズ顕微鏡デバイス
DE102004010267B3 (de) * 2004-03-03 2005-09-22 Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh Photothermisches Aufnahmesystem

Also Published As

Publication number Publication date
DE4104013A1 (de) 1991-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0617273B1 (de) Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Substanzen an Sensoroberflächen
EP1000342B1 (de) Optische detektoreinrichtung
EP0340577B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Brechzahl n einer Substanz
DE3882620T2 (de) Biologische sensoren.
EP0455067B1 (de) Mikrooptischer Sensor
DE19733890C2 (de) Verfahren zum Vermessen eines Mediums und Vorrichtung dazu
DE68927644T2 (de) Verfahren zum optischen fühlen
EP0618441B1 (de) Vorrichtung zur lateral aufgelösten Untersuchung einer lateral heterogenen ultradünnen Objektschicht
DE60215018T2 (de) Spr interferometer
WO1989007756A1 (fr) Procede optique integre d'interference
DE3820862A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen untersuchung von oberflaechen und inneren strukturen eines festen pruefkoerpers
DE10055655C2 (de) Plasmonenresonanzsensor, insbesondere für die Biosensorik
DE10392315B4 (de) Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen
DE3609507A1 (de) Faseroptisches interferometer
DE2814006A1 (de) Abtastinterferometer
DE60218795T2 (de) Vorrichtung zur Messung der Blendenöffnung einer Probe für optisches Nahfeld, und Verfahren zur deren Messung
DE102019205527A1 (de) Diffraktiver Biosensor
EP0107021A1 (de) Fiberoptisches Doppler-Anemometer
DE4015893A1 (de) Vorrichtung zur beruehrungslosen und zerstoerungsfreien untersuchung der inneren und/oder aeusseren struktur absorptionsfaehiger prueflinge
DE19601788C1 (de) Vorrichtung zur berührungslosen Erfassung von Bruchparametern bei einer Hochtemperaturwerkstoffprüfung
DE2936267C2 (de)
DD292082B5 (de) Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwaermung von Festkoerperoberflaechen nach dem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung
DE3611119C1 (de) Sensoranordnung
DE2453832A1 (de) Laser-doppler-geschwindigkeitsmesser
DD292082A5 (de) Anordnung zum Nachweis der lokalen Erwärmung von Festkörperoberflächen nachdem Prinzip der photothermischen Strahlablenkung

Legal Events

Date Code Title Description
B5 Patent specification, 2nd publ. accord. to extension act
RPI Change in the person, name or address of the patentee (searches according to art. 11 and 12 extension act)
RPI Change in the person, name or address of the patentee (searches according to art. 11 and 12 extension act)
ENJ Ceased due to non-payment of renewal fee